DE4114253A1 - Faseroptischer sensor - Google Patents
Faseroptischer sensorInfo
- Publication number
- DE4114253A1 DE4114253A1 DE4114253A DE4114253A DE4114253A1 DE 4114253 A1 DE4114253 A1 DE 4114253A1 DE 4114253 A DE4114253 A DE 4114253A DE 4114253 A DE4114253 A DE 4114253A DE 4114253 A1 DE4114253 A1 DE 4114253A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- fiber
- input
- output
- mode
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
- G01R15/241—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption
Description
Die Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der Faseroptik.
Sie betrifft insbesondere einen faseroptischer Sensor für
elektrische Wechselfelder bzw. -spannungen, umfassend
- a) ein piezoelektrisches Sensorelement;
- b) eine optische Faser mit einem Eingangsende und einem Ausgangsende, welche optische Faser zumindest teil weise an dem Sensorelement so fixiert ist, daß eine Dimensionsänderung des Sensorelements in einem elek trischen Feld zu einer Längenänderung in der Faser führt; und
- c) Mittel zum Messen der feldbedingten Längenänderung der Faser.
Ein solcher faseroptischer Sensor ist z. B. aus der
EP-A1-03 16 619 bekannt.
In verschiedenen Druckschriften wie z. B. den Europäischen
Patentanmeldungen EP-A1-03 16 619 und EP-A1-03 16 635
oder den Artikeln von X. Bohnert und J. Nehring in
Appl.Opt. 27, S.4814-4818 (1988), bzw. Opt.Lett. 14,
S.290-292 (1989), sind bereits faseroptische Sensoren zur
Messung von elektrischen Feldern und Spannungen beschrie
ben worden.
Das dabei verwendete Meßprinzip beruht auf dem inversen
Piezoeffekt in Materialien mit ausgesuchter Kristallsym
metrie. Die zeitlich periodische Dimensionsänderung, die
ein entsprechender piezoelektrische Körper in einem elek
trischen Wechselfeld erfährt, wird auf eine an dem Körper
fixierte Glasfaser übertragen. Die Längenänderung der Fa
ser ist dann proportional zur Feld- bzw. Spannungsampli
tude und wird interferometrisch gemessen und ausgewertet.
Für die interferometrische Messung können verschiedene
Arten von Glasfaser-Interferometern eingesetzt werden.
Aufgrund seiner Einfachheit ist von diesen Arten das aus
dem Artikel von B. Y. Kim et al., Opt.Lett. 12, S.729-731
(1987), bekannte Zwei-Modi-Faser-Interferometer von be
sonderem Interesse. Die Parameter der Sensorfaser sind
bei diesem Interferometer so gewählt, daß sich in der
Faser genau zwei Modi (der LP01-Grundmodus und der ge
rade LP11-Modus) ausbreiten können.
Wie in Fig. 1A am Prinzip eines faseroptischen Feldsen
sors dargestellt, wird beim Zwei-Modi-Faser-Interferome
ter Licht aus einer kohärenten Lichtquelle 1, z. B. einer
Laserdiode, durch eine Zwei-Modi-Faser 3 geschickt, wel
che an einem piezoelektrischen Sensorelement 2 für das
elektrische Feld E fixiert ist. Am Faserende kann man
dann ein Interferenzmuster beobachten, welches sich aus
der Überlagerung dieser beiden Modi ergibt. Eine Län
genänderung der Faser führt zu einer differentiellen Pha
senverschiebung zwischen beiden Modi, die sich in einer
entsprechenden Änderung des Interferenzmusters äußert.
Fig. 1B zeigt solche Interferenzmuster für drei charakte
ristische Phasenunterschiede n2pi, (2n+1)(pi/2) und
(2n+1)pi.
Die beiden nebeneinanderliegenden Substrukturen des In
terferenzmusters (in Fig. 1B durch Halbellipsen angedeu
tet) werden mit zwei Detektoren 5a und 5b (z. B. in Form
von Photodioden) detektiert. An deren Ausgang liegen zwei
um 180° phasenverschobene Signale V11 und V12 vor:
V₁₁ = (1/2)V₀(1+acos Φ(t)) (1)
V₁₂ = (1/2)V₀(1-acos Φ(t)) (2)
mit Φ(t) = Asin Ωt + R(t). Die Phasenverschiebung Φ(t)
zwischen den beiden Modi setzt sich also zusammen aus
einem durch das zu messende Wechselfeld hervorgerufenen
zeitlich periodischen Anteil Asin Ωt (A ist dabei proportional
zur Amplitude des Feldes) und einem willkürlichen
Phasenterm R(t), der sich z. B. infolge von temperaturbedingten
Fluktuationen der Faserlänge ebenfalls zeitlich
ändern kann. V₀ schließlich ist proportional zur optischen
Leistung und a ist ein Maß für den Interferenzkontrast.
Der gesuchte Term Asin Ωt wird häufig mit einem Homodyn-Detek
tionsverfahren (Fig. 1e) aus den Ausgangssignalen
der Detektoren 5a und 5b gewonnen (für einen faseropti
schen Sensor mit Ein-Modi-Faser siehe dazu: D. A. Jack
son et al., Appl.Opt. 19, 5.2926-2929 (1980); ein ent
sprechender faseroptischer Sensor mit Zwei-Modi-Faser
ist in der älteren Europäischen Anmeldung Nr. 9 01 23 660.4
beschrieben). Bei diesem Verfahren wird die Sensorfaser
(im dargestellten Beispiel der Fig. 1C die Zwei-Modi-Fa
ser 3) zusätzlich über einen piezoelektrischen Modulator
4 geführt. Mit Hilfe dieses Modulators 4 wird die Phasen
differenz Φ(t) auf +(pi/2) oder -(pi/2) (modulo 2pi) ge
regelt. Der Modulator 4 ist dazu Bestandteil eines aus
den Detektoren 5a und 5b, einem Subtrahierer 7, einem
Quadratur-Regler 8 und einer Rückkopplungsleitung 6 be
stehenden Regelkreises, welcher die Differenzspannung
V = V₁₁-V₁₂ = V₀ acos Φ(t) (3)
entsprechend auf Null regelt.
Die beiden Anteile Asin Ωt und R(t) der Phasenverschiebung
werden also durch den Modulator über eine entsprechende
(entgegengesetzte) Längenänderung der Faser gerade ausge
glichen. Die am Modulator 4 anliegende Spannung enthält
dann einen langsam variierenden Anteil, der proportional
zu R(t) ist, und einen periodischen Anteil, der propor
tional zu Asin Ωt ist. Der gesuchte Anteil Asin Ωt wird
über ein Hochpaßfilter 9 ausgefiltert und kann am Sig
nalausgang 10 abgenommen werden. Das Ausgangssignal ist
dadurch unabhängig von etwaigen Fluktuationen der La
serintensität (d. h. V0) und des Interferenzkontrastes a.
Neben dem Homodyn-Verfahren sind in der Literatur einige
weitere Detektionsverfahren beschrieben worden, die den
Vorteil haben, daß auf einen zusätzlichen Modulator im
Bereich des Interferometers verzichtet werden kann, die
aber dafür eine kompliziertere Sensorelektronik für die
Signaldemodulation benötigen, die zudem oft eine geringe
Genauigkeit aufweist. Beispiele dafür sind das syntheti
sche Heterodyn-Verfahren (J. H. Cole et al., IEEE
J.Quant.Electr. QE-18, S.694-697 (1982)), das Homodyn-
Verfahren mit einem phasenmodulierten Trägersignal (A.
Dandridge et al., IEEE J.Quant.Electr. QE-18, S. 1647-1653
(1982)), und Verfahren, bei denen auf optischem Wege zwei
Interferometersignale erzeugt werden, die um 90° gegen
einander phasenverschoben sind (S. K. Sheem et al.,
Appl.Opt. 21, S.689-693 (1982)).
In einer Reihe von praktischen Anwendungen des Sensors
(z. B. bei der Spannungsmessung in Freiluftanlagen) können
verhältnismäßig große Abstände zwischen dem eigentli
chen Sensorkopf und der Sensorelektronik auftreten (10 m
bis einige 100 m). Es ist unzweckmäßig, diese Abstände
mit der Zwei-Modi-Faser selbst zu überbrücken, da sich
der Einfluß externer Störungen (Temperaturschwankungen,
mechanische Erschütterungen etc.) mit zunehmender Faser
länge entsprechend vergrößert und das Signal/Rausch-Ver
hältnis verschlechtert. Die Lichtzuführung von der Laser
diode zum Interferometer und die Rückführung der Aus
gangssignale des Interferometers sollten vielmehr über
separate Glasfasern erfolgen, die nicht Bestandteil des
Interferometers sind.
Bei dem oben beschriebenen Homodyn-Verfahren mit einem
aktiven Phasen-Modulator wäre aber zusätzlich zu den Ver
bindungs-Glasfasern auch noch eine elektrische Verbindung
(die Rückkopplungsleitung 6) zwischen der Sensorelektro
nik und dem Sensorkopf zur Ansteuerung des Modulators 4
erforderlich. Die Attraktivität eines mit diesem Interfe
rometertyp arbeitenden Sensors wäre dadurch sehr be
schränkt.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
einen faseroptischen Sensor anzugeben, der sich durch
einen einfachen Aufbau und hohe Genauigkeit und Störsi
cherheit auszeichnet, und bei dem die eigentliche Meßfa
ser ausschließlich über separate Glasfasern an die
Lichtquelle und die Auswerteelektronik angekoppelt werden
kann.
Die Aufgabe wird bei einem faseroptischen Sensor der ein
gangs genannten Art dadurch gelöst, daß
- d) die Faser eine Zwei-Modi-Faser ist, deren Parameter so gewählt sind, daß sich in ihr der LP01-Grundmo dus und der gerade LP11-Modus ausbreiten können;
- e) vor dem Eingangsende der Zwei-Modi-Faser eine kohä rente Lichtquelle angeordnet ist, welche die beiden Modi der Zwei-Modi-Faser anregt; und
- f) die Mittel zum Messen der feldbedingten Längenände rung der Faser optische Mittel zur Trennung der am Ausgangsende der Zwei-Modi-Faser auftretenden Nah- und Fernfeldsignale, Detektoren zum Umwandeln der Nah- und Fernfeldsignale in entsprechende elektri sche Signale, sowie elektronische Mittel zur Gewin nung der Längenänderungs-Information aus diesen um gewandelten Nah- und Fernfeldsignalen umfassen.
Der Kern der Erfindung besteht darin, anstelle der be
kannten aktiven Signaldetektion, die einen zusätzlichen
Modulator in der Meßfaser mit entsprechender elektri
scher Zuleitung erfordert, eine passive Signaldetektion
vorzusehen, die auf dem Guoy-Effekt (siehe dazu: S. Y.
Huang et al., Springer Proc. in Physics, Vol.44 "Optical
Fiber Sensors", S.38-43, Springer Verlag Berlin, Heidel
berg (1989)), d. h. dem Phasenunterschied zwischen den In
terferenzmustern des Nah- und Fernfeldes, beruht: Die
Substrukturen des Nah- und Fernfeldes (insgesamt 4) wer
den mit optischen Mitteln separiert und können über sepa
rate Glasfasern zu einer entfernten Auswerteelektronik
übertragen werden. Dort kann unter Verwendung von wenig
stens drei dieser vier Substrukturen die gewünschte In
formation über die Längenänderung der Meßfaser gewonnen
werden.
Gemäß einer ersten bevorzugten Ausführungsform des Sen
sors nach der Erfindung umfassen die die optischen Mittel
zur Trennung der Nah- und Fernfeldsignale:
- a) eine direkt am Ausgangsende der Zwei-Modi-Faser an geordnete erste Linse zur Kollimierung der aus der Zwei-Modi-Faser austretenden zwei Modi zu einem Parallelstrahl;
- b) einen ersten, hinter der ersten Linse angeordneten Strahlteiler, welcher den Parallelstrahl in zwei Teilstrahlen aufspaltet;
- c) eine zweite Linse mit einer nachgeordneten ersten Auskopplungsfaser, welche zweite Linse den ersten der beiden Teilstrahlen so fokussiert, daß die End fläche der Zwei-Modi-Faser auf das Eingangsende der ersten Auskopplungsfaser abgebildet wird; und
- d) eine dritte Linse mit wenigstens einer nachgeordne ten zweiten Auskopplungsfaser, welche dritte Linse den zweiten Teilstrahl so bündelt, daß sich das Eingangsende der zweiten Auskopplungsfaser noch im optischen Fernfeld der Zwei-Modi-Faser befindet, das Licht aber bereits effizient in die zweite Aus kopplungsfaser eingekoppelt wird.
Eine weitere bevorzugte Ausführungsform des Sensors nach
der Erfindung zeichnet sich dadurch aus, daß
- a) die Zwei-Modi-Faser zusammen mit dem Sensorelement und den optische Mitteln zur Trennung der am Aus gangsende der Zwei-Modi-Faser auftretenden Nah- und Fernfeldsignale einen separaten Sensorkopf bildet;
- b) die Lichtquelle, die Detektoren und die elektroni schen Mittel zur Gewinnung der Längenänderungs-In formation aus diesen Nah- und Fernfeldsignalen Teil einer separaten Sensorelektronik sind;
- c) die Lichtquelle über eine polarisationserhaltende Ein-Modus-Faser mit dem Eingangsende der Zwei-Modi-Faser optisch verbunden ist; und
- d) die Detektoren mit den optischen Mitteln durch sepa rate Glasfasern in Form von Multi-Modi-Fasern op tisch verbunden sind.
Weitere Ausführungsformen ergeben sich aus den Unteran
sprüchen.
Die Erfindung soll nachfolgend anhand von Ausführungsbei
spielen im Zusammenhang mit der Zeichnung näher erläutert
werden. Es zeigen
Fig. 1A ein Beispiel für einen faseroptischen E-Feld-Sen
sor mit Zwei-Modi-Faser;
Fig. 1B die Prinzipdarstellung der Interferenzmuster am
Ausgangsende der Zwei-Modi-Faser (3) aus Fig.
1A;
Fig. 1C ein gegenüber Fig. 1A modifizierter E-Feld-Sen
sor mit aktiver Signaldetektion;
Fig. 2 ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel für einen
faseroptischen Sensor nach der Erfindung;
Fig. 3A-C verschiedene Ausführungsformen für die opti
schen Mittel (15) gemäß Fig. 2; und
Fig. 4A, B zwei bevorzugte Ausführungsformen für die elek
tronischen Mittel (18) gemäß Fig. 2.
