DE3916047C2 - Stabförmige Sonde zur berührungslosen Untersuchung von Oberflächenstrukturen im Submikrometerbereich sowie Verfahren zur Herstellung dieser Sonde - Google Patents
Stabförmige Sonde zur berührungslosen Untersuchung von Oberflächenstrukturen im Submikrometerbereich sowie Verfahren zur Herstellung dieser SondeInfo
- Publication number
- DE3916047C2 DE3916047C2 DE3916047A DE3916047A DE3916047C2 DE 3916047 C2 DE3916047 C2 DE 3916047C2 DE 3916047 A DE3916047 A DE 3916047A DE 3916047 A DE3916047 A DE 3916047A DE 3916047 C2 DE3916047 C2 DE 3916047C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- tip
- dielectric
- probe
- metal
- sample surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/18—SNOM [Scanning Near-Field Optical Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SNOM probes
- G01Q60/22—Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/24—Investigating the presence of flaws
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine stabförmige Sonde zur
berührungslosen Untersuchung von Oberflächenstrukturen im
Submikrometerbereich mit den Merkmalen des Oberbegriffs des
Anspruchs 1 sowie ein Verfahren zu ihrer Herstellung.
Die Erfindung betrifft Spitzen aus verschiedenen Materialien
und deren Verwendung als Sonden in der berührungslosen
Abtastmikroskopie, z. B. als Sonde für die optische Nahfeld-
Rastermikroskopie (im weiteren SNOM genannt = Scanning Near
Field Optical Microscopy), wie sie in den Aufsätzen 2, 3, 9,
11 und 12 des beigefügten Literaturverzeichnisses beschrieben
ist. Ferner auch als Sonde für andere derartige Verfahren,
wie z. B. die Kapazitätsmikroskopie (siehe 4 des
Verzeichnisses), und die Rastertunnelmikroskopie (= RTM,
beschrieben in 1 und 13) und der Thermoprofilometrie (siehe
hierzu 5 des Verzeichnisses).
Es ist bekannt, für die verschienenen Verfahren der
berührungslosen Abtastmikroskopie Spitzen als Sonden zu
verwenden. So werden rein metallische Spitzen für die
Rastertunnelmikroskopie und die Kapazitätsmikroskopie
verwendet, während metallische Spitzen mit isolierendem
Glasmantel ebenfalls für die RTM und komplizierter
strukturierte Spitzen für die Thermoprofilometrie und für
SNOM verwendet werden.
Für SNOM verwandten Pohl et al (in 9) und auch Betzig et al
(in 3) einen in eine Spitze zulaufenden Hohlleiter. Und zwar
verwandten Betzig et al eine zu einer Spitze ausgezogene
Kapillare, die mit Metall beschichtet war, während Pohl et al
eine mit Metall beschichtete Glas- oder Quartz-Spitze mit
einer Öffnung von ca. 20-100 nm benutzten.
Im Rahmen der Elektrodynamik können diese Gebilde als zu
einer Spitze zulaufende Hohlleiter betrachtet werden.
Reddick et al und Courjon et al schlagen eine Sonde vor in
Form einer einfachen Glasspitze, d. h. einer zu einer Spitze
ausgezogenen bzw. zu einer Spitze geätzten Glasfaser (siehe
11 und 12 des Verzeichnisses).
Diese bekannten Sonden haben jedoch den Nachteil, daß nach
den Gesetzen der Elektrodendynamik Energie nur sehr
ineffizient vom Hohlleiter bzw. von der Faser in die Spitze
oder auch von der Spitze in den Hohlleiter bzw. die Faser
transportiert werden kann, wenn der Durchmesser des
Wellenleiters kleiner ist als die Wellenlänge des in die
Spitze zu sendenden Lichtes.
Es war daher bisher noch nicht möglich, mit einer Spitze als
Sonde SNOM in einer Reflexionsanordnung zu demonstrieren, wie
es für ein andere Art der SNOM-Sonden möglich ist. Eine
Spitzengeometrie ist der bisher für SNOM in Reflexion
verwendeten und z. B. in (2) beschriebenen Sonde deshalb
vorzuziehen, weil eine Sonde mit Spitzengeometrie leichter an
beliebig geformte Objektoberflächen herangeführt werden kann.
Eine Sonde der eingangs beschriebenen Art ist aus der
europäischen Patentanmeldung EP 0 245 660 A2 bekannt. Diese
Sonde weist einen massiven metallischen Kern auf, der von
einem Dielektrikum ummantelt ist. An der sich verjüngenden
Spitze der Sonde ragt der sich ebenfalls verjüngende
metallische Kern aus dem Dielektrikum heraus. Das
Dielektrikum und die aus ihm herausragende Spitze sind von
einer äußeren Metallhülle koaxial umgeben. Im Bereich der
Spitze entsteht somit ein elektrisch leitender Kontakt
zwischen äußerer Metallhülle und innerem metallischem Kern.
Bei dieser Sonde sind für Kern und Umhüllung unterschiedliche
Metalle gewählt, so daß die Spitze ein sehr kleines
Thermoelement darstellt. Dieses Thermoelement wird sehr nah
an eine Oberfläche herangebracht, und mit einer kleinen
Spannung beaufschlagt. Durch Austausch von Wärmestrahlung
wirkt die Oberflächenstruktur meßbar auf die Spitze ein. Als
nachteilig hierbei erweist sich, daß die
Anwendungsmöglichkeiten der Spitze darauf beschränkt sind,
ein thermisches Profil der Oberfläche abzutasten.
Weiterhin ist es aus der deutschen Patentschrift DE 38 37 389
C1 bekannt, einen für Mikrowellen verwendbaren Hohlleiter mit
einer Verjüngung seines Innendurchmessers zu versehen und in
diese Verjüngung eine von einem Dielektrikum aufgenommene
Metallspitze einzubringen. Der Hohlleiter endet in einer
geraden abgeschnittenen Fläche, die einen äußeren sehr
breiten Kreisring umfaßt, der aus dem Hohlleitermaterial
besteht, sowie einen inneren kleineren Kreisring aus dem
Dielektrikum, in dessen Mittelpunkt die Metallspitze
angeordnet ist. Die in der genannten deutschen Patentschrift
beschriebene Vorrichtung dient dazu, Mikrowellenstrahlung in
einem relativ kleinen Bereich vor der Spitze zu
konzentrieren. Als nachteilig bei dieser Anordnung erweist
sich zum einen, daß nur Mikrowellenstrahlung relativ großer
Wellenlänge verwendbar ist und zum anderen, daß aufgrund des
dem Durchmesser des Hohlleiters entsprechenden Endes ein
Annähern an die Probe auf sehr kleine Abstände mit sehr
großen experimentellen Schwierigkeiten verbunden ist.
Aus der EP 0 185 782 A1 ist eine Sonde für ein optisches
Nahfeld-Rastermikroskop bekannt, die aus einem transparenten
Kern besteht, der von einem ersten metallischen Überzug
bedeckt ist, der wiederum von einem transparentem Material
umgeben ist, das schießlich von einem zweiten metallischen
Überzug abgedeckt ist. Die Spitze der Sonde ist dabei derart
abgekappt, daß eine Öffnung für das zu detektierende Signal
entsteht.
Weiterhin ist in der EP 0 112 401 A1 eine Sondenspitze für
die optische Nahfeld-Rastermikroskopie beschrieben, die aus
einem transparenten Kern besteht, der mit einer Metallschicht
überzogen ist. Dabei ist ebenfalls das Ende der Sondenspitze
entfernt, so daß sich eine kleine Öffnung zur Beleuchtung des
Objektes ergibt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Sonde zur
berührungslosen Untersuchung von Oberflächenstrukturen im
Submikrometerbereich der eingangs genannten Art zur Verfügung
zu stellen, die einfach herzustellen ist und einen breiten
Anwendungsbereich erschließt.
Diese Aufgabe wird durch eine Sonde gelöst, welche die in
Anspruch 1 angegebenen Merkmale besitzt.
Wesentlichstes Merkmal ist dabei, daß die erfundene Spitze
als mehrschaliges koaxiales Kabel ausgebildet ist, dessen
eigentliche Spitze - je nach Verwendungszweck als Sonde in
den verschiedenen Verfahren der berührungslosen
Abtastmikroskopie - besonders ausgeformt ist.
Der Lösungsweg folgt dem aus der Elektrodynamik bekannten
theoretischen Konzept des "radialen" Wellenleiters, d. h.
eines Wellenleiters für Kugelwellen (siehe 8).
In der Zeichnung ist die Erfindung in mehreren Ausführungs
beispielen dargestellt. Es zeigen:
Fig. 1 schematisch einen radialen Wellenleiter mit einer
in die Spitze hinein- und einer aus der Spitze
herauslaufenden TEM Mode,
Fig. 2 schematisch eine erfundene Koaxialkabel-Spitze
in allgemeiner Form,
Fig. 3 ein Ausführungsbeispiel, bei dem die Spitze mittels
eines ringförmigen Spiegels beleuchtet wird,
Fig. 4 ein Ausführungsbeispiel, bei dem das Bestrahlungs
licht durch die Spitze eingestrahlt wird,
Fig. 5 ein Ausführungsbeispiel mit durch die Spitze ver
laufender Lichteinstrahlung und -herausführung,
Fig. 6 eine Ausführungsform der erfundenen Koaxialkabel-
Spitze, die sich besonders für die Tunnelmikro
skopie eignet,
Fig. 7 eine Ausführungsform der erfundenen Koaxialkabel-
Spitze, die sich besonders für die Thermoprofilo
metrie eignet.
Es ist bekannt, daß elektromagnetische Wellen mit Hilfe
von speziellen Wellenleitern über große Distanzen trans
portiert werden können, auch wenn der Durchmesser des
Wellenleiters wesentlich kleiner ist als die Wellenlänge.
Dies gilt z. B. für Koaxialkabel, nicht aber für Hohl
leiter. In einer dielektrischen Faser kann elektromag
netische Energie ebenfalls fortgeleitet werden, wenn
der Durchmesser der Faser wesentlich kleiner ist als die
Wellenlänge. Das elektromagnetische Feld tritt jedoch
umso weiter in den die Faser umgebenden Raum aus, je
kleiner der Durchmesser der Faser ist, sofern dieser
nur kleiner ist als die halbe Wellenlänge. In einem
zu einer Spitze zulaufenden Koaxialkabel kann die elek
tromagnetische Energie bis in die Spitze transportiert
werden. Dies ergibt sich daraus, daß in dem radialen
Wellenleiter der theoretischen Form, wie sie in Fig. 1
dargestellt ist, eine in die Spitze hineinlaufende und
aus der Spitze herauslaufende TEM Mode existiert, deren
Amplituden in der Spitze divergieren (siehe 8, S. 282).
Hiernach ergeben sich die Amplituden der in die Spitze
einlaufenden bzw. aus der Spitze herauslaufenden radialen
elektrischen und zirkularen magnetischen Wellenfelder
zu
Eθ -/+ = (ik/(2πf ε r sinθ)) exp(+/- ikr)
HΦ -/+ = -/+ (i/(r sinθ)) exp(+/- ikr)
HΦ -/+ = -/+ (i/(r sinθ)) exp(+/- ikr)
In dieser Gleichung sind r, θ und Φ die Polarkoordinaten,
K = 2πλ ist die Wellenzahl, λ die Wellenlänge im Glas
mit der Dielektrizitätskonstanten ε, f ist die Frequenz
des Lichtes. Eθ und HΦ sind das polare elektrische und
azimutale magnetische Feld. Der Index + gilt für die
einlaufende, - für die aus der Spitze auslaufende Welle.
Je nachdem, mit welcher Impedanz die Spitze abgeschlossen
wird, wird mehr oder weniger Energie aus der Spitze
herausgestrahlt oder in die Spitze zurückreflektiert.
Diese Impedanz hängt sehr empfindlich ab von der Gestal
tung der Spitze in dem in Fig. 2 mit d angegebenen
Bereich und von der unmittelbaren Umgebung der Spitze.
Dieses Phänomen ist die Grundlage für den Einsatz einer
solchen koaxialen Spitze als Sonde für die SNOM.
Auf Grund der höheren Effizienz der Lichtleitung aus
dem radialen Wellenleiter in die Spitze hinein und aus
der Spitze heraus in den Wellenleiter im Fall der
koaxialen Spitze, ist eine koaxiale Spitze auch für
eine Reflexionsanordnung einsetzbar.
Im allgemeinen werden im optischen Wellenlängenbereich
keine metallischen Wellenleiter sondern rein dielektrische
Wellenleiter verwendet, weil es meist darum geht, Licht
über große Distanzen zu transportieren. Metalle sind im
Optischen Wellenlängenbereich keine guten Leiter, so daß
bei der Lichtleitung sehr große Verluste auftreten,
die bei dielektrischen Wellenleitern nicht auftreten.
Im vorliegenden Falte geht es aber nur um die Leitung
über sehr kurze Strecken im µm-Bereich. Für Metalle wie
Aluminium ist die Wellenleitung über einige µm in einem
Koaxialkabel im Wellenlängenbereich des sichtbaren
Lichtes möglich.
Dieses für den optischen Bereich aufgestellte Konzept der
Koaxialkabel-Spitzen kann aber ebenso gut auch für den
niederfrequenten Bereich angewendet werden. Hieraus ergibt
sich ein neuer Ansatz für die Kapazitätsmikroskopie,
eine weitere Art der berührungslosen Abtastmikroskopie.
Die erfundene Koaxialkabel-Spitze hat die in Fig. 2 gezeigte
allgemeine Form.
In dieser Figur ist mit K der im allgemeinen runde metal
lische Kern bezeichnet, der koaxial von einem Dielektri
kum D umgeben ist. Auf diesem Dielektrikum ist wiederum
koaxial ein Überzug Ü aufgebracht, der
ebenfalls aus Metall besteht.
Im Bereich d ist das Ende der Koaxialkabel-Spitze unter
schiedlich ausgebildet, um als Sonde für die verschiedenen
Arten der berührungslosen Abtastmikroskopie brauchbar
zu sein.
- a In einem ersten Ausführungsbeispiel (Fig. 3) wird die Spitze S mit Hilfe eines ringförmigen Spiegels RSp - ähnlich wie bei Dunkelfeldauflicht-Anordnungen - mit poly- oder monochromatischem Licht beleuchtet. Das über das Ende d in die Koaxialkabel-Spitze S eingekoppelte Licht wird mit Hilfe einer Fotodiode F oder mit einem Photomultiplier detektiert.
- b In einem zweiten Ausführungsbeipiel (Fig. 4) wird das Bestrahlungslicht durch die Spitze S eingestrahlt. Das aus deren Ende d austretende Licht wird über den Ringspiegel RSp von Fotodioden F detektiert, die in gleicher Weise angeordnet sind, wie im Ausführungs beispiel gemäß Fig. 3. Diese Anordnung hat den Vorteil, daß die Probe einer geringeren Strahlenbelastung ausgesetzt ist.
- c In einem dritten Ausführungsbeispiel (Fig. 5) erfolgt sowohl die Einstrahlung des Lichtes als auch die Heraus führung des Detektionsstrahles durch die Koaxialkabel- Spitze S. Das Beleuchtungslicht wird über einen halb durchlässigen Spiegel HSp eingestrahlt. Das reflektierte, durch den halbdurchlässigen Spiegel HSp hindurchtretende Licht wird mit Hilfe der Fotodiode F registriert. Um das vom Objekt O in die Spitze S reflektierte Licht von demjenigen Licht zu separieren, das von anderen Teilen der Koaxialkabel-Spitze S reflektiert wird, kann der Abstand zwischen Spitze und Objekt hochfrequent moduliert werden. Die Fotodiode F ist dabei derart ausgelegt, daß sie nur das modulierte Signal registriert.
- d In einer besonderen, in Fig. 6 schematisch gezeigten
Ausführungsform eignet sich die Koaxialkabel-Spitze
speziell für die Tunnelmikroskopie, insbesondere in
Elektrolyten.
In der Figur ist mit K wiederum der metallische Kern bezeichnet, der insbesondere aus Gold bestehen kann. Dieser Kern ist koaxial von einem Glasmantel G umgeben. - e Fig. 7 zeigt eine Ausführungsform, in der sich die Koaxialkabel-Spitze speziell für die Thermoprofilo metrie eignet. Diese Ausführungsform hat die in der Figur gezeigte Struktur, in der mit K wiederum der runde metallische Kern bezeichnet ist, der vorzugsweise aus Kupfer besteht. Er wird koaxial von einem Glas- oder Quartzmantel G/Q umgeben, der seinerseits von dem koaxialen metallischen Überzug Ü abgedeckt ist, der vorzugsweise aus Nickel besteht. Dieser Überzug ist aufgebracht durch eine Kegelbedampfung der Spitze unter einem Winkel von 90°.
Die erfundene Koaxialkabel-Spitze mit ihrem Ende E ist aber
nicht nur für die Mikroskopie von Interesse, sondern all
gemein, um Licht lokal auf Dimensionen zu konzentrieren,
die kleiner sind als ein beugungslimitierter Fleck, wie er
auf optischem Wege erreichbar ist. Insbesondere gilt dies,
zur lokalen Modifikation von Materialoberflächen.
Dieses für den optischen Bereich aufgestellte Konzept der
mehrschaligen koaxialen Spitze kann aber ebenso gut auch
im niederfrequenten Bereich angewendet werden.
Dies führt dann zu einer neuen Möglichkeit in der Kapazi
tätsmikroskopie, einer weiteren Form der berührungs
losen Abtastmikroskopie.
Die Kapazitätsmikroskopie mit einer einfachen metalli
schen Spitze als Sonde wurde schon früher beschrieben (4).
Die abstandsabhängige Kapazität zwischen der Sonde und dem
Objekt wird als Signal für die Bildgebung verwendet. Dabei
besteht das Problem, daß nicht nur der vorderste Teil der
Spitze sondern der gesamte Schaft zum Signal beiträgt.
Dies führt zu einer schwachen Abstandsabhängigkeit des
Signals, die eine geringe laterale Auflösung des Ver
fahrens bewirkt.
Bei Verwendung der erfundenen Koaxialkabel-Spitze als Sonde
wird der spannungsführende Metallkern fast bis zum Ende
der Spitze durch eine geerdete Metallhülle abgeschirmt.
Als Signal für die Mikroskopie dient die abastandsabhängige
Kapazität zwischen Meallkern und Metallhülle. Die Kapazi
tät der Koaxialkabel-Spitze hat eine ganz andere Abstands
abhängigkeit als die Kapazität einer einfachen Metallspitze.
Die Kapazität der Koaxialkabel-Spitze ist bei großen Ab
ständen unabhängig vom Abstand zum Objekt. Erst wenn die
Spitze auf Abstände in der Größenordnung des Krümmungs
radius des Spitzen-Endes an das Objekt herangeführt wird,
setzt eine merkliche Zunahme der Kapazität auf Grund der
Polarisierung des Objektes durch das Streufeld von dem
Metallkern ein. Man erhält eine steilere Abstandsabhängig
keit des Signals. Aus diesem Grunde ergibt sich auch ein
höheres laterales Auflösungsvermögen in der Kapazitäts
mikroskopie bei Verwendung der Koaxialkabel-Spitze als Sonde
gegenüber der Verwendung einer einfachen Spitze.
Koaxialkabel-Spitzen, deren Verwendung als Sonde vorstehend
beschrieben ist, können auf folgende Weise hergestellt
werden:
- a Zunächst wird ein Draht in einem Glasmantel nach dem in (6) beschriebenen Taylor'schen Verfahren ausge zogen. Nach diesem Verfahren können Drähte aus den verschiedensten Metallen in einem Glasmantel gezogen werden, wobei als Glassorte eine solche Sorte zu wählen ist, deren Fließbereich in der Umgebung des Schmelz punktes des Metalles liegt. Ein Glasrohr wird zunächst an einem Ende zu einem gerin geren Durchmesser ausgezogen. In die Öffnung führt man ein Stück des Metalls ein, so daß es am Anfang der Verengung liegen bleibt. Nun erhitzt man das Glasrohr z. B. mit einem Gasbrenner soweit, daß das Metall zu schmelzen beginnt. Dann zieht man das Rohr in der Flamme auf die gewünschte Dicke von ca. 0,1-0,5 mm aus.
- b Das ausgezogene Rohr wird nun mit einer Einrichtung, wie sie auch zum Ziehen von Mikroelektroden verwendet wird (7), zu einem Rohr mit Spitze ausgezogen. Es ist möglich, auf diese Weise Spitzen zu erhalten, deren Enden einen Krümmungsradius von weniger als 50 nm besitzen.
- c Die Spitze wird durch Eintauchen in die Oberfläche von Flußsäure angeätzt, bis bei Anlegen einer Spannung von 100 mV zwischen dem Metallkern und der Flußsäure ein geringer Strom von ca. 0,1 nA fließt. Die genauen Bedingungen dieses Eintauchens bestimmen, wie weit der Metallkern offengelegt wird (Abstand d in Fig. 2). Dieser Abstand sollte kleiner als 1 µm sein.
- d Danach erfolgt eine Kegelbedampfung der Spitze unter einem Winkel von ca. 30° gegen die Achse der Spitze.
Insbesondere bei der Herstellung von Spitzen, die als
Sonden bei der Kapazitätsmikroskopie Verwendung finden
sollen, ist darauf zu achten, daß bei der Kegelbedamp
fung keine elektrisch leitende Verbindung zwischen dem
Metallkern und dem Überzug entsteht (durch schräge
Beschattung).
1) Schneir J. Sonnenfeld R, Hansma P. K. (1986) Tunneling
Microscopy Study of the Graphite Surface in Air and Water.
Phys. Rev. B 34, 4979-4984
2) Fischer UCh, Dürig U, Pohl. DW. (1988). Near field optical scanning, microscopy in reflection. Appl Phys. Lett. 52, 219-251, Fischer U. Ch., Dürig U, Pohl D, (1987) Patentanmeldung Leitz - IBM EP-0 308 537 A1
3) Betzig E., M. Isaacson, A. Lewis (1987) "Collection Mode Near field Scanning Optical microscopy". Appl. Phys lett 51, 2088-2090
Kleinknecht H. P., Sandercock, J. R., Meier H. (1988) An Experimental Scanning Capacitance Microscope. Scanning Microscopy im Druck
5) Williams, CC, Wickramasinghe HK. (1986) Scanning thermal profiler. Appl. Phys Lett. 49, 1587
6) Taylor G. F. (1924). A method for Drawing Metallic Filaments and a Discussion of their Properties and Uses, Phys Rev. 23, 655-660. (US Patant 1793529 vom 24. 2. 1931).
7) Plowright, M., Barrs, H. D., Bleijie, J. J. (1977) Microelectrode Puller with High Temperature Heating Element, Rev. Sci. Instrum., Vol. 48, No 4, 487-488.
8) Harrington, R. F. (1961) Time Harmonic Electromagnetic Fields, McGraw-Hill, N. Y., Toronto, London.
9) Pohl D. W., W. Denk, M. Lanz (1984). "Optical Stethoscopy: image recording with resolution \ /20" Appl. Phys Lett 44, 651-653.
10) Carter, F. L. (1983) Molecular level fabrication techniques and molecular electronic devices. J. Vac. Sci. Technol. B 1 (4), 959-968.
11) Courjon, D. K. Sarayeddine, M. Spayer (1989) Scanning tunneling optical microscopy. To be publ. in Optics Comm.
12) Reddick, C. R., R. J. Warmack, T. L. Ferrell (1989) New form of scanning optical microscopy. Phys. Rev. B, 39, 767-770
13) Binnig G, H. Rohrer, Ch. gerber, E. Weibel (1982) "Surface studies by scanning tunneling microscopy" Phys Rev. Lett. 49 (1), 57-60.
2) Fischer UCh, Dürig U, Pohl. DW. (1988). Near field optical scanning, microscopy in reflection. Appl Phys. Lett. 52, 219-251, Fischer U. Ch., Dürig U, Pohl D, (1987) Patentanmeldung Leitz - IBM EP-0 308 537 A1
3) Betzig E., M. Isaacson, A. Lewis (1987) "Collection Mode Near field Scanning Optical microscopy". Appl. Phys lett 51, 2088-2090
Kleinknecht H. P., Sandercock, J. R., Meier H. (1988) An Experimental Scanning Capacitance Microscope. Scanning Microscopy im Druck
5) Williams, CC, Wickramasinghe HK. (1986) Scanning thermal profiler. Appl. Phys Lett. 49, 1587
6) Taylor G. F. (1924). A method for Drawing Metallic Filaments and a Discussion of their Properties and Uses, Phys Rev. 23, 655-660. (US Patant 1793529 vom 24. 2. 1931).
7) Plowright, M., Barrs, H. D., Bleijie, J. J. (1977) Microelectrode Puller with High Temperature Heating Element, Rev. Sci. Instrum., Vol. 48, No 4, 487-488.
8) Harrington, R. F. (1961) Time Harmonic Electromagnetic Fields, McGraw-Hill, N. Y., Toronto, London.
9) Pohl D. W., W. Denk, M. Lanz (1984). "Optical Stethoscopy: image recording with resolution \ /20" Appl. Phys Lett 44, 651-653.
10) Carter, F. L. (1983) Molecular level fabrication techniques and molecular electronic devices. J. Vac. Sci. Technol. B 1 (4), 959-968.
11) Courjon, D. K. Sarayeddine, M. Spayer (1989) Scanning tunneling optical microscopy. To be publ. in Optics Comm.
12) Reddick, C. R., R. J. Warmack, T. L. Ferrell (1989) New form of scanning optical microscopy. Phys. Rev. B, 39, 767-770
13) Binnig G, H. Rohrer, Ch. gerber, E. Weibel (1982) "Surface studies by scanning tunneling microscopy" Phys Rev. Lett. 49 (1), 57-60.
Claims (8)
1. Stabförmige Sonde zur berührungslosen Untersuchung von
Oberflächenstrukturen im Submikrometerbereich,
- 1. welche über eine zu untersuchende Probenoberfläche geführt wird und eletromagnetische Energie entweder aus ihrem eigenen Nahfeld an die Probenoberfläche abgibt, oder aus deren Nahfeld aufnimmt,
- 2. mit einem inneren Metalldraht (K) und einem diesen Metalldraht (K) in seiner Längsrichtung koaxial ummantelnden Dielektrikum (D), das seinerseits von einer aufgedampften, äußeren Metallhülle (Ü) koaxial umgeben ist,
- 3. wobei sich der Metalldraht (K) und das Dielektrikum (D) sowie die Metallhülle (Ü) zur Probenoberfläche hin konisch verjüngen und eine zur Probenoberfläche hin insgesamt spitze Form der Sonde (S) gewährleisten,
- 4. und wobei das sich konisch verjüngende Ende des Metalldrahtes (K) als Drahtspitze aus dem Dielektrikum (D) in Richtung der Probenoberfläche herausragt,
2. Sonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Drahtspitze aus dem Dielektrikum (D) höchstens um einen
Mikrometer herausragt.
3. Sonde nach einem der Ansprüche 1 bis 2, dadurch,
gekennzeichnet, daß das Dielektrikum (D) entweder Glas
oder Quarz ist.
4. Verfahren zur Herstellung einer stabförmigen Sonde nach
einem der Ansprüche 1 bis 3, gekennzeichnet durch die
folgenden Verfahrensschritte:
- Der Metalldraht (K) wird zusammen mit dem ihn
ummantelnden Dielektrikum (D) nach dem Taylor-Verfahren
gezogen;
- durch Bedampfen mit einem Metall wird das Dielektrikum
(D) mit einem Überzug (Ü) versehen.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
nach dem Verfahrensschritt des Ausziehens zu einer Spitze
und vor dem Verfahrensschritt des Bedampfens mit Metall
das Dielektrikum (D) am Ende der Spitze durch Eintauchen
in Flußsäure soweit angeätzt wird, daß bei Anlegen einer
Spannung von 100 mV zwischen dem Metalldraht (K) und der
Flußsäure ein Strom von etwa 0,1 nA fließt.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 oder 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die Bedampfung des Dielektrikums (D)
eine Kegelbedampfung unter einem Winkel von etwa 30° gegen
die Achse der Sonde (S) ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3916047A DE3916047C2 (de) | 1989-05-17 | 1989-05-17 | Stabförmige Sonde zur berührungslosen Untersuchung von Oberflächenstrukturen im Submikrometerbereich sowie Verfahren zur Herstellung dieser Sonde |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3916047A DE3916047C2 (de) | 1989-05-17 | 1989-05-17 | Stabförmige Sonde zur berührungslosen Untersuchung von Oberflächenstrukturen im Submikrometerbereich sowie Verfahren zur Herstellung dieser Sonde |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3916047A1 DE3916047A1 (de) | 1990-11-22 |
DE3916047C2 true DE3916047C2 (de) | 1998-09-17 |
Family
ID=6380807
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3916047A Expired - Fee Related DE3916047C2 (de) | 1989-05-17 | 1989-05-17 | Stabförmige Sonde zur berührungslosen Untersuchung von Oberflächenstrukturen im Submikrometerbereich sowie Verfahren zur Herstellung dieser Sonde |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3916047C2 (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3837389C1 (de) * | 1988-11-03 | 1990-04-05 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften Ev, 3400 Goettingen, De | |
DE4106548C2 (de) * | 1991-03-01 | 1994-05-05 | Hund Helmut Gmbh | Drahtsonde zur berührungslosen, optischen Untersuchung von Oberflächenstrukturen im Submikrometerbereich |
DE4244268A1 (de) * | 1992-12-28 | 1994-07-07 | Max Planck Gesellschaft | Hochauflösendes optisches System mit einer Tastspitze |
DE19522546C2 (de) * | 1995-06-21 | 1998-02-19 | Max Planck Gesellschaft | Sonde für die Nahfeld-Mikroskopie |
AT410845B (de) * | 2000-06-09 | 2003-08-25 | Kranz Christine Dr | Vorrichtung für die gleichzeitige durchführung einer elektrochemischen und einer topographischen nahfeld-mikroskopie |
US6680617B2 (en) * | 2000-09-20 | 2004-01-20 | Neocera, Inc. | Apertured probes for localized measurements of a material's complex permittivity and fabrication method |
FR2885446B1 (fr) * | 2005-05-09 | 2007-07-20 | St Microelectronics Sa | Sonde coaxiale, son procede de fabrication et dispositif de mesure en champ proche electromagnetique sur des systemes a distance submicrometrique |
RU2688902C1 (ru) * | 2018-06-25 | 2019-05-22 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" | Бесконтактный датчик микрорельефа |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0112401A1 (de) * | 1982-12-27 | 1984-07-04 | International Business Machines Corporation | Optisches Nahfeldabtastmikroskop |
EP0185782A1 (de) * | 1984-12-28 | 1986-07-02 | International Business Machines Corporation | Wellenleiter für ein optisches Nahfeldmikroskop |
EP0245660A2 (de) * | 1986-04-30 | 1987-11-19 | International Business Machines Corporation | Thermisches Abtastungsprofilgerät und Verfahren zur Untersuchung von Oberflächenstrukturen |
DE3837389C1 (de) * | 1988-11-03 | 1990-04-05 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften Ev, 3400 Goettingen, De |
-
1989
- 1989-05-17 DE DE3916047A patent/DE3916047C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0112401A1 (de) * | 1982-12-27 | 1984-07-04 | International Business Machines Corporation | Optisches Nahfeldabtastmikroskop |
EP0185782A1 (de) * | 1984-12-28 | 1986-07-02 | International Business Machines Corporation | Wellenleiter für ein optisches Nahfeldmikroskop |
EP0245660A2 (de) * | 1986-04-30 | 1987-11-19 | International Business Machines Corporation | Thermisches Abtastungsprofilgerät und Verfahren zur Untersuchung von Oberflächenstrukturen |
DE3837389C1 (de) * | 1988-11-03 | 1990-04-05 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften Ev, 3400 Goettingen, De |
Non-Patent Citations (6)
Title |
---|
Betzig E., M. Isaacson, A. Lewis (1987), "Collection Mode Near field Scanning Optical microscopy", Appl. Phys. Lett. 51, 2088-2090 * |
Fischer U.Ch., Dürig U., Pohl DW. (1988), Near field optical scanning microscopy in reflection, Appl. Phys. Lett. 52, 249-251, Fischer U.Ch., Dürig U., Pohl D., (1987) Patentanmeldung Leitz - IBN EP 0 308 537 A1 * |
Kleinknecht H.P., Sandercock J.R., Meier H. (1988)An Experimental Scanning Capacitance Microscope, Scanning Microscopy im Druck * |
Schneir J., Sonnefeld R., Hansma P.K. (1986), Tunneling Microscopy Study of the Graphite Surfacein Air and Water, Phys. Rev. B 34, 4979-4984 * |
Taylor G.F. (1924), A method for Drawing Metallic Filaments and a Discussion of their Properties andUses, Phys. Rev. 23, 655-660 * |
Williams C.C., Wickramasinghe H.K. (1986), Scanning thermal profiler, Appl. Phys. Lett. 49, 1587 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3916047A1 (de) | 1990-11-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69308421T2 (de) | Optisches Nahfeldabtastmikroskop und seine Anwendungen | |
EP0367267B1 (de) | Tastspitze für elektromagnetische Strahlung | |
US6680617B2 (en) | Apertured probes for localized measurements of a material's complex permittivity and fabrication method | |
DE3916047C2 (de) | Stabförmige Sonde zur berührungslosen Untersuchung von Oberflächenstrukturen im Submikrometerbereich sowie Verfahren zur Herstellung dieser Sonde | |
DE69609336T2 (de) | Nahfeld-leitfähigkeits-mikroskop | |
DE102010045195A1 (de) | Mit einem Wellenleiter gekoppelter Oberflächenplasmon-Polaritions-Photodetektor | |
WO2001041180A1 (de) | Detektor für ein rasterelektronenmikroskop mit variablem druck und rasterelektronenmikroskop mit einem solchen detektor | |
DE69223789T2 (de) | Optisches Nahfeldabtastmikroskop | |
EP0728322A1 (de) | Mikroskopischer sender oder detektor elektromagnetischer strahlung | |
EP1844475B1 (de) | Nahfeldsonde | |
DD297521A5 (de) | Mikroskopisches verfahren und nahfeldreflexionsmikroskop | |
DE4106548C2 (de) | Drahtsonde zur berührungslosen, optischen Untersuchung von Oberflächenstrukturen im Submikrometerbereich | |
DE4014377A1 (de) | Hochfrequenzverstaerker mit langsamwellen-verzoegerungsleitung | |
DE4244086A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis von Oberflächenplasmonen | |
WO2008025491A1 (de) | Sonde, insbesondere zur optischen rastemahfeldmikroskopie | |
DE4329985C2 (de) | Sonde für die optische Nahfeldmikroskopie | |
DE4244268A1 (de) | Hochauflösendes optisches System mit einer Tastspitze | |
DE102008049833A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung einer quantitativen ortsaufgelösten Lokal- und Verteilunganalyse chemischer Elemente und in-situ Charakterisierung der ablatierten Oberflächenregionen | |
DE102010036082B4 (de) | Mikrofluidischer Messaufbau und optisches Analyseverfahren zur optischen Analyse von Zellen | |
EP1588382A2 (de) | Sonde für ein optisches nahfeldmikroskop mit verbesserter streulichtunterdrückung und verfahren zu deren herstellung | |
DE102019104982A1 (de) | Photonische Integrierte Schaltung | |
WO2013113507A2 (de) | Vorrichtung zur bestimmung der temperatur einer schmelze | |
DE19923444A1 (de) | Lichttransparente Sondenspitze sowie Verfahren zur Herstellung einer solchen | |
DE19822871C2 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Nahfeldsonde für die optische Nahfeldmikroskopie | |
WO2009042889A1 (en) | Method and apparatus for guiding optical energy |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G02B 21/00 |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: FISCHER, ULRICH, DR., 48159 MUENSTER, DE |
|
8120 | Willingness to grant licences paragraph 23 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |