DE3936646A1 - Konfokales laserrastermikroskop - Google Patents
Konfokales laserrastermikroskopInfo
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Description
Die Erfindung ist für die Anwendung in Laserraster
mikroskopen vorgesehen. Im Gegensatz zur konventionellen
Lichtmikroskopie wird bei der Laser-Raster-Mikroskopie das
Objekt mit einem fokussierten Laserstrahl beleuchtet. Jede
durch die punktförmige Bestrahlung des Objekts ausgelöste
physikalische Wechselwirkung kann mit einem geeignetem Em
pfänger erfaßt und ortsabhängig zum Aufbau eines digitalen
Bildes der Objekteigenschaften (z. B. Reflexion, Fluoreszenz,
ausgelöster Photostrom) verwendet werden.
Laserrastermikroskope können in ihrer allgemeinen Form als
optische Systeme aufgefaßt werden, die eine punktförmige
Lichtquelle auf das Objekt abbilden. Das vom Objektpunkt
ausgehende Signal wird durch einen geeigneten Detektor er
faßt. Ein entsprechendes Bild wird durch rasterförmige Ab
tastung des Objektes (Relativbewegung zwischen Objekt und
Beleuchtungsstrahl) aufgenommen (Wilson, Sheppard: "Theory
and Practice of Scanning optical Microscopy",
Academic Press 1984).
Ein hervorstechendes Merkmal sogenannter konfokaler An
ordnungen ist die hohe Tiefenauflösung. Bei diesen Anord
nungen wird die wirksame Empfängerfläche kleiner als der
Durchmesser des bei Abbildung eines punktförmigen Objektes
entstehenden Beugungsscheibchens gehalten. Man kann von
einem Punktdetektor sprechen. Damit wird eine kohärente
Übertragung gewährleistet.
Anordnungen dieser Art werden auch als Laserrastermikroskope
vom Typ II bezeichnet.
Der grundlegende Aufbau einer solchen Anordnung ist in dem
US-Patent 30 13 467 beschrieben. Nachteilig bei allen der
artigen Einrichtungen ist die hohe Empfindlichkeit der
Justierung der drei ineinander abzubildenden Punkte:
Punktlichtquelle - Objektpunkt - Punktdetektor. Bereits
geringste laterale Verlagerungen besonders der Punktlicht
quelle gegenüber dem Punktdetektor verändern einschneidend
die Bildinformation. Das dabei angewandte Objektscanning
ist relativ langsam und erfordert an die Scanningeinrichtung
und deren Parameter angepaßte Objekte.
In einer weiteren bekannten Anordnung (DE OS 34 22 143) sind
bereits erste praktische Ansätze erkennbar, durch geeignete
Strahlführung das sog. Strahlscanning durchzuführen und
dabei die Empfindlichkeit des Mikroskopaufbaues gegenüber
Instabilitäten zu reduzieren. In dieser Anordnung wird das
zu untersuchende Licht erst kurz vor der Ebene, in der der
Punktdetektor angeordnet ist, vom beleuchtenden getrennt,
so daß Beleuchtungs- und Beobachtungsstrahlengang die
gleichen Elemente durchlaufen und aufgrund der Umkehrbar
keit des Lichtweges sich Auswirkungen geringer Instabilität
wieder kompensieren. Erst nach einem Teilungselement (in
Untersuchungsrichtung gesehen) werden unterschiedliche Wege
durchlaufen, in denen Abweichungen von der exakten Zen
trierung auftreten.
Die genannte Anordnung verwendet beleuchtungsseitig eine
Punktlichtquelle (Punktblende, Lasertaille), die als "Sonde"
in das Objekt und von dort auf dem Abbildungsweg in eine
Punktblende abgebildet wird. Das Bild der beleuchtungssei
tigen Blende, dessen Durchmesser wenige µm beträgt, muß
konstant auf Bruchteile seines Durchmessers zur abbildungs
seitigen Blende justiert bleiben. Dabei ist der Justiervor
gang recht aufwendig und die Sicherung der exakten Justie
rung über längere Zeiträume, auch aufgrund von Umweltein
flüssen, äußerst schwierig, da die beiden von der Strahlen
teilung aus getrennt laufenden Strahlengänge durch Alterung
von Bauteilen, thermische Veränderungen, Luftschlieren
zeitweilig oder ständig dejustiert werden.
Weiterhin wirkt sich ein anderer Umstand ebenfalls nach
teilig aus. Verändert sich z. B. durch Höhenunterschiede
im Objekt die Lage der Objektebene, so entsteht auf dem
Objekt ein Zerstreuungskreis des Bildpunktes der beleuch
tungsseitigen Punktblende. In die beobachtungsseitige
Blende fällt dann ein geringerer Lichtstrom, woraus eine
hohe Tiefenauflösung resultiert. Um wieder optimale Ab
bildungsverhältnisse zu erzeugen, muß das Objekt selbst
axial so verschoben werden, bis es seine alte Lage wieder
einnimmt. Die dazu erforderlichen Feinbewegungen um
0,1 µm-Bereich sind mit hohem technischen Aufwand ver
bunden. Mit Hilfe eines aktiven Spiegels wird die Aus
wirkung der Defokussierung bezüglich der Intensität kom
pensiert. Es wird ein Fokus der beleuchtungsseitigen Blende
in der beobachtungsseitigen Punktblende bzw. auf dem
Punktdetektor erzeugt. Das Objekt liegt dabei aber nicht
mehr im Fokus, so daß die laterale Auflösung reduziert
wird.
Ziel der Erfindung ist ein konfokales Laserrastermikroskop,
bei dem die Nachteile der bisher bekannten Lösungen nicht
auftreten, insbesondere soll die Stabilität der Abbildungs
güte quantitativ und qualitativ erhöht werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein konfokales
Laserrastermikroskop zu schaffen, bei dem die Zentrierung
der beleuchtungs- und abbildungsseitigen Blenden zueinander
invariant gegen äußere Einflüsse und Alterung ist und bei
geringem zusätzlichen Aufwand eine automatische Scharf
einstellung der Objektebene ermöglicht wird. Die Aufgabe
wird durch ein konfokales Laserrastermikroskop für Auf
lichtmikroskopie mindestens eine Laserlichtquelle, eine
Strahlablenkeinrichtung mit mindestens einem Objektiv,
sowie Umlenkelemente und mindestens einen fotoelektrischen
Empfänger aufweisend, erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß
eine Blende im Strahlaufweitungssystem des Beleuchtungs
strahlenganges derart angeordnet ist, daß die Blende Modus
blende des Beleuchtungsstrahlenganges und gleichzeitig
Detektorblende eines Abbildungsstrahlenganges ist, wobei
das Strahlaufweitungssystem mindestens aus einer ersten
Linse und einer zweiten verschiebbaren Linse besteht.
Vorteilhafte erfindungsgemäße Ausführungsformen bestehen
darin, daß Mittel, wie Polarisatoren, ein Chopper, min
destens ein Sperrfilter, zur Trennung der Signalstrahlung
von der Störstrahlung vorgesehen sind, und daß eine axiale
Verschiebung einer zweiten verschiebbaren Linse des Strahl
aufweitungssystemes zur Aufnahme des Höhenprofils eines
Objektes durchführbar ist. Durch die erfindungsgemäße Tren
nung von beleuchtender und abbildender Strahlung, in Ab
bildungsrichtung gesehen hinter der Blende, sind Moden
blende und Empfängerblende identisch. Lageveränderung der
Blende gegenüber der Optik führt das Blendenbild in gleicher
Größe und Richtung mit aus, so daß das Bild der Modenblende
zwangsläufig zur Punktblende zentriert bleibt. Dadurch ist
stets eine exakte räumliche Zuordnung von Punktlichtquelle,
Objektpunkt und Punktdetektor gegeben.
Zur erforderlichen Trennung der Signalstrahlung von Strah
lungskomponenten, die durch Reflexion an der Blende oder
Streuung an Elementen im Strahlengang entstehen, werden
- · polarisationsoptische Elemente (Pol-Filter λ/4-Platten),
- · interferenzoptische Methoden,
- · ein Choppern des Signalstrahlenganges,
- · zeitempfindliche Signaldetektoren (gating, Laufzeit) oder
- · spektrale Filter bei Fluoreszenzverfahren
vorgesehen.
Die axiale Verstellung einer zweiten verschiebbaren Linse
im Strahlengang wird zur Fokussierung auf die Objektebene
bzw. zur Aufnahme des Höhenprofils des Objektes verwendet.
Das konfokale Laserrastermikroskop wird im folgenden näher
erläutert, es ist zur Aufnahme von Auflicht- oder
Fluoreszenzbildern geeignet. Beleuchtungsseitig ist eine
körperliche Blende angeordnet, die gegebenenfalls im Fokus
eines Teleskopsystems steht und als Mittel zur K-Raum-
Filterung dient. Diese Blende entspricht der punktförmigen
Lichtquelle, die über eine entsprechende Optik auf das
Objekt abgebildet wird. Ein in der Erfindung wahlweise vor
gesehener Referenzdetektor ermittelt die Intensität des
beleuchtenden Laserlichtes. Das bei Beleuchtung des Ob
jektes vom Objekt ausgehende Signallicht (Reflexion,
Streuung, Fluoreszenz) durchläuft alle optischen Elemente
des Beleuchtungsstrahlenganges in entgegengesetzter Rich
tung wie der Beleuchtungsstrahl selbst. Im Unterschied zu
bekannten konfokalen Anordnungen trifft das Signallicht
auf die erwähnte, im Beleuchtungsstrahlengang stehende
Blende, die aufgrund der Anordnung stets zentriert bleibt.
Nur das Zentrum des Beugungsscheibchens des Signallichts
kann die Blende passieren. Das durch die Blende tretende
Signallicht wird durch geeignete Mittel vom Beleuchtungs
strahlengang separiert (Strahlteiler) und auf den Signal
detektor gerichtet.
Eine Erhöhung des Signal-Rausch-Verhältnisses wird durch
die in der Erfindung wahlweise vorgesehene Unterdrückung
ungewünschter Polarisationskomponenten, durch Intensitäts
modulation und damit Lock-in-Nachweis, durch langzeitem
pfindliche Signaldetektoren (gating), oder durch Wellen
längenselektion bei Fluoreszenzmessungen ermöglicht.
Zur automatischen Fokussierung auf die Objektebene kann
in der erfindungsgemäßen Lösung eine der zwischen Blende
und Objekt stehenden Linsen, im einfachsten Fall die der
Blende am nächsten stehende, eingesetzt werden. Hierfür
ist in der Erfindung eine Lösung zur axialen Translation
der entsprechenden Linsen vorgesehen. Der Abstand Linse -
Blende wird damit so eingestellt, daß die jeweils am
Signaldetektor ankommende Lichtintensität maximal ist,
womit eine Scharfstellung auf die Objektebene automatisch
gewährleistet ist. Wird zusätzlich der Abstand zwischen
Blende und der zweiten verschiebbaren Linse bei der Ab
tastung des Objektes an jedem Punkt ermittelt, erhält man
das Höhenprofil des Objektes.
Im Gegensatz zu bisher bekannten konfokalen Anordnungen
tritt bei der erfindungsgemäßen Lösung bei dieser Vor
gehensweise der Ermittlung von Höhenprofilen des Objektes
kein lateraler Auflösungsverlust ein, da Punktlichtquelle
und Punktempfänger identisch sind und, sobald die Licht
quelle in die Objektebene abgebildet wird, der Punktem
pfänger automatisch in der konjugierten Ebene liegt.
Die Erfindung wird anhand eines Ausführungsbeispiels
näher erläutert. In der Zeichnung ist schematisch das
konfokale Laserrastermikroskop dargestellt.
Ein Laser 1 wird über einen ersten Polarisator 2, einen
ersten Strahlteiler 3 und die erste λ/4-Platte 4 mit
Hilfe der ersten Linse 5 auf eine körperliche Blende 6
fokussiert. Diese Blende dient in der erfindungsgemäßen
Lösung gleichzeitig als K-Raum-Filter und als Modenblende.
Mit der zweiten verschiebbaren Linse 7 wird die Strahlung
kollimiert und durch das Laserrastermikroskop 10 auf die
Objektebene 11 fokussiert. Um die vom Objekt den gleichen
Lichtweg zurückkommende Signalstrahlung, die über den
ersten Strahlenteiler 3 auf den Signaldetektor 13 gelangt,
von der an der K-Raumblende zurückgestreuten Störstrah
lung zu unterscheiden, sind aufgabenabhängig verschiedene
Mittel vorgesehen:
- - Die Polarisationsrichtung der Signalstrahlung wird mit der λ/4-Platte 4 so gedreht, daß sie den zweiten Polarisator 14 passieren kann. Da sich die λ/4-Platte 4 unmittelbar über dem Objektiv 8 befindet, erfolgt für die Störstrahlung zwischen erstem Strahlteiler 3 und g/4-Platte 4 keine Drehung der Polarisationsrichtung, so daß diese Störstrahlung am Polarisator 14 unterdrückt wird.