In Fig. 1A ist die bereits eingangs beschriebene Grund
form eines faseroptischen Sensors mit einem Zwei-Modi-
Faser-Interferometer dargestellt, wie sie den Ausgangs
punkt für die Erfindung bildet. Zentraler Teil des Sen
sors ist eine Zwei-Modi-Faser 3, die auf einer Teil
strecke mit einem piezoelektrischen Sensorelement 2 fest
verbunden ist. Am Eingangsende der Zwei-Modi-Faser 3 ist
eine kohärente Lichtquelle 1 angeordnet, welche die bei
den Modi LP01 und LP11 in der Faser anregt. Die beiden
Modi erleiden beim Durchlaufen der Faser einen Phasenun
terschied und interferieren entsprechend, so daß sich am
Ausgangsende der Zwei-Modi-Faser 3 ein Interferenzmuster
mit zwei Substrukturen bildet, welches sich in Abhängig
keit von der Länge der Faser ändert und für 3 ausgewählte
Phasenunterschiede in Fig. 1B wiedergegeben ist.
Die Intensitäten der beiden Substrukturen können im ein
fachsten Fall mittels zweier Detektoren 5a, b
(Photodioden) in entsprechende elektrische Signale umge
wandelt und in einer nicht weiter dargestellten Auswerte
elektronik ausgewertet werden, wobei allerdings Änderun
gen im Arbeitspunkt nicht kompensiert werden können.
Derartige Kompensationen sind - wie ebenfalls eingangs
erwähnt - mit dem mit Nachteilen behafteten Sensor-Aufbau
nach Fig. 1C möglich, bei welchem die Zwei-Modi-Faser 3
zusätzlich an einem piezoelektrischen Modulator 4 fixiert
ist, der die Anwendung des Homodyn-Verfahrens mit aktiver
Signaldetektion ermöglicht.
Die Erfindung geht hier nun einen anderen Weg: Zwischen
den Interferenzmustern im optischen Nahfeld (unmittelbar
am Ausgangsende der Zwei-Modi-Faser) und den Interfe
renzmustern im optischen Fernfeld (in einer Entfernung < 100 µm
vom Ausgangsende) besteht aufgrund des erwähnten
Guoy-Effekts ein Phasenunterschied von pi/2. Mittels ei
ner optischen Anordnung, die es gestattet, die optischen
Nah- und Fernfeldsignale zu trennen und über separate
Glasfasern zu entfernten Detektoren zu führen, und mit
tels einer elektronischen Anordnung zur Demodulation der
Detektorsignale, um daraus ein zur Meßgröße proportio
nales Ausgangssignal zu gewinnen, wird nun eine passive
Signaldetektion realisiert, welche die Nachteile des Ho
modyn-Verfahrens vermeidet.
Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel für einen solchen fa
seroptischen Sensor nach der Erfindung ist in Fig. 2 wie
dergegeben. Sensorelement 2 und Zwei-Modi-Faser 3 bilden
zusammen mit optischen Mitteln 15 zur Trennung der am
Ausgangsende der Zwei-Modi-Faser 3 auftretenden Nah- und
Fernfeldsignale einen eigenständigen Sensorkopf 14, der
ausschließlich durch separate Glasfasern (12, 16a, b, c)
mit einer entfernt plazierten Sensorelektronik 11 poten
tial-getrennt verbunden ist.
Die Sensorelektronik umfaßt die bereits bekannte kohä
rente Lichtquelle 1 zur Anregung der Modi in der Zwei-
Modi-Faser 3, eine Mehrzahl von Detektoren 17a, b, c zum
Umwandeln der Nah- und Fernfeldsignale in entsprechende
elektrische Signale, sowie nachgeschaltete elektronische
Mittel 18 zur Gewinnung der Längenänderungs-Information
aus diesen umgewandelten Nah- und Fernfeldsignalen. Das
resultierende Nutzsignal steht wiederum am Signalausgang
10 zur Verfügung.
Die Lichtquelle 1 koppelt ihr (linear polarisiertes)
Licht über eine polarisationserhaltende Ein-Modus-Faser
12 in das Eingangsende der Zwei-Modi-Faser 3 ein. Beide
Fasern sind dabei über einen Spleiß 13 so zusammen
gespleißt, daß LP01-Grundmodus und gerader LP11-Modus
in etwa gleicher Intensität angeregt werden und die Pola
risationsrichtung parallel zu einer der beiden Achsen des
elliptischen Faserkerns der Zwei-Modi-Faser 3 liegt. Am
Ausgangsende der Zwei-Modi-Faser 3 erfolgt durch die op
tischen Mittel 15 die Aufspaltung in mehrere getrennte
Signale I11, I21 und I22, welche über separate Glasfasern
(16a, b, c) den Detektoren 17a, b, c zugeführt werden
Bevor auf die optischen Mittel 15 und die elektronischen
Mittel 18 näher eingegangen wird, sollen zunächst noch
einige Erläuterungen zum theoretischen Hintergrund gege
ben werden:
Der LP01-Grundmodus und der LP11-Modus der Zwei-Modi-Fa
ser 3 können in sehr guter Näherung durch die Gauss′schen
TEM00- und TEM10-Modi dargestellt werden. Diese beiden
Modi haben nach Verlassen der Faser die Form
Elm(x,y,z) = E0lm(x,y,z)exp[-ik(x²+y²)/2R(z)-ikz+i(l+m+1)eta] (4)
Hierbei ist E0lm(x,y,z) die Amplitude, x und y sind die
Koordinatenrichtungen senkrecht und z ist die Koordinatenrichtung
parallel zur Strahlausbreitungsrichtung (z =
0 entspricht der Position des Faserendes); k ist die
Wellenzahl (k = 2pi/lambda, wobei lambda für die optische
Wellenlänge steht). R(z) und eta(z) sind gegeben durch
R(z) = z(1 + z₀²/z²) (5)
eta(z) = tan-1(z/z₀) (6)
mit
z₀ = (piΩ₀²n)/lambda (7)
n ist der Brechungsindex (n ≈ 1 in Luft), Ω₀ ist der laterale
Abstand von der optischen Achse bei z = 0, bei
welchem die Feldamplitude auf 1/e ihres Wertes auf der
Achse gefallen ist.
Für Abstände z » z₀ vom Faserende geht eta(z) gegen
pi/2. Die beiden Modi TEM₀₀ (l=0, m=0) und TEM₁₀(l=1, m=0)
(bzw. die LP₀₁- und LP₁₁-Modi) erfahren also bei ihrer
Ausbreitung vom optischen Nahfeld (z ≈ 0) ins optische
Fernfeld (z » z₀) eine relative Phasenverschiebung von
pi/2. Zwischen den Interferenzmustern der beiden Modi im
Nah- und Fernfeld besteht damit ebenfalls ein Phasenunterschied
von pi/2. Die Intensitäten in den Substrukturen
der Interferenzmuster sind dann im Nahfeld
I₁₁ = (1/2)I₀(1 + acos Φ(t)) (8)
I₁₂ = (1/2)I₀(1 - acos Φ(t)) (9)
und im Fernfeld
I₂₁ = (1/2)I₀(1 + asin Φ(t)) (10)
I₂₂ = (1/2)I₀(1 - asin Φ(t)) (11)
wobei I₀ der gesamten Lichtintensität entspricht.
Ziel ist es, aus den Nah- und Fernfeld-Interferenzsigna
len das gesuchte Signal Asin Ωt zu gewinnen. Um die dafür
erforderlichen elektronischen Mittel 18 festlegen zu kön
nen, entwickelt man die cos Φ- und sin Φ-Terme in den Glei
chungen (8)-(11) nach Besselfunktionen. Dabei gilt
wobei die J₁ Besselfunktionen i-ter Ordnung sind. Die
Gleichungen (8)-(11) lauten damit
I₁₁ = (1/2)I₀′(1+aJ₀) (A)cos R-2aJ₁(A)sin Ωt sin R+h.H.) (14)
I₁₂ = (1/2)I₀′(1-aJ₀) (A)cos R+2aJ₁(A)sin Ωt sin R+h.H.) (15)
I₂₁ = (1/2)I₀′(1+aJ₀) (A)sin R+2aJ₁(A)sin Ωt cos R+h.H.) (16)
I₂₂ = (1/2)I₀′(1-aJ₀) (A)sin R-2aJ₁(A)sin Ωt cos R+h.H.) (17)
(h.H. bedeutet dabei höhere Harmonische). Die Signalam
plitude ist jetzt mit (1/2)I0′, bezeichnet. Abhängig von
der optischen Mitteln 15 ist I0′ entweder (1/3)I0 (wenn
die optischen Mittel 15 die in Fig. 3A, 3C dargestellte
Form haben) oder (1/2)I0 (wenn die optischen Mittel 15
die in Fig. 3B dargestellte Form haben).
Nach der Umwandlung der optischen Signale (14)-(17) in
elektrische Signale können die langsam variierenden Sig
nalanteile von den Anteilen, die sin Ωt-Terme enthalten,
mit Hilfe von elektronischen Filtern getrennt werden (die
elektrischen Signale sind im Folgenden wie die entspre
chenden optischen Signale I11, I12, I21 und I22 be
zeichnet).
Die langsam variierenden Anteile lauten:
I₁₁DC = (1/2)I₀′(1+aJ₀(A)cos R) (18)
I₁₂DC = (1/2)I₀′(1-aJ₀(A)cos R) (19)
I₂₁DC = (1/2)I₀′(1+aJ₀(A)sin R) (20)
I₂₂DC = (1/2)I₀′(1-aJ₀(A)sin R) (21)
Die Anteile, die mit der Frequenz Ω variieren, lauten:
I₁₁AC = -I₀′aJ₁(A)sin Ωt sin R (22)
I₁₂AC = I₀′aJ₁(A)sin Ωt sin R (23)
I₂₁AC = I₀′aJ₁(A)sin Ωt cos R (24)
I₂₂AC = -I₀′aJ₁(A)sin Ωt cos R. (25)
Im Folgenden werden zwei Varianten angegeben, für die
drei Eingangssignale ausreichend sind. Man wählt ge
schickterweise das Trio I11, I21 und I12, dem die ein
fachste Form der optischen Mittel 15 gemäß Fig. 3B zu
grunde liegt.
Je zwei DC- bzw. AC-Terme werden nun so verarbeitet, daß
sich Terme ergeben, die proportional zur Summe von |cos R|
und |sin R| sind. Dazu eleminiert man zunächst den Offset
von (1/2)I₀′ der DC-Terme (18) und (20):
I₂₁DC + I₂₂DC = I₀′ (26)
I′₁₁DC = I₁₁DC - (1/2)I₀′ = (1/2)I₀′aJ₀(A)cos R (27)
I′₂₁DC = I₂₁DC - (1/2)I₀′ = (1/2)I₀′aJ₀(A)sin R (28)
Bei der ersten Variante (mit den elektronischen Mitteln
18 gemäß Fig. 4A) bildet man nun den Quotienten
d. h., man erhält ein Ausgangssignal, das unabhängig von
Schwankungen der Lichtintensität I₀ und des Interferenz
kontrastes a ist (die Betragsbildung |. . .| ist dabei er
forderlich, um für R = 45°, 135°, . . . eine Division durch
Null zu vermeiden).
Bei der zweiten Variante (mit den elektronischen Mitteln
18 gemäß Fig. 4B) bildet man den Ausdruck
Die Fig. 3A-3C zeigen verschiedene Ausführungsbeispiele
für die optischen Mittel 15 aus Fig. 2, die es erlauben,
die Nah- und Fernfeldsignale gemäß den Gleichungen (8)-(11)
voneinander zu trennen und dann über separate Glas
fasern zu den sich in einiger Entfernung befindlichen De
tektoren 17a, b, c zu führen.
Im ersten Ausführungsbeispiel der Fig. 3A werden alle
vier Signale I11, I12, I21 und I22 gewonnen und mit vier
Glasfasern (16a, b, c, d) den entsprechenden Detektoren zu
geführt. Die beiden aus der Zwei-Modi-Faser 3 austreten
den Modi werden mit einer ersten Selfoc-Linse 19a (mit
einem Pitch von 0,25) zu einem Parallelstrahl kollimiert,
dessen räumliche Intensitätsverteilung dem Fernfeld-In
terferenzmuster entspricht (der entsprechende Strahlen
gang 21 ist in den Fig. 3A-3C als gestrichelte Linie an
gedeutet).
Der kollimierte Strahl wird mit Hilfe zweier hintereinan
der angeordneter, würfelförmiger Strahlteiler 20a, b in
drei Teilstrahlen aufgespalten. Zwei dieser Teilstrahlen
werden mittels zweier weiterer 0,25-Pitch-Selfoc-Linsen
19b und 19c fokussiert. An den vom Strahlteiler 20b abge
wandten Seiten der beiden Selfoc-Linsen 19b und 19c ent
steht dann das Bild der Endfläche der Zwei-Modi-Faser 3
und folglich wieder das Nahfeld-Interferenzmuster.
Je eine der beiden Substrukturen dieses Nahfeld-Interfe
renzmusters wird jeweils mit einem kurzen Stück einer
Ein-Modus-Faser 22a bzw. 22b (die hier die Wirkung eines
räumlichen Filters hat) herausgefiltert. Dabei ist zu be
achten, daß zwei Substrukturen ausgefiltert werden, die
relativ zueinander um 180° außer Phase sind, also den
Signalen I11 und I12 entsprechen. Die ausgefilterten Nah
feldsignale können dann mit Multi-Modi-Fasern 16a bzw. 16d
die über entsprechende Spleiße 23a bzw. 23b an die
Ein-Modi-Fasern 22a bzw. 22b angespleißt sind, zu den
Detektoren übertragen werden. Die Verwendung von Multi-Mo
di-Fasern bietet Kostenvorteile (z. B. kostengünstige Fa
sersteckverbindungen); prinzipiell können anstelle der
beiden kurzen Ein-Modus-Fasern 22a, b aber auch lange Ein-
Modus-Fasern verwendet werden, welche die I11 und I12
Signale über die gesamte Distanz bis zu den Detektoren
übertragen und damit die Multi-Modi-Fasern 16a und 16d
ersetzen.
Im dritten Teilstrahl befindet sich eine weitere Selfoc-Linse
19d mit einem Pitch kleiner 0,25 (der Fokus liegt
also in einigem Abstand außerhalb der Linse). Die Sel
foc-Linse 19d bündelt den Strahl auf zwei unmittelbar ne
beneinander liegende Multi-Modi-Fasern 16b und 16c. Die
Linsenlänge (bzw. der Pitch der Linse) ist so gewählt,
daß
- (i) sich die vom Strahlteiler 20a abgewandte Endflä che der Linse noch im optischen Fernfeld befindet und
- (ii) der Strahl aber bereits soweit gebündelt ist, daß das Licht effizient in die beiden Multi-Modi-Fasern 16b, c eingekoppelt wird.
Die Multi-Modi-Fasern 16b, c sind dabei
so angeordnet, daß sie jeweils eine der beiden Substruk
turen des Fernfeld-Interferenzmusters erfassen. Vorzugs
weise wählt man Multi-Modi-Fasern mit einem relativ großen
Kerndurchmesser und kleiner Dicke des Fasermantels
(z. B. Hard Cladded Silica (HCS) Fasern mit einem 200 µm
dicken Quarzglaskern und einem 15 µm dicken Hartplastik-Man
tel; bei genügend großem Kerndurchmesser kann auf die
Selfoc-Linse 19d sogar ganz verzichtet werden). Die bei
den Multi-Modi-Fasern führen somit die Signale I21 und
I22 und übertragen sie zu einem zweiten Detektorpaar.
Wie aus den Gleichungen (18) bis (28) abzulesen ist, sind
für die weiter unten beschriebene Auswertung mit Hilfe
der elektronischen Mittel 18 drei Signale aus dem Quar
tett I11, I12, I21 und I22 ausreichend, wobei es zunächst
prinzipiell gleichgültig ist, welches Trio ausgewählt
wird.
Mit dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 3B, auf welches
sich auch die Anordnung nach Fig. 2 bezieht, werden die
beiden Fernfeldsignale I21 und I22 und ein Nahfeldsignal
I11 (oder I12) gewonnen. Der Aufbau ist mit dem aus Fig.
3A identisch mit Ausnahme des nicht mehr erforderlichen
zweiten Strahlteilers 20b und des fehlenden zweiten Nah
feldzweiges. Es ergibt sich so eine besonders einfache
Konfiguration.
Im Ausführungsbeispiel der Fig. 3C schließlich werden
die Signale I11, I12 und eines der beiden Fernfeldsignale
(im gezeigten Fall I21) extrahiert. Zu beachten ist dabei
allerdings die gegenüber dem Beispiel aus Fig. 3B größere
Komplexität der Anordnung.
Das Teilerverhältnis der Strahlteiler 20a und 20b wird
vorzugsweise so gewählt, daß alle Signale die gleiche
Amplitude haben. In Fig. 3A und 3C muß der erste Strahl
teiler 20a das Teilerverhältnis (Reflexion:Transmission)
von (1/3) (2/3) haben, der zweite Strahlteiler 20b das
Verhältnis (1/2) : (1/2). Die Signalamplituden sind dann
(1/6)I₀ (bei Vernachlässigung aller Verluste). In Fig. 3B
ist das Teilerverhältnis des einzigen Strahlteilers 20a
(1/2) : (1/2), und die Signalamplituden sind (1/4)I0 (siehe
oben).
Sind - wie in Fig. 2 und Fig. 3B dargestellt - die opti
schen Mittel 15 so ausgebildet, daß an ihren Ausgängen
die Signale I11, I21 und I22 zur Verfügung stehen und
mittels der Detektoren 17a, b, c in entsprechende elektri
sche Signale umgewandelt werden, können zur Auswertung
gemäß den Gleichungen (18)-(30) beispielsweise elek
tronische Mittel 18 von der Form eingesetzt werden, wie
sie für die beiden Varianten in den Blockschaltbildern
der Fig. 4A und 4B wiedergegeben sind.
Die Schaltung nach Fig. 4A umfaßt zwei Bandpaßfilter
24a, b, drei Tiefpaßfilter 25a, b, c, vier Absolutwertbild
ner 28a, b, c, d und einen Abschwächer 30
(Abschwächungsfaktor: 0,5) mit jeweils einem Ein- und
Ausgang, sowie zwei Subtrahierer 26a, b, drei Addierer
29a, b, c und einen Dividierer 27 mit jeweils zwei Eingän
gen und einem Ausgang. Die Tiefpaßfilter 25a, b, c haben
z. B. eine Grenzfrequenz von 10 Hz und lassen damit die
langsam variierenden Signale passieren. Die Bandpaßfil
ter 24a, b lassen die Signalanteile, die mit der Frequenz
Ω variieren, passieren. Höhere Harmonische dagegen werden
blockiert. Von gewissem Nachteil ist in diesem Fall die
durch die Bandpaßfilter 24a, b eingeschränkte Bandbreite.
Für ausreichend kleine Amplituden der optischen Phasen
verschiebung sind die höheren Harmonischen jedoch klein
genug, daß sie für manche Anwendungen noch toleriert
werden können. Für A = 0,1 rad z. B. ist J2(A) = 0,025
J1(A); für A = 0,05 rad ist J2(A) = 0,012 J1(A). Anstelle
der Bandpaßfilter 24a, b können dann Hochpaßfilter ver
wendet werden, so daß die besagte Einschränkung der
Bandbreite nicht auftritt.
Die Signale I11 und I21 gelangen einerseits über das er
ste und zweite Bandpaßfilter 24a bzw. 24b und den nach
geschalteten ersten und zweiten Absolutwertbildner 28a
bzw. 28b auf die beiden Eingänge des zweiten Addierers
29b. Es entsteht der Ausdruck im Zähler des Bruches aus
Gleichung (29), welcher anschließend auf den ersten Ein
gang des Dividierers 27 gegeben wird.
Die Signale I11 und I21 gelangen andererseits über das
erste und zweite Tiefpaßfilter 25a bzw. 25b jeweils auf
den ersten Eingang des ersten bzw. zweiten Subtrahierers
26a bzw. 26b. Dort werden gemäß Gleichungen (27) und
(28) jeweils die Differenzen mit dem Ausdruck (1/2)I0
gebildet. Dieser Ausdruck seinerseits wird gemäß Glei
chung (26) aus den Signalen I21 und I22 durch Filterung
im zweiten und dritten Tiefpaßfilter 25b bzw. 25c, nach
folgende Addition im ersten Addierer 29a und anschließende
Multiplikation mit dem Faktor 1/2 im Abschwächer 30
erzeugt.
Die Differenzen (27) und (28) werden schließlich im
dritten und vierten Absolutwertbildner 28c bzw. 28d in
ihre Absolutwerte umgewandelt, im dritten Addierer 29c
addiert und bilden dann am zweiten Eingang des Dividie
rers 27 den Nenner des Bruches aus (29). Entsprechend er
scheint am Ausgang des Dividierers 27 bzw. am Signalaus
gang 10 das gewünschte Nutzsignal A |sin Ωt|.
Die Schaltung nach Fig. 4B unterscheidet sich von der aus
Fig. 4A neben einer anderen Verschaltung durch folgende
Änderungen bei den Funktionsblöcken: Anstelle des einen
Abschwächers 30 werden nun zwei Abschwächer (mit Faktor
0,5) eingesetzt, die Absolutwertbilder 28a, b, c, d sind
durch Quadrierer 32a, b, c, d ersetzt, und hinter den Aus
gang des Dividierers 27 ist ein Radizierer 31 angeordnet,
welcher aus dem Ausgangssignal des Dividierers 27 die
Wurzel zieht.
Die beiden Bandpaßfilter 24a, b, die beiden ersten Qua
drierer 32a, b und der zweite Addierer 29b bilden - ähn
lich wie in Fig. 4A - aus den Signalen I11 und I21 den
Zähler des Bruches gemäß Gleichung (30). Der zweite Teil
des Nenners (I′11 DC) wird wie in der Schaltung nach Fig.
4A erzeugt und anschließend im dritten Quadrierer 32c
quadriert. Der erste Teil des Nenners ergibt sich durch
Differenzbildung der DC-Anteile von I21 und I22 im zwei
ten Subtrahierer 26b, nachfolgende Abschwächung um den
Faktor 1/2 im ersten Abschwächer 30a und abschließende
Quadratur im vierten Quadrierer 32d. Aus dem im Dividie
rer 27 gebildeten Bruch wird mittels des Radizierers 31
die Wurzel gezogen.
Claims (13)
1. Faseroptischer Sensor für elektrische Wechselfelder
bzw. -spannungen, umfassend
- a) ein piezoelektrisches Sensorelement (2);
- b) eine optische Faser mit einem Eingangsende und einem Ausgangsende, welche optische Faser zumindest teil weise an dem Sensorelement (2) so fixiert ist, daß eine Dimensionsänderung des Sensorelements (2) in einem elektrischen Feld zu einer Längenänderung in der Faser führt; und
- c) Mittel zum Messen der feldbedingten Längenänderung der Faser;
dadurch gekennzeichnet, daß
- d) die Faser eine Zwei-Modi-Faser (3) ist, deren Para meter so gewählt sind, daß sich in ihr der LP01 Grundmodus und der gerade LP11-Modus ausbreiten kön nen;
- e) vor dem Eingangsende der Zwei-Modi-Faser (3) eine kohärente Lichtquelle (1) angeordnet ist, welche die beiden Modi der Zwei-Modi-Faser (3) anregt; und
- f) die Mittel zum Messen der feldbedingten Längenände rung der Faser optische Mittel (15) zur Trennung der am Ausgangsende der Zwei-Modi-Faser (3) auftreten den Nah- und Fernfeldsignale, Detektoren (17a, b, c) zum Umwandeln der Nah- und Fernfeldsignale in ent sprechende elektrische Signale, sowie elektronische Mittel (18) zur Gewinnung der Längenänderungs-Infor mation aus diesen umgewandelten Nah- und Fernfeldsignalen umfassen.
2. Faseroptischer Sensor nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die optischen Mittel (15) von den zwei
Substrukturen des Nahfeld-Interferenzmusters und den zwei
Substrukturen des Fernfeld-Interferenzmusters insgesamt
zumindest drei Substrukturen optisch voneinander trennen
und für die Auswertung über separate Glasfasern den De
tektoren (17a, b, c) zuführen.
3. Faseroptischer Sensor nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die optischen Mittel (15) zur Trennung der
Nah- und Fernfeldsignale umfassen:
- a) eine direkt am Ausgangsende der Zwei-Modi-Faser (3) angeordnete erste Linse zur Kollimierung der aus der Zwei-Modi-Faser (3) austretenden zwei Modi zu ei nem Parallelstrahl;
- b) einen ersten, hinter der ersten Linse angeordneten Strahlteiler (20a), welcher den Parallelstrahl in zwei Teilstrahlen aufspaltet;
- c) eine zweite Linse mit einer nachgeordneten ersten Auskopplungsfaser, welche zweite Linse den ersten der beiden Teilstrahlen so fokussiert, daß die End fläche der Zwei-Modi-Faser (3) auf das Eingangsende der ersten Auskopplungsfaser abgebildet wird; und
- d) eine dritte Linse mit wenigstens einer nachgeordne ten zweiten Auskopplungsfaser, welche dritte Linse den zweiten Teilstrahl so bündelt, daß sich das Eingangsende der zweiten Auskopplungsfaser noch im optischen Fernfeld der Zwei-Modi-Faser (3) befin det, das Licht aber bereits effizient in die zweite Auskopplungsfaser eingekoppelt wird.
4. Faseroptischer Sensor nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß
- a) zwischen dem ersten Strahlteiler (20a) und der zwei ten Linse ein zweiter Strahlteiler (20b) angeordnet ist, welcher zweite Strahlteiler (20b) einen dritten Teilstrahl erzeugt; und
- b) eine vierte Linse mit einer nachgeordneten dritten Auskopplungsfaser vorgesehen ist, welche vierte Linse den dritten Teilstrahl so fokussiert, daß die Endfläche der Zwei-Modi-Faser (3) auf das Ein gangsende der dritten Auskopplungsfaser abgebildet wird.
5. Faseroptischer Sensor nach einem der beiden Ansprüche
3 und 4, dadurch gekennzeichnet, daß hinter der dritten
Linse neben der zweiten Auskopplungsfaser eine vierte,
zur zweiten Auskopplungsfaser gleichartige Auskopplungs
faser angeordnet ist, derart, daß in die beiden Auskopp
lungsfasern jeweils eine der beiden Substrukturen des
Fernfeld-Interferenzmusters der Zwei-Modi-Faser (3) ein
gekoppelt wird.
6. Faseroptischer Sensor nach einem der beiden Ansprüche
3 und 4, dadurch gekennzeichnet, daß die erste und
dritte Auskopplungsfaser jeweils Ein-Modus-Fasern (22a, b)
sind, welche als räumliche Filter wirken und jeweils eine
der beiden Substrukturen des Nahfeld-Interferenzmusters
der Zwei-Modi-Faser (3) herausfiltern.
7. Faseroptischer Sensor nach einem der Ansprüche 3 und
4, dadurch gekennzeichnet, daß die erste und zweite und
ggf. die vierte Linse jeweils eine Selfoc-Linse (19a, b, c)
mit einem Pitch von 0,25 und die dritte Linse eine Sel
foc-Linse (19d) mit einem Pitch kleiner 0,25 ist.
8. Faseroptischer Sensor nach einem der Ansprüche 3 und
5, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite und ggf. die
vierte Auskopplungsfaser jeweils eine Multi-Modi-Faser
(16b, c) ist.
9. Faseroptischer Sensor nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß
- a) die elektronischen Mittel (18) zur Gewinnung der Längenänderungs-Information zwei Bandpaßfilter (24a, b), drei Tiefpaßfilter (25a, b, c), vier Abso lutwertbildner (28a, b, c, d) und einen Abschwächer (30) mit jeweils einem Ein- und einem Ausgang, sowie zwei Subtrahierer (26a, b), drei Addierer (29a, b, c) und einen Dividierer (27) mit jeweils zwei Eingängen und einem Ausgang umfassen; wobei
- b) die Ausgänge der beiden Bandpaßfilter (24a, b) je weils über einen ersten bzw. zweiten Absolutwert bildner (28a bzw. 28b) mit einem Eingang des zweiten Addierers (29b), der Ausgang des ersten Tiefpaßfil ters (25a) mit dem ersten Eingang des ersten Subtra hierers (26a), der Ausgang des zweiten Tiefpaßfil ters (25b) mit dem ersten Eingang des zweiten Sub trahierers (26b) und dem ersten Eingang des ersten Addierers (29a), und der Ausgang des dritten Tief paßfilters (25c) mit dem zweiten Eingang des ersten Addierers (29a) verbunden sind;
- c) der Ausgang des ersten Addierers (29a) über den Ab schwächer (30) jeweils mit dem zweiten Eingang des ersten und zweiten Subtrahierers (26a bzw. 26b), die Ausgänge der beiden Subtrahierer (26a, b) jeweils über einen dritten bzw. vierten Absolutwertbildner (28c bzw. 28d) mit einem Eingang des dritten Addie rers (29c), die Ausgänge des zweiten und dritten Ad dierers (29b bzw. 29c) jeweils mit einem Eingang des Dividierers (27), und der Ausgang des Dividierers mit einem Signalsausgang (10) für das Nutzsignal verbunden sind; und
- d) die Eingänge der Bandpaßfilter (24a, b) und Tief paßfilter (25a, b, c) mit den Detektoren (17a, b, c) verbunden sind.
