DE4104079A1 - Probenkopf fuer die nmr-tomographie - Google Patents
Probenkopf fuer die nmr-tomographieInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Probenkopf für die NMR-Tomographie,
mit mindestens einem hohlzylindrischen Gehäuse, dessen äußerer,
zylindrischer Mantel aus im wesentlichen durchgehendem, elek
trisch leitendem Material besteht, und dessen innerer, zylin
drischer, einen Probenraum umgebender Mantel mit mehreren
parallelen und axial verlaufenden elektrischen Leitern versehen
ist, und mit mindestens einer Koppelanordnung zum Erzeugen
hochfrequenter elektrischer Ströme in den Leitern.
Ein Probenkopf der vorstehend genannten Art ist aus der
DE-OS 35 22 401 bekannt.
Der bekannte Probenkopf ist für Kernresonanz-Tomographen
vorgesehen, deren Meßfrequenz in der Größenordnung von 100 MHz
liegt. Durch die vorstehend genannte Anordnung wird erreicht,
daß sich im Probenraum des Probenkopfes eine Verteilung des
hochfrequenten Magentfeldes ausbildet, bei der die Feldlinien
im wesentlichen parallel zueinander und in einer Radialebene
verlaufen. Die Homogenität des hochfrequenten Magnetfeldes
ist daher sehr gut. Dadurch, daß die Feldlinien sämtlich in
einer Radialebene verlaufen, ist auch sichergestellt, daß das
hochfrequente Magnetfeld senkrecht zur Achse des Probenkopfes
verläuft, so daß der Probenkopf koaxial zu einer Solenoidspule
angeordnet werden kann, die das magnetische Konstantfeld
erzeugt, das zur Anregung von Kernresonanz erforderlich ist.
Im Bereich der Kernresonanz-Tomographen geht nun eine allgemeine
Entwicklungsrichtung dahin, Tomographen für immer höhere
Meßfrequenzen, beispielsweise für Meßfrequenzen von 300 MHz
oder noch darüber zu entwickeln.
In diesem Frequenzbereich stößt jedoch der eingangs geschilderte
bekannte Probenkopf an technische Grenzen. So erhöhen sich
bei hohen Frequenzen vor allem die Streufelder, was zu einer
Verminderung der Güte führt. Außerdem nimmt bei langgestreckten
Probenköpfen der eingangs genannten Art die Intensität des
hochfrequenten Magnetfeldes in Achsrichtung von der Mitte nach
außen ab, so daß bei volumenselektiven Messungen die unter
schiedliche Amplitude des hochfrequenten Magnetfeldes bei
Variation der axialen Lage des Meßvolumens berücksichtigt
werden muß.
Aus der EP-OS 03 42 745 ist ein Kernspinuntersuchungsgerät
mit einer Hochfrequenzspulenanordnung bekannt. Bei diesem
bekannten Gerät soll eine Erhöhung von Güte und Empfindlichkeit
dadurch erreicht werden, daß die Spule aus einzelnen, auf die
gleiche Resonanzfrequenz abgestimmten, Resonatoren besteht,
die lediglich induktiv miteinander gekoppelt aber nicht gal
vanisch miteinander verbunden sind.
Bei diesem bekannten Gerät wird die Feldverzerrung in axialer
Entfernung von einer zentralen Spule dadurch kompensiert, daß
Zusatzspulen im axialen Abstand zur mittleren Spule angeordnet
werden, diese Zusatzspulen jedoch als passive Schwingkreise
geschaltet sind. Diese passiven Schwingkreise nehmen dann das
von der mittleren, aktiven Spule erzeugte Magnetfeld auf und
"verlängern" es in axialer Richtung, so daß die aus der mitt
leren, aktiven Spule in axialer Richtung austretenden Feldlinien
linearer verlaufen, als dies bei Abwesenheit der zusätzlichen
passiven Spulenschwingkreise möglich ist.
Das bekannte Gerät ist jedoch lediglich für relativ niedrige
Meßfrequenzen geeignet, die in der genannten EP-OS mit 8,5 MHz
angegeben sind. Nur bei diesen relativ niedrigen Meßfrequenzen
können kreisförmige Spulenanordnungen zum Erzeugen des gewünsch
ten hochfrequenten Magnetfeldes verwendet werden. Bei höheren
Meßfrequenzen von z. B. 50 MHz oder mehr sind derartige Spulen
anordnungen nicht mehr einsetzbar.
Ferner hat das bekannte Gerät den Nachteil, daß die passiven
Spulenschwingkreise jeweils einzeln auf die aktuelle Resonanz
frequenz der mittleren, aktiven Schwingkreisanordnung abgestimmt
werden müssen. Dies ist mit einem sehr hohen Aufwand verbunden,
der andererseits aber erforderlich ist, weil bei nicht exakter
Abstimmung der beispielsweise vier oder acht zusätzlichen
Spulenanordnungen ansonsten Inhomogenitäten anstelle einer
Homogenitätsverbesserung eintreten würden.
Aus der EP-PS 01 07 238 ist ein Kernresonanz-Tomograph bekannt,
bei dem Hochfrequenz-Sattelspulen zum Erzeugen des hochfrequen
ten Magnetfeldes verwendet werden.
Bei diesem bekannten Gerät ist alternativ vorgesehen, mehrere
Sattel-Teilspulen axial hintereinander oder in Umfangsrichtung
nebeneinander anzuordnen. Dabei ist auch die Möglichkeit
vorgesehen, bei einer Anordnung mit mehreren axial benachbarten
Sattelspulen die jeweiligen Einzelspulen aus einer gemeinsamen
Hochfrequenz-Quelle in Parallelschaltung zu versorgen.
Auch für diese bekannte Anordnung gilt, daß sie lediglich für
relativ niedrige Meßfrequenzen geeignet ist, die in der genann
ten EP-PS mit 9 MHz, maximal jedoch 20 MHz angegeben sind.
Bei diesem bekannten Tomographen wird zwar die gesamte Spulen
anordnung infolge der Parallelschaltung der einzelnen Sat
telspulen aktiv mit Hochfrequenz-Strom versorgt, dies kann
jedoch zu Wechselwirkungen zwischen den einzelnen Spulen führen,
da diese eng miteinander verkoppelt sind.
Der Erfindung liegt demgegenüber die Aufgabe zugrunde, einen
Probenkopf der eingangs genannten Art dahingehend weiterzubil
den, daß bei wesentlich höheren Meßfrequenzen bis typischerweise
300 MHz oder mehr Tomographie-Messungen mit sehr konstantem
hochfrequentem Magnetfeld bei hohem Füllfaktor möglich sind.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß minde
stens zwei Teilgehäuse in Achsrichtung gegeneinander verschoben
angeordnet sind, und daß die Teilgehäuse jeweils mit den Leitern
versehen sind.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe wird auf diese
Weise vollkommen gelöst.
Durch Verwendung mehrerer axial nebeneinander angeordneter,
aber koaxialer Teilgehäuse wird nämlich die Gesamthomogenität
erhöht, weil der Randabfall des hochfrequenten Magnetfeldes
innerhalb jedes Teilgehäuses kleiner ist als der Randabfall
bei einem durchgehenden langgestreckten Gehäuse. Ferner wird
durch die separate Einstellbarkeit der hochfrequenten Ströme
erreicht, daß die bei den bekannten Anordnungen typischen
Fehler eliminiert werden können. Hierzu gehören insbesondere
die bei den bekannten Anordnungen unvermeidbaren Phasenfehler,
beispielsweise durch unterschiedliche Belastung der einzelnen
Spulen. Dabei ist zu berücksichtigen, daß Probenköpfe der
hier interessierenden Art entweder ganze menschliche Körper
oder zumindest ganze Gliedmaßen menschlicher Körper aufnehmen
sollen, also Meßobjekte, die sehr inhomogen sind. Nur dann,
wenn erfindungsgemäß innerhalb der einzelnen Teilgehäuse
hochfrequente Magnetfelder erzeugt werden können, die infolge
der separaten Einstellbarkeit der hochfrequenten Ströme eben
falls separat einstellbar sind, können derartige Inhomogenitäten
ausgeglichen werden. Es brauchen dann bei größeren tomographi
schen Messungen, die über weite axiale Bereiche führen, keine
Kompensationsmaßnahmen vorgenommen zu werden.
Vor allem aber gilt, daß bei Verwendung mehrerer Teilgehäuse
durch Verringerung der elektrischen Streufelder die Gesamtgüte
der Anordnung auch bei sehr hohen Meßfrequenzen weit höher
ist als dies bei einer einheitlich durchgehenden Anordnung
der Fall wäre.
Bei einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung sind die
hochfrequenten Ströme in den Teilgehäusen unabhängig voneinander
einstellbar. Insbesondere sollen die hochfrequenten Ströme
während des Betriebes des Probenkopfes manuell oder automatisch
einstellbar sein.
