DE4102376A1 - Optisch-analytisches messgeraet, insbesondere differential-refraktometer - Google Patents
Optisch-analytisches messgeraet, insbesondere differential-refraktometerInfo
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/4133—Refractometers, e.g. differential
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Description
Die Erfindung betrifft ein optisch-analytisches Meßgerät, insbesondere
Differential-Refraktometer.
Derartige Geräte werden eingesetzt sowohl für Einzelproben als
auch als kontinuierlich messende Geräte zur Prozeßkontrolle in der
chemischen Industrie, Kunstfaserchemie, Petrochemie, Zucker- und
Getränkeindustrie und überall dort, wo Flüssigkeiten durch ihre
Brechzahl charakterisiert werden. Diese Geräte finden auch als
Detektoren in der Flüssigkeits-Chromatographie verbreitete Anwendung.
Refraktometer zur kontinuierlichen Kontrolle lichtdurchlässiger
Flüssigkeiten sind in großer Anzahl bekannt. In vielen Fällen
arbeiten sie nach dem Prinzip der Totalreflexion des Lichtes an
der Grenzfläche eines Meßprismas mit dem Medium. Derartige Geräte
sind jedoch stark abhängig von der Probentemperatur und anderen
äußeren Einflüssen, die besondere Maßnahmen zur Kompensation erfordern
oder sich anderenfalls auf die erreichbare Meßgenauigkeit
negativ auswirken.
Zur Erzielung einer hohen Meßgenauigkeit und einer Unabhängigkeit
von äußeren Störungen bevorzugt man deshalb automatische Refraktometer
nach dem Prinzip der Lichtablenkung in einer Differentialküvette,
die einerseits mit der Probe, andererseits mit einer
Referenzflüssigkeit gefüllt ist.
Derartige Refraktometer auf der Grundlage der Lichtablenkung verwenden
zumeist spezielle Methoden zur Kompensation der Lichtablenkung,
indem z. B. zur Detektion zwei Fotoempfänger verwendet
werden oder aber nur ein Fotoempfänger mit moduliertem Licht
beaufschlagt wird. Diese kompensierenden Refraktometer haben den
Nachteil, daß für den Kompensationsmechanismus bewegte Teile erforderlich
sind, die zwangsläufig dem Verschleiß unterworfen und
deshalb für Dauerbelastungen unter harten Betriebsbedingungen
nicht gut geeignet sind.
Nicht kompensierende Geräte vermeiden den Nachteil der notwendigen
Bewegungselemente, indem sie ein oder zwei lichtelektrische
Empfänger besitzen, deren abgegebenes Signal von der Intensität
des auffallenden Lichtes abhängig ist und als Meßwert verarbeitet
wird. Ist nur ein Empfänger vorhanden, so ist das Signal von
Intensitätsschwankungen der Lichtquelle und von der Absorption der
Probe beeinflußt, was zu Meßfehlern führen kann. Durch Verwendung
zweier Empfänger lassen sich diese Einflüsse wesentlich vermindern,
jedoch tritt als Nachteil auf, daß der Meßbereich sehr
begrenzt ist.
In der Patentschrift DE 25 26 110 versucht man die Einengung des
Meßbereiches dadurch zu umgehen, daß eintrittsseitig statt eines
einzelnen Spaltes eine Vielzahl von Spalten als Gitter vorgesehen
sind, und dieses Gitter durch die ablenkende Küvette hindurch auf
ein analoges Gitter abgebildet wird, dem Empfängerelement nachgeordnet
sind. Diese Anordnung hat neben dem hohen apparativen und
Justier-Aufwand den Nachteil, daß für den Küvettenraum eine große
Apertur erforderlich ist, um das von der Vielzahl der Spalte
herrührende Licht ungehindert passieren zu lassen.
Es ist auch ein Refraktometer bekannt, bei dem die Parallelversetzung
eines Lichtstrahls in einer parallelen, zur Lichtrichtung
geneigten Flüssigkeitsschicht gemessen wird. Das in der Patentanmeldung
EP 3 37 173 beschriebene Refraktometer hat aber den erheblichen
Nachteil, daß es ohne Verwendung einer Referenzflüssigkeit
mißt und deshalb sehr stark den äußeren Temperatureinwirkungen
unterworfen ist. Da die Flüssigkeitsschicht zwischen Glasprismen
eingebettet ist, in der Brechzahlbereich nach unten hin begrenzt
wegen des Auftretens der Totalreflexion, oder aber der Winkel der
Flüssigkeitsschicht muß klein gehalten werden, was sich nachteilig
auf die Meßempfindlichkeit auswirkt. Ein weiterer Nachteil ist,
daß die scharfe Abbildung der Eintrittsöffnung auf den Empfänger
aufgrund unterschiedlicher Lichtwege in der Flüssigkeit von der
Brechzahl der Probe beeinträchtigt wird. Außerdem ist die Meßempfindlichkeit
bei annähender Gleichheit von Probe- und Glasbrechzahl
sehr gering und bei größerer Differenz dieser Werte die
Strahlenversetzung stark nichtlinear.
Schließlich sind kombinierte Streulichtphotometer/Refraktometer
bekannt, bei denen eine Differentialküvette und zur Streulichtmessung
das an der Trennwand der Küvette pariell reflektierte Licht
verwendet wird. Zur Brechzahlmessung wird das durch die Küvette
tretende Licht auf zwei getrennte Fotoempfänger geleitet. Diese
Anordnung nach DE-GM 19 78 017 besitzt aber neben den Nachteilen
zweier getrennter Empfänger zusätzlichen Aufwand eines Empfängers
für das Streulicht und erfordert überdies eine komplizierte Gestaltung
der Küvette zur seitlichen Herausspiegelung dieses Lichtes.
Aufgabe der Erfindung ist es, unter Verwendung des Einsatzes
beweglicher Teile eine Kompensations- oder Modulationseinrichtung
allein durch die von der Brechzahl der Probe abhängigen Lichtablenkung
eine hochgenaue Brechzahlbestimmung mit einer platzsparenden,
flexibel in einem weiten Meßbereich einsetzbaren Anordnung
durchzuführen. Außerdem soll diese Anordnung geeignet
sein, weitere Meßarten, wie Transmissions- und Streulichtmessungen
zu gewährleisten.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß bei einem
optisch-analytischen Meßgerät, insbesondere einem Differential-Refraktometer,
bei dem einer Lichtquelle im Strahlengang nacheinander
eine Lichteintrittsöffnung, eine zwischen optisch wirksamen
Elementen im parallelen Strahlengang angeordneten Differentialküvette
und ein Empfänger nachgeordnet sind, als Empfänger ein
ortsselektiv wirkender Empfänger vorgesehen ist, dessen abgegebene
Signale als Information mindestens eine Ortsposition und zusätzlich
einzeln oder kombiniert einen Summen- bzw. Amplitudenwert
und einen Wert für eine Teilwertsbreite des Analysensignals enthalten.
Als Teilwertsbreite kann insbesondere die Halbwertsbreite
oder die Zehntelwertsbreite eingesetzt werden. Außerdem ist das
der Differentialküvette nachgeordnete abbildende Element ein
Spiegel, der einen nochmaligen Lichtdurchtritt durch die
Differentialküvette mit einem Versatz erzeugt, der im wesentlichen
senkrecht zur Ablenkung in der Differentialküvette gerichtet ist.
Für Transmissionsmessungen erfolgt zwischen der Lichtquelle und
der Differentialküvette eine Ausblendung und eine lichtelektrische
Erfassung eines Referenzlichtanteils. Das hierdurch gewonnene
Signal wird als Bezugswert I₀ verwendet. Die Summe der vom
Empfänger gewonnenen Einzelsignale I1, I2 wird auf diesen Bezugswert
relativiert und ergibt damit ein von den Schwankungen der
Lichtquelle unabhängiges Signal, das die Transmission der Probe
charakterisiert. Mit Hilfe dieses Signals kann z. B. die Konzentration
einer gelösten farbigen Komponente in einer sonst ungefärbten
Flüssigkeit bestimmt werden, d. h. es können Zweikomponentensysteme
analysiert werden. Als Empfänger ist ein solcher
vorgesehen, der über eine notwendige Länge ein von der jeweiligen
Lage des Spaltbildes abhängiges Signal abgibt. Dies kann ein
Streifenempfänger bekannter Bauart sein, der aus einer einheitlichen
lichtempfindlichen Halbleiterschicht besteht oder aber ein
Zeilenempfänger in Form einer Reihe von Halbleiterempfängern.
Insbesondere kann zur Erhöhung der Meßempfindlichkeit eine Reihe
von Differentialempfängern vorgesehen sein, die aneinander anschließend
einen großen Meßbereich überbrücken.
Bei Verwendung einer CCD-Zeile wird außer der Lage der Meßmarken
(Bild der Lichteintrittsöffnung) auch die Amplitude des Signales
erfaßt und gegen ein von der Probe unbeeinflußtes, direkt von der
Lichtquelle ausgehendes Signal gemessen.
Zum Zweck der Streulichtmessung wird vorteilhafterweise ebenfalls
eine CCD-Zeile eingesetzt. Außer der Bestimmung der Lage des
Meßsignals zur Brechzahlmessung wird hierbei die Tatsache ausgenutzt,
daß aufgrund der Lichtstreuung in der Probe eine Abflachung
und zugleich Verbreiterung der Meßmarke auf der Empfängerzeile
eintritt. Als Kriterium für die Breite der Meßmarke dient z. B. die
Halbwertsbreite (oder Zehntelwertsbreite) des Peaks. Mit zunehmender
Streuung nimmt dieser Wert zu und kann deshalb als Maß
für das Streulicht genommen werden. Der besondere Vorteil ist, daß
hierfür keinerlei zusätzlicher apparativer Aufwand erforderlich
ist.
Die Erfindung soll nachstehend anhand der schematischen Zeichnung
näher erläutert werden. Es zeigt
Fig. 1 eine Anordnung im gestreckten Aufbau,
Fig. 2 eine platzsparende Anordnung mit doppeltem Durchtritt des
Lichtbündels durch die Küvette,
Fig. 3 eine Anordnung mit einem Doppelspiegel.
Im einfachsten Fall sind gemäß Fig. 1 einer Lichtquelle 1 im
Strahlengang 0-0 eine Kondensorlinse 2 mit einem Eintrittsspalt
3, ein erstes Objektiv 4, eine Differentialküvette 5, ein zweites
Objektiv 6 und ein ortsselektiv wirkender Empfänger 7 nachgeordnet.
Mit 10 ist eine Einheit dargestellt, die der Verstärkung
der Signale, der Auswertung und der Darstellung der Ergebnisse
dient. Für die Bauelemente in den Fig. 2 und 3, die gleicher
Art sind, werden ungeachtet einer geänderten Anordnung gleiche
Bezugszeichen verwendet.
Fig. 2 beinhaltet eine technische Lösung gemäß der Erfindung, bei
der anstelle des zweiten Objektivs als optisch wirksames Element
ein Spiegel 8 vorgesehen ist, der das von der Lichtquelle 1 ausgehende
Lichtbündel nahezu in sich selbst reflektiert, so daß die
Differentialküvette 5 ein zweites Mal durchsetzt und durch das
erste Objektiv 4 in dessen der Lichtquelle 1 zugewandten Brennebene
das Spaltbild nahe dem Spalt 3 selbst abgebildet wird. Ein
Spiegel 9 im reflektierten Lichtbündel erzeugt eine Umlenkung auf
den an der Stelle des Spaltbildes angeordneten ortsselektiv wirkenden
Empfänger 7. Der Versatz des reflektierenden Lichtbündels
zum einfallenden Lichtbündel ist dabei senkrecht zur Ablenkungsrichtung
in der Differentialküvette gerichtet, wodurch mit einer
sehr kleinen Apertur gearbeitet werden kann. Zur Erfassung eines
Referenzsignales ist eine Lichtleitfaser 11 vorgesehen, deren
Eintrittsöffnung nahe dem Eintrittsspalt 3 angeordnet ist und die
mit ihrer Austrittsöffnung an einen Empfänger 12 geführt ist. Die
Eintrittsöffnung kann auch nahe der Lichtquelle 1 angeordnet sein.
Außerdem ist es möglich, das einfallende Lichtbündel zusätzlich
über einen Spiegel abzulenken, um so einen hinreichend großen
Abstand zwischen dem Eintrittsspalt 3 und dem Empfänger 7 zu
erzielen.
Eine derartige Lösung, die eine weitere Verkürzung der Baulänge
bewirkt, ist in Fig. 3 dargestellt. Vorteilhafterweise wird ein
Doppelspiegel 9 verwendet.
Claims (5)
1. Optisch-analytisches Meßgerät, insbesondere Differential-Refraktometer,
bei dem einer Lichtquelle im Strahlengang nacheinander
eine Lichteintrittsöffnung, eine zwischen optisch
wirksamen Elementen im parallelen Strahlengang angeordnete
Differentialküvette und ein Empfänger nachgeordnet sind,
dadurch gekennzeichnet, daß
als Empfänger ein ortsselektiv wirkender Empfänger vorgesehen
ist, dessen abgegebene Signale als Information mindestens eine
Ortsposition und zusätzlich einzeln oder kombiniert einen Summen-
bzw. Amplitudenwert und einen Wert für eine Teilwertsbreite
des Analysensignals enthalten.
2. Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das der
Differentialküvette nachgeordnete abbildende Element ein Spiegel
ist, der einen nochmaligen Lichtdurchtritt durch die
Differentialküvette mit einem Versatz erzeugt, der im wesentlichen
senkrecht zur Ablenkung in der Differentialküvette gerichtet
ist.
3. Meßgerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß für
Transmissionsmessungen zwischen der Lichtquelle und der
Differentialküvette eine Ausblendung und eine lichtelektrische
Erfassung eines Referenzlichtanteils erfolgt.
4. Meßgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß als
Empfänger ein Streifenempfänger dient.
5. Meßgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß als
Empfänger eine CCD-Zeile dient.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19914102376 DE4102376A1 (de) | 1991-01-28 | 1991-01-28 | Optisch-analytisches messgeraet, insbesondere differential-refraktometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19914102376 DE4102376A1 (de) | 1991-01-28 | 1991-01-28 | Optisch-analytisches messgeraet, insbesondere differential-refraktometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4102376A1 true DE4102376A1 (de) | 1992-08-06 |
Family
ID=6423813
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19914102376 Withdrawn DE4102376A1 (de) | 1991-01-28 | 1991-01-28 | Optisch-analytisches messgeraet, insbesondere differential-refraktometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4102376A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2693796A1 (fr) * | 1992-07-20 | 1994-01-21 | Zeiss Carl Fa | Réfractomètre. |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0071143A1 (de) * | 1981-07-31 | 1983-02-09 | High Voltage Engineering Corporation | Refraktometer |
EP0389446A2 (de) * | 1989-03-24 | 1990-09-26 | Sotelco S.R.L. | Optische Messvorrichtung zur Messung des Proteingehaltes der Milch |
-
1991
- 1991-01-28 DE DE19914102376 patent/DE4102376A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Date | Code | Title | Description |
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