10. Faseroptischer Sensor nach Anspruch 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß
- a) die elektronischen Mittel (18) zur Gewinnung der Längenänderungs-Information zwei Bandpaßfilter (24a, b), drei Tiefpaßfilter (25a, b, c), vier Qua drierer (32a, b, c, d), zwei Abschwächer (30a, b) und einen Radizierer (31) mit jeweils einem Ein- und ei nem Ausgang, sowie zwei Subtrahierer (26a, b), drei Addierer (29a, b, c) und einen Dividierer (27) mit je weils zwei Eingängen und einem Ausgang umfassen; wo bei
- b) die Ausgänge der beiden Bandpaßfilter (24a, b) je weils über einen ersten bzw. zweiten Quadierer (32a bzw. 32b) mit einem Eingang des zweiten Addierers (29b), der Ausgang des ersten Tiefpaßfilters (25a) mit dem ersten Eingang des ersten Subtrahierers (26a), der Ausgang des zweiten Tiefpaßfilters (25b) mit dem ersten Eingang des zweiten Subtrahierers (26b) und dem ersten Eingang des ersten Addierers (29a), und der Ausgang des dritten Tiefpaßfilters (25c) mit dem zweiten Eingang des zweiten Subtrahie rers (26b) und dem zweiten Eingang des ersten Addie rers (29a) verbunden sind;
- c) der Ausgang des ersten Addierers (29a) über den zweiten Abschwächer (30b) mit dem zweiten Eingang des ersten Subtrahierers (26a), der Ausgang des zweiten Subtrahierers (26b) über den ersten Abschwä cher (30a) und den vierten Quadrierer (32d) mit dem zweiten Eingang des dritten Addierers (29c), der Ausgang des ersten Subtrahierers (26a) über den dritten Quadrierer (32c) mit dem ersten Eingang des dritten Addierers (29c), die Ausgänge des zweiten und dritten Addierers (29b bzw. 29c) jeweils mit ei nem Eingang des Dividierers (27), und der Ausgang des Dividierers über den Radizierer (31) mit einem Signalsausgang (10) für das Nutzsignal verbunden sind; und
- d) die Eingänge der Bandpaßfilter (24a, b) und Tief paßfilter (25a, b, c) mit den Detektoren (17a, b, c) verbunden sind.
11. Faseroptischer Sensor nach Anspruch 1, dadurch ge
gekennzeichnet, daß
- a) die Zwei-Modi-Faser (3) zusammen mit dem Sensorele ment (2) und den optische Mitteln (15) zur Trennung der am Ausgangsende der Zwei-Modi-Faser (3) auftre tenden Nah- und Fernfeldsignale einen separaten Sen sorkopf (14) bildet;
- b) die kohärente Lichtquelle (1), die Detektoren (17a, b, c) und die elektronischen Mittel (18) zur Ge winnung der Längenänderungs-Information aus diesen Nah- und Fernfeldsignalen Teil einer separaten Sen sorelektronik (11) sind;
- c) die kohärente Lichtquelle (1) über eine polarisati onserhaltende Ein-Modus-Faser (12) mit dem Ein gangsende der Zwei-Modi-Faser (3) optisch verbunden ist; und
- d) die Detektoren (17a, b, c) mit den optischen Mitteln (15) durch separate Glasfasern in Form von Multi-Mo di-Fasern (16a, b, c) optisch verbunden sind.
12. Faseroptischer Sensor nach Anspruch 11, dadurch ge
gekennzeichnet, daß ein Teil der Multi-Modi-Fasern
(16a, b, c, d) vollständig durch Ein-Modus-Fasern ersetzt
ist.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4114253A DE4114253A1 (de) | 1991-05-02 | 1991-05-02 | Faseroptischer sensor |
CH1291/92A CH683460A5 (de) | 1991-05-02 | 1992-04-22 | Faseroptischer Sensor. |
US07/877,071 US5196695A (en) | 1991-05-02 | 1992-05-01 | Fiber-optic sensor having near-field and remote-field signals |
GB9209431A GB2256044B (en) | 1991-05-02 | 1992-05-01 | Fiber-optic sensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4114253A DE4114253A1 (de) | 1991-05-02 | 1991-05-02 | Faseroptischer sensor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4114253A1 true DE4114253A1 (de) | 1992-11-05 |
Family
ID=6430767
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4114253A Withdrawn DE4114253A1 (de) | 1991-05-02 | 1991-05-02 | Faseroptischer sensor |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5196695A (de) |
CH (1) | CH683460A5 (de) |
DE (1) | DE4114253A1 (de) |
GB (1) | GB2256044B (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5343036A (en) * | 1992-05-15 | 1994-08-30 | Asea Brown Boveri Ltd. | Optical measurement of electrical quantities using inverse piezoelectric effect with dual double-mode fiber |
DE19743658A1 (de) * | 1997-10-02 | 1999-04-08 | Abb Research Ltd | Faseroptischer Spannungssensor für Freiluft-Hochspannungsanlagen |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19621654A1 (de) * | 1996-05-30 | 1997-12-04 | Abb Research Ltd | Magneto-optischer Stromsensor |
US20120307254A1 (en) * | 2011-06-06 | 2012-12-06 | Picokinetix Llc | Modal-domain optical fiber sensor system |
CN108490850A (zh) * | 2018-02-13 | 2018-09-04 | 天津大学 | 一种智能静电检测油罐 |
Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2130046B2 (de) * | 1971-06-11 | 1974-09-12 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Einrichtung zur Messung von Spannungen an Hochspannungsleitern |
DE2845625A1 (de) * | 1978-10-19 | 1980-04-30 | Siemens Ag | Anordnung zur elektrooptischen spannungsmessung |
DE2945019A1 (de) * | 1978-11-16 | 1980-05-29 | Asea Ab | Faseroptisches messgeraet zur messung von physikalischen groessen |
DE2856183A1 (de) * | 1978-12-27 | 1980-07-10 | Aeg Telefunken Kabelwerke | Mechano- oder thermooptischer messwandler |
DE3019030A1 (de) * | 1979-05-31 | 1980-12-18 | Asea Ab | Optisches messgeraet zur messung magnetischer und elektrischer felder |
US4319186A (en) * | 1978-05-05 | 1982-03-09 | National Research Development Corporation | Signal sensors |
EP0010221B1 (de) * | 1978-10-12 | 1983-02-09 | Asea Ab | Faseroptisches Messgerät |
DE3229570A1 (de) * | 1982-08-07 | 1984-02-09 | Philips Kommunikations Industrie AG, 8500 Nürnberg | Optischer demultiplexer |
DE3232445A1 (de) * | 1982-09-01 | 1984-03-01 | Philips Kommunikations Industrie AG, 8500 Nürnberg | Optische weiche |
US4468091A (en) * | 1980-03-20 | 1984-08-28 | Optelecom, Incorporated | Fiber optic energy sensor and demodulation system and method of making same |
US4477723A (en) * | 1981-11-04 | 1984-10-16 | Optical Technologies, Inc. | Fiber optic electric field sensor/phase modulator |
US4547729A (en) * | 1979-10-10 | 1985-10-15 | Asea Aktiebolag | Optical fiber measuring devices |
DE3504945A1 (de) * | 1984-05-24 | 1985-11-28 | MITEC Moderne Industrietechnik GmbH, 8012 Ottobrunn | Anordnung zum messen der elektrischen spannungsparameter eines hochspannungsleiters |
EP0316619A1 (de) * | 1987-11-05 | 1989-05-24 | Asea Brown Boveri Ag | Faseroptischer Sensor |
EP0316635A1 (de) * | 1987-11-13 | 1989-05-24 | ABB Management AG | Faseroptischer Spannungssensor |
EP0393382A1 (de) * | 1989-04-07 | 1990-10-24 | Asea Brown Boveri Ag | Vorrichtung zum Messen eines eletrischen Feldes |
DE4025911A1 (de) * | 1989-09-25 | 1991-04-04 | Asea Brown Boveri | Anordnung fuer die spannungsmessung in einer gis-anlage |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3781092A (en) * | 1971-06-28 | 1973-12-25 | D Sussman | Monitoring system |
US4922095A (en) * | 1989-05-11 | 1990-05-01 | Conoco Inc. | Method and apparatus for sensing disturbance using fiber-optic polarization rotation |
US5200795A (en) * | 1989-08-31 | 1993-04-06 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Passive quadrature phase detection system for coherent fiber optic systems |
EP0433824B1 (de) * | 1989-12-22 | 1994-03-02 | Asea Brown Boveri Ag | Faseroptischer Sensor |
-
1991
- 1991-05-02 DE DE4114253A patent/DE4114253A1/de not_active Withdrawn
-
1992
- 1992-04-22 CH CH1291/92A patent/CH683460A5/de not_active IP Right Cessation
- 1992-05-01 US US07/877,071 patent/US5196695A/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-05-01 GB GB9209431A patent/GB2256044B/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2130046B2 (de) * | 1971-06-11 | 1974-09-12 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Einrichtung zur Messung von Spannungen an Hochspannungsleitern |
US4319186A (en) * | 1978-05-05 | 1982-03-09 | National Research Development Corporation | Signal sensors |
EP0010221B1 (de) * | 1978-10-12 | 1983-02-09 | Asea Ab | Faseroptisches Messgerät |
DE2845625A1 (de) * | 1978-10-19 | 1980-04-30 | Siemens Ag | Anordnung zur elektrooptischen spannungsmessung |
DE2945019A1 (de) * | 1978-11-16 | 1980-05-29 | Asea Ab | Faseroptisches messgeraet zur messung von physikalischen groessen |
DE2856183A1 (de) * | 1978-12-27 | 1980-07-10 | Aeg Telefunken Kabelwerke | Mechano- oder thermooptischer messwandler |
DE3019030A1 (de) * | 1979-05-31 | 1980-12-18 | Asea Ab | Optisches messgeraet zur messung magnetischer und elektrischer felder |
US4547729A (en) * | 1979-10-10 | 1985-10-15 | Asea Aktiebolag | Optical fiber measuring devices |
US4468091A (en) * | 1980-03-20 | 1984-08-28 | Optelecom, Incorporated | Fiber optic energy sensor and demodulation system and method of making same |
US4477723A (en) * | 1981-11-04 | 1984-10-16 | Optical Technologies, Inc. | Fiber optic electric field sensor/phase modulator |
DE3229570A1 (de) * | 1982-08-07 | 1984-02-09 | Philips Kommunikations Industrie AG, 8500 Nürnberg | Optischer demultiplexer |
DE3232445A1 (de) * | 1982-09-01 | 1984-03-01 | Philips Kommunikations Industrie AG, 8500 Nürnberg | Optische weiche |
DE3504945A1 (de) * | 1984-05-24 | 1985-11-28 | MITEC Moderne Industrietechnik GmbH, 8012 Ottobrunn | Anordnung zum messen der elektrischen spannungsparameter eines hochspannungsleiters |
EP0316619A1 (de) * | 1987-11-05 | 1989-05-24 | Asea Brown Boveri Ag | Faseroptischer Sensor |
US4929830A (en) * | 1987-11-05 | 1990-05-29 | Asea Brown Boveri Ag | Fiber-optic electric field sensor with piezoelectric body sensor |
EP0316635A1 (de) * | 1987-11-13 | 1989-05-24 | ABB Management AG | Faseroptischer Spannungssensor |
EP0393382A1 (de) * | 1989-04-07 | 1990-10-24 | Asea Brown Boveri Ag | Vorrichtung zum Messen eines eletrischen Feldes |
DE4025911A1 (de) * | 1989-09-25 | 1991-04-04 | Asea Brown Boveri | Anordnung fuer die spannungsmessung in einer gis-anlage |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5343036A (en) * | 1992-05-15 | 1994-08-30 | Asea Brown Boveri Ltd. | Optical measurement of electrical quantities using inverse piezoelectric effect with dual double-mode fiber |
DE19743658A1 (de) * | 1997-10-02 | 1999-04-08 | Abb Research Ltd | Faseroptischer Spannungssensor für Freiluft-Hochspannungsanlagen |
US6140810A (en) * | 1997-10-02 | 2000-10-31 | Abb Research Ltd. | Fiber-optic voltage sensor for outdoor high-voltage installations |
DE19743658B4 (de) * | 1997-10-02 | 2007-02-08 | Abb Research Ltd. | Faseroptischer Spannungssensor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH683460A5 (de) | 1994-03-15 |
US5196695A (en) | 1993-03-23 |
GB2256044B (en) | 1995-10-04 |
GB2256044A (en) | 1992-11-25 |
GB9209431D0 (en) | 1992-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3326555C2 (de) | ||
DE19738328B4 (de) | Interferometrische Vorrichtung zur Messung von Bewegungen eines Objektträgers relativ zu festen Reflektoren | |
DE19821616B4 (de) | Anordnung zur Bestimmung von absoluten physikalischen Zustandsgrößen, insbesondere Temperatur und Dehnung, einer optischen Faser | |
EP0706661B1 (de) | Optisches messverfahren zum messen eines elektrischen wechselstromes mit temperaturkompensation und vorrichtung zur durchführung des verfahrens | |
EP0657740A2 (de) | Verfahren zur magnetooptischen Strommessung und magnetooptische Strommesseinrichtung | |
EP0569700B1 (de) | Faseroptischer Sensor | |
WO2010006764A2 (de) | Faseroptisches mehrwellenlängeninterferometer (mwli) zur absoluten vermessung von abständen und topologien von oberflächen in grossem arbeitsabstand | |
DE10244553B3 (de) | Interferometrische Messeinrichtung | |
EP3447441B1 (de) | Vorrichtung zur interferometrischen abstandsmessung | |
DE19628200B4 (de) | Vorrichtung zur Durchführung interferometrischer Messungen | |
EP0866974B1 (de) | Optisches messverfahren und optische messanordnung zum messen einer wechselgrösse mit intensitätsnormierung | |
DE3626639A1 (de) | Fotoelektrischer messwandler, insbesondere beschleunigungsmesser | |
EP0612976B1 (de) | Phasenmoduliertes Interferometer | |
DE2936284C3 (de) | Ringinterferometer | |
DE3726411A1 (de) | Faseroptischer magnetfeldsensor | |
EP0529339B1 (de) | Faseroptischer Sensor | |
DE102004053082A1 (de) | Positionsmesssystem | |
DE4114253A1 (de) | Faseroptischer sensor | |
DE3528294C2 (de) | ||
DE60219550T2 (de) | Verfahren und System zur optischen Spektrumsanalyse mit Korrektur einer ungleichmässigen Abtastrate | |
DE4039955A1 (de) | Anordnung mit zwei laserdioden zur erzeugung von licht mit zwei wellenlaengen | |
DE60105791T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur messung der phasendifferenz zwischen intensitätsmodulierten optischen signalen | |
WO2018206731A1 (de) | Abstandsmessanordnung zur bestimmung eines abstandes zu einem objekt | |
DE4115370A1 (de) | Faseroptischer sensor | |
DE19544778A1 (de) | Verfahren und Anordnung zum Messen einer Meßgröße, insbesondere eines elektrischen Stromes, mit hoher Meßauflösung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: LUECK, G., DIPL.-ING. DR.RER.NAT., PAT.-ANW., 7976 |
|
8141 | Disposal/no request for examination |