Diese Maßnahme, die z. B. dadurch realisiert werden kann, daß
jedes Teilgehäuse eine eigene Einkoppelvorrichtung hat, hat
den Vorteil, daß je nach Meßaufgabe die elektromagnetischen
Schwingungen innerhalb der Probenräume der beiden Teilgehäuse
individuell eingestellt werden können.
Es ist daher infolge der strengen Entkopplung beider Teil
gehäuse möglich, unter Beibehaltung dieser geometrischen
Entkopplung jedes einzelne Teilgehäuse individuell zu betreiben,
um besondere Meßeffekte zu erzielen.
Dies wirkt sich auch in einer Erhöhung des Füllfaktors aus,
weil das Verhältnis von Probenvolumen bzw. Meßvolumen bei
volumenselektiven Messungen zum Volumen des jeweiligen Proben
raumes günstiger wird, wenn zwei Teilräume isoliert betrachtet
werden. So ist es mit dem erfindungsgemäßen Probenkopf z. B.
auch möglich, wahlweise nur eines der beiden Teilgehäuse aktiv
zu betreiben und das andere jeweils abzuschalten, wenn nur
Meßvolumina im Probenraum des einen Teilgehäuses von Interesse
sind.
Obwohl im Rahmen der vorliegenden Erfindung prinzipiell die
Anzahl, Art und Anordnung der Teilgehäuse frei gewählt werden
könnte, sind Ausführungsformen bevorzugt, bei denen nur zwei
Teilgehäuse vorgesehen sind und/oder bei denen die Teilgehäuse
baugleich sind, und/oder bei denen die Teilgehäuse mit axialem
Abstand zueinander angeordnet sind und/oder der axiale Abstand
wesentlich kleiner als eine axiale Länge der Teilgehäuse ist
oder ganz verschwindet.
Eine besonders bevorzugte Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Probenkopfes zeichnet sich dadurch aus, daß die hochfrequenten
elektrischen Ströme so einstellbar sind, daß in den von den
Teilgehäusen umschlossenen Probenräumen hochfrequente mag
netische Wechselfelder erzeugt werden, deren Feldlinien in
jedem einzelnen Probenraum in einer Radialebene parallel
zueinander verlaufen.
Vorzugsweise sind dabei die Feldlinien des Wechselfeldes in
dem einen Probenraum orthogonal zu den Feldlinien des Wechsel
feldes in dem jeweils axial benachbarten Probenraum gerichtet.
Ferner ist dabei besonders bevorzugt, wenn in den von den
Teilgehäusen umschlossenen Probenräumen hochfrequente zirkular
polarisierte magnetische Wechselfelder erzeugt werden.
Diese Maßnahme führt dazu, daß die hochfrequenten Magnetfelder
beider Teilgehäuse geometrisch streng voneinander entkoppelt
werden können, weil die jeweiligen Feldlinien um 90° aufein
anderstehen.
Dies ist bei Probenköpfen der obengenannten Art möglich, weil
nur mit derartigen Probenköpfen Schwingungsmoden erzeugt werden
können, bei denen die räumliche Ausrichtung der elektrischen
Feldlinien in der genannten Weise einstellbar ist.
Dies hat zur Folge, daß die beiden Teilgehäuse einerseits
elektrisch voneinander entkoppelt sind, andererseits aber im
Hinblick auf die Tomographie-Messungen im wesentlichen einem
einstückigen Probenkopf gleichwertig bzw. sogar überlegen
sind.
Weiterhin ist eine Ausführungsform der Erfindung bevorzugt,
bei der die Leiter mit Ausnahme definierter Lücken auf gleich
mäßig über einen Umfang der Teilgehäuse verteilten Positionen
angeordnet sind, wobei sich die Lücken an mindestens zwei auf
einem gemeinsamen Durchmesser einer Radialebene liegenden
Positionen befinden.
Diese Maßnahme hat den Vorteil, daß die Ausrichtung der Schwin
gungsmoden innerhalb beider Teilgehäuse zusätzlich stabilisiert
wird, weil die "Lücken" die Ausrichtung der Feldlinien bestim
men.
Wenn, wie weiter oben erläutert, die Schwingungsmoden innerhalb
beider Teilgehäuse orthogonal zueinander ausgerichtet werden
sollen, so kann diese Orthogonalität dadurch unterstützt und
stabilisiert werden, daß die Lückenpositionen innerhalb beider
Teilgehäuse ebenfalls um 90° zueinander versetzt angeordnet
werden.
Weitere Vorteile ergeben sich aus der Beschreibung und der
Zeichnung.
Es versteht sich, daß die vorstehend genannten und die nach
stehend noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in der jeweils
angegebenen Kombination, sondern auch in anderen Kombinationen
oder in Alleinstellung verwendbar sind, ohne den Rahmen der
vorliegenden Erfindung zu verlassen.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung
dargestellt und werden in der nachfolgenden Beschreibung näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht, teilweise aufge
brochen, durch einen Probenkopf nach dem Stande
der Technik;
Fig. 2 eine ebenfalls perspektivische Darstellung eines
Ausführungsbeispiels eines erfindungsgemäßen
Probenkopfes;
Fig. 3 eine Seitenansicht, äußerst schematisiert und im
Längsschnitt, durch den Probenkopf gemäß Fig. 1;
Fig. 4 eine Darstellung, ähnlich Fig. 3, jedoch für den
Probenkopf gemäß Fig. 2;
Fig. 5 eine weitere perspektivische Darstellung eines
Ausführungsbeispiels eines erfindungsgemäßen
Probenkopfes, einschließlich eines Teils seiner
elektrischen Beschaltung.
In Fig. 1 bezeichnet 1 insgesamt einen Probenkopf für die
NMR-Tomographie. Die Längsachse des im wesentlichen zylindri
schen Probenkopfes 1 ist mit 2 bezeichnet. Es ist bekannt,
derartige Probenköpfe 1 für die NMR-Tomographie in einem
statischen Magnetfeld hoher Feldstärke und Homogenität an
zuordnen, dessen Richtung mit der Achse 2 des Probenkopfes 1
zusammenfällt.
Eine Probe, insbesondere eine lebende Probe, beispielsweise
ein Kopf oder Gliedmaßen oder ein ganzer Körper eines Menschen
oder eines Tieres, wird in einen Probenraum 10 des Proben
kopfes 1 gebracht und dort einem magnetischen Hochfrequenz-
Feld ausgesetzt, das im wesentlichen senkrecht zur Achse 2
des konstanten magnetischen Feldes verläuft. Probenköpfe 1
für die NMR-Tomographie dienen daher generell dazu, ein Hoch
frequenz-Magnetfeld auf die Probe einzustrahlen, das senkrecht
zur Richtung des Konstant-Magnetfeldes gerichtet und möglichst
homogen ist.
Der Probenkopf 1 gemäß Fig. 1 ist von an sich bekannter Bauart.
Einzelheiten zu dem Probenkopf 1 sind in der DE-OS 35 22 401
beschrieben, deren Offenbarungsgehalt durch diese Bezugnahme
auch zum Offenbarungsgehalt der vorliegenden Anmeldung gemacht
wird.
Der Probenkopf 1 umfaßt ein hohlzylindrisches Gehäuse 11 mit
einem äußeren Mantel 12 und einem inneren Mantel 13 sowie
Stirnflächen 14, die den Zwischenraum 15 zwischen den Mänteln
12, 13 überbrücken.
Die Oberfläche 16 des äußeren Mantels 12 ist elektrisch leitend
ausgebildet. Die Stirnflächen 14 sind radial unterteilt. Ein
äußerer kreisbogenförmiger Bereich 18 verfügt über eine eben
falls elektrisch leitfähige Oberfläche 19, die mit einer
umlaufenden Lötstelle 20 mit der leitenden Oberfläche 16 des
äußeren Mantels 12 verbunden ist. Ein innerer Bereich 21 der
Stirnflächen 14 ist hingegen nicht leitend.
Die leitende Oberfläche 17 des inneren Mantels 13 ist nur in
einer Richtung parallel zur Achse 2 des Gehäuses 11 elektrisch
leitend, weil sie in axiale Leiter 22 unterteilt ist. Jeder
der Leiter 22 ist mit einem radial verlaufenden, leitfähigen
Streifen 23 auf dem inneren Bereich 21 der Stirnflächen 14
verbunden. Von den Streifen 23 führen Kondensatoren 24 zum
äußeren, leitfähigen Bereich 18 der Stirnfläche 14.
Im Bereich der Stirnfläche 14 ist in den inneren Mantel 13
ein rohrförmiger, ebenfalls elektrisch leitender Abschnitt 25
eingeschoben, der in Richtung der Achse 2 verschiebbar ausge
bildet ist.
Die vorstehende Schilderung bezog sich auf nur eine Stirnseite
26 des Probenkopfes 1, es versteht sich jedoch, daß auch die
gegenüberliegende Stirnseite 26a, die in Fig. 1 nicht im
einzelnen dargestellt ist, in entsprechender Weise ausgebildet
ist, so daß der Probenkopf 1 insgesamt symmetrisch aufgebaut
ist.
Um elektrische Energie in den Probenkopf 1 einzukoppeln, sind
vier über den Umfang verteilte Koppelanordnungen vorgesehen,
von denen nur eine mit 27 im einzelnen dargestellt ist. Zum
Justieren der Koppelanordnungen 27 sind Stangen 28, 29 vor
gesehen, die den Zwischenraum 15 parallel zur Achse 2 durch
setzen. An einem Ende laufen die Stangen 28, 29 in Griffe
30, 31, 32, 33 aus, die in Richtung der eingezeichneten Doppel
pfeile verdrehbar sind. Die entgegengesetzten Enden der Stangen
28, 29 ruhen in Lagern 34, 35, 36, 37 der gegenüberliegenden
Stirnfläche 14, wobei die Lager 34, 35, 36, 37 gleichzeitig
als Anschlüsse dienen, wie bei 38 und 39 angedeutet.
Von den Anschlüssen 38, 39 führt eine axiale Leitung 40 zu
einer im wesentlichen in der axialen Mitte der Stangen 28, 29
angeordneten Schleifenantenne 41. Schließlich ist im äußeren
Mantel 12 noch eine Beobachtungsöffnung 43 vorgesehen, durch
die ein Blick in das Innere des Probenkopfes 1 und auch in
den Probenraum 10 in Richtung eines Pfeiles 44 möglich ist.
Der Mantel 12 besteht bevorzugt aus einem Tragekörper, der
mit einer Kupferkaschierung versehen ist. Der Tragekörper
kann aus Glas, Keramik oder Kunststoff bestehen. Als besonders
geeignet hat sich ein glasfaserverstärkter Kunststoff erwiesen,
der eine Dielektrizitätszahl ε von 3,8 und einen Verlustfaktor
tan α von 0,15 bei 50 MHz aufweist. Für den inneren Mantel 13
kann ebenfalls ein Tragekörper aus Glas, Keramik oder Kunststoff
verwendet werden, als besonders geeignet hat sich ein Polyvinyl
chlorid (PVC) erwiesen, das eine Dielektrizitätszahl ε von
3,5 und einen Verlustfaktor tan α von 0,03 bei 1 MHz aufweist.
Bei praktischen Ausführungsbeispielen des Probenkopfes 10
besteht die Kupferkaschierung des äußeren Mantels 12 aus einem
Kupferblech von 0,3 mm Dicke, das auf die Außenseite des
Tragekörpers aufgewickelt und entlang einer Mantellinie verlötet
wurde. Als Kupferkaschierung des inneren Mantels 13 wurde bei
einem praktischen Ausführungsbeispiel ein flexibles Leiter
plattenmaterial verwendet, dessen leitfähige Oberfläche aus
einer Kupferschicht von 35 µm Dicke bestand.
Auf diese Weise wurde ein Probenkopf gemäß Fig. 1 nach dem
Stande der Technik von 250 mm Länge, einem Außendurchmesser
von ca. 250 mm und einen Innendurchmesser von ca. 160 mm
aufgebaut. Es wurden 120 äquidistante Leiter 22 auf den inneren
Mantel 13 aufgebracht und jeweils mit einem Kondensator von
2, 7pF an beiden Seiten an die Stirnflächen angeschlossen,
wobei der bekannte Probenkopf für eine Meßfrequenz von 100 MHz
ausgelegt war.
Fig. 2 zeigt nun ein Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen
Probenkopfes 50, der im Gegensatz zu dem bekannten Probenkopf 1
der Fig. 1 für wesentlich höhere Frequenzen von 300 MHz ein
setzbar ist.
Der Probenkopf 50 gemäß Fig. 2 besteht aus zwei Teilgehäusen
51 und 52, die entlang einer gemeinsamen Achse 53 nebeneinander
angeordnet sind. Bei dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungs
beispiel haben die benachbarten Stirnseiten der Teilgehäuse
51, 52 einen axialen Abstand 54 zueinander, der vorzugsweise
wesentlich geringer als die axiale Länge beider Teilgehäuse
51, 52 ist.
Mit 55 und 56 sind Leiterstäbe in den Teilgehäusen 51, 52
angedeutet. Diese Leiterstäbe 55, 56 haben die Funktion der
axialen Leiter 22 beim bekannten Probenkopf 1 der Fig. 1. Im
übrigen sind die Teilgehäuse 51, 52 prinzipiell so aufgebaut
wie der bekannte Probenkopf 1 gemäß Fig. 1, so daß insoweit
auf die Beschreibung zu Fig. 1 verwiesen werden kann.
Beim erfindungsgemäßen Probenkopf 50 gemäß Fig. 2 sind bevorzugt
wesentlich weniger axiale Leiterstäbe 55, 56 über einen Umfang
der Teilgehäuse 51 und 52 verteilt angeordnet.
Es wurde weiter oben erwähnt, daß bei einem Ausführungsbeispiel
des bekannten Probenkopfes 1 gemäß Fig. 1 120 äquidistante
axiale Leiter 22 eingesetzt wurden, diese Anzahl ist jedoch
schon beim Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1 nicht zwingend,
es können nämlich auch wesentlich weniger Leiter 22 verwendet
werden, im Extremfall sind nur zwei Leiter ausreichend.
Beim Ausführungsbeispiel des Probenkopfes 50 gemäß Fig. 2 sind
jeweils zweiunddreißig Leiterstäbe 55 bzw. 56 eingetragen, es
versteht sich jedoch, daß auch wesentlich weniger, beispielswei
se acht oder sechzehn oder auch nur zwei Leiterstäbe 55, 56
eingesetzt werden können.
Aus Gründen, die weiter unten noch im einzelnen erläutert
werden, ist ferner bevorzugt, wenn an jeweils zwei diametral
gegenüberliegenden Positionen keine Leiterstäbe 55 bzw. 56
vorgesehen sind. Diese Positionen, die in Fig. 2 mit 55n und
55n′ für das Teilgehäuse 51 und mit 56n, 56n′ für das Teil
gehäuse 52 bezeichnet sind, befinden sich somit jeweils auf
einem gemeinsamen Durchmesser 57 bzw. 58, der jeweils in einer
Radialebene der Teilgehäuse 51, 52 angeordnet ist. Die beiden
gemeinsamen Durchmesser 57 und 58 der Teilgehäuse 51 und 52
stehen dabei vorzugsweise aufeinander senkrecht.
In Fig. 2 ist schließlich der Probenraum im linken Teilgehäuse
51 mit 60 und der Probenraum im rechten Teilgehäuse 52 mit 61
angedeutet.
In den Fig. 3 und 4 sind zum Vergleich die Verhältnisse in
hochfrequenztechnischer Hinsicht bei dem vorbekannten Probenkopf
1 gemäß Fig. 1 in Fig. 3 und bei dem erfindungsgemäßen Proben
kopf 50 gemäß Fig. 2 in Fig. 4 dargestellt. Die Darstellungen
der Fig. 3 und 4 betreffen jeweils einen äußerst schematisierten
Axialschnitt, wobei die dargestellten Elemente mit den selben
Bezugszeichen wie in den Fig. 1 bzw. 2 versehen sind.
In Fig. 3 erkennt man, daß die axialen Leiter 22 von einem
Hochfrequenzstrom I10 durchflossen werden. Dieser Hochfre
quenzstrom I10 hat einen Verlauf H10 des hochfrequenten mag
netischen Wechselfeldes zur Folge, wobei der Verlauf H10 jeweils
die Amplitude über der Achse 2 darstellt. Gestrichelt ist mit
U10 der zugehörige Verlauf der Hochfrequenz-Spannung darge
stellt.
Man erkennt aus Fig. 3, daß der Verlauf der Feldstärke H10
zum axialen Rand des Probenkopfes 1 hin einen deutlichen Abfall
aufweist. Dies bedeutet, daß bei volumenselektiven Messungen,
d. h. bei Messungen von isolierten kleinen Probenvolumina am
Rande des Probenkopfes 1 berücksichtigt werden muß, daß dort
die Intensität des hochfrequenten Magnetfeldes, verglichen
mit der Mitte des Probenkopfes 1, abgenommen hat.
Vergleicht man nun die Verhältnisse beim erfindungsgemäßen
Probenkopf 50 gemäß Fig. 4, so erkennt man, daß die Leiterstäbe
55 in der linken Hälfte von einem Hochfrequenzstrom I51 und
die Leiterstäbe 56 der rechten Hälfte von einem Hochfrequenz
strom I52 durchströmt werden. Die Verläufe für das hochfrequente
magnetische Wechselfeld sind mit H51 und H52, die Verläufe
für das elektrische Streufeld sind mit E51 und E52 bezeichnet.
Man erkennt aus Fig. 4 deutlich, daß der Randabfall bei den
Verläufen H51 und H52 wesentlich geringer ist als im Falle
des Probenkopfes 1 gemäß Fig. 3; dies liegt daran, daß wegen
der wesentlich kürzeren axialen Länge im Vergleich zur Hoch
frequenz-Wellenlänge der Randabfall deutlich weniger in Er
scheinung tritt.
Insgesamt bedeutet dies, daß eine größere Homogenität des
hochfrequenten Magnetfeldes zu verzeichnen ist, so daß bei
mehreren Messungen an unterschiedlichen axialen Punkten der
Probe im Probenkopf 50 keine oder nur geringe Kompensations
maßnahmen erforderlich sind.
Außerdem bringt es die Aufteilung des Probenkopfes 50 in zwei
Teilgehäuse 51 und 52 mit sich, daß der sogenannte Füllfaktor,
d. h. das Verhältnis des Probenvolumens zum Probenkopfvolumen
günstiger ist, wenn man jeweils nur eine Hälfte des Probenkopfes
50 betreibt.
Fig. 5 zeigt nochmals das Ausführungsbeispiel des erfindungs
gemäßen Probenkopfes 50, in äußerst schematisierter Darstellung.
Der Probenkopf 50 gemäß Fig. 5 wird mit seinen beiden Hälften
aus einem gemeinsamen Sender 70 versorgt. Hierzu ist der Sender
70 an seinem Ausgang verzweigt und mit zwei Abschwächern 71,
72 verbunden. Die Abschwächer 71, 72 sind jeweils über Phasen
schieber 73, 74 mit den elektrischen Leitern in den beiden
Teilgehäusen 51 und 52 gekoppelt.
Durch die beiden Zweige mit den Abschwächern 71, 72 und Phasen
schiebern 73, 74 ist es möglich, den Hochfrequenzstrom I51
und I52 in den Leiterstäben 55, 56 der Teilgehäuse 51, 52
separat nach Betrag und Phase einzustellen.
Der Probenkopf 50 ist ebenso wie der bekannte Probenkopf 1
gemäß Fig. 1 so ausgelegt, daß in ihm eine TEM-Dipolwelle
ausbreitungsfähig ist. Die Feldverteilung des magnetischen
Feldes ist dabei derart, daß die magnetischen Feldlinien den
Probenraum in einer Weise durchsetzen, daß sie parallel zueinan
der und in einer Radialebene verlaufen. Dies ist in Fig. 2
für das linke Teilgehäuse 51 dargestellt. Es kann in den
Teilgehäusen 51, 52 jeweils eine zirkular polarisierte Welle
angeregt werden, in diesem Falle ohne Leerstellen an Positionen
55n und 55n′ und im allgemeinen mit zwei phasenverschobenen
Einkoppelstellen an jedem Teilgehäuse 51, 52. In vorteilhafter
Weise sind die beiden zirkular polarisierten Wellen in den
beiden Teilgehäusen 51, 52 um 90° phasenverschoben, d. h. die
magnetischen Feldlinien im Probenraum des ersten Teilgehäuses
51 stehen jederzeit senkrecht auf denen im Probenraum des
zweiten Teilgehäuses 52. Damit sind die entsprechenden Schwin
gungen entkoppelt. Das Arbeiten mit zirkular polarisierten
Wellen bringt theoretisch einen Faktor 1,4 im Signal-zu-Rausch-
Verhältnis und bringt bei hohen Frequenzen eine homogenere
Verteilung der magnetischen Komponente des Hochfrequenz-Feldes,
ist aber praktisch schwerer zu beherrschen.
Alternativ können aber auch jeweils linear polarisierte Schwin
gungen angeregt werden. In Fig. 2 erkennt man, daß die Leer
stellen an den Positionen 55n und 55n′, d. h. diejenigen Stellen
am Umfang des Teilgehäuses 51, an denen sich kein Leiterstab
55 befindet, die Ausrichtung der magnetischen Feldlinien
bestimmen und stabilisieren.
Mit der Anordnung gemäß Fig. 5 stellen sich innerhalb der
Probenräume 60, 61 Schwingungsmoden ein, die orthogonal zuein
ander gerichtet sind, wie mit H51 und H52 in Fig. 5 angedeutet.
Die Feldlinien dieser Schwingungsmoden stehen somit aufeinander
senkrecht, wie oben rechts in Fig. 5 nochmals zur Verdeutlichung
herausgezeichnet.
Die Anregungsphasen der beiden linear polarisierten Schwingungen
in den beiden Teilgehäusen 51 und 52 können identisch sein,
grundsätzlich kann aber jede beliebige relative Phasenlage
eingestellt werden. Insbesondere kann der Phasenunterschied
90° betragen. In diesem Fall überlagern sich die Beiträge der
Anregungen der einzelnen Teilgehäuse 51, 52 im Übergangsbereich
zwischen ihnen zu einer näherungsweise zirkular polarisierten
Welle.
In Fig. 5 sind mit den Elementen 70 bis 74 lediglich Sender
elemente dargestellt, es versteht sich jedoch, daß entsprechende
Empfangselemente oder gekoppelte Sender/Empfangselemente
vorgesehen sind, um die zu messenden Kernresonanzsignale zu
erfassen und weiterzuverarbeiten. Insbesondere kann auch in
Quadratur detektiert werden.
Es versteht sich, daß mehr als zwei Teilgehäuse in der
beschriebenen Art kombiniert werden können, wobei in bevorzugter
Weise die Schwingungsrichtungen benachbarter Teilgehäuse um
90° gegeneinander verschoben sind.
Claims (13)
1. Probenkopf für die NMR-Tomographie, mit mindestens
einem hohlzylindrischen Gehäuse (11; 51, 52), dessen
äußerer, zylindrischer Mantel (12) aus im wesentlichen
durchgehendem, elektrisch leitendem Material besteht,
und dessen innerer, zylindrischer, einen Probenraum
(10; 60, 61) umgebender Mantel (13) mit mehreren
parallelen und axial verlaufenden elektrischen Leitern
(22; 55, 56) versehen ist, und mit mindestens einer
Koppelanordnung (27) zum Erzeugen hochfrequenter elek
trischer Ströme (I10; I51, I52) in den Leitern (22;
55, 56), dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei
Teilgehäuse (51, 52) in Achsrichtung gegeneinander
verschoben angeordnet sind, und daß die Teilgehäuse (51,
52) jeweils mit den Leitern (55, 56) versehen sind.
2. Probenkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die hochfrequenten Ströme (I51, I52) in den Teil
gehäusen (51, 52) unabhängig voneinander einstellbar
sind.
3. Probenkopf nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die hochfrequenten Ströme (I51, I52) während des
Betriebes des Probenkopfes (50) manuell oder automatisch
einstellbar sind.
4. Probenkopf nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Teilgehäuse (51,
52) vorgesehen sind.
5. Probenkopf nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Teilgehäuse (51,
52) im wesentlichen baugleich sind.
6. Probenkopf nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Teilgehäuse
(51, 52) mit axialem Abstand (54) zueinander angeordnet
sind.
7. Probenkopf nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß der axiale Abstand (54) wesentlich kleiner als
eine axiale Länge der Teilgehäuse (51, 52) ist.
8. Probenkopf nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Teilgehäuse
(51, 52) axial unmittelbar aneinander angrenzen.
9. Probenkopf nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die hochfrequenten
elektrischen Ströme (I51, I52) so einstellbar sind,
daß in den von den Teilgehäusen (51, 52) umschlossenen
Probenräumen (60, 61) hochfrequente magnetische Wechsel
felder (H51, H52) erzeugt werden, deren Feldlinien in
jedem einzelnen Probenraum (60, 61) in einer Radialebene
parallel zueinander verlaufen.
10. Probenkopf nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß die Feldlinien des Wechselfeldes (H51) in dem einen
Probenraum (60) orthogonal zu den Feldlinien des Wechsel
feldes (H52) in dem jeweils axial benachbarten Probenraum
(61) gerichtet sind.
11. Probenkopf nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß in den von den
Teilgehäusen (51, 52) umschlossenen Probenräumen (60,
61) hochfrequente zirkular polarisierte magnetische
Wechselfelder (H51, H52) erzeugt werden.
12. Probenkopf nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiter (55, 56)
mit Ausnahme definierter Lücken auf gleichmäßig über
einen Umfang der Teilgehäuse (51, 52) verteilten Posi
tionen angeordnet sind, wobei sich die Lücken an minde
stens zwei auf einem gemeinsamen Durchmesser (57, 58)
einer Radialebene liegenden Positionen (55n, 55n′,
56n, 56n′) befinden.
13. Probenkopf nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß die Positionen (55, 55n) der Lücken eines
Teilgehäuses (51) gegenüber den Positionen (56, 56n)
der Lücken des benachbarten Teilgehäuses (52) um 90°
versetzt sind.
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