DE3840535A1 - Monolithischer batterieladungsregler - Google Patents
Monolithischer batterieladungsreglerInfo
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- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 claims abstract description 62
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 40
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims abstract description 36
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 claims abstract description 35
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 24
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 18
- 230000006698 induction Effects 0.000 claims description 10
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 8
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 claims description 8
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 8
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 7
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 4
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims description 3
- 244000045947 parasite Species 0.000 claims 1
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 239000007943 implant Substances 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- 241001503991 Consolida Species 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
- H01L27/0214—Particular design considerations for integrated circuits for internal polarisation, e.g. I2L
- H01L27/0229—Particular design considerations for integrated circuits for internal polarisation, e.g. I2L of bipolar structures
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
- H01L27/0248—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02J—CIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
- H02J7/00—Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries
- H02J7/0029—Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries with safety or protection devices or circuits
- H02J7/00308—Overvoltage protection
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02J—CIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
- H02J7/00—Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries
- H02J7/14—Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries for charging batteries from dynamo-electric generators driven at varying speed, e.g. on vehicle
- H02J7/16—Regulation of the charging current or voltage by variation of field
- H02J7/24—Regulation of the charging current or voltage by variation of field using discharge tubes or semiconductor devices
- H02J7/2434—Regulation of the charging current or voltage by variation of field using discharge tubes or semiconductor devices with pulse modulation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02T—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
- Y02T10/00—Road transport of goods or passengers
- Y02T10/80—Technologies aiming to reduce greenhouse gasses emissions common to all road transportation technologies
- Y02T10/92—Energy efficient charging or discharging systems for batteries, ultracapacitors, supercapacitors or double-layer capacitors specially adapted for vehicles
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen
monolithischen Laderegler für eine Batterie, die durch
einen Wechselstromgenerator geladen wird, und der gegen
Störspannungen geschützt ist.
Monolithische Ladespannungsregler für Batterien, die von
einem Wechselstormgenerator geladen werden, finden in
Kraftfahrzeugen Einsatz und erlauben die
Ladespannungsregelung an der Batterie in Abhängigkeit
von den Betriebszuständen des jeweiligen Fahrzeugs. Sie
enthalten gewöhnlich, wie in Fig. 1 gezeigt, eine
Leistungsstufe 2 mit einem MOS-Schalttransistor 20,
wobei eine Rückführdiode (DR) in Sperrichtung dem
MOS-Transistor 20 in Serie geschaltet ist. Dieser ist
seinerseits normalerweise in Serie mit der
Induktionswicklung 21 des Wechselstromgenerators
geschaltet, und die Rückführdiode (DR) ist parallel zur
Induktionswicklung 21 geschaltet. Diese Regler enthalten
darüber hinaus eine Schwachlaststufe 3, die wenigstens
eine Detektorschaltung für das Signal der Anwesenheit
der Generatorphase enthält, enthaltend eine
Eingangsschaltung 30 für das Generatorphasensignal. Die
Schwachlaststufe entspricht klassischen Funktionen, wie
die Ermittlung der Anwesenheit der Generatorphase, die
Beleuchtung oder Versorgung einer Anzeigelampe oder
dgl., und braucht daher im Detail nicht erläutert zu
werden.
Der Wechselstromgenerator 1 ist normalerweise mit einer
Gleichrichterbrücke 10 verbunden, wobei dieselbe sowie
die Leistungsstufe 2 und die Schwachlaststufe 3 parallel
miteinander zwischen die positive Anschlußleitung der
Batterie und die Bezugs- oder Massseleitung geschaltet
sind.
Diese Art monolithischer Regler ist indessen sehr
empfindlich auf Störrestspannungen, die sich auf den
vorgenannten Anschlußleitungen fortpflanzen können,
sowie auf ungewollte Umpolungen der
Batteriespannungsanschlüsse, sei es bei mechanischen
Reparaturen oder Wartungsarbeiten am Fahrzeug, wie
nachfolgend beschrieben.
Was die der Funktion des Fahrzeugs innewohnenden
Störungen betrifft, kann man hier das Auftreten von
Übergangsspannungen an der Gleichrichterbrücke, die
Verwendung von Transduktoren oder anderen
Hilfsaggregaten, wie beispielsweise das Signalhorn oder
den Anlasser aufzählen.
Eine Lösung zum Dämpfen dieser Übergangsrestspannungen
kann darin bestehen, daß man in der Gleichrichterbrücke
10 Zenerdioden verwendet, die die vorgenannten
Übergangsspannungen bei der Zenerspannung von etwa
jeweils 26 V bis 35 V abschneiden.
Im Falle, daß die Batterie von der
Wechselstromlichtmaschine, während des Ladebetriebs
gelöst wird, tritt ein Spannungssprung im Augenblick des
Abschaltens der Batterie an der Lichtmaschine auf, der
eine Größe von 80 bis 100 V haben kann.
Der entsprechende Schutz, der der Gleichrichtung durch
die Gleichrichterbrücke oder durch die Zenerdioden
dieser Brücke innewohnt, wirkt sich daher aus.
Im Falle, daß die Lichtmaschine nicht dreht, wenn der
Fahrzeugmotor angehalten ist, sind Überspannungen, die
auf den Leitungen oder dem elektrischen Verteilernetz
des Fahrzeuges auftreten, durch die Zenerdioden der
Gleichrichterbrücke auf eine Maximalspannung von etwa 70
V begrenzt, weil bei dieser Spannung während einer sehr
kurzen Zeit ein Abschneiden sehr viel höherer Spitzen
erfolgt.
Die vorgenannten monolithischen Regler sind auch auf
ungewollte Umpolungen speziell empfindlich, die bei der
Reparatur oder bei der Wartung eines Fahrzeugs auftreten
können. In diesem Falle bieten die Zenerdioden der
Gleichrichterbrücke eine relativ wichtige thermische
Trägheit in der Größenordnung von etwa zwei Sekunden.
Die gegenwärtigen Regler haben eine sehr viel schwächere
thermische Trägheit, die in der Größenordnung von 1/10 s
liegt, und die Zenerdioden der Gleichrichterbrücke
können daher einen Schutz des Reglers nicht garantieren.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die
vorgenannten Nachteile mit Hilfe eines monolithischen
Ladereglers für eine Batterie zu überwinden, die durch
einen Wechselstromgenerator geladen wird und der gegen
alle Arten von parasitären Überspannungen geschützt ist.
Ein anderes Ziel der vorliegenden Erfindung besteht in
der Schaffung eines monolithischen Ladereglers für eine
Batterie, die durch einen Wechselstromgenerator geladen
wird, und der gegen ungewollte Umpolungen der
Batterieanschlüsse geschützt ist.
Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung besteht in
der Schaffung eines monolithischen Ladereglers für eine
Batterie, die von einem Wechselstromgenerator geladen
wird, und der gegen positive oder negative
Übergangsrestspannungen geschützt ist, die auf den
Batterieanschlußleitungen auftreten können.
Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung besteht in
der Schaffung eines monolithischen Ladereglers für eine
Batterie, die von einem Wechselstromgenerator geladen
wird, und der ein Schutzsystem aufweist, das speziell
gegen positive oder negative Übergangsrestspannungen
gerichtet ist, die besonder an den Eingangsanschlüssen
einer Schwachlaststufe auftreten können.
Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung besteht in
der Schaffung eines monolithischen Ladereglers für eine
Batterie, die von einem Wechselstromgenerator geladen
wird, enthaltend ein Schutzsystem, das speziell zum
Schutz der Leistungsstufe gegen ungewollte
Polaritätsumkehrungen der Batterieanschlüsse gerichtet
ist.
Der monolithische Ladespannungsregler für eine Batterie,
die durch einen Wechselstromgenerator geladen wird, bei
dem gemäß der Erfindung die Leistungsstufen und die
Schwachlaststufe auf dem Halbleitersubstrat integriert
sind in vertikaler Integrationstechnik mittels
Isolationswannen, die Dioden bilden, die bei
Parasitärspannungen in der Lage sind, eine
Parasitärdiode oder einen Parasitärtransistor zu bilden,
zeichnet sich dadurch aus, daß das Halbleitersubstrat in
Höhe der Isolationswannen einen Begrenzungswiderstand
enthält, der dazu bestimmt ist, den Strom zu begrenzen,
der durch die genannten Parasitärspannungen erzeugt
wird, die die genannten Dioden leitfähig machen können.
Die Erfindung findet Anwendung bei monolithischen
Batterieladereglern in Kraftfahrzeugen, die mit einer
Wechselstromlichtmaschine ausgerüstet sind.
Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die
Zeichungen näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 ein Schaltbild eines Reglers nach der Erfindung,
Fig. 2a und 2b im Schnitt eine spezielle Ausführungsart
der Implantierung eines monolithischen Reglers
nach der Erfindung, und speziell im Falle, daß
eine Schwachlaststufe gegen versehentliche
Polaritätsumkehrung der Batterieanschlüsse
geschützt werden soll,
Fig. 3a und 3b jeweils eine Darstellung von oben bzw. im
Schnitt längs einer Schnittlinie A-A von Fig. 3a
einer ersten oder einer zweiten vorteilhaften
Ausführungsform der in den Fig. 2a und 2b
gezeigten Implantierung,
Fig. 4a und 4b ein elektrisches Ersatzschaltbild bzw.
einen Schnitt eines Implationsschemas eines
monolithischen Reglers nach der Erfindung, der
insbesondere am Eintritt der Schwachlaststufe
sowie am Phasensignaleingang gegen positive und
negative Restspannungen geschützt ist,
Fig. 5a und 5b ein elektrisches Ersatzschaltbild bzw.
ein Implantationsschema gemäß einer speziellen
Ausführungsart eines monolithischen Reglers nach
den Fig. 4a und 4b.
Der monolithische Batterieladespannungsregler nach der
Erfindung wird nun unter Bezugnahme auf Fig. 1 näher
erläutert.
Der monolithische Ladespannungsregler nach der Erfindung
enthält sowohl bekannte Reglerelemente, wie sie bislang
verwendet wurden, und insbesondere, wie in Fig. 1
gezeigt, eine Leistungsstufe 2 mit einem
MOS-Schalttransistor 20, eine Rückführdiode DR, die in
Sperrichtung in Serie mit dem MOS-Transistor 20
geschaltet ist, wobei dieser Transistor normalerweise in
Serie mit der Induktionsspule 21 des
Wechselstromgenerators 1 geschaltet ist. Die
Schwachlaststufe 3 ist ebenfalls von klassischem Typ und
enthält wenigstens eine Detektorschaltung für die
Anwesenheit eines Signals einer Generatorphase mit einer
Eingangsschaltung 30 für dieses Signal.
In Fig. 1 erkennt man weiterhin, daß der monolithische
Ladespannungsregler, der Gegenstand der vorliegenden
Erfindung ist, zum Schutz der Leistungsstufe gegen
ungewollte Polaritätsumkehrungen der Batterieanschlüsse
einen Begrenzungswiderstand RL aufweist, der in Serie
mit der Rückführdiode DR geschaltet ist.
Der MOS-Schalttransistor 20 enthält eine Parasitärdiode
DP zwischen Source und Drain. Normalerweise in
Sperrichtung geschaltet, wird diese Diode leitfähig,
wenn die Batterieanschlüsse versehentlich umgepolt
werden, und diese Diode schaltet sich im Kurzschluß über
die Rückführdiode DR. Der Begrenzungswiderstand RL
erlaubt es, diesen Kurzschluß zu begrenzen.
Gemäß einem vorteilhaften Merkmal der Ausführungsform
nach Fig. 1 wird der Begrenzungswiderstand RL auf der
Kathodenseite oder der Anodenseite der Rückführdiode DR
angeordnet.
Dieser Widerstand RL kann vorteilhafterweise in der
Epitaxie oder der Epitaxialzone des Halbleiters
ausgebildet werden, die die Rückführdiode DR ausbildet.
Vorzugsweise ist der Begrenzungswiderstand RL ein
Widerstand geringen Wertes von weniger als 1 Ohm. Dieser
Begrenzungswiderstand RL wird so berechnet, daß der
Kurzschlußstrom den Halbleiter und dessen Anschlüsse
nicht zerstört. Der maximale Kurzschlußstrom liegt in
der Größenordnung von 13 A, und für eine Maximalspannung
von 3,2 V an den Anschlüssen des Reglers kann der
Minimalwert des Begrenzungswiderstandes RL etwa 0,15 Ohm
betragen.
Die normale Funktion des Reglers, d. h. bei richtigem
Anschluß der Batteriepolarität, nimmt der
Begrenzungswiderstand RL eine Maximalleistung für einen
geschätzten Strom von 3 A bei 50% Tastverhältnis von
etwa 0,67 W auf. Dieser Wert ist vollständig akzeptabel,
wenn man in Betracht zieht, daß der MOS-Schalttransistor
20 eine Leistung von 3 W bei voller Erregung des
Wechselstromgenerators bis 0,37 W bei einem
Regeltastverhältnis von 50% aufnimmt. Die vorgenannten
Werte entsprechen einem Regler, der einen Strom von 6 A
liefert, wenn er bei voller Erregung mit einem
Spannungsabfall von 0,5 V zwischen Source und Drain des
MOS-Transistors 20 arbeitet.
Bei einem Kurzschluß durch unbeabsichtigte Umpolung der
Batterieanschlüsse wird im Regler eine Leistung von etwa
42 W aufgenommen. Gleichzeitig nimmt die
Gleichrichterbrücke 10 eine Leistung in der
Größenordnung von 2000 W auf. Unter diesen Bedingungen
wird die Gleichrichterbrücke an erster Stelle zerstört.
Wie bereits vorangehend beschrieben worden ist, ist der
Begrenzungswiderstand RL in Serie mit der Rückführdiode
DR geschaltet, entweder auf der Anodenseite oder auf der
Kathodenseite derselben. Der Begrenzungswiderstand RL
wird daher nicht wirksam, wenn der MOS-Schalttransistor
20 leitfähig ist, was zur Folge hat, daß der
Spannungsabfall am Schalttransistor nicht erhöht wird
und das Erregerfeld, das an der Induktionsspule 21 des
Wechselstromgenerators 1 liegt, nicht vermindert wird.
Vorzugsweise ist die Größe des Begrenzungswiderstandes
RL so bestimmt, daß die von dem Regler nach der
Erfindung aufgenommene Gesamtleistung stets kleiner oder
gleich als die vom Regler aufgenommene Leistung ist,
wenn er bei voll erregtem Feld der Induktionsspule 21
arbeitet, d. h. wenn die Rückführdiode DR sowie der
Widerstand RL nicht belastet sind und keine Leistung
aufnehmen.
Der Strom, der durch den erfindungsgemäßen Regler
fließt, wenn der Anschluß der Batterie versehentlich
umgepolt wird, ist eine Funktion der Spannung an den
Anschlüssen der Gleichrichterbrücke 10. Bei einem Strom
von 600 A von der Batterie nimmt jeder Zweig der
Gleichrichterbrücke einen Strom von 200 A auf, was einem
Maximalwert von 1,6 V an jeder Diode entspricht. Diese
Werte sind für eine Ausführungsform entsprechend den
Dioden MOTOROLA 25A angegeben, die unter der
Typbezeichnung MR2500 vertrieben werden. Zwei in Serie
geschaltete Dioden sind daher einer Spannung von 3,2 V
unterworfen, welcher Wert für die Berechnung des
Widerstandes RL verwendet wird.
Die Leistung von 42 W, die durch den Regler aufgenommen
wird, ist für den Regler nur für eine Zeit in der
Größenordnung von einer Sekunde zulässig. Der
erfindungsgemäße Regler ist daher während der Zeit eines
Kurzschlusses oder eines Überschlags zwischen der
Gleichrichterbrücke und der Batterie geschützt. Wenn die
Verpolung an der Batterie länger andauert, dann läuft
der erfindungsgemäße Regler Gefahr, vor der
Gleichrichterbrücke 10 zerstört zu werden.
Es versteht sich, daß, damit die Gleichrichterbrücke 10
vor dem Regler zerstört wird, es möglich ist, den
Begrenzungswiderstand RL durch verschiedene
Einrichtungen zu vergrößern, beispielsweise durch die
Verkleinerung der Fläche der Rückführdiode DR, durch
Vergrößerung des Epitaxialwiderstandes dieser Diode
beispielsweise.
In letzterem Falle wird das Magnetisierungsfeld in der
Induktionsspule 21 nicht vermindert, weil diese
Änderungen keinen Einfluß auf den dynamischen Widerstand
des MOS-Leistungstransistors 20 haben. Dagegen steigt
die vom Regler bei normaler Funktion aufgenommene
Gesamtleistung leicht.
Wenn beispielsweise der Maximalwert des
Begrenzungswiderstandes RL bei 25°C gleich 0,3 Ohm ist,
dann wird der Sperrstrom I INV gleich 7,5 A, und die
durch den Regler in diesem Falle der Verpolung der
Batterie aufgenommene Leistung ist 24 W. In diesem Falle
wird die Gleichrichterbrücke als erstes zerstört, und
die daraus resultierende Leistungssteigerung beträgt nur
0,5 W. Die von dem Regler aufgenommene Leistung zeigt
eine Spitze bei 3,5 W für einen Erregerstrom von 5 A.
Wenn der Wechselstromgenerator und die Induktionsspule
21 voll erregt sind, dann fällt die verbrauchte Leistung
auf 3 W zurück.
Eine andere Ausführungsart, die speziell für einen
monolithischen Ladespannungsregler für eine Batterie,
die von einem Wechselstromgenerator geladen wird, von
Vorteil ist, geht aus der Zusammenschau der Fig. 2a und
2b hervor im Falle, daß der Regler nach der Erfindung in
Höhe seiner Schwachlaststufe gegen versehentliche
Verpolungen der Batterie geschützt ist.
Wie in den Fig. 2a und 2b gezeigt, ist der
Begrenzungswiderstand RL derart angeschlossen, daß er
die Isolationswanne SO mit dem Bezugspotential des
Reglers verbindet.
Wie die Fig. 2a und 2b ferner zeigen, besteht das
Substrat SU aus einem Halbleitermaterial, beispielsweise
vom N-dotierten Typ. Der Begrenzungswiderstand RL ist in
den Halbleiter und in das Substrat SU integriert und ist
durch Diffusion vom P-Typ in einer Epitaxialschicht EP
vom N-Typ ausgebildet, wie die Fig.2a und 2b zeigen.
Die vorgenannte(n) Epitaxialschicht(en) bildet bzw.
bilden die Schwachlastkreise des erfindungsgemäßen
Reglers und ist bzw. sind in den Isolationswannen vom
P-Typ angeordnet, die die Dioden SO bilden, wie in den
Fig. 2a und 2b gezeigt. Die Isolationswannen vom P-Typ
sind durch Diffusion im Substrat SU ausgebildet und sind
normalerweise mit dem Masseanschluß der Vorrichtung
verbunden, während der positive Anschluß der Batterie
mit dem Halbleitermaterial vom N-Typ, beispielsweise
Silicium, verbunden ist, das von dem Substrat SU
gebildet wird, wenn es sich um einen monolithischen
Regler handelt, der in vertikaler Integrationstechnik
ausgebildet ist.
Wie in Fig. 2a dargestellt, ist der PN-Übergang, der von
der Halbleiterzone vom P-Typ der Wanne und von der
Halbleiterzone vom N-Typ des Substrats SU gebildet wird,
bei normaler Batteriepolung in Sperrichtung polarisiert
und die so gebildete Diode SO ist gesperrt, so daß der
von dem positiven Batteriepol kommende Strom die
Isolierwannen nicht durchqueren kann.
Ist hingegen die Batterie verpolt, wie es in Fig. 2b
dargestellt ist, dann ist der vorgenannte PN-Übergang,
der die Diode SO bildet, in Flußrichtung gepolt, was in
bekannten Reglern eine Zerstörung aufgrund Kurzschluß
des Halbleiters bei Fehlen von Schutzeinrichtungen zur
Folge hat.
Der in den Fig. 2a und 2b dargestellte
Begrenzungswiderstand RL erlaubt es, der verpolten
Batteriespannung zu widerstehen und er vermeidet auf
diese Weise die Zerstörung des Halbleiters. Außerdem
ist, wie man in Fig. 2b sieht, in Höhe der Zone zwischen
der Verbindung von diffundiertem P-Material und
N-Substratmaterial und der Verbindung zwischen
diffundiertem P-Material und N-Material der
Epitaxialzone EP ein mit tp bezeichneter
Parasitärtransistor ausgebildet, der vom NPN-Typ ist.
Dieser Parasitärtransistor tp injiziert einen Strom in
die Epitaxialzone EP, der sich zu dem Strom hinzufügt,
der durch den Begrenzungswiderstand RL fließt.
Zwei spezielle, vorteilhafte Ausführungsformen des
Begrenzungswiderstandes RL, die es erlauben, die
Wirkungen des vorgenannten Parasitärtransistors tp zu
vermindern oder zu unterdrücken, werden nachfolgend
unter Bezugnahme auf die Fig. 3a und 3b erläutert.
In Fig. 3a ist von oben die Diffusionszone in der
Oberfläche des Substrates SU des Begrenzungswiderstandes
RL dargestellt.
Gemäß der vorgenannten Figur kann die Wirkung des
Parasitärtransistors tp, der von dem Halbleitermaterial
N des Substrats SU, dem Halbleitermaterial P der
Isolationswanne SO und dem Halbleitermaterial N der
Epitaxialschicht EP gebildet wird, bei Verpolung der
Batterie wesentlich verringert werden, wenn man eine
Isolationswanne SO so ausbildet, wie sie sich in
länglicher Form zeigt, bei der der Begrenzungswiderstand
RL geradlinig ist und sich im wesentlichen über die
Länge L der genannten Isolationswanne SO erstreckt.
Diese Gestalt erlaubt es, den Widerstand der
Epitaxialschicht EP und den Basiswiderstand des
Parasitärtransistors tp zu vergrößern. Man erkennt, daß
unter diesen Bedingungen die Wirkung des
Parasitärtransistors tp beachtlich vermindert wird.
Um den aktivsten Teil des Parasitärtransistors tp zu
unterdrücken und um diesen in eine Diode umzuwandeln,
was in Fig. 3b dargestellt ist, die eine Darstellung
einer Modifikation der Fig. 3a gemäß einer Schnittebene
A-A darstellt, enthält die Epitaxialzone EP eine tiefe
Diffusionszone ZDP, die stark dotiert ist und deren
Halbleitermaterial von der gleichen Natur ist, wie das
in der Epitaxialzone EP. Da die Epitaxialzone EP aus
einem N-leitenden Halbleitermaterial ist, besteht die
tiefe Diffusionszone ZDP, die im angelsächsischen
Vokabular mit "SINKER" bezeichnet wird, aus einem
Halbleitermaterial vom Typ N⁺. Die tiefe Diffusionszone
ZDP liegt zwischen dem Begrenzungswiderstand RL und der
Isolationswanne SO. Die Diffusionszone Pbase, die den
Begrenzungswiderstand RL bildet, und dieser selbt sind
oberflächlich mit der halbleitenden Zone vom P-Typ, die
die Isolationswanne SO bildet, über eine Metallisierung
ME verbunden. Diese Ausführungsart ist speziell
vorteilhaft, weil sie es erlaubt, die Verbindung
Basis-Kollektor des Parasitärtransistors tp
kurzzuschließen.
Eine speziell vorteilhafte Ausführungsart eines
monolithischen Reglers für die Aufladung einer Batterie
über einen Wechselstromgenerator gemäß der vorliegenden
Erfindung im Falle, daß der Regler in Höhe der
Schwachlaststufe 3 und insbesondere an einem Eingang
derselben, wie beispielsweise dem Eingang 30 des
Detektors für die Anwesenheit der Phase, gegen
Restüberspannungen geschützt ist, wird nun unter
Bezugnahme auf die Fig. 4a und 4b erläutert.
In Fig. 4a und Fig. 4b erkennt man, daß jede
Schwachlaststufe in Höhe eines jeden Signaleingangs,
beispielsweise für die Ermittlung der Anwesenheit der
Phase, eine Schaltung zur Begrenzung von Restspannungen
enthält, die von einer Zenerdiode Z 1, Z 2 gebildet wird,
die mit einer Diode D 1 bzw. D 2 in Reihe geschaltet sind.
Man versteht aus Fig. 1, daß die aus der Zenerdiode Z 1
und der Diode D 1 gebildete Anordnung einer Begrenzung
positiver Restspannungen ermöglicht, während die von der
Zenerdiode Z 2 und der Diode D 2 gebildete Anordnung eine
Begrenzung negativer Restspannungen ermöglicht.
Die Anordnung aus den Zenerdioden Z 1, Z 2 und den Dioden
D 1, D 2 erlaubt es, das Signal auf einen Wert von etwa 8
V über der positiven Spannung der Batterie und 8 V unter
dem Massepotential zu begrenzen.
In den Fig. 4a und 4b ist auch dargestellt, daß jede von
einer Zenerdiode Z 1, Z 2 und einer Diode D 1, D 2, gebildete
Gruppe in einer einzelnen Isolationswanne C 1, C 2 angeordnet
ist. Die einzelnen Isolationswannen C 1, C 2
sind gegenüber der Isolationswannen getrennt, die die
Schwachlastkreise des Reglers enthalten, wobei die aus
den Schwachlastkreisen des Reglers, Schaltungen
klassischer Art und den von den Zenerdioden Z 1, Z 2
und den Dioden D 1, D 2 gebildeten Begrenzungsschaltungen in
einer Isolationswanne SO angeordnet sind, die eine
Insel-Isolationswanne bildet. Wie in Fig. 4b nur
beispielhaft dargestellt ist, enthält in vertikaler
Integrationstechnik das N-Halbleitersubstrat SU ein
Insel-Isolationselement, das von einem
P-Halbleitermaterial, das Diodenverbindungen SO bildet,
gebildet ist, wobei Zonen aus N-Halbleitermaterial durch
Epitaxie diffundiert oder ausgebildet sind, um die
einzelnen Isolationswannen C 1, C 2 auszubilden. In den
N-Halbleiterzonen, die die Isolationswannen C 1 und C 2
ausbilden, sind daher jeweils die Dioden D 1 und D 2 und
die Zenerdiode Z 1 und Z 2 durch Diffusion ausgebildet.
Die Dioden D 1 und D 2 sind durch Diffusion des
P-Materials gebildet, während die Zenerdiode Z 1 und Z 2
in klassischer Art durch Diffusion von drei
Halbleitermaterialzonen vom Typ N, P, N gebildet sind,
die eine Verbindung aus einer Zenerdiode und einem einer
Zenerdiode äquivalenten Transistor bilden. Die
Ausführungsart dieser Zenerdioden Z 1 und Z 2 braucht
nicht im Detail beschrieben zu werden, da sie ganz in
klassischer Art der Herstellung integrierter
Schaltungselemente vonstatten geht. Diese
Ausführungsart bietet den Vorteil, daß aufgrund des
Transistors, der einer jeden Zenerdiode zugeordnet ist,
der Einfluß des Serienwiderstandes der vorgenannten
Zenerdiode vermindert ist. Die aus der Zenerdiode und
dem zugeordneten Transistor gebildete Gruppe bleibt
einer Zenerdiode äquivalent.
Das Detektorsignal, das die Anwesenheit der Phase des
Wechselstromgenerators angibt und das einem der Eingänge
30 eines monolithischen Reglers nach der Erfindung
zugeführt wird, hat eine Amplitude, die die Spannung der
Batterie übersteigt, die an die Anschlüsse des
Unterreglers angelegt ist. Die Überschreitung hat die
Schwellenspannungen der Gleichrichterdioden der
Gleichrichterbrücke 10 zum Ursprung. In erster
Annäherung überschreitet das genannte
Phasendetektorsignal die positive Batteriespannung um
einen Wert von etwa 1 V und das Massepotential um einen
Wert von etwa -1 V. Tatsächlich können Spannungsspitzen
geringer Energie am Signaleingang 30 vorhanden sein, da
die Dioden der Gleichrichterbrücke 10 eine nicht
vernachlässigbare Ansprechzeit aufweisen und weil sie
nicht direkt auf dem Halbleitermaterialplättchen des
Reglers angeordnet sind. Diese Spannungspitzen können
den Regler ermüden oder zerstören, wenn sie durch die
Halbleitertechnologie vorgegebene zulässige
Spannungswerte überschreiten.
Die Begrenzungsschaltung, wie sie in Fig. 4a und in Fig.
4b dargestellt ist, erlaubt es, das Phasendetektorsignal
auf eine Spannung in der Nähe von 8 V über der positiven
Batteriespannung und von 8 V unter dem Massepotential zu
begrenzen. Diese Begrenzung wird in Höhe des
Siliciumplättchens des monolithischen Reglers
ausgeführt, der Gegenstand der Erfindung ist.
Die Zenerdiode Z 1 und die Diode D 1 bewirken so eine
Begrenzung auf +8 V gegenüber dem positiven Potential
der Batterie, das an einen der Anschlüsse des Reglers
angelegt ist. Die Zenerdiode Z 2 und die Diode D 2
bewirken eine Begrenzung auf -8 V gegenüber dem an den
anderen Anschluß des Reglers angelegten Massepotential.
Die Begrenzungsschaltung nach Fig. 4b wird in einem
bipolaren Abschnitt der integrierten Schaltung
realisiert, wobei die Dioden C 1 und C 2 die einzelnen
Isolationswannen dieser Schutzschaltung darstellen. Die
Isolationswannen stören nicht die Kreise der
Schwachlaststufe der integrierten Schaltung, weil, wie
oben beschrieben, sie von den Isolationswannen getrennt
sind, die die vorerwähnten Kreise enthalten.
Wie weiterhin in Fig. 4b dargestellt ist, enthalten die
Isolationswannen C 1 und C 2 einen Begrenzungswiderstand
RL, um einen Schutz gegen das Risiko einer
Polaristätsvertauschung der Batterie zu bieten. Es
versteht sich, daß in Fig. 4b der Begrenzungswiderstand
RL in Form eines diskreten Schaltelements dargestellt
ist, daß jedoch dieses in der vorangehend beschriebenen
Ausführungsart durch Diffusion einer Pbase-Zone in dem
N-Halbleitermaterial gemäß den Fig. 3a und 3b
ausgebildet ist. Die Begrenzungsschaltung nach den Fig.
4a und 4b kann beispielsweise dazu vorgesehen sein,
einen Schutz eines Eingangs der Schwachlaststufe eines
Reglers nach der Erfindung zu bieten, der nicht der
Eingang 30 für die Ermittlung der Phase des
Wechselstromgenerators ist, und er kann beispielsweise
an einem Eingang, wie beispielsweise dem einer
Anzeigelampe, angeordnet sein.
Eine andere Ausführungsart eines monolithischen
Spannungsreglers für eine von einem
Wechselstromgenerator zu ladende Batterie gemäß der
Erfindung, der in Höhe der Schwachlaststufe gegen
Restüberspannungen und gegen Energie geschützt ist, die
die Spannung an den Batterieklemmen überschreitet, wie
am Anschluß 30 für das Detektorsignal der
Wechselstromgeneratorphase, wird als vorteilhafte
Ausführungsform unter Bezugnahme auf die Fig. 5a und 5b
erläutert.
Diese Ausführungsform erlaubt es, die durch vertikale
Integrationstechnik hergestellten Übergänge, die durch
den Boden der Isolationswannen und das mit dem positiven
Batteriepol verbundene Substrat SU gebildet sind, zu
schützen. Diese Übergänge S 1 und S 2 in Fig. 5b und auch
in Fig. 5a bilden die Insel-Isolationswannen der
einzelnen Isolationswannen. Wie man aus Fig. 5a
insbesondere entnehmen kann, sind im Falle, daß der
Eingangsanschluß beispielsweise durch den
Eingangsanschluß 30 für das Phasendetetkorsignal
gebildet ist, die Zenerdiode Z 2 und die Diode D 2
vergleichbar der Ausführungsart nach Fig. 4a
dargestellt, während die Zenerdiode Z 1 und die Diode D 1
derselben Fig. 4a modifiziert worden sind, um eine
verbesserte Funktion zu erzielen.
Man kann aus Fig. 5a entnehmen, daß die Zenerdiode Z 1
aus mehreren äquivalenten Zenerdioden Z 11, Z 12, Z 13,
Z 14, Z 15 gebildet ist, die in Serie geschaltet sind und
die dazu bestimmt sind, eine Begrenzungsschaltung Z 1, D 1
für positive parasitäre Restspannungen zu bilden, analog
der Ausführungsart nach Fig. 4a. Jede Zenerdiode Z 11 bis
Z 15 ist in einer einzelnen Isolierwanne C 11, C 12, C 13,
C 14 bzw. C 15 ausgebildet.
Jeder Übergang, der eine Insel-Isolationswanne S 1, S 2
bildet, ist somit mit einem entsprechenden
Begrenzungswiderstand RL 1, RL 2 versehen.
In Fig. 5b ist ein Implantationsschema für die
verschiedenen Zenerdioden Z 11, Z 12, Z 15 in ihren
entsprechenden Isolationswannen C 11, C 12, C 15
dargestellt, die von einer N-Halbleitermaterialzone
gebildet ist, die in das P-Halbleitermaterial
diffundiert oder epitxiert ist, womit in dem
N-leitenden Substrat SU der Übergang ausgebildet wird,
der die Isolierwanne S 1 bzw. S 2 ausbildet.
Aus Fig. 5b ist zu entnehmen, daß der
Begrenzungswiderstand RL 1, RL 2 durch
Oberflächendiffusion vom Pbase-Typ gebildet ist,
verbunden mit der Bezugsspannung und ausgebildet in
einer epitxialen N-Zone, die eine einzelne
Isolationswanne für den entsprechenden
Begrenzungwiderstand bildet, wobei die einzelnen Wannen
mit C 16 und C 17 bezeichnet sind.
Die Begrenzungsschaltung, die in Fig. 5a und 5b
dargestellt ist, soll auf dem Halbleitermaterialsubstrat
des erfindungsgemäßen monolithischen Reglers ausgebildet
werden. Sie kann jedoch nicht die starken Überspannungen
absorbieren, die durch das Phänomen beim Abklemmen der
Batterie und durch kapazitive Entladungen hervorgerufen
werden, wenn die Elemente, aus denen sie zusammengesetzt
ist, nicht stark dimensioniert sind, wie im Falle einer
integrierten Schaltung. Die Funktion der in den Fig. 4a
und 4b dargestellten Begrenzungsschaltung ist daher mit
der Verwendung einer Gleichrichterbrücke 10 verbunden,
die mit Spitzenbegrenzungsdioden, wie beispielsweise
Zenerdioden, versehen ist.
Spannungspitzen schwacher Energie können an den
erfindungsgemäßen Regler angelegt werden, selbst wenn
die Gleichrichterbrücke mit begrenzenden Dioden versehen
ist, die den Lawinenbereich für eine schwache umgekehrte
Spannung von 20 bis 30 V überschreiten. Diese Spitzen
resultieren aus der Tatsache, daß die Begrenzerdioden
eine nicht vernachlässigbare Ansprechzeit haben und daß
sie nicht direkt auf dem Halbleitermaterialplättchen des
Reglers angeordnet sind. Diese Spannungsspitzen können
den Regler ermüden oder zerstören, wenn sie durch die
Halbleitertechnologie vorgegebene zulässige
Spannungswerte überschreiten.
Die genannte vertikale Integrationstechnik erlaubt es,
getrennte Isolationswannen C 11, C 12, C 15 und C 16 zu
erzeugen, die die bipolaren Elemente enthalten können,
die notwenig sind, um die Begrenzungsschaltung zu
realisieren, wie sie in den Fig. 5a und 5b dargestellt
ist.
Die negativen Restspannungsspitzen zwischen dem
positiven Anschluß der Batterie und Masse können durch
Dioden beseitigt werden, die bereits in der
Leistungsstufe enthalten sind, wie beispielsweise die
Rückführdiode RD in Serie mit der Parasitärdiode DP des
Umschalt-MOS-Transistors, der die Induktionsspule 21
versorgt.
Die negativen Restspannungsspitzen können mehrere Volt
erreichen, und es ist notwenig, die zwischen den
positiven Batterieanschluß und Masse geschalteten
Übergänge zu schützen, wobei diese Übergänge
normalerweise gesperrt sind, wenn die Batterispannung
umgekehrt ist. Dieser Schutz wird selbstverständlich
mittels der Begrenzungswiderstände RL 1 und RL 2, wie oben
bereits beschrieben, bewirkt.
Die Diodenübergänge, die durch die einzelnen
Isolationswannen C 11, C 12, C 13, C 14 und C 15 gebildet
werden, stellen die inneren Teile einer Wannengruppe
dar, die gemeinsam Isolationswände haben. Diese
Wannengruppen bilden eine Insel, die durch die
Insel-Isolationswanne S 1 oder S 2 geschützt ist, wobei
der Diodenübergang c 2 den inneren Teil einer einzelnen
Isolationswanne darstellt, die von der vorangehenden
Gruppe vollständig getrennt ist und die eine andere
Insel darstellt und durch eine andere
Insel-Isolationswanne S 2 geschützt ist.
Im Falle, daß der Diodenübergang C 2 leitfähig wird,
injiziert der Parasitärtransistor, der durch den
Diodenübergang S 2 und den Diodenübergang C 2 gebildet
wird, nämlich der Parasitärtransistor Tp nach Fig. 5b,
einen Strom in das Substrat SU und nicht in die Wannen
C 11 bis C 15 oder C 16. Wenn umgekehrt einer der Übergänge
C 11 bis C 15 leitfähig wird, dann injiziert der
betreffende Parasitärtransistor, den er mit dem Übergang
der Insel-Isolationswanne S 1 bildet, Ströme in das
Substrat SU und nicht in die Wanne C 2.
Diese Möglichkeit, Wannengruppen zu erzeugen, die
getrennte Inseln bilden, erlaubt die Anlegung eines
negativen Potentials an eine Isolationswannengruppe,
ohne die Schaltungen zu stören, die in einer anderen
Wannengruppe oder Insel derselben monolithischen
Schaltung gelegen sind. In dieser Hinsicht kann eine
Gruppe aus Isolationswannen, die eine Insel bilden,
durch die inneren Teile der Wannen definiert werden,
wobei der Boden der Wannengruppe den Diodenübergang der
Insel-Isolationswanne S 1 oder S 2 bildet und eine
Verbindung mit Masse der Vorrichtung mittels eines
Begrenzungswiderstandes RL 1 oder RL 2 bildet.
Diese Eigenschaft wird dazu verwendet, die negativen
Spitzen abzuschneiden, die an dem Signaleingang 30
auftreten. Die Begrenzungsvorrichtung Z 2, D 2 schneidet
die negativen Spitzen bei einer Größe von -8 V ab, die
an dem Signaleingang 30 auftreten. Das Potential der
Kathode der Diode D 2 liegt bei -8 V. Die Diode der
einzelnen Isolationswanne C 2 ist in Durchlaßrichtung
gepolt, und der Parasitärtransistor, der durch die
Verbindungsdiode der einzelnen Isolationswanne C 2 und
durch den Diodenübergang der Insel-Isolationswanne S 2
gebildet wird, injiziert einen Strom in das Substrat SU
und nicht in die benachbarten Wannen, weil die Dioden C 2
und S 2 eine von den anderen getrennte Wanne ausbilden.
Die positiven Spitzen oder Restspannungen werden durch
die Serienbegrenzungsschaltung Z 11, Z 12, Z 13 bis Z 15
abgeschnitten, und die Begrenzungsspannung liegt bei
etwa 37 V.
Schließlich sieht man in Fig. 5a, daß der entsprechende
Eingangsanschluß, der Anschluß 30 für das
Phasendetektorsignal beispielsweise oder der positive
Batterieanschluß, mit der Begrenzerschaltung Z 11 bis Z 15
für positive parsitäre Restspannungen mittels
Verteilerdioden D 11 und D 12 verbunden ist. Diese Dioden
sind in dem Implantationsschema nach Fig. 5b nicht
dargestellt.
Claims (15)
1. Monolithischer Ladespannungsregler für eine Batterie,
die von einem Wechselstromgenerator (1) geladen wird,
enthaltend eine Leistungsstufe (2), die einen
MOS-Schalttransistor (20) enthält, wobei eine
Rückführdiode (DR) in Sperrichtung dem
MOS-Schalttransistor in Serie geschaltet ist, welcher
MOS-Transistor normalerweise in Serie mit der
Inkuktionsspule (21) des Wechselstromgenerators
geschaltet ist, während die Rückführdiode (DR)
normalerweise parallel zu der genannten Induktionsspule
(21) geschaltet ist, weiterhin enthaltend eine
Schwachlaststufe (3), die wenigstens eine
Eingangsschaltung (30) für ein Generatorphasensignal
enthält, wobei die Stufen (30) des
Generatorphasensignals, die Leistungsstufen (2) und die
Schwachlaststufe (3) auf dem Halbleitersubstrat (SU) in
vertikaler Integrationstechnik mittels Isolationswannen
integriert sind, die Dioden (SO) bilden, die bei
Anwesenheit einer Parasitärspannung in der Lage sind,
eine Parasitärdiode oder einen Parasitärtransistor (tp)
auszubilden, dadurch gekennzeichnet, daß das
Halbleitersubstrat (SU) in Höhe der genannten
Isolationswannen einen Begrenzungswiderstand (RL)
enthält, der dazu bestimmt ist, den Strom zu begrenzen,
der durch die genannten Parasitärspannungen
hervorgerufen wird, die die genannten Dioden (SO)
leitfähig machen können.
2. Regler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
zum Schutz der Leistungsstufe (2) gegen versehentliche
Verpolung der Batterie der MOS-Schalttransistor (20)
eine Parasitärdiode (DP) zwischen Source und Drain
aufweist, die normalerweise in Sperrichtung gepolt ist,
wobei der Begrenzungswiderstand (RL) in Serie mit der
Rückführdiode (DR) geschaltet ist.
3. Regler nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
der Begrenzungswiderstand (RL) auf der Kathodenseite
oder der Anodenseite der Rückführdiode (DR) angeordnet
ist.
4. Regler nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
der Begrenzungswiderstand (RL) einen geringen
Widerstandswert weniger als 1 Ohm aufweist.
5. Regler nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß der Begrenzungswiderstand (RL) durch
Diffusion in der Epitaxie (EP) des Halbleiters
ausgeführt ist, der die Rückführdiode (DR) bildet.
6. Regler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
zum Schutz der Schwachlaststufe gegen versehentliche
Verpolung der Batterie Begrenzungswiderstand (RL) so
angeschlossen ist, das er die Isolationswanne (SO) mit
dem Bezugspotential des Reglers verbindet.
7. Regler nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß der Begrenzungswiderstand (RL) in
den Halbleiter integriert ist und durch eine
P-Base-Diffusion in einer Epitaxialschicht (EP) gebildet
ist.
8. Regler nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
zur Verringerung der Wirkung des Parasitärtransistors
(tp), der durch das N-Halbleitermaterial des Substrates
(SU), das P-Halbleitermaterial der Isolationswanne (SO)
und das N-Halbleitermaterial der Epitaxialschicht (EP)
gebildet ist, bei Verpolung der Batteriespannung die
genannte Wanne (SO) eine langgestreckte Form aufweist
und der Begrenzungswiderstand (RL) geradlinig ist und
sich im wesentlichen in der Lage (L) der
Isolationswanne erstreckt, um den Widerstand der
Epitaxialschicht (EP) und den Basiswiderstand des
Parasitärtransistors (tp) zu vergrößern.
9. Regler nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
zur Unterdrückung des aktivsten Teils des
Parasitärtransistors (tp) und zum Umwandeln desselben in
eine Diode die Epitaxialschicht (EP) eine tiefe
Diffusionszone (ZDP) aufweist, die stark N⁺-dotiert ist
und die gleiche Natur wie die Epitaxialzone (N)
aufweist, wobei die tiefe Diffusion zwischen dem
genannten Begrenzungswiderstand (RL) und der
Isolationswanne (SO) liegt, die genannte
P-Base-Diffusionszone, die den Begrenzungswiderstand
(RL) bildet, oberflächlich mit der Halbleiterzone vom
P-Typ, die die Isolationswanne (SO) bildet, mittels
einer Metallisation (ME) verbunden ist, wobei der
Basis-Kollektor-Übergang des Parasitärtransistors (tp)
auf diese Weise kurzgeschlossen ist.
10. Regler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
zum Schutz des Eingangs der Schwachlaststufe (3),
insbesondere des Signaleingangs (30) für das
Phasendetektorsignal, gegen Restüberspannungen jede
Schwachlaststufe in Höhe eines jeden
Detektorsignaleingangs eine Begrenzungsschaltung
enthält, die aus einer Zenerdiode (Z 1, Z 2), die mit
einer Diode (D 1, D 2) in Serie geschaltet ist, besteht,
wobei jede durch eine Zenerdiode (Z 1, Z 2) und eine Diode
(D 1, D 2) gebildete Gruppe in einer Isolationswanne (C 1,
C 2) angeordnet ist, wobei die Isolationswannen (C 1, C 2)
gegenüber Isolationswannen getrennt sind, die die
Schwachlastschaltungen des Reglers enthalten.
11. Regler nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch
gekennzeichnet, daß die genannten Isolationswannen (C 1,
C 2) einen Begrenzungswiderstand (RL) enthalten, um einen
Schutz gegen jedes Risiko einer versehentlichen
Verpolung der Batterie sicherzustellen.
12. Regler nach Anspruch 10 oder 11, dadurch
gekennzeichnet, daß zum Schutz der Übergänge, die in
vertikaler Integrationstechnik durch den Boden der
Isolationswannen und das mit dem positiven Batteriepol
gebildete Substrat ausgebildet sind und die Dioden (S 1,
S 2) bilden, wobei diese Übergänge Insel-Isolationswannen
für einzelne Isolationswannen (C 11, C 12, C 13, C 14, C 15)
für Zenerdioden (Z 11, Z 12, Z 13, Z 14, Z 15) bilden, die in
Serie geschaltet sind und dazu bestimmt sind, eine
Begrenzungsschaltung (Z 1, D 2) für positive
Parasitärrestspannungen zu bilden, jeder Übergang (S 1,
S 2), der eine Insel-Isolationswanne bildet, mit einem
Begrenzungswiderstand (RL 1, RL 2) versehen ist.
13. Regler nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß
der genannte Begrenzungswiderstand (RL 1, RL 2) durch eine
oberflächliche P-Base-Diffusion gebildet ist, die mit
der Bezugsspannung in einer N-Epitaxialzone verbunden
ist, die eine einzelne Isolationswanne (C 16, C 17)
bildet.
14. Regler nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch
gekennzeichnet, daß die Begrenzungsschaltung für
negative Parasitärrestspannungen durch eine Zenerdiode
(Z 2) gebildet ist, die in Serie mit einer Diode (D 2)
geschaltet ist, wobei die genannten Dioden in ihrer
Insel-Isolationswanne (S 2) ausgespart sind.
15. Regler nach einem der Ansprüche 12 bis 14, dadurch
gekennzeichnet, daß der Eingangsanschluß für das
Phasendetektorsignal oder der positiven Batterieanschluß
mit der Begrenzungsschaltung (Z 11 bis Z 15) für positive
Parasitärrestspannungen mittels Verzweigungsdioden (D 11
und D 12) verbunden sind.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: H02J 7/24 |
|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |