DE3918798C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine Banknotenprüfvorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 und ein Verfahren zur Durch­ führung der Banknotenprüfung mittels einer derartigen Bank­ notenprüfvorrichtung.

Zum Prüfen von Banknoten auf ihren Wert, ihre Echt­ heit und/oder ihren (beschädigten oder unbeschädigten) Zustand sind Vorrichtungen bekannt, in denen längs einer Förderbahn geförderte Banknoten mit rechtwinklig zu der Förderrichtung der Banknoten geführtem Licht abgetastet werden, durch die Banknoten hindurchgetretenes oder von ihnen reflektiertes Licht zum Erzeugen eines Prüfmusters von einem Bildsensor photoelektrisch erfaßt wird und das so erzeugte Prüfmuster mit Bezugsmustern verglichen wird.

In derartigen Banknotenprüfvorrichtungen werden zum Erzeugen der Prüfmuster die Banknoten in ihrer Längsrich­ tung oder ihrer Querrichtung mit Licht abgetastet. Wenn nun bei einer geförderten Banknote deren Ränder, die parallel zu der Förderrichtung orientiert sein sollen, schräg zu der För­ derrichtung liegen (dies wird nachstehend als "Förderung in Schräglage" bezeichnet), können die Banknoten nicht dadurch auf ihren Wert, ihre Echtheit und ihren Zustand geprüft wer­ den, daß das durch Abtasten der Banknoten mit rechtwinklig zu der Förderrichtung der Banknoten geführtem Licht erzeugte Prüfmuster mit den Bezugsmustern verglichen wird.

Dabei ist es aber sehr schwierig, eine Förderung in Schräglage vollkommen zu vermeiden. Daher sind die Bank­ notenprüfvorrichtungen der genannten Art nicht zum Prüfen von Banknoten auf ihren Wert, ihre Echtheit und ihren Zustand mit hoher Zuverlässigkeit geeignet.

Beispielsweise in der JP-OS 54(1979)-6437 ist eine Banknotenprüfvorrichtung vorgeschlagen worden, in der bei einer Förderung in Schräglage der Winkel zwischen jenen Rändern der Banknote, die parallel zu der Förderrichtung der Banknoten liegen sollen, und dieser Förderrichtung bestimmt wird, das Prüfmuster in Abhängigkeit von dem so bestimmten Winkel korrigiert wird und das korrigierte Prüfmuster mit den Bezugsmustern verglichen wird, um die Banknote auf ihren Wert, ihre Echtheit und ihren Zustand zu prüfen.

Dabei wird aber in der bekannten Banknotenprüfvor­ richtung eine Einrichtung zum Bestimmen des Winkels zwischen den Rändern der Banknoten und deren Förderrichtung benötigt, so daß der Aufbau der Vorrichtung kompliziert ist. Ferner werden die Prüfmusterdaten normalerweise durch eine Drehung korrigiert, so daß die Korrektur der Prüfmusterdaten viel Zeit erfordert. Aus diesem Grund ist die bekannte Vor­ richtung nicht zweckmäßig.

Eine gattungsgemäße Banknotenvorrichtung ist aus der EP 71 421 B1 bekannt. Mit einer derartigen Vorrichtung lassen sich schräg einlaufende Geldscheine einer Währung, deren Geldscheine eine einheitliche Größe aufweisen, nicht verarbeiten. Dies trifft beispielsweise für Dollarnoten zu, welche in ihrer Größenabmessung keine Unterschiede aufweisen.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine Banknoten­ prüfvorrichtung der eingangs angegebenen Art an die Hand zu geben, bei der schräg einlaufende Banknoten auch gleicher Abmessung auf ihren Wert, ihre Echtheit und/oder ihren Zustand mit hoher Zuverlässigkeit geprüft werden können.

Diese Aufgabe wird durch eine gattungsgemäße Vorrichtung ge­ löst, die die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 aufweist.

Ein bevorzugtes Verfahren zur Durchführung der Banknotenprüfung mittels einer Banknotenprüfvorrichtung nach Anspruch 1 ergibt sich aus Anspruch 2.

Die Erfindung wird nachstehend anhand eines in der Zeichnung dargestellten bevorzugten Ausführungsbeispiels näher erläutert. In diesem zeigt:

Fig. 1 ein Blockschaltschema einer Banknotenprüfvorrichtung gemäß der Erfindung,

Fig. 2 schematisch die Förderung einer Banknote,

Fig. 3 schematisch ein von einem Bildsensor erfaßtes Prüfmuster für eine Banknote,

Fig. 4 schematisch ein in einem Prüfmusterspeicher ge­ speichertes Prüfmuster für eine Banknote und

Fig. 5 schematisch die Form eines in einem Prüfmuster­ speicher gespeicherten Prüfmusters.

Gemäß der Fig. 1 wird eine Banknote B von einem nicht gezeigten Förderer in der Richtung eines Pfeils derart längs einer Banknotenförderbahn gefördert, daß die Schmal­ seitenränder der Banknote parallel zu der Förderrichtung der Banknote liegen. Diese Banknote wird zeilenweise mit dem Licht abgetastet, das von einer Lichtquelle 1 rechtwinklig zu der Banknotenförderbahn emittiert wird. Die durch jedes Bildelement der Banknote hindurchgetretene Lichtmenge wird in einer zu der Banknotenförderbahn rechtwinkligen Richtung bildelementweise von einem Bildsensor 2 erfaßt, der auf der der Lichtquelle 1 entgegengesetzten Seite der Förderbahn an­ geordnet ist und diesen Lichtmengen entsprechende Analogsig­ nale erzeugt. Mit 3 ist eine Linse oder ein Objektiv bezeich­ net. Die Banknote B wird mit vorherbestimmter Geschwindigkeit auf der Banknotenförderbahn an dem Bildsensor 2 vorbeigeför­ dert, der daher die durch alle Bildelemente der Banknote B hindurchgetretenen Lichtmengen erfaßt und in Prüfdaten in Form von Analogsignalen umsetzt. Bei jeder Abtastung des Bildsensors 2, d.h. für jede Zeile der Banknote B, werden die von dem Bildsensor 2 aufgrund des Abtastens der Banknote erzeugten Signale von dem Bildsensor 2 an einen Verstärker 4 abgegeben, in dem diese Signale verstärkt werden. Die ver­ stärkten Signale werden von einem A/D-Umsetzer 5 in Digital­ signale umgesetzt, die an einen Bus 6 abgegeben werden. Von diesem werden die Digitalsignale an eine Zentraleinheit 7 und von dieser zeilenweise an einen Direktzugriffsspeicher (RAM) 8 abgegeben. Der Bildsensor 2 und daher auch der A/D- Umsetzer 5 haben den Ausgang null, wenn der Bildsensor keine Banknote B erfaßt.

Die Abgabe von Prüfdaten für die Banknote B durch den Bildsensor 2, das zeilenweise Umsetzen der Analogsignale in Digitalsignale in dem A/D-Umsetzer 5 und die zeilenweise Eingabe der Digitalsignale an den RAM 8 durch die Zentral­ einheit 7 werden durch Zeitsteuersignale gesteuert, die von einer Treiberschaltung 9 an den Bildsensor 2, den A/D-Um­ setzer 5 und die Zentraleinheit 7 abgegeben werden.

Der RAM 8 umfaßt einen Zwischenspeicher 8a zum Speichern der Prüfdaten für die Bildelemente einer von dem Bildsensor 2 bei einer Abtastung erfaßten Zeile der Banknote B und zum Aktualisieren dieser Prüfdaten bei jeder Eingabe darauffolgender Prüfdaten, ferner einen Datenanzahlspeicher 8b zum Speichern der Anzahl der Prüfdaten, d.h. der von der Zentraleinheit 7 aufgrund der Prüfdaten berechneten Anzahl der Bildelemente pro Zeile, wenn die erfaßten Bildelement­ daten für eine Zeile in den Zwischenspeicher 8a eingegeben werden, einen Lagenspeicher 8c zum Speichern von von der Zentraleinheit 7 erfaßten Informationen über die Lage der geförderten Banknote, d.h. darüber, ob die Banknote B in Schräglage gefördert wird oder nicht und ob bei einer För­ derung in Schräglage die rechte vordere Ecke oder die linke vordere Ecke der Banknote B vorläuft, wenn die Bildelement­ daten für eine Zeile in den Zwischenspeicher 8a eingegeben werden, und einen Prüfmusterspeicher 8d zum zeilenweisen Empfang der in dem Zwischenspeicher 8a gespeicherten Prüf­ daten und zum Speichern eines Prüfmusters für die Banknote B. Dabei ist der Prüfmusterspeicher 8d auch dann geeignet, das von der Zentraleinheit 7 korrigierte Prüfmuster zu spei­ chern, wenn die Zentraleinheit 7 eine Förderung in Schrägla­ ge feststellt.

Wenn die Banknote B in einer Lage gefördert wird, in der jene ihrer Ränder, die parallel zu der Förderrichtung der Banknote liegen sollen, tatsächlich parallel zu der Bank­ notenförderrichtung liegen, d.h., daß die Banknote B normal gefördert wird, ist die Anzahl der während einer Abtastung von dem Bildsensor 2 erfaßten und in dem Zwischenspeicher 8a gespeicherten Prüfdaten pro Zeile der Banknote stets konstant. Daher ist dann die in dem Datenanzahlspeicher 8b pro Zeile der Banknote B gespeicherte Anzahl der Prüfdaten stets ein konstanter Wert, der von dem Wert der Banknote B abhängt. Wenn die Banknote B dagegen in der in Fig. 2 gezeigten Lage gefördert wird, ist die Anzahl der von dem Bildsensor 2 wäh­ rend einer Abtastung erfaßten und in dem Zwischenspeicher 8a gespeicherten Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B kleiner als die Anzahl der Prüfdaten für die erste Zeile einer normal geförderten Banknote B jedes beliebigen Wertes. Daher kann die Zentraleinheit 7 aufgrund der Prüfdaten für die erste Zeile jeder Banknote B feststellen, ob diese in Schräglage gefördert wird oder nicht.

Es sei nun angenommen, daß der Bildsensor 2 die Banknoten B in Fig. 2 von links nach rechts abtastet und daß die Banknote B derart gefördert wird, daß gemäß der Fig. 2 die linke vordere Ecke der Banknote B vorläuft. Dann werden die Prüfdaten für die erste Zeile derart in den Zwi­ schenspeicher 8a eingegeben, daß an einer Anzahl von ersten Bildelementen entsprechenden Speicherplätzen eine Null ein­ gegeben wird, daß an einer darauffolgenden Anzahl von Bild­ elementen entsprechenden Speicherplätzen, die kleiner ist als die für Banknoten B jedes Wertes bestimmte Anzahl, ein von null abweichender Wert eingegeben wird, und daß in einer Anzahl von darauffolgenden Bildelementen entsprechende Spei­ cherplätze erneut eine Null eingegeben wird. Dabei ist die Anzahl der in den Zwischenspeicher 8a eingegebenen Daten mit dem Wert null an den vorhergehenden Speicherplätzen kleiner als an den darauffolgenden Speicherplätzen. Aufgrund der Prüf­ daten für die erste Zeile der Banknote B stellt die Zentral­ einheit 7 daher fest, daß die linke vordere Ecke der Banknote B vorläuft. Aufgrund der Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B kann die Zentraleinheit 7 daher feststellen, ob die rechte vordere Ecke oder die linke vordere Ecke der Banknote B vorläuft.

Somit stellt die Zentraleinheit 7 aufgrund der Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B fest, ob die Banknote B in Schräglage gefördert wird oder nicht und ob bei einer in Schräglage geförderten Banknote deren rechte vordere Ecke oder deren linke vordere Ecke vorläuft. Das Er­ gebnis dieser Feststellungen gibt die Zentraleinheit an den Lagenspeicher 8c ein.

In einem Festspeicher (ROM) 10 sind Steuerprogram­ me für die Steuerung der Banknotenprüfvorrichtung, Bezugs­ muster für die Prüfung des Wertes der Banknoten B, Bezugs­ muster für die Prüfung der Banknoten B auf ihren Zustand, die Anzahl der bei normal geförderten Banknoten B pro Zeile der Banknoten jedes Wertes zu erfassenden Prüfdaten usw. ge­ speichert.

In der Banknotenprüfvorrichtung nach dieser Aus­ führungsform der Erfindung nimmt bei der Förderung einer Banknote B in Schräglage mit vorlaufender linker vorderer Ecke die Anzahl der von dem Bildsensor 2 bei einer Abtastung erfaßten und in dem Pufferspeicher 8a gespeicherten Prüfda­ ten, für jede Zeile der Banknote B innerhalb eines Berei­ ches K1 allmählich zu und bleibt diese Anzahl innerhalb eines Bereiches K2 konstant und nimmt sie dann während eines Bereiches K3 allmählich ab.

In diesem Fall werden die Prüfdaten für die Bank­ note B in dem Zwischenspeicher 8a des RAM 8 in der in Fig. 3 gezeigten Reihenfolge der Zeilen gespeichert. Für die erste Zeile der Banknote B werden für eine Anzahl von ersten Bild­ elementen Prüfdaten mit dem Wert Null eingegeben, werden dann für drei Bildelemente Prüfdaten mit einem von Null ab­ weichenden Wert eingegeben und werden für eine Anzahl von Bildelementen dann erneut Daten mit dem Wert Null eingegeben. Da die Anzahl der Bildelemente, für die Daten mit dem Wert null eingegeben werden, an den nachfolgenden Speicherplätzen größer ist als an den vorhergehenden Speicherplätzen, stellt die Zentraleinheit 7 fest, daß die Banknote B in Schräglage mit vorlaufender linker vorderer Ecke gefördert wird und gibt die Zentraleinheit 7 diese Feststellung in den Lagen­ speicher 8c und die Prüfdaten für die erste Zeile der Bank­ note in den Zwischenspeicher 8a ein. Gleichzeitig gibt die Zentraleinheit die Datenanzahl "3" als die Anzahl der Prüf­ daten für die erste Zeile in den Datenanzahlspeicher 8b ein.

Nach der Eingabe der Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B in den Zwischenspeicher 8a liest die Zentral­ einheit 7 aus dem Lagenspeicher 8c eine Information über die Lage der geförderten Banknote ab. Wenn diese gemäß der Fig. 2 in Schräglage mit vorlaufender linker vorderer Ecke geför­ dert wird, schreibt die Zentraleinheit 7 die in dem Zwischen­ speicher 8a gespeicherten Prüfdaten für die erste Zeile in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen erster Zeile ein, so daß diese Daten an dem linken Ende der ersten Zeile des Prüfmu­ sterspeichers 8d beginnend nacheinander gespeichert werden, wie dies in Fig. 4 gezeigt ist. Gemäß der Fig. 4 werden das erste bis dritte Prüfdatum in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen erster Zeile an deren linkem Ende beginnend nach­ einander eingeschrieben.

Nach der Eingabe der Prüfdaten für die zweite Zei­ le über den Bus 6 liest die Zentraleinheit 7 aus dem Lagen­ speicher 8c eine Information über die Lage der geförderten Banknote ab und gibt sie die Anzahl "7" der Prüfdaten für die zweite Zeile in den Datenanzahlspeicher 8b ein. Gleich­ zeitig vergleicht die Zentraleinheit 7 die Anzahl der Prüf­ daten für die zweite Zeile mit der für die erste Zeile. Da gemäß der Fig. 3 die Anzahl der Daten für die zweite Zeile größer ist als für die erste Zeile, schreibt die Zentral­ einheit 7 die ersten drei Prüfdaten für die zweite Zeile, de­ ren Datenanzahl "3" mit der für die erste Zeile übereinstimmt, in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen zweiter Zeile an de­ ren linkem Ende beginnend nacheinander ein. Wenn in die zwei­ te Zeile ebensoviele Daten eingeschrieben worden sind wie in die erste Zeile, werden die darauffolgenden Daten in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen erster Zeile von links nach rechts nacheinander derart eingeschrieben, daß sie unmittel­ bar an die in der ersten Zeile des Prüfmusterspeichers 8d eingeschriebenen Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B anschließen. Gemäß der Fig. 4 werden die Prüfdaten für die zweite Zeile in einer Anzahl "3", die mit der Anzahl der Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B übereinstimmt, als viertes bis sechstes Datum in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen zweiter Zeile an deren linkem Ende beginnend nach­ einander eingeschrieben und werden jene Prüfdaten für die zweite Zeile, die nach den Prüfdaten einzuschreiben sind, deren Anzahl mit der der Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B übereinstimmt, als siebentes bis zehntes Prüfda­ tum in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen erster Zeile von links nach rechts derart nacheinander eingeschrieben, daß sie an das in der ersten Zeile des Prüfmusterspeichers 8d eingeschriebene dritte Prüfdatum anschließen.

In die erste Zeile des Prüfmusterspeichers 8d wer­ den daher Prüfdaten in einer Anzahl eingeschrieben, die mit der Anzahl der von dem Bildsensor 2 erfaßten Prüfdaten für die zweite Zeile der Banknote B übereinstimmt. In die zweite Zeile des Prüfdatenspeichers 8d werden Prüfdaten eingeschrie­ ben, deren Anzahl mit der Anzahl der von dem Bildsensor 2 erfaßten Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B über­ einstimmt.

Nach der Eingabe der Prüfdaten für die dritte Zei­ le der Banknote B über den Bus 6 liest die Zentraleinheit aus dem Lagenspeicher 8c Information über die Lage der geför­ derten Banknote ab und gibt sie die Anzahl der Prüfdaten für die dritte Zeile in den Datenanzahlspeicher 8b ein. Gleich­ zeitig vergleicht sie die Anzahl der Prüfdaten für die drit­ te Zeile mit der für die zweite Zeile. Da gemäß der Fig. 3 die Anzahl der Prüfdaten für die dritte Zeile größer ist als für die zweite Zeile, schreibt die Zentraleinheit 7 die er­ sten Prüfdaten für die dritte Zeile in einer Anzahl, die mit der Anzahl der Prüfdaten für die erste Zeile übereinstimmt, in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen dritter Zeile am lin­ ken Ende beginnend nacheinander ein. Wenn in diese dritte Zeile ebensoviele Daten eingeschrieben worden sind wie in die erste Zeile, werden die nachfolgenden Prüfdaten für die dritte Zeile der Banknote B in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen zweiter Zeile von links nach rechts nacheinander der­ art eingeschrieben, daß sie an das sechste in der zweiten Zeile des Prüfmusterspeichers eingeschriebene Prüfdatum an­ schließen. Dieses Einschreiben in die zweite Zeile des Prüf­ musterspeichers 8d wird fortgesetzt, bis die Anzahl der in diese zweite Zeile des Prüfmusterspeichers 8d eingeschrie­ benen Daten mit der Anzahl der Prüfdaten für die zweite Zei­ le der Banknote B übereinstimmt. Die übrigen Prüfdaten für die dritte Zeile der Banknote B werden dann in die erste Zeile des Prüfdatenspeichers 8d von links nach rechts derart nacheinander eingeschrieben, daß sie an das in die erste Zei­ le des Prüfmusterspeichers 8d eingeschriebene zehnte Prüf­ datum anschließen. Gemäß der Fig. 4 werden das von dem Bild­ sensor 2 erfaßte elfte bis dreizehnte Prüfdatum für die drit­ te Zeile der Banknote B in den Prüfmusterspeicher 8d in des­ sen dritter Zeile von deren linkem Ende beginnend nacheinan­ der eingeschrieben, werden das vierzehnte bis siebzehnte Prüfdatum für die dritte Zeile der Banknote B in den Prüf­ musterspeicher 8d in dessen zweiter Zeile von links nach rechts derart nacheinander eingeschrieben, daß sie an das in der zweiten Zeile des Prüfmusterspeichers 8d eingeschriebene sechste Prüfdatum anschließen, und werden das achtzehnte bis zwanzigste Prüfdatum für die dritte Zeile der Banknote B in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen erster Zeile von links nach rechts derart nacheinander eingeschrieben, daß sie an das zehnte in der ersten Zeile des Prüfmusterspeichers 8d eingeschriebene Prüfdatum anschließen.

Infolgedessen werden Daten in einer Anzahl, die mit der Anzahl der von dem Bildsensor 2 erfaßten Prüfdaten für die dritte Zeile der Banknote B übereinstimmt, in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen erster Zeile eingeschrieben, werden Prüfdaten in einer Anzahl, die mit der Anzahl der von dem Bildsensor 2 erfaßten Prüfdaten für die zweite Zeile der Banknote B übereinstimmt, in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen zweiter Zeile eingeschrieben und werden Prüfdaten in einer Anzahl, die mit der Anzahl der von dem Bildsensor 2 er­ faßten Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B überein­ stimmt, in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen dritte Zeile eingeschrieben.

Somit werden während der Prüfung in dem Bereich K1, in dem die Anzahl der Prüfdaten pro Zeile allmählich zu­ nimmt, die von dem Bildsensor 2 erfaßten Prüfdaten für die i-te Zeile der Banknote B (wobei i eine positive ganze Zahl ist) in den Prüfmusterspeicher 8d derart eingeschrieben, daß erste Prüfdaten in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen i-ter Zeile an deren linkem Ende beginnend nacheinander eingeschrie­ ben werden, bis die Anzahl dieser eingeschriebenen Daten mit der Anzahl der Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B übereinstimmt, und werden die darauffolgenden Prüfdaten für die i-te Zeile in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen (i-1)- ter Zeile von links nach rechts nacheinander eingeschrieben, bis die Anzahl dieser eingeschriebenen Daten mit der Anzahl der Prüfdaten für die zweite Zeile der Banknote B überein­ stimmt. Allgemein gesagt werden in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen (i-j)-ter Zeile (dabei ist j eine positive ganze Zahl, die kleiner ist als i) die Prüfdaten für die i-te Zei­ le der Banknote B von links nach rechts nacheinander einge­ schrieben, bis die Anzahl dieser eingeschriebenen Daten mit der Anzahl der Prüfdaten für die (j+1)-te Zeile der Banknote B übereinstimmt.

Die vorstehend beschriebenen Vorgänge des Erfas­ sens, Speicherns und Einschreibens von Prüfdaten werden wie­ derholt, bis alle Prüfdaten für die Banknote B in den Prüf­ musterspeicher 8d eingeschrieben worden sind. Nachdem die Prüfung der Banknote B im Bereich K1 in der k-ten Zeile der Banknote (dabei ist k eine positive ganze Zahl, die größer ist als i), vollständig durchgeführt worden ist, werden die Prüfdaten für die k-te Zeile der Banknote B in den Prüfmuster­ speicher 8d derart eingeschrieben, daß Prüfdaten in einer An­ zahl, die mit der Anzahl der Prüfdaten für die k-te Zeile der Banknote B übereinstimmt, in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen erster Zeile eingeschrieben werden, daß Prüfdaten in einer Anzahl, die mit der Anzahl der Prüfdaten für die (k-1)-te Zeile der Banknote B übereinstimmt, in den Prüf­ musterspeicher 8d in dessen zweiter Zeile eingeschrieben werden, und daß Prüfdaten in einer Anzahl, die mit der An­ zahl der Prüfdaten für die (k-2)-te Zeile der Banknote B übereinstimmt, in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen drit­ ter Zeile eingeschrieben werden. Allgemein gesagt werden in den Prüfmusterspeicher in dessen (l+1)-ter Zeile (dabei ist l eine positive ganze Zahl, die kleiner ist als k) Prüf­ daten in einer Anzahl eingeschrieben, die mit der Anzahl der Prüfdaten für die (k-1)-te Zeile der Banknote B überein­ stimmt.

Wenn daher die Prüfung der Banknote B im Bereich K1 in der k-ten Zeile der Banknote B vollständig durchge­ führt worden ist und die Prüfdaten für die k-te Zeile der Banknote B in den Prüfmusterspeicher 8d eingeschrieben wor­ den sind, sind daher Prüfdaten in einer Anzahl, die mit der Anzahl der Prüfdaten für die k-te Zeile der Banknote B über­ einstimmt, d.h. in der größten Anzahl von Prüfdaten für eine Zeile der Banknote B, gemäß Fig. 2 in die erste Zeile des Prüfmusterspeichers 8d eingeschrieben worden. Infolgedessen werden die Prüfdaten für die (k+1)-te Zeile der Banknote B in den Prüfmusterspeicher 8d nicht in dessen erster Zeile eingeschrieben, sondern werden sie derart eingeschrieben, daß alle Prüfdaten für die (k+1)-te Zeile der Banknote ein­ geschrieben worden sind, wenn sie in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen zweiter Zeile eingeschrieben worden sind. Wäh­ rend der Prüfung der Banknote B im Bereich K2 werden daher die Prüfdaten für die m-te Zeile der Banknote B (dabei ist m eine positive ganze Zahl, die größer ist als k) derart ein­ geschrieben, daß erste Prüfdaten in den Prüfmusterspeicher in dessen m-ter Zeile von deren linkem Ende beginnend nach­ einander eingeschrieben werden, bis die Anzahl der in die m-te Zeile eingeschriebenen Prüfdaten mit der Anzahl der Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B übereinstimmt. Allgemein gesagt werden in den Prüfmusterspeicher 8d in des­ sen (m-n)-ter Zeile (dabei ist n eine positive ganze Zahl, die kleiner ist als k) Prüfdaten im Anschluß an die Prüf­ daten für die (m-1)-te Zeile der Banknote von links nach rechts nacheinander eingeschrieben. Infolgedessen werden Prüfdaten in einer Anzahl, die mit der Anzahl der Prüfdaten für die k-te Zeile der Banknote B übereinstimmt, d.h., in der größten Anzahl von Prüfdaten für eine Zeile der Bank­ note B, in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen (m-k+1)-ter Zeile eingeschrieben.

Wenn die Prüfung der Banknote B in dem Bereich K3 in der p-ten Zeile der Banknote B beginnt (dabei ist p eine positive ganze Zahl, die größer ist als m), werden die Prüf­ daten für die p-te Zeile der Banknote B in den Prüfmuster­ speicher 8d derart eingeschrieben, daß erste Prüfdaten in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen (p-1)-ter Zeile im An­ schluß an die Prüfdaten für die (p-1)-te Zeile der Banknote B von links nach rechts nacheinander eingeschrieben werden, bis die Anzahl der in die (p-1)-te Zeile des Prüfmusterspei­ chers 8d eingeschriebenen Prüfdaten mit der Anzahl der Prüf­ daten für die zweite Zeile der Banknote B übereinstimmt, daß die darauffolgenden Prüfdaten für die p-te Zeile der Bank­ note B in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen (p-2)-ter Zei­ le im Anschluß an die Prüfdaten für die (p-1)-te Zeile der Banknote B von links nach rechts nacheinander eingeschrieben werden, bis die Anzahl der in der (p-2)-ten Zeile des Prüf­ musterspeichers 8d eingeschriebenen Prüfdaten mit der Anzahl der Prüfdaten für die dritte Zeile der Banknote B überein­ stimmt. Allgemein gesagt werden die Prüfdaten für die p-te Zeile der Banknote B in den Prüfmusterspeicher 8d in dessen (p-q)-ter Zeile (dabei ist q eine positive ganze Zahl, die kleiner ist als k) im Anschluß an die Prüfdaten für die (p-1)-te Zeile der Banknote B von links nach rechts nachein­ ander eingeschrieben, bis die Anzahl der in der (p-q)-ten Zeile des Prüfmusterspeichers 8d eingeschriebenen Prüfdaten mit der Anzahl der Prüfdaten für die (q+1)-te Zeile der Bank­ note B übereinstimmt.

Während der Prüfung der Banknote B im Bereich K3 werden die Prüfdaten für die (p+r)-te Zeile der Banknote B (dabei ist r eine positive ganze Zahl) in den Prüfmuster­ speicher 8d in dessen (p-s+1)-ter Zeile (dabei ist s eine positive ganze Zahl, die nicht kleiner ist als 2) im An­ schluß an die Prüfdaten für die (p+r-1)-te Zeile der Bank­ note B von links nach rechts nacheinander eingeschrieben, bis die Anzahl der in der (p-s+1)-ten Zeile des Prüfmuster­ speichers 8d eingeschriebenen Prüfdaten mit der Anzahl der Prüfdaten für die (r+s)-te Zeile der Banknote B überein­ stimmt.

Vorstehend wurde bereits gesagt, daß nach dem Er­ fassen von Prüfdaten für die ganze Fläche der Banknote B in dem Prüfmusterspeicher 8d ein rechteckiges Muster gespeichert ist, wie es in der Fig. 4 gezeigt ist. In der Fig. 5 ist gezeigt, daß dieses in dem Prüfmusterspeicher 8d gespeicher­ te Muster der Prüfdaten ähnlich wie die Banknote B rechteckig ist, daß aber die Länge und die Breite dieses Musters sich von der Länge L bzw. der Breite W der tatsächlichen Bankno­ te B unterscheiden. Wenn der Winkel zwischen jenen Rändern der Banknote B, die zu der Förderrichtung der Banknote pa­ rallel liegen sollen und der Förderrichtung der Banknote mit R bezeichnet wird, hat das gespeicherte Prüfdatenmuster die Länge L/cosR und die Breite W cosR.

Die vorstehenden Erläuterungen gelten nur für den Fall, daß die Banknote mit vorlaufender vorderer linker Ecke in Schräglage gefördert wird. Während einer Förderung der Banknote B in Schräglage mit vorlaufender rechter vorderer Ecke werden die Prüfdaten für die Banknote B von der Zentral­ einheit 7 derart verarbeitet, daß bei ihrem Einschreiben in den Prüfmusterspeicher die Einschreibrichtung nicht wie vor­ stehend beschrieben von links nach rechts, sondern von rechts nach links verläuft.

Wenn eine Banknote B nicht in Schräglage gefördert wird, sondern jene ihrer Ränder, die parallel zu der Förder­ richtung der Banknote liegen sollen, tatsächlich parallel zu deren Förderrichtung liegen, wird in dem Lagenspeicher 8c die Information gespeichert, daß die Banknote im normalen Zustand gefördert wird und schreibt die Zentraleinheit 7 die im Zwischenspeicher 8a gespeicherten Prüfdaten mit der ersten Zeile beginnend zeilenweise in den Prüfmusterspeicher ein, ohne eine besondere Verarbeitung der vorstehend beschriebe­ nen Art durchzuführen.

Nach der vollständigen Prüfung der Banknote B liest die Zentraleinheit 7 das in dem Prüfmusterspeicher 8d des RAM 8 gespeicherte Prüfdatenmuster aus diesem Prüfmusterspei­ cher 8d aus und liest die Zentraleinheit ferner aus dem ROM 10 die Bezugsmuster aus. Dann prüft die Zentraleinheit durch einen Vergleich der ausgelesenen Muster die Banknote B auf ihren Wert, ihre Echtheit und ihren Zustand und gibt die Zen­ traleinheit 7 das Ergebnis dieser Prüfung über eine nicht ge­ zeigte Anzeigeeinrichtung aus.

Vorstehend wurde angegeben, daß das in dem Prüfmu­ sterspeicher 8d gespeicherte Muster der Prüfdaten rechteckig ist, wie dies in den Fig. 4 und 5 gezeigt ist. Daher kann durch einen zeilenweisen Vergleich des gespeicherten Musters mit den Bezugsmustern die Banknote auf ihren Wert, ihre Echt­ heit und ihren Zustand geprüft werden.

In der Fig. 5 ist jedoch gezeigt, daß das in dem Prüfmusterspeicher 8d gespeicherte Prüfdatenmuster zwar rechteckig ist, aber sich in seiner Länge und Breite von der tatsächlichen Banknote B unterscheidet. Daher stimmen nicht in jeder Zeile des in dem Prüfmusterspeicher 8d gespeicher­ ten Musters die Daten mit den Daten der entsprechenden Zeile eines der Bezugsmuster überein. Da jedoch bei der Prüfung der Banknoten B auf ihren Wert, ihre Echtheit und ihren Zu­ stand gewisse Toleranzen zulässig sind, werden Banknoten B bei ihrer Prüfung auch dann als echte und unbeschädigte Bank­ noten eines bestimmten Wertes angesehen, wenn das Prüfmuster mit einem der Bezugsmuster über mehr als einen vorherbestimm­ ten Teil dieser Muster übereinstimmt, selbst wenn die Muster nicht vollkommen miteinander übereinstimmen. Daher wird durch diese Abweichung die Zuverlässigkeit der Prüfung der Banknoten B nicht beeinträchtigt.

In der vorstehend beschriebenen Ausführungsform stellt die Zentraleinheit aufgrund der von dem Bildsensor 2 erfaßten Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote B fest, ob die Banknote B in Schräglage gefördert wird oder nicht. Wenn eine Förderung in Schräglage festgestellt wird, stellt die Zentraleinheit fest, ob die Banknote B mit vorlaufender vorderer linker Ecke oder mit vorlaufender vorderer rechter Ecke gefördert wird und stellt die Zentraleinheit aufgrund der von dem Bildsensor 2 erfaßten Prüfdaten die Anzahl der Prüfdaten für jede Zeile der Banknote B fest. Aufgrund die­ ser Feststellungen schreibt die Zentraleinheit die in dem Zwischenspeicher 8a gespeicherten Prüfdaten derart in den Prüfmusterspeicher 8d ein, daß ein rechteckiges Muster ge­ speichert wird. Da Banknoten B mit hoher Zuverlässigkeit auf ihren Wert, ihre Echtheit und ihren Zustand geprüft werden können, indem das derart gespeicherte Prüfdatenmuster mit den Bezugsmustern verglichen wird, ist keine eigene Einrich­ tung zum Bestimmen des Winkels zwischen jenen Rändern der Banknote B, die parallel zu der Förderrichtung der Banknote liegen sollen, und dieser Förderrichtung erforderlich und braucht keine komplizierte Berechnung beispielsweise zum Drehen von Daten durchgeführt zu werden. Die Erfindung schafft daher eine Banknotenprüfvorrichtung, die bei einfachem Auf­ bau eine Prüfung von Banknoten B auf ihren Wert, ihre Echt­ heit und ihren Zustand mit hoher Genauigkeit durch eine ein­ fache Berechnung vornehmen kann, selbst wenn eine Banknote in Schräglage gefördert wird.

Anhand der bevorzugten Ausführungsform wurde näher erläutert, daß die Erfindung eine Banknotenprüfvorrichtung schafft, die bei einfachem Aufbau eine Prüfung von Banknoten auf ihren Wert, ihre Echtheit und ihren Zustand mit hoher Zuverlässigkeit durch eine einfache Berechnung vornehmen kann, selbst wenn eine Banknote in Schräglage gefördert wird.

Die Erfindung ist in keiner Weise auf die Einzelheiten der beschriebenen Anordnungen eingeschränkt, da im Rahmen der Patentansprüche Abänderungen vorgenommen wer­ den können.

Beispielsweise wird in der vorstehend beschrie­ benen Ausführungsform von dem Bildsensor B das durch die Banknote B hindurchgetretene Licht photoelektrisch erfaßt. Der Bildsensor 2 kann aber auch zum Erfassen von Licht ver­ wendet werden, das von der Banknote B reflektiert worden ist.

Ferner wird in der vorstehend beschriebenen Aus­ führungsform die Banknote B mit dem von der Lichtquelle 1 emittierten Licht zeilenweise abgetastet und wird von dem Bildsensor 2 das durch die Banknote B hindurchgetretene Licht bildelementweise auf einer zu der Förderrichtung der Banknote rechtwinkligen Querlinie erfaßt. Man kann aber die Banknote B mit der Lichtquelle 1 auch punktweise längs der zu der Förderbahn für die Banknote rechtwinkligen Linie ab­ tasten und das durch die Banknote B hindurchgetretene oder von ihr reflektierte Licht photoelektrisch erfassen.

Ferner ist in dem vorstehend beschriebenen Ausfüh­ rungsbeispiel der Zwischenspeicher 8a so aufgebaut, daß er die von dem Bildsensor 2 während einer Abtastung erfaßten Prüfdaten für eine Zeile der Banknote B speichert und daß bei jeder Eingabe von Prüfdaten für eine folgende Zeile der Banknote B die gespeicherten Daten aktualisiert werden. Es versteht sich aber, daß es zwar genügt, wenn der Zwischen­ speicher nur die Prüfdaten für eine einzige Zeile der Bank­ note B speichern kann, der Zwischenspeicher aber auch so eingerichtet sein kann, daß er die Prüfdaten für zwei oder mehrere Zeilen der Banknote B speichern kann.

Claims (2)

1. Banknotenprüfvorrichtung mit einer fotoelektrischen De­ tektoranordnung (1, 2) zum zeilenweisen Abtasten von längs einer Förderbahn geförderten Banknoten (B) mit rechtwinklig zur Förderebene der Banknoten (B) geführtem Licht und zum fotoelektrischen Erfassen von durch die Banknoten (B) hindurchgetretenem oder von ihnen re­ flektiertem Licht und einer Banknotenprüfeinrichtung (7, 8, 10) zum Vergleich eines Prüfmusters, das von der fotoelektrischen Detektoranordnung (1, 2) aufgrund von durch die Banknoten (B) hindurchgetretenem oder von ihnen reflektierten Lichtmengen erzeugt wird, mit Bezugsmustern und zum Prüfen der Banknoten (B) auf ihren Wert, ihre Echtheit und/oder ihren Zustand, dadurch gekennzeichnet, daß die Banknotenprüfeinrichtung (7, 8, 10) einen Zwi­ schenspeicher (8a) zum Zwischenspeichern von Prüfdaten für mindestens eine von der fotoelektrischen Detektor­ anordnung (1, 2) während der Abtastung der Banknote (B) erfaßten Zeile der Banknote (B), eine Auswerteinrichtung (7) zum Bestimmen der in dem Zwischenspeicher (8a) zu speichernden Prüfdaten für jede Zeile der Bank­ note (B) und zur Bestimmung der Lage, in der die Banknote (B) gefördert wird, aufgrund der in dem Zwischenspeicher (8a) zu speichernden Prüfdaten für die erste Zeile der Banknote (B), einen Datenanzahlspeicher (8b) zum Speichern der von der Auswerteinrichtung (7) be­ stimmten Anzahl der Prüfdaten für jede Zeile der Banknote (B), einen Lagenspeicher (8c) zum Speichern von von der Auswerteinrichtung (7) erfaßter Information über die Lage der Banknote (B) und einen Prüfmusterspeicher (8d) zum Speichern eines Prüfmusters der Banknote (B) umfaßt, wobei die Auswerteinrichtung (7) geeignet ist, die in dem Zwischenspeicher (8a) gespeicherten Prüfdaten aufgrund der in dem Datenanzahlspeicher (8b) gespeicherten Anzahl der Prüfdaten jeder Zeile der Banknote (B) und der in dem Lagenspeicher (8c) gespeicherten In­ formation über die Lage der geförderten Banknote (B) derart auszuwerten, daß von ihr den Prüfmusterspeicher (8d) ein rechteckiges Muster der Banknote (B) ein­ geschrieben wird.

2. Verfahren zur Durchführung der Banknotenprüfung mittels einer Banknotenprüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mittels der Auswerteeinrichtung (7) festgestellt wird, ob eine Banknote (B) in Schräglage gefördert wird oder nicht und ob eine Banknote (B) in Schräglage mit vorlaufender linker vorderer Ecke oder mit vorlaufender rechter vorderer Ecke gefördert wird, daß das Ergebnis dieser Feststellung in den Lagenspeicher (8c) eingegeben wird und daß bei Schräglage der Banknote (B) mit vorlaufender linker vorderer Ecke die Prüfdaten von der Auswerteeinrichtung (7) derart verarbeitet werden, daß bei ihrem Einschreiben in dem Prüfmuster­ speicher (8d) die Einschreiberichtung von links nach rechts verläuft, während bei Schräglage der Banknote (B) mit vorlaufender rechter vorderer Ecke die Prüfdaten von der Auswerteeinrichtung (7) derart verarbeitet werden, daß bei ihrem Einschreiben in den Prüfmuster­ speicher (8d) die Einschreiberichtung von rechts nach links verläuft.