DE3913786A1 - Vorrichtung zur beruehrungslosen schallemissionsmessung - Google Patents

Vorrichtung zur beruehrungslosen schallemissionsmessung

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Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur berührungslosen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken mit Hochener­ giestrahlen emittierten Schallwellen über einen an einer Platte angebrachten akustischen Sensor.
Bei der Bearbeitung von Werkstücken mit Hochenergiestrahlen, beispielsweise beim Bohren, Schneiden oder Schweißen mit La­ serstrahlen, bildet sich oberhalb einer bestimmten Intensitäts­ schwelle über der Bearbeitungsstelle ein Plasma. Dieses Plasma erzeugt Schockwellen, die sich vom Werkstück in Richtung Strahlquelle ausbreiten. Werden nun die bei der Bearbeitung von Werkstücken mit Hochenergiestrahlen emittierten Schallwellen mit einem akustischen Sensor erfaßt und mittels Schallemissionsanalyse ausgewertet, so kann das Ergebnis dieser Auswertung beispielsweise zur Steuerung der Bearbeitung oder zur Qualitätsüberwachung herangezogen werden.
Aus der EP-B-64 352 ist es bekannt, bei der Bearbeitung eines Werkstückes mit Energiestrahlen direkt am Werkstück einen akustischen Sensor anzubringen und in Abhängigkeit von der erfaßten Schallemission die Energie und/oder die Energiedichte des Strahls und/oder die Geschwindigkeit der Relativbewegung zwischen dem Strahl und dem Werkstück zu steuern. Es hat sich jedoch herausgestellt, daß die Ankopplung des Sensors an das Werkstück die Schallübertragung wesentlich beeinflußt. Damit wird dann aber auch die Analyse und Beurteilung des jeweils gemessenen Schallemissionssignals beträchtlich erschwert.
Gemäß der US-A 44 19 562 werden die Probleme einer reproduzier­ baren Ankopplung der akustischen Sensoren an die zu bearbeitenden Werkstücke durch eine berührungslose Messung der Schallemission umgangen. Als Empfänger der beim Laserschweißen emittierten Schallwellen dient dabei ein an einer Platte be­ festigter akustischer Sensor, wobei die zwischen der Fokussier­ optik des Lasers und dem Werkstück angeordnete Platte aus Metall besteht und eine Öffnung für den Durchtritt des Laser­ strahls aufweist. Derartige aus Metallplatte und akustischem Sensor bestehende Empfänger sind jedoch nicht nur für die vom Werkstück emittierten Schallwellen, sondern auch für reflektier­ te Laserstrahlung und die vom Werkstück abgestrahlte Wärmestrahlung empfindlich. Eine Trennung und separate Analyse bzw. Auswertung der durch die Bearbeitung mit Laserstrahlen verursachten Schallemission ist damit nicht möglich.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Einrichtung zur berührungslosen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken mit Hochenergiestrahlen emittierten Schallwellen zu schaffen, welche eine weitgehend separate Erfassung und Auswertung der Schallemission der Werkstücke gewährleistet.
Diese Aufgabe wird bei einer Vorrichtung der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Platte aus einem Material besteht, welches für die zur Bearbeitung der Werk­ stücke verwendeten Hochenergiestrahlen und für die vom Werk­ stück abgestrahlten Wärmestrahlen zumindest weitgehend trans­ parent ist. Eine aus einem derartigen Material bestehende Platte wird durch akustische Wellen in Schwingungen versetzt, ohne daß sich die Platte aufheizt, d.h. die Schallemission vom Werkstück kann nun von elektromagnetischer Strahlung getrennt werden. Die Schallemission kann somit eindeutig analysiert und zur Prozeßsteuerung bzw. Qualitätssicherung eingesetzt werden.
Bei der berührungslosen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken mit Laserstrahlen im Ultraviolett, im Bereich des sichtbaren Lichts und im nahen Infrarot emittierten Schall­ wellen besteht die Platte vorzugsweise aus Quarz oder Quarz­ glas. Im Hinblick auf die Durchlässigkeit für die genannten Laserstrahlen und die vom Werkstück abgestrahlten Wärmestrah­ len haben Quarz und Quarzglas sehr günstige Eigenschaften, während andererseits im Vergleich zu Materialien wie Saphir der Kostenaufwand besonders gering ist.
Bei der berührungslosen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken mit Laserstrahlen im fernen Infrarot emittierten Schallwellen besteht die Platte vorzugsweise aus Zinkselenid. Derartige Platten aus Zinkselenid erfüllen beispielsweise bei der Verwendung von CO2-Lasern die an die Durchlässigkeit ge­ stellten Forderungen sehr gut.
Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung ist zur be­ rührungslosen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken mit Laserstrahlen emittierten Schallwellen die Platte im Abstand zum Werkstück in den Strahlengang der Laserstrahlen eingefügt. Hierdurch wird eine besonders effektive Erfassung der vom Werkstück emittierten Schallwellen ermöglicht, wobei eine Beeinträchtigung der Platte durch die Laserstrahlen je­ doch ausgeschlossen werden kann.
Insbesondere zur berührungslosen Messung der bei der Bear­ beitung von Werkstücken mit Elektronenstrahlen oder Plasma­ strahlen emittierten Schallwellen ist die Platte im Abstand zum Werkstück seitlich außerhalb des Strahlengangs der Hoch­ energiestrahlen angeordnet. Eine Beeinträchtigung der Platte, wie sie beispielsweise beim Durchgang von Elektronenstrahlen oder Plasmastrahlen auftreten würde, kann hierdurch ausge­ schlossen werden.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dar­ gestellt und werden im folgenden näher beschrieben. Es zeigen
Fig. 1 eine Vorrichtung zur berührungslosen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken mit Hochener­ giestrahlen emittierten Schallwellen über eine in den Strahlengang eingefügte Platte und einen an der Platte angebrachten Sensor und
Fig. 2 eine Variante der in Fig. 1 dargestellten Vorrich­ tung, bei welcher die Platte mit dem Sensor seit­ lich außerhalb des Strahlengangs angeordnet ist.
Fig. 1 zeigt in stark vereinfachter schematischer Darstellung einen Hochenergiestrahl in Form eines Laserstrahls Ls, der über eine hier als Linse L dargestellte Fokussieroptik auf die Ober­ fläche eines Werkstückes W fokussiert wird. Derartige Anordnun­ gen werden beispielsweise beim Laserpunktschweißen eingesetzt.
Die während der Bearbeitung des Werkstückes W mit dem fokussierten Laserstrahl Ls entstehenden Schallwellen Sw werden über einen an einer Platte P befestigten akustischen Sensor S aufgenommen und zur Prozeßsteuerung oder zur Qualitätssiche­ rung in einem Schall-Analysator SA ausgewertet. Die zwischen der Linse L und dem Werkstück W in den Strahlengang eingefügte Platte P besteht aus einem Material, welches sowohl für die zur Bearbeitung verwendete Laserstrahlung Ls als auch für die vom Werkstück W abgestrahlten Wärmestrahlen Ws zumindest weitgehend transparent ist. Durch diese Materialeigenschaften wird eine Aufheizung der Platte P durch direkte oder reflektierte Laser­ strahlen Ls und durch die Wärmestrahlen Ws vermieden. Es ist also möglich, die Schallemission vom Werkstück W von der elek­ tromagnetischen Strahlung zu trennen und separat zu analysieren. Die bei der Bearbeitung mit Laserstrahlen berüh­ rungslos gemessene Schallemission kann dabei Frequenzen auf­ weisen, die sowohl größer als auch kleiner 100 kHz sind. Als akustischer Sensor S wird beispielsweise ein Piezosensor ver­ wendet, der insbesondere für Messungen oberhalb 100 kHz geeignet ist.
Bei der in Fig. 2 dargestellten Variante ist die Platte P mit dem Sensor im Abstand zum Werkstück W außerhalb des Strahlen­ gangs der Laserstrahlen Ls angeordnet, d.h. die zur Bearbei­ tung verwendeten Laserstrahlen Ls treten nicht direkt durch die Platte P hindurch. Obwohl die Variante gemäß Fig. 2 am Beispiel von Laserstrahlen Ls aufgezeigt ist, ist eine der­ artige Anordnung insbesondere für solche Hochenergiestrahlen geeignet, deren Durchtritt durch die Platte P deren Verände­ rung oder Zerstörung bewirken würde. Dies ist beispielsweise bei Elektronenstrahlen oder Plasmastrahlen der Fall.
Beispiel 1
Beim Schweißen mit Nd:-Lasern der Wellenlänge 1,06 µm wird bei einer Anordnung gemäß Fig. 1 als Platte P eine 2 mm starke Quarzplatte 214 der Fa. Westdeutsche Glasschmelze GmbH, D-2057 Geesthacht verwendet. Die Schallemissionsanalyse dient hierbei der on-line-Qualitätsüberwachung.
Beispiel 2
Beim Beispiel 1 wird anstelle der Quarzplatte eine Platte P aus Saphir verwendet.
Beispiel 3
Bei der Bearbeitung von Werkstücken W mit CO2-Lasern der Wellenlänge 10,6 µm wird bei einer Anordnung gemäß Fig. 1 eine Platte P aus Zinkselenid (ZnSe) verwendet.
Beispiel 4
Beim thermischen Abtragen mit einem Rubinlaser der Wellenlänge 694,3 nm unter gleichzeitiger Zuführung eines inerten oder reaktionsträgen Gases wird bei einer Anordnung gemäß Fig. 2 eine Platte P aus Quarzglas eingesetzt.
Beispiel 5
Beim Elektronenstrahlschweißen unter Verwendung eines schwachen Vakuums, welches eine Schallübertragung noch zuläßt, wird bei einer Anordnung gemäß Fig. 2 eine Platte P aus Quarzglas ver­ wendet.
Beispiel 6
Beim Schneiden von hochlegierten Stählen mit einem Plasma­ schneidbrennerkopf wird bei einer Anordnung gemäß Fig. 2 eine Platte P aus Quarzglas verwendet.

Claims (5)

1. Vorrichtung zur berührungslosen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken (W) mit Hochenergiestrahlen emittierten Schallwellen (Sw) über einen an einer Platte (P) angebrachten akustischen Sensor (S), dadurch gekennzeichnet, daß die Platte (P) aus einem Material besteht, welches für die zur Bearbeitung der Werkstücke (W) verwendeten Hochenergie­ strahlen und für die vom Werkstück (W) abgestrahlten Wärme­ strahlen (Ws) zumindest weitgehend transparent ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1 zur berührungslosen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken (W) mit Laserstrahlen (Ls) im Ultraviolett, im Bereich des sichtbaren Lichts und im nahen Infrarot emittierten Schallwellen (Sw), dadurch gekennzeichnet, daß die Platte (P) aus Quarz oder Quarzglas besteht.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 zur berührungslosen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken (W) mit Laserstrahlen (Ls) im fernen Infrarot ermittierten Schallwellen (Sw), dadurch gekennzeichnet, daß die Platte (P) aus Zinkselenid besteht.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3 zur berührungslosen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken (W) mit Elek­ tronenstrahlen oder Plasmastrahlen emittierten Schallwellen (Sw), dadurch gekennzeichnet, daß die Platte (F) im Abstand zum Werkstück (W) in den Strahlengang der Laserstrahlen (Ls) eingefügt ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1, insbesondere zur berührungs­ losen Messung der bei der Bearbeitung von Werkstücken (W) mit Elektronenstrahlen oder Plasmastrahlen emittierten Schallwellen (Sw), dadurch gekennzeichnet, daß die Platte (P) im Abstand zum Werkstück (W) seitlich außerhalb des Strahlengangs der Hochenergiestrahlen angeordnet ist.
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