DE3822099C2 - Vorrichtung zum Erzeugen eines Musters und Verwendung derselben - Google Patents
Vorrichtung zum Erzeugen eines Musters und Verwendung derselbenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Erzeugen eines
Musters von Submikrometerdimensionen auf einem Substrat,
umfassend:
- a) eine Halteeinrichtung zum vibrationsisolierten Halten eines Substrats;
- b) einen Halter mit einer Positionierungseinrichtung zum dreidimensionalen Bewegen einer mittels des Halters gehaltenen Zuführungs- und Anwendungseinrichtung zum Zuführen und Anwenden eines Bearbeitungsmittels, das eine Laserstrahlung sein kann;
- c) eine Bearbeitungsmittelquelle;
wobei die Austrittsöffnung der Zuführungs- und Anwendungs
einrichtung 3 µm oder weniger beträgt und der Abstand der
Austrittsöffnung von dem Substrat derart einstellbar ist,
daß Beugung vermieden und auf diese Weise die Präzision des
Musters durch den Durchmesser der Austrittsöffnung und die
Genauigkeit der Positionierungseinrichtung bestimmt ist.
Außerdem betrifft die Erfindung die Verwendung einer derar
tigen Vorrichtung.
Eine Vorrichtung der vorstehend genannten, gattungsgemäßen
Art ist aus der EP 0 196 346 A1 bekannt. In dieser Vorrich
tung wird als eine Zuführungs- und Anwendungseinrichtung
zum Zuführen und Anwenden des Bearbeitungsmittels, als wel
ches ausschließlich Laserstrahlung vorgesehen ist, ein op
tisch transparenter Körper, z. B. ein Quarzkristall, verwen
det, der eine scharf zugespitzte Spitze hat, die nach einem
Target zu gerichtet ist. Diese Spitze hat einen Durchmesser
von einigen zehn Nanometern, und die Targetoberfläche wird
in einem Abstand von der Laserstrahlenaustrittsöffnung des
optisch transparenten Körpers angeordnet, der kleiner als
deren Durchmesser, beispielsweise kleiner als 5 nm, ist.
Weiter ist eine Metallisierung um die Laserstrahlenaus
trittsöffnung vorgesehen, die es ermöglicht, aufgrund eines
Tunnelstroms zwischen der Spitze des optisch transparenten
Körpers und des Targets den Abstand zwischen der Spitze und
dem Target einzustellen bzw. konstant zu halten. Schließ
lich ist zur Schwingungsisolierung der Vorrichtung ein Vi
brationsdämpfungssystem vorgesehen. Diese bekannte Vorrich
tung ist nur zur Verwendung von Laserstrahlung als Bearbei
tungsmittel geeignet, so daß ihre Verwendungsmöglichkeiten
relativ begrenzt sind.
Aufgabe der Erfindung ist es demgegenüber, eine Vorrichtung
der eingangs genannten Art und deren Verwendung zur Verfü
gung zu stellen, die wesentlich vielseitiger sind und das
Erzeugen vorbestimmter Muster von großer Präzision und
kleinen Dimensionen auf einem gewünschten Substrat gestat
ten.
Diese Aufgabe wird mit einer Vorrichtung der eingangs ge
nannten Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Zufüh
rungs- und Anwendungseinrichtung als ein in dem Halter an
geordnetes Rohr ausgebildet ist, das einen Einlaß und ein
verjüngtes Ende mit einer Austrittsöffnung hat, die einen
Innendurchmesser von 3 µm oder weniger aufweist.
Erfindungsgemäß wird diese Vorrichtung insbesondere verwen
det zum Herstellen von Masken für mikroelektronische Bau
teile und Schaltungen, zum Erzeugen von genau positionier
ten Löchern und von Präzisionsmikromustern; zum Ausführen
von Mikromanipulationen; zum direkten Schreiben in mikro
elektronischen Materialien und zum Korrigieren von mikro
elektronischen Schaltungen; sowie zum Erzeugen von Spei
cherscheiben für optische Informationen mit hoher Informa
tionsdichte.
Mit der Erfindung wird daher eine Vorrichtung zum Erzeugen
vorbestimmter Muster von großer Präzision und kleinen Di
mensionen auf einem gewünschten Substrat zur Verfügung ge
stellt, in der das Muster durch die Anwendung bzw. das Auf
bringen von kontrollierter, insbesondere gesteuerter oder
geregelter, elektromagnetischer Strahlung, von kontrollier
ten, insbesondere gesteuerten oder geregelten, Elektronen
bzw. Elektronenstrahlen, Teilchenstrahlen, Chemikalien und
dergleichen erzeugt wird.
Die Anwendung bzw. das Aufbringen erfolgt über die Aus
trittsöffnung des fein abgeschrägten oder konisch gemachten
Rohrs, wie beispielsweise eines Kapillarrohrs kleiner Ab
messung, das einen Innendurchmesser von sehr kleiner Größe
hat und das so manipuliert werden kann, daß eine Annäherung
an das Substrat bis zu einem sehr kleinen Abstand erfolgt.
Es können Muster hoher Genauigkeit erhalten werden. Die
Vorrichtung kann für sehr feine, kritische und empfindliche
Manipulationen verwendet werden. Andere Aspekte der Erfin
dung sind aus der nachstehenden Beschreibung und aus den
Patentansprüchen ersichtlich.
Die moderne Industrie hat eine große bzw. umfangreiche An
wendung für Verfahren und Einrichtungen, die zu einer sehr
hohen Präzision, insbesondere in der Mustererzeugung, fähig
sind. Es gibt viele Beispiele hierfür, wie z. B. die Her
stellung von Masken mit hoher Präzision und Dichte, die
hochdichte Anordnung von elektronischen Schaltungen auf ei
nem Halbleiterkristall, und das Erzeugen von genau positio
nierten Öffnungen. Die höchste Position, die, abgesehen von
der Vorrichtung nach der EP 0 196 346 A1, gegenwärtig er
reichbar ist, wird durch Verwendung von Elektronenstrahlli
thographietechniken erzielt.
Im Gegensatz hierzu werden bei der vorliegenden Erfindung
außer Licht insbesondere Chemikalien oder Elektronen ver
wendet, die in dem Rohr, z. B. als einer fein gezogenen
Pipette, geführt oder enthalten sind, welche dazu verwendet
werden können, mikrochemische Veränderungen mit einer Prä
zision zu erzeugen, die bisher generell extrem kostenauf
wendigen, auf einem Elektronenstrahl basierenden Techniken
vorbehalten waren, welche nur im Vakuum arbeiten oder auf
Laserlicht basieren (EP 0 196 346 A1), das nur beschränkte
Anwendungsmöglichkeiten hat.
Im Gegensatz hierzu werden in der vorliegenden Erfindung
nicht nur Licht, sondern auch z. B. Chemikalien durch Ver
wendung des Rohrs als eine Pipette zu der unmittelbaren
bzw. in die unmittelbare Nachbarschaft der zu verarbeiten
den Oberfläche geführt bzw. geleitet. Die verarbeitete bzw.
zu verarbeitende Oberfläche befindet sich innerhalb des
Nahfelds der Öffnung des Rohrs. Daher ist in der Erfindung
die Beleuchtung auf die Größenordnung des Durchmessers des
Rohrs beschränkt, der viel kleiner als eine bzw. die Wel
lenlänge sein kann. Auf diese Weise wird die Beugungsgrenze
umgangen. Die Anwendung von präzise positionierten Chemika
lien ist im Stand der Technik nicht vorgeschlagen und nicht
berichtet worden.
Die Erfindung stellt daher eine Vorrichtung zum Erzeugen
von Präzisionsmikromustern und/oder zum Bewirken von Mani
pulationen mit einem hohen Grad an Genauigkeit zur Verfü
gung, und zwar auf verschiedensten Gebieten der Industrie
und der angewandten Wissenschaft. Die Erfindung betrifft
weiter die Verwendung dieser Vorrichtung zum Bewirken einer
solchen Erzeugung von Mustern und zum Ausführen solcher Mi
kromanipulationen.
Mit der Erfindung ist es möglich, Muster von vorbestimmter
Form und Größe auf einer weiten Verschiedenheit von
Substraten mit einem sehr hohen Grad an Genauigkeit und
Auflösung zu erzeugen. Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist
in der Lage, Muster von sehr kleinen Dimensionen mittels
elektromagnetischer Strahlung, Elektronenstrahlen, Chemika
lien, Schall- bzw. Ultraschallwellen etc. herzustellen, und
zwar basierend auf der Anwendung bzw. auf dem Aufbringen
der gewünschten Energie oder der gewünschten Chemikalie
über ein sich verjüngendes bzw. konisches Rohr, das einen
Auslaß von extrem kleinen Dimensionen hat und das mittels
der Vorrichtung auf bzw. in einen sehr kleinen Abstand von
dem Substrat gebracht werden kann. Der Auslaß des Rohrs ist
generell in einer solchen Nähe des Substrats, daß eine Beu
gung vermieden wird. Pipetten oder Kapillarrohre, die als
Rohr in der Erfindung verwendet werden, haben einen Innen
durchmesser am Auslaß, der 3 µm oder weniger ist, also so
klein wie etwa 20 nm oder sogar kleiner sein kann, und die
se Pipetten oder Kapillarrohre können mittels einer geeig
neten Erhitzung von Glas erzeugt werden. Solche Pipetten
oder Kapillarrohre sind mechanisch stabil bzw. fest und
flexibel. Sie können als solche, insbesondere unbeschich
tet, verwendet werden, oder sie können auf der Innenseite
bzw. im Inneren und/oder auf der Außenseite bzw. außen mit
tels irgendeiner gewünschten Beschichtung beschichtet sein.
Metalle oder Kohlenstoff sind geeignete Beschichtungen für
eine Vielfalt von Anwendungen. Wenn eine Strahlung weiten
Durchmessers an einem Ende eines Kapillarrohrs eingeführt
wird, das einen Auslaß von dieser bzw. der erwähnten Durch
messergröße hat, wird dieser Strahl in einen solchen trans
formiert bzw. umgewandelt, welcher die Dimensionen des Aus
lasses hat. Das gilt für eine weite Vielfalt von Strahlun
gen, insbesondere von Röntgenstrahlen, ausgehend bis zu
Licht im sichtbaren Bereich. Es gilt auch für Schall- bzw.
Ultraschallwellen, Teilchenwellen etc.
In der nun folgenden Beschreibung von bevorzugten Ausfüh
rungsformen der Erfindung seien zunächst sich verjüngende
bzw. konische Rohre beschrieben, wie sie bei der Erfindung
verwendet werden können:
Das beste Beispiel dieser sich verjüngende bzw. konischen
Rohre sind Glaspipetten. Diese Glaspipetten von einem an
fänglichem Innendurchmesser von etwa 0,5 mm können durch
angemessene Erhitzung des Glases auf Durchmesser von cha
rakteristischer Weise <20 nm gezogen werden. Diese Pipetten
sind fest, stabil und flexibel und können auf der Innensei
te und Außenseite mit einer Vielfalt von Materialien, wie
beispielsweise Metallen oder Kohlenstoff, beschichtet sein
oder unbeschichtet gelassen werden. Es hat sich gezeigt,
daß solche Vorrichtungen die Eigenschaft haben, ein Strah
lungsbündel weiten Durchmessers in ein Bündel von einem
Durchmesser, der gleichartig demjenigen der Pipette ist, zu
transformieren. Das hat sich bei Strahlung im Bereich von
der sichtbaren Strahlung bis zu den Röntgenstrahlen ge
zeigt. Das gleiche gilt für jede Art von Wellen unter Ein
schluß von Schall- und Ultraschallwellen und Teilchen.
Charakteristischerweise ist eine Pipette ein Aluminiumoxid
oder -silikatglasrohr von einem äußeren Durchmesser von 1
mm und einer Länge von 70 mm, von der die letzten 20 mm
allmählich bis zu einem Innendurchmesser von 100 nm und ei
nem äußeren Durchmesser von 0,1 mm verjüngt bzw. konisch
gemacht sind, und diese Pipette ist mit Gold beschichtet.
Es seien nun Teile von besonderen Ausführungsformen einer
erfindungsgemäßen Vorrichtung beschrieben:
Eine bevorzugte Ausführungsform einer Vorrichtung gemäß der
Erfindung ist in Fig. 1 gezeigt. Sie besteht aus den fol
genden Teilen:
- 1. Einer Plattform aus bis zu fünf Platten (die mit den Bezugszeichen 11 bis 15 bezeichneten Teile), welche typische bzw. bevorzugte Dimensionen von 10 mm Dicke und 200 mm Durchmesser haben und vorzugsweise aus rostfreiem Stahl oder Aluminium hergestellt sind. Die se Platten sind mittels eines elastischen Materials 16 mechanisch voneinander isoliert, um eine Übertragung von Schwingungen bzw. Vibrationen aus der Umgebung oder von aufgrund des Betriebs der Vorrichtung indu zierten Vibrationen zu vermeiden. Das elastische Mate rial 16 kann, wie Fig. 1 zeigt, Klötzchenform haben, und zwar beispielsweise mit einer Dicke von 10 mm, und als elastisches Material kann z. B. das unter dem Wa renzeichen Viton® erhältliche elastische Material ver wendet werden.
- 2. Eine Grobpositionierungs-xyz-Vorrichtung 17, bei spielsweise ein Objektträger, Ständer, Gestell o. dgl. für eine derartige Grobpositionierung. Auf dieser Grobpositionierungs-xyz-Vorrichtung 17 sitzt ein Substrathalter 18, und diese Grobpositionierungsvor richtung dient dazu, das Substrat näher an die als Rohr vorgesehene Pipette heranzubewegen und das Substrat mit groben Schritten in der x- und y-Richtung zu bewegen. Eine typische bzw. bevorzugte Präzision dieser Vorrichtung ist ein Mikrometer in jeder der drei Dimensionen.
- 3. Einer Positionierungseinrichtung 19 als Feinpositio nierungs-xyz-Vorrichtung, die beispielsweise aus einer zylindrischen piezoelektrischen Einrichtung besteht, welche auf der Platte 15 sitzt bzw. steht. Die typi sche bzw. bevorzugte Präzision dieser Feinpositionie rungs-xyz-Vorrichtung, die beispielsweise ein Objekt träger, Gestell, Ständer o. dgl. sein kann, ist 0,1 µm in jeder Dimension, und diese Vorrichtung hat vorzugs weise einen maximalen Weg von 10 µm in jeder Dimensi on.
- 4. Einem Abgabe- bzw. Zuführungssystem als Bearbeitungs mittelquelle 20 für elektromagnetische Strahlung, Che mikalien, Schall oder Ultraschall oder Elektronen o. dgl., die bzw. der mittels der als Rohr vorgesehenen Pipette geführt werden soll. Ein typisches Abgabe- bzw. Zuführungssystem ist ein UV-Laser, wie beispiels weise ein Excimer-Laser.
- 5. Einer Pipette als Rohr 21 zum Führen bzw. Leiten der Strahlung, der Chemikalien, des Schalls oder des Ul traschalls oder der Elektronen o. dgl. zu dem Substrat.
- 6. Einem Rechner 22 zum Steuern bzw. Regeln aller Opera tionen bzw. Vorgänge, nämlich insbesondere der Bewe gung der Grobpositionierungs-xyz-Vorrichtung 17 und der Positionierungseinrichtung 19 gemäß einem vorbe stimmten Muster, und zwar koordiniert mit der Bearbei tungsmittelquelle 20, also dem Abgabe- bzw. Zufüh rungssystem, beispielsweise den Impulsen eines Lasers.
Es sei nun die Betriebsweise der obigen Vorrichtung be
schrieben:
Ein Substrat wird auf dem Substrathalter 18 plaziert und
visuell unter einem Mikroskop in eine Position bewegt, in
der es sich innerhalb weniger Mikrometer von dem Rohr 21,
insbesondere innerhalb eins Abstand von wenigen Mikrometern
von einer Pipette, befindet. Das Rohr 21, das wenigstens an
seiner Spitze mittels Metall bedeckt bzw. beschichtet ist,
wird dann in einer Reihe von Schritten mittels der piezo
elektrischen Positionierungsvorrichtung 19 in die gewünsch
te Versetzung bzw. in den gewünschten Horizontalabstand von
der Substratoberfläche gebracht. Weiter wird eine Quantität
bzw. Größe gemessen, die stark von dem Abstand der Rohr
spitze von der Oberfläche abhängt. Ein Beispiel einer sol
chen meßbaren Quantität bzw. Größe ist die Tunnelung von
Elektronen von der Oberfläche zu dem Rohr. Eine solche Mes
sung kann dazu verwendet werden, das Rohr in einen Abstand
von innerhalb 2 nm von der Oberfläche zu bringen, ohne daß
aktuell die Oberfläche berührt wird. Dieser Tunnelstrom
wird auch dazu verwendet, den Rohr-, Substrat- oder z-
Abstand, der für die Auflösung des Musters, das erzeugt
wird, kritisch ist, kontinuierlich zu kontrollieren, insbe
sondere zu steuern oder zu regeln. Als ein Beispiel der
Verwendung von elektromagnetischer Strahlung sei angegeben,
daß ein UV-Laser (beispielsweise ein Excimer-Laser oder ein
in der Frequenzverdoppelungsbetriebsweise verriegelter La
ser) mit der Hilfe der Bearbeitungsmittelquelle 20 relativ
zu dem Rohr 21 ausgerichtet wird. Ein Rechner, wie bei
spielsweise der Computer 22, steuert das elektrische Signal
des piezoelektrischen Kristalls der Positionierungseinrich
tung 19, d. h. der Feinpositionierungs-xyz-Vorrichtung, um
das Rohr 21 in die gewünschte xy-Richtung zu bringen, wäh
rend er den z-Abstand konstant hält. Wenn das vollendet
ist, wird ein Laserimpuls erzeugt, und auf diese Weise wird
das gewünschte Loch in dem Material des Substrats durch Ab
tagen bzw. Ausschmelzen mittels der Laserstrahlung erzeugt
In der gleichen Weise wird eine gesamte Folge von Löchern
hergestellt, so daß ein Muster erzeugt wird. Der Rechner 22
enthält in seinem Speicher das gesamte zu erzeugende Mu
ster, das diesem durch die Hardware und Software zugeführt
wird. Nachdem das Muster in dem Bereich, der mittels der
Positionierungeinrichtung 19, d. h. der Feinpositionierungs
xyz-Vorrichtung, abgedeckt wird, erzeugt worden ist, wird
das Substrat mittels der Grobpositionierungs-xyz-Vorrich
tung 17 in eine neue Position bewegt. wo dann ein weiterer
Abschnitt des Musters erzeugt wird. Dieser Vorgang ist not
wendig, weil die Positionierungseinrichtung 19 das Rohr 21
nur um eine beschränkte Entfernung, die vorliegend etwa
10 Mikrometer beträgt, bewegen kann. Die Ausrichtung von jedem
Abschnitt in dem Mosaik des Musters mit Bezug auf den vor
herigen Abschnitt kann durch Anwendung der Tunnelung zum
Detektieren der Relativposition des gerade vollendeten Ab
schnitts mit Bezug auf den zu beginnenden Abschnitt erzielt
werden. Die Tunnelung kann auch dazu benutzt werden, das
Rohr 21 mit seiner Spitze in das jeweils erzeugte Loch zu
treiben bzw. zu bewegen, um Muster mit größerer Tiefe zu
erzeugen, als es die Nahfeldkollimation der Strahlung er
laubt.
Ein anderes Beispiel einer meßbaren Quantität bzw. Größe
zum Detektieren des Substrat-Rohr-Abstands ist die Kapazi
tät zwischen diesen beiden Teilen. Ein drittes Beispiel ei
ner meßbaren Quantität bzw. Größe ist die Kraft zwischen
dem Rohr und der Oberfläche des Substrats.
Zusätzlich oder anstelle der Tunnelung, Kapazität und/oder
Kraft kann ein weiterer oder anderer automatischer Sensor
für die Erzeugung des Lochs mittels eines Laserimpulses in
opaken Substraten in die Vorrichtung aufgenommen oder ein
gebaut sein, indem ein Helium-Neon-Laser oder ein anderer
kostengünstiger Laser zum Beleuchten des Bereichs des
Substrats, der mit einem Muster versehen wird, vorgesehen
wird. Dieser Kennzeichnungs-Laser wird auf der Seite des
Substrats plaziert, die entgegengesetzt zu dem Rohr 21 ist.
In dieser Anordnung wird das Rohr 21 dazu benutzt, die er
sten wenigen Lichtphotonen zu sammeln, und ein empfindli
cher Photomultiplier detektiert diese Photonen. Der Pho
tomultiplier ist elektrisch mit dem UV-Laser und der Grob
positionierungs-xy-Vorrichtung sowie der Feinpositionie
rungs-xy-Vorrichtung verbunden, um die Abgabe des UV-Laser
lichts an das Substrat zu kontrollieren, insbesondere zu
steuern oder zu regeln. Alternativ kann das Laserlicht des
Kennzeichnungs-Lasers kolinear mit dem Laserlicht des Exci
mer-Lasers durch das Rohr übertragen werden, und das Photo
multiplier kann auf der Seite des Substrats plaziert sein,
die entgegengesetzt zu dem Rohr 21 ist.
Es seien nun weitere bevorzugte Anwendungen der Vorrichtung
nach der Erfindung angegeben und erläutert:
Die präzise Positionierung eines Rohrs, dessen Spitze mit
Metall versehen oder aus Metall hergestellt ist, über einem
Substrat kann neben dem Erzeugen von Mustern für Masken für
mikroelektronische Bauteile, Schaltungen o. dgl. eine große
Menge von Anwendungen haben, wie das direkte Schreiben in
mikroelektronischen Materialien oder die Korrektur von mi
kroelektronischen Schaltungen. Zum Beispiel kann Tunnelung
dazu verwendet werden, auch Muster zu erzeugen. Auf diese
Weise ist es beispielsweise in spezialisierter Weise mög
lich, daß sogar kleinere Merkmale auf der Oberseite des
großen Musters, welches durch die Abgabe von UV-Licht an
das Substrat mittels des Rohrs exponiert bzw. erzeugt wor
den ist, mittels der Anwendung der Tunnelung zum Erzeugen
dieser Merkmale erzeugt werden.
Außer diesem kann das Rohr auch dazu verwendet werden, ka
talytische oder andere Moleküle zu enthalten, die damit na
he an eine Oberfläche gebracht werden können, welche mit
diesen Molekülen beeinflußt werden kann. Alternativ kann
Schall oder Ultraschall, der durch das Rohr oder eine ent
sprechende zugespitzte Einrichtung hindurchgeführt worden
ist, verwendet werden, wobei der präzise positionierte
Schall- oder Ultraschallfleck für die Be- oder Verarbeitung
von Materialien oder für andere Anwendungen verwendet wer
den kann. Eine solche Anwendung kann die Erzeugung von
kleinen Öffnungen beinhalten, wobei die Erzeugung eines
Satzes solcher präziser, kleiner Löcher in einem Material
sehr erfolgreich dazu verwendet werden kann, eine Speicher
scheibe für optische Information mit hoher Informations
dichte zu erzeugen, und wobei der Laserstrahl durch den
oben beschriebenen Kennzeichnungs-Laser erzeugt werden
kann.
In Abhängigkeit von dem angewandten Material und der Wel
lenlänge des durch das Rohr hindurchgeschickten Lichts kann
die vorstehend genannte optische Scheibe bzw. Speicher
scheibe eine Einmalschreibscheibe, eine Nurlesescheibe oder
eine löschbare Lese-/Schreibscheibe sein.
Vorteile der Erfindung sind insbesondere folgende:
Es gibt kein vergleichbares Instrument bzw. keine ver
gleichbare Einrichtung, welche eine derartig vielseitige
Verwendungsfähigkeit hat, wie der vorliegende Mustergenera
tor bzw. die vorliegende Vorrichtung nach der Erfindung.
Die nächstliegenden Vorrichtungen, die zum Vergleich heran
gezogen werden können, sind die Vorrichtung nach der ein
gangs diskutierten EP 0 196 346 A1 und die Elektronen
strahllithographiesysteme, die beträchtlich komplizierter,
ziemlich kostenaufwendig und viel weniger vielseitig ver
wendbar sind.
Abschließend sei ein spezielles Beispiel einer erfindungs
gemäßen Vorrichtung näher beschrieben:
Es wurde eine Vorrichtung, wie sie in Fig. 1 gezeigt ist,
gebaut. Fünf Aluminiumplatten wurden mit einer Viton®-Iso
lierung (Warenzeichen) von 10 mm Breite zwischen denselben
gestapelt. Die Dimensionen der Aluminiumplatten betrugen 10
mm Dicke und 100 mm Durchmesser. Diese Anordnung gab eine
ausgezeichnete Isolation gegen Vibrationen hoher Frequenz.
Zum Schutz gegen niedrige Frequenzen wurde der gesamte Sta
pel auf einem aufgeblasenen toroidalen Gummischlauch eines
Reifens bzw. Autoreifens angebracht.
Das Substrat bestand im vorliegenden Experiment aus einem
Photoresist vom Typ Selectilux N60 der Firma Merck Company.
Das Muster, das in dieses Material hineingeschmolzen wurde,
bestand aus einer linearen Reihe von Löchern von 3 Mikrome
tern Durchmesser. Jedes Loch wurde mittels 15 Schüssen ei
nes Excimer-Lasers mit der Wellenlänge 193 nm gebohrt. Die
Energie pro Impuls war 200 mJ. Da das Rohr als eine Öffnung
wirkte, erreichte nur ein kleiner Bruchteil dieser Energie
das Substrat. Die Energiedichte am Substrat war ungefähr
1,58 J/cm2 pro Impuls. Das auf diese Weise erzeugte Loch
hatte eine Tiefe von mehr als 3 Mikrometer und scharfe
(<0,3 Mikrometer) und steile Wände. Das Rohr hatte in der
einen Ausführungsform einen Innendurchmesser von 3 nm und
in der anderen Ausführungsform einen Innendurchmesser von
3 µm und war in beiden Fällen mit Aluminium beschichtet.
Claims (11)
1. Vorrichtung zum Erzeugen eines Musters von Submikrome
terdimensionen auf einem Substrat, umfassend:
dadurch gekennzeichnet, daß die Zufüh rungs- und Anwendungseinrichtung als ein in dem Halter an geordnetes Rohr (21) ausgebildet ist, das einen Einlaß und ein verjüngtes Ende mit einer Austrittsöffnung hat, die ei nen Innendurchmesser von 3 µm oder weniger aufweist.
- a) eine Halteeinrichtung zum vibrationsisolierten Halten eines Substrats;
- b) einen Halter mit einer Positionierungseinrichtung (19) zum dreidimensionalen Bewegen einer mittels des Hal ters gehaltenen Zuführungs- und Anwendungseinrichtung zum Zuführen und Anwenden eines Bearbeitungsmittels, das eine Laserstrahlung sein kann;
- c) eine Bearbeitungsmittelquelle (20);
dadurch gekennzeichnet, daß die Zufüh rungs- und Anwendungseinrichtung als ein in dem Halter an geordnetes Rohr (21) ausgebildet ist, das einen Einlaß und ein verjüngtes Ende mit einer Austrittsöffnung hat, die ei nen Innendurchmesser von 3 µm oder weniger aufweist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Austrittsöffnung einen Innen
durchmesser von 100 nm oder weniger aufweist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Austrittsöffnung einen
Innendurchmesser von 20 nm oder weniger aufweist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß das Substrat ein Halbleiter
ist.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß das Bearbeitungsmittel
eine chemische, elektromagnetische oder thermische Energie
oder Schall- oder Ultraschallenergie oder Elektronenstrahl
energie umfaßt.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß das Bearbei
tungsmittel einen Katalysator umfaßt.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
gekennzeichnet durch eine Einrichtung zum
Anwenden eines Tunnelstroms zwischen dem Rohrende und dem
Substrat.
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
gekennzeichnet durch eine weitere Positio
nierungseinrichtung für die Bewegung des Substrats in kon
trollierter, insbesondere gesteuerter oder geregelter, Wei
se.
9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß das Rohr (21)
auf der Innenseite und/oder auf der Außenseite beschichtet
ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Beschichtung aus Metall oder
Kohlenstoff besteht.
11. Verwendung der Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1
bis 10 zum Herstellen von Masken für mikroelektronische
Bauteile und Schaltungen, zum Erzeugen von genau positio
nierten Löchern und von Präzisionsmikromustern; zum Ausfüh
ren von Mikromanipulationen; zum direkten Schreiben in mi
kroelektronischen Materialien und zum Korrigieren von mi
kroelektronischen Schaltungen; sowie zum Erzeugen von Spei
cherscheiben für optische Informationen mit hoher Informa
tionsdichte.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3845013A DE3845013B4 (de) | 1987-06-30 | 1988-06-30 | Vorrichtung und Verfahren zum Durchführen von Manipulationen an Zellen oder Molekülen |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IL83038A IL83038A (en) | 1987-06-30 | 1987-06-30 | Method and device for submicron precision pattern generation |
DE3845013A DE3845013B4 (de) | 1987-06-30 | 1988-06-30 | Vorrichtung und Verfahren zum Durchführen von Manipulationen an Zellen oder Molekülen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE3822099A1 DE3822099A1 (de) | 1989-04-20 |
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