DE4035076A1 - Anordnung zum messen linearer abmessungen auf einer strukturierten oberflaeche eines messobjektes - Google Patents

Anordnung zum messen linearer abmessungen auf einer strukturierten oberflaeche eines messobjektes

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Karlheinz Dipl Ing Bartzke
Rolf Thiemer
Erhard Mende
Manfred Dipl Ing Ziesemann
Ludwig Dr Ing Fritzsch
Eberhard Dipl Phys Seydel
Joachim Dr Sc Nat Heim
Manfred Dr Rer Nat Weihnacht
Burkhard Hoffmann
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