DE3913872C2 - - Google Patents
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- DE3913872C2 DE3913872C2 DE19893913872 DE3913872A DE3913872C2 DE 3913872 C2 DE3913872 C2 DE 3913872C2 DE 19893913872 DE19893913872 DE 19893913872 DE 3913872 A DE3913872 A DE 3913872A DE 3913872 C2 DE3913872 C2 DE 3913872C2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Messung großer Phasenhü
be an jittermodulierten Signalen gemäß dem Oberbegriff des An
spruchs 1
Zur Gewinnung der Jitterzeitfunktion (Phasenzeitfunktion) aus
einem jittermodulierten (phasenmodulierten) hochfrequenten Signal
sind prinzipiell eine unmodulierte Vergleichsfrequenz (Referenz
frequenz) und ein geeigneter Phasenvergleicher notwendig.
DE 25 41 163 C2 offenbart eine Anordnung zur Bestimmung der Phasen
differenz zwischen einem ersten und einem zweiten Eingangssignal
mit je einer sich periodisch wiederholenden Wellenform in
einem Phasendifferenzbereich von n · 360 Grad, wobei n eine ganze
Zahl größer als 2 ist, mit je einer Frequenzteilerstufe für beide
Eingangssignale und mit mindestens zwei an Ausgängen der Frequenzteilerstufen
angeschlossenen Phasenkomparatoren, die auf je
eine von n aufeinanderfolgenden periodischen Wellenformen der
Eingangssignale ansprechen und je ein Impulssignal mit phasendifferenz
proportionaler Impulsbreite erzeugen, sowie mit einer Summierschaltung
zur Zusammenfügung der Impulssignale, deren Ausgang
ein zusammengesetztes Signal mit phasendifferenzproportionalem
Mittelwert liefert, bei dem die beiden Frequenzteilerstufen je
ein n-stufiges Schieberegister enthalten, wobei das betreffende
Eingangssignal dem Takteingang des Schieberegisters zugeführt ist
und wobei jeweils einander entsprechende Stufen der beiden Schieberegister
über je einen der Phasenkomparatoren mit der Summierschaltung
verbunden sind.
B) Flipfloptyp 1. Er verwendet im einfachsten Falle nur ein R/S- Flipflop (z. B. SN 74LS74 von TI) und besitzt folgende Merkmale:
B) Flipfloptyp 1. Er verwendet im einfachsten Falle nur ein R/S- Flipflop (z. B. SN 74LS74 von TI) und besitzt folgende Merkmale:
- - Ausgangsfrequenz = Eingangsfrequenz,
- - Meßbereich +- pi,
- - frequenz- und phasensensitiv,
- - Empfindlichkeit um 6 dB geringer als bei 1).
C) Flipfloptyp 2. Er verwendet mehrere Gatter und Flipflops, ist
integriert verfügbar (z. B. MC 4044 von Mototola) und besitzt fol
gende Merkmale:
- - Ausgangsfrequenz = Eingangsfrequenz,
- - frequenz- und phasensensitiv,
- - Meßbereich = +- 2pi, zusammengesetzt aus zwei Kennlinien des Flipfloptyps 1),
- - Welligkeit in der Mitte,
- - Empfindlichkeit mindestens um 12 dB geringer als bei 1),
- - je ein Ausgang für voreilende bzw. für nacheilende Phase.
Sollen Phasenvergleicher in präzisen Phasenmeßeinrichtungen, bei
spielsweise solchen für die Jittermessung, verwendet werden, so
fordert man hohe Linearität, große Aussteuerbarkeit und maximale
Modulations- und Demodulationsgrenzfrequenzen.
Die Linearität derartiger Phasenvergleicher hängt in der Praxis
stark von der jeweiligen Realisierung ab, insbesondere dann, wenn
der Jitter an Digitalsignalen hoher Bitfolgefrequenz gemessen
werden soll.
Im folgenden werden die Verhältnisse bei dem bekannten Phasenver
gleicher gemäß C) (Flipfloptyp 1) dargestellt, wobei die Überle
gungen sinngemäß auch für die übrigen Typen von Phasenverglei
chern gelten. Hierbei zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines bekannten Phasenvergleichers
gemäß C) mit nachgeschaltetem Tiefpaß.
Fig. 2 den zeitlichen Verlauf zweier an den Eingängen des in Fig.
1 dargestellten Phasenvergleichers anliegenden Nadel
impulse sowie des dabei am Ausgang des Phasenvergleichers
erscheinenden Impulszuges,
Fig. 3 ein Diagramm der Ausgangsspannung Ui des Tiefpasses 2 als
Funktion des Phasenversatzes Phi2 zwischen Nadelimpulsen,
die von einem Eingangssignal SE abgeleitet sind, und den
Nadelimpulsen eines Referenztaktsignals SR,
Fig. 4 ein Spektrum des Ausgangsignals der in Fig. 1 darge
stellten Anordnung,
Fig. 5 ein Blockschaltbild der in Fig. 1 dargestellten Anord
nung mit vorgeschalteten Frequenzteilern 4 und 5 und
Fig. 6 ein Spektrum des Ausgangsignals der in Fig. 5 darge
stellten Anordnung.
Die in Fig. 1 dargestellte Anordnung enthält einen Phasenver
gleicher 1, dem ein Siebglied 2 nachgeschaltet ist, das den Mit
telwert des mit der Phasenmodulation schwankenden pulsdauermodu
lierten Ausgangssignals des Phasenvergleichers 1 abgibt.
Fig. 2 zeigt oben die an einem Eingang E des Phasenvergleichers
1 liegenden Nadelimpulse SE, die aus einem mit der Frequenz fm
phasenmodulierten Eingangssignal abgeleitet sind, und in der Mit
te die an einem Eingang R liegenden Nadelimpulse SR, die aus ei
nem Referenzsignal abgeleitet sind, deren zeitabhängige Phasen
differenz zu bestimmen ist, sowie unten die am Ausgang des Pha
senvergleichers 1 erscheinende Ausgangsspannung u0. Letztere ist
idealerweise rechteckförmig und wird dem Siebglied 2 zugeführt,
das eine ihrem Mittelwert entsprechende Spannung ui abgibt.
Die am Ausgang des Phasenvergleichers 1 liegende Spannung u0
weist aber insbesondere bei hohen Frequenzen tatsächlich eine
Welligkeit auf, die unmittelbar nach der Flanke zum Teil be
trächtliche Werte annimmt. Dies kann dazu führen, daß sich der
für präzise Meßanwendungen ausnutzbare Teil O2 des Impulszuges
drastisch reduziert und häufig Werte von weniger als der Hälfte
des bei tiefen Frequenzen theoretisch möglichen Maximalwertes O1
annimmt.
Das in Fig. 3 dargestellte Diagramm zeigt die Kennlinie UO(O),
in der sich alle Welligkeiten des in Fig. 2 dargestellten Im
pulszuges abbilden. Sie stellt den arithmetischen Mittelwert des
Impulszuges uO(t) in Abhängigkeit von der zeitlichen Position O
der ansteigenden Flanke des Impulszuges SE dar.
Fig. 4 zeigt das zu dem in Fig. 2 dargestellten Impulszug UO(t)
gehörige Spektrum für die aus dem mit fm modulierten Eingangssig
nal abgeleiteten Nadelimpulse SE. Es weist neben der bei der Mo
dulationsfrequenz fm auftretenden Spektrallinie UO, die das Meß
ergebnis darstellt, eine Schar weiterer Spektrallinien auf, die
sich um eine Spektrallinie bei der Bitfolgefrequenz fB gruppiert.
Diese besitzen einen der Modulationsfrequenz fm entsprechenden
gegenseitigen Abstand und ihre Amplituden nehmen mit zunehmendem
Abstand von fB ab. Sie müssen vom Meßergebnis durch Tiefpaßfilte
rung getrennt werden.
Fig. 5 zeigt eine der in Fig. 1 dargestellten Anordnung ent
sprechende Anordnung, bei der den beiden Impulseingängen eines
gleichen Phasenvergleichers 3 jeweils ein digitaler Frequenztei
ler 4 bzw. 5 mit dem Teilungsverhältnis N=4 vorgeschaltet ist.
Nicht näher dargestellt sind Impulsformer, die aus dem Eingangs
signal und aus dem Referenzsignal die Nadelimpulse erzeugen. Am
Ausgang des Phasenvergleichers 3 liegt ein RC-Siebglied 6.
Durch das Vorschalten der Frequenzteiler werden die ausnutzbaren
Bereiche des PDM-Phasenvergleichers (PDM = Pulsdauermodulation)
zwar kräftig vergrößert, und gleichzeitig wird der Meßbereich des
Phasenvergleichers PD um den Teilungsfaktor N erhöht. Doch wird
dabei die maximal meßbare Jitterfrequenz durch das für Jittermeß
demodulatoren äußerst unerwünschte Heruntersetzen der Frequenz
des zu demodulierenden phasenmodulierten Trägers um den Faktor N
reduziert.
Fig. 6 zeigt das am Ausgang des Phasenvergleichers 3 bei Fre
quenzteilung um den Faktor N=4 auftretende Spektrum. Es enthält
wie das in Fig. 4 dargestellte Spektrum bei der Modulationsfre
quenz fm eine das Meßergebnis darstellende Spektrallinie UO, de
ren Amplitude jedoch nur ein Viertel derjenigen des in Fig. 4
dargestellten Spektrums beträgt.
Außerdem tritt eine Schar von Spektrallinien auf, die sich hier
um eine bei der Frequenz fB:N liegende Spektrallinie gruppiert
und die einen der Modulationsfrequenz fm entsprechenden gegensei
tigen Abstand aufweisen. Ihre Amplituden nehmen jedoch mit zuneh
mendem Abstand von fB:N aber viel stärker ab als dies beim Spek
trum gemäß Fig. 4 der Fall ist. Die Frequenzteiler 4, 5 bewir
ken, daß das Ausgangssignal nur noch einen Bruchteil 1/N der vom
Eingangssignal gelieferten Phaseninformation enthält.
Werden Anordnungen gemäß Fig. 5 in schnellen Phasenregelkreisen
zu Modulationszwecken verwendet, so macht sich eine mit dem Fre
quenzteilungsfaktor N größer werdende Totzeit störend bemerkbar,
die der Frequenzteiler mit sich bringt. Außerdem stört in Modula
toren für Jittergeneratoren, die als schnelle Phasenregelkreise
ausgebildet sind, auch das relativ starke Störspektrum um die
Phasenvergleichsfreguenz fB:N, das ausreichend unterdrückt werden
muß, bevor mit diesem Signal die Phase des Oszillators geregelt
werden kann.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde,
eine Anordnung (Phasenverglei
cher für Impulssignale) zur Messung großer Phasenhübe in Taktsig
nalen in Jittermodulatoren und Jitterdemodulatoren anzugeben, bei
der zwecks Meßbereichserweiterung im Eingangs- und
im Referenztaktpfad des Phasenvergleichers eine Frequenzteilung
durch N vorgenommen wird, die die aufgeführten Nachteile
weitgehend vermeidet und die dabei einen Phasenver
gleichsbereich von 2 bis 4 UI (unit interval) besitzt.
Diese Aufgabe wird bei einem gattungsgemäßen Verfahren durch die
kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 und bei einer Anordnung
zu dessen Durchführung durch die kennzeichnenden Merkmale des
Anspruchs 2 gelöst. Auf diese Weise werden alle N möglichen Zu
stände der Vorteiler benutzt, so daß keine Phaseninformation un
benutzt bleibt.
Die der Meßbereichserweiterung dienenden Frequenzteiler besitzen
also N Ausgänge und steuern N Phasenvergleicher an, deren N Aus
gangssignale in einer Summierstufe zusammengefügt werden. Dabei
werden alle prinzipiell zur Verfügung stehenden Signalflanken (N
mögliche Zustände der Frequenzteiler) benutzt, so daß keine Pha
seninformation ungenutzt bleibt. Bei N=2 oder 4 ist der Aufwand
noch gering.
Durch den zeitlichen Versatz aller Ausgangsspannungen der N Pha
senvergleicher tritt bei richtig eingestellter "Ruhephasenlage"
ohne jittermodulierende Aussteuerung auch eine gewisse Auslö
schung der Wechselanteile im Ausgangssigal des Summierers 13 auf.
In der Praxis tritt mindestens eine von vornherein stark verbes
serte Unterdrückung unerwünschter hochfrequenter Spektralanteile
auf. Daher treten auch die in Fig. 6 dargestellten, um die Spek
tralfreguenz fB:N herum liegenden Spektralanteile stark gedämpft
auf.
Da die Ausgangsimpulse jedes einzelnen Phasenvergleichers genü
gend lang einschwingen können, ist der für Messungen benutzbare
lineare Teil der Kennlinie UO(O) der in Fig. 7 dargestellten
Anordnung genau so groß wie im Falle der Fig. 5.
Eine zweckmäßige Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, ein Über
sprechen zwischen Frequenzteilerausgängen und nicht mit ihnen
verbundenen Phasenvergleichereingängen zu minimieren.
Die Erfindung besitzt folgende vorteilhaften Eigenschaften:
- - Die Erfindung kann grundsätzlich bei jedem Typ von digitalem Einzelphasenvergleicher angewandt werden. Lediglich die Aus steuersignale aus den Vorteilern müssen in geeigneter Weise erzeugt werden.
- - Mit Phasenvergleichern gemäß C) und N=4 wird ein Phasenmeßbe reich von insgesamt 4 UI erzielt.
- - Die Empfindlichkeit der Phasenmeßanordnung liegt 4-fach höher als bei einem Einzelvergleicher mit entsprechendem Meßbereich.
- - Störende Spektralanteile des Signals, die durch Filterung zu unterdrücken sind, weisen prinzipiell eine hohe Unterdrückung auf. Ohne Modulation liegt eine vollständige Trägerunterdrüc kung vor. Es können weniger steile Filter mit hoher Grenzfre quenz verwendet werden.
- - N kann prinzipiell jeden geradzahligen Wert annehmen. Aus Auf wandsgründen ist N = 4 empfehlenswert.
- - Impulsdach und Impulsfuß weisen auch bei hohen Frequenzen brei te Zonen ohne Welligkeit auf, so daß Linearitätsschwierigkeiten in der Praxis von vornherein gemildert sind.
- - Es wird die Phaseninformation jedes Taktimpulses verwendet. Die zu berücksichtigende Totzeit entspricht derjenigen eines Pha senvergleichers, der dicht bei fB arbeitet, was besonders wich tig in flinken Phasenregelkreisen ist.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung darge
stellt und wird im folgenden näher beschrieben. Hierbei zeigt:
Fig. 7 ein Blockschaltbild des Ausführungsbeispiels und
Fig. 8 ein Diagramm des zeitabhängigen Verlaufes mehrerer in
der Anordnung gemäß Fig. 7 auftretender Spannungen bzw.
Signale.
Das in Fig. 7 gezeigte Ausführungsbeispiel besitzt zwei Fre
quenzteiler 7 und 8 mit dem Frequenzteilungsverhältnis N=4, die
in nicht näher dargestellter Weise Demultiplexer für alle 4 inne
ren Zustände enthalten. Die Ausgänge dieser Demultiplexer sind in
ebenfalls nicht näher dargestellter Weise als Impulsformer ausge
bildet, die an ihren Ausgängen a bis d bzw. A bis D Nadelimpulse
abgeben. Jeweils ein Ausgang (z. B. a) des Frequenzteilers 7 und
ein gegenüber einem entsprechenden Ausgang (z. B. A) des anderen
Frequenzteilers 8 um zwei Stufen (N/2=2) versetzter Ausgang
(z. B. C) des Frequenzteilers 8 sind mit den Eingängen (z. B. S11
und R11) eines (z. B. 11) von vier als RS-Flipflop ausgebildeten
Phasenvergleichern 9 bis 12 verbunden. Die Ausgänge dieser vier
Phasenvergleicher sind mit den Eingängen eines Summierers 13 ver
bunden, dessen Ausgang das Meßergebnis abgibt.
Wie Fig. 8 zeigt, erzeugt der Frequenzteiler 7 aus den aufeinan
derfolgenden PDM-Impulsen des Eingangssignals SE Nadelimpulse a′
bis d′, die pulslagemoduliert sind und die prinzipiell jeweils um
eine Taktperiode gegeneinander versetzt sind. In ähnlicher Weise
erzeugt der Frequenzteiler 8 aus den Impulsen des Referenzsignals
SR Nadelimpulse A′ bis D′, die nacheinander an seinen Ausgängen A
bis D erscheinen, jedoch äquidistant sind und ebenfalls jeweils
um eine Taktperiode gegeneinander versetzt sind. An den Ausgängen
der Phasenvergleicher 9 bis 12 entstehen prinzipiell gleichartige
PDM-Signale U₁ bis U4, die jeweils um eine Taktperioden gegenein
ander versetzt sind und die der Summierer 13 zum Ergebnis
zusammenfaßt.
Claims (5)
1. Anordnung zur Messung von Phasenhüben zwischen den Impulsen
eines kontinuierlichen Eingangstaktsignals E und eines kontinuierlichen
Referenzsignals R in Jittermodulatoren und Jitterdemodulatoren,
die größer als eine Referenztaktperiode sind,
mit zwei Frequenzteilern mit jeweils einem Teilungsverhältnis N, wobei
der Taktsignaleingang des einen Frequenzteilers vom Eingangstaktsignal E und
der Taktsignaleingang des anderen Frequenzteilers vom Referenzsignal
R beaufschlagt werden,
mit mindestens zwei an Ausgängen der Frequenzteiler angeschlossenen Phasenvergleichern, und
mit einem an deren Ausgänge angeschlossenen, das Meßergebnis liefernden Summationsglied, dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Frequenzteiler (7, 8) N Taktausgänge (a bis d; A bis D) für ihre aufeinanderfolgenden N inneren Zustände besitzen, daß N Phasenvergleicher (9 bis 12) vorgesehen sind, deren eine Eingänge (R₉ bis R₁₂) jeweils mit einem der Ausgänge (A, B, C, D) des Frequenzteilers (8) für das Referenzsignal (SR) und deren andere Eingänge (S₉ bis S₁₂) jeweils mit einem um N/2 gegenüber entsprechenden Ausgängen (c, d, a, b) des Frequenzteilers (8) für das Referenzsignal SR verschobenen Ausgängen des Frequenzteilers (7) für das Eingangssignal (SE) verbunden sind, und
daß die Ausgänge der N Phasenvergleicher (9 bis 12) jeweils an einem von N Eingängen eines das Meßergebnis liefernden Summationsgliedes (13) liegen.
mit mindestens zwei an Ausgängen der Frequenzteiler angeschlossenen Phasenvergleichern, und
mit einem an deren Ausgänge angeschlossenen, das Meßergebnis liefernden Summationsglied, dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Frequenzteiler (7, 8) N Taktausgänge (a bis d; A bis D) für ihre aufeinanderfolgenden N inneren Zustände besitzen, daß N Phasenvergleicher (9 bis 12) vorgesehen sind, deren eine Eingänge (R₉ bis R₁₂) jeweils mit einem der Ausgänge (A, B, C, D) des Frequenzteilers (8) für das Referenzsignal (SR) und deren andere Eingänge (S₉ bis S₁₂) jeweils mit einem um N/2 gegenüber entsprechenden Ausgängen (c, d, a, b) des Frequenzteilers (8) für das Referenzsignal SR verschobenen Ausgängen des Frequenzteilers (7) für das Eingangssignal (SE) verbunden sind, und
daß die Ausgänge der N Phasenvergleicher (9 bis 12) jeweils an einem von N Eingängen eines das Meßergebnis liefernden Summationsgliedes (13) liegen.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß N
gerade ist.
3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß N
gleich 2 oder gleich 4 ist.
4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Phasenvergleicher (9, 10, 11, 12) Flipflops
enthalten.
5. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Phasenvergleicher (9, 10, 11, 12) Exclusiv-ODER-Gatter sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893913872 DE3913872A1 (de) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | Verfahren zur messung grosser phasenhuebe an jittermodulierten signalen und anordnung zu dessen durchfuehrung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893913872 DE3913872A1 (de) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | Verfahren zur messung grosser phasenhuebe an jittermodulierten signalen und anordnung zu dessen durchfuehrung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3913872A1 DE3913872A1 (de) | 1990-11-08 |
DE3913872C2 true DE3913872C2 (de) | 1991-09-19 |
Family
ID=6379563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19893913872 Granted DE3913872A1 (de) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | Verfahren zur messung grosser phasenhuebe an jittermodulierten signalen und anordnung zu dessen durchfuehrung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3913872A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4211701A1 (de) * | 1992-04-08 | 1993-10-14 | Thomson Brandt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Phasenmessung |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1436933A (en) * | 1974-09-26 | 1976-05-26 | Mullard Ltd | Phase and/or frequency comparators |
-
1989
- 1989-04-27 DE DE19893913872 patent/DE3913872A1/de active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4211701A1 (de) * | 1992-04-08 | 1993-10-14 | Thomson Brandt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Phasenmessung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3913872A1 (de) | 1990-11-08 |
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