- - Ein Chopper 15 im Abbildungsstrahlengang A ermöglicht einen Lock-in-Nachweis des Signales.
- - Bei Fluoreszenz der Probe wird das Fluoreszenzsignal durch ein Sperrfilter 17, das die Laserwellenlänge sperrt, vor dem Signaldetektor 13 unterdrückt. Zur Korrektur von Schwankungen der Laser-Leistung im Laserrastermikroskop ist der zweite Strahlteiler 9 und der Referenzdetektor 12 vorgesehen. Eine automatische Fokussierung des Laser rastermikroskopes läßt sich durch Registrieren der maxi malen Signalintensität bei axialer Verschiebung beispiels weise der zweiten verschiebbaren Linse 7 erreichen. Damit ist auch eine Betriebsart zur Vermessung der Höhenstruktur der Proben möglich, indem die Lage der zweiten verschieb baren Linse 7 bei maximaler Signalintensität in Abhängig keit vom Objektort aufgetragen wird.
Claims (3)
1. Konfokales Laserrastermikroskop für Auflichtmikroskopie
mindestens eine Laserlichtquelle, eine Strahlablenkein
richtung mit mindestens einem Objektiv, sowie Umlenk
elemente und mindestens einen fotoelektrischen Empfänger
aufweisend, gekennzeichnet dadurch, daß eine Blende (6)
im Strahlaufweitungssystem, bestehend aus den Elementen
(5, 7) des Beleuchtungsstrahlenganges (B) derart ange
ordnet ist, daß die Blende (6) Modenblende des Beleuch
tungsstrahlenganges (B) und gleichzeitig Detektorblende
eines Abbildungsstrahlenganges (A) ist.
2. Konfokales Laserrastermikroskop nach Anspruch 1, gekenn
zeichnet dadurch, daß Mittel, wie Polarisatoren (2, 14),
ein Chopper (15), mindestens ein Sperrfilter (17), zur
Trennung der Signalstrahlung von der Störstrahlung vor
gesehen sind.
3. Konfokales Laserrastermikroskop nach Anspruch 1, gekenn
zeichnet dadurch, daß eine axiale Verschiebung einer
zweiten verschiebbaren Linse (7) des Strahlaufweitungs
systems (5, 7) zur Aufnahme des Höhenprofils eines
Objektes durchführbar ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD32545289A DD279962B5 (de) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | Konfokales Laserrastermikroskop |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3936646A1 true DE3936646A1 (de) | 1990-08-09 |
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ID=5606914
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19893936646 Withdrawn DE3936646A1 (de) | 1989-02-02 | 1989-11-03 | Konfokales laserrastermikroskop |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DD (1) | DD279962B5 (de) |
DE (1) | DE3936646A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0502752A1 (de) * | 1991-03-04 | 1992-09-09 | Dilor | Spektralapparat |
US5822061A (en) * | 1992-01-20 | 1998-10-13 | Dilor | Spectrometry apparatus |
US6851974B2 (en) | 1997-05-15 | 2005-02-08 | Fci Americas Technology, Inc. | Shroud retention wafer |
CN105928458A (zh) * | 2016-07-06 | 2016-09-07 | 中国科学院生物物理研究所 | 三维指向稳定系统 |
-
1989
- 1989-02-02 DD DD32545289A patent/DD279962B5/de active Search and Examination
- 1989-11-03 DE DE19893936646 patent/DE3936646A1/de not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0502752A1 (de) * | 1991-03-04 | 1992-09-09 | Dilor | Spektralapparat |
US5822061A (en) * | 1992-01-20 | 1998-10-13 | Dilor | Spectrometry apparatus |
US6851974B2 (en) | 1997-05-15 | 2005-02-08 | Fci Americas Technology, Inc. | Shroud retention wafer |
CN105928458A (zh) * | 2016-07-06 | 2016-09-07 | 中国科学院生物物理研究所 | 三维指向稳定系统 |
CN105928458B (zh) * | 2016-07-06 | 2018-07-06 | 中国科学院生物物理研究所 | 三维指向稳定系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DD279962A1 (de) | 1990-06-20 |
DD279962B5 (de) | 2000-11-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: CARL ZEISS JENA GMBH, O-6900 JENA, DE |
|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |