DE3713643C2 - Verfahren zum Bestimmen der Zeitkonstanten von Meßgrößenaufnehmern und Vorrichtung zum Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zum Bestimmen der Zeitkonstanten von Meßgrößenaufnehmern und Vorrichtung zum Durchführung des VerfahrensInfo
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Description
Die Erfindung geht aus von einem Verfahren zum Bestimmen der
Zeitkonstanten von Meßgrößenaufnehmern (Prüflingen), mit be
kannten analytischen Übertragungsfunktionen und umfaßt auch
eine Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens. Als Prüflinge
werden angesehen: Sensoren, Meßwertaufnehmer, Meßwertwandler,
Übertragungsglieder, Stellglieder, Regler, elektrische Filter,
lichtemittierende Dioden u. ä.
Zeitkonstanten sind wichtige Größen zur Kennzeichnung der Ei
genschaften von solchen Prüflingen. Diese Prüflinge können als
"schwarze Kästen" mit einem Eingang und mit einem Ausgang be
trachtet werden; mit Hilfe ihrer Zeitkonstanten läßt sich ihre
Übertragungsfunktion formulieren, welche die Beschreibung des
zeitlichen Verlaufs der Ausgangsgröße in Abhängigkeit von der
Eingangsgröße ermöglicht.
Ein Verfahren nach dem Oberbegriff ist beispielsweise aus den
VDI/VDE-Richtlinien 3522 unter 2.1.3.2 "Bestimmung von Kon
stanten" bekannt. Hierbei ist beispielsweise die Zeitkennwert
methode nach Schwarze angeführt, bei welcher von Zeitwerten
(Übergangszeiten) ausgegangen wird, bei welchen die Übergangs
funktionen (Sprungantwort) bestimmte Prozentwerte des statio
nären Endwertes erreicht hat. Ferner ist ein Algorithmus
nach Hofmann angegeben, bei welchem unter Benutzung eines Ver
hältnisses t0,9/t0,5 die Konstanten bis zu einer sehr hohen
Ordnung bestimmt und damit die Übergangsfunktion sehr genau
approximiert werden, wobei zur Ermittlung verschiedener Größen
mehrere Diagramme verwendet werden.
Ferner ist in den VDI/VDE-Richtlinien als gut geeignete Metho
de die "Sukzessive Reduktion" angeführt, bei welcher auf eine
Asymptote an die Kurve zurückgegriffen wird, wodurch dann als
Abschnitt auf der Ordinate ein Wert für eine gesuchte Konstan
te erhalten werden kann. Nach dieser Methode werden dann ver
schiedene Glieder einer Reihe bestimmt, und das Verfahren wird
solange fortgesetzt, bis die zuletzt gezeichnete Kurve eine
Gerade ist.
Ferner sind in den erwähnten Richtlinien noch verschiedene Nä
herungen angegeben, wobei u. a. beispielsweise eine sogenannte
Verzugszeit tv, eine Zeitkonstante τ, eine zeichnerisch er
mittelte Wendetangente an eine Übertragungsfunktion u. ä. ange
führt sind.
Nachteilig bei diesen in den VDI/VDE-Richtlinien angegebenen
Verfahren ist, daß die Zeitkonstanten aus Diagrammen, über
Asymptoten an Kurven, mittels Wendetangenten einer Übergangs
funktion oder auch Steigungen einer Kurve ermittelt werden.
Hierbei handelt es sich um graphische Verfahren, welche zeit
aufwendig und in der Regel weniger genau sind als reine Re
chenverfahren. Obendrein sind sie noch empfindlich bezüglich
Fehlern und im Hinblick auf die subjektiven Einschätzungen des
jeweiligen Auswerters, wenn beispielsweise auf die Tangente,
Asymptote u. ä. zurückgegriffen werden muß.
Die Verfahren führen zu größeren Ungenauigkeiten, wenn mehrere
Zeitkonstanten unterschieden werden sollen, deren Charakteri
stik im Diagramm schwer auszuwerten ist.
Ferner ist es als ein Mangel bei den bekannten Verfahren anzu
sehen, daß sie umständlich sind, da erst mehrere Schritte zum
Ergebnis führen, indem beispielsweise die Messung elektrisch
erfolgt, die Aufzeichnung auf Papier aufgebracht wird, die
Auswertung visuell und von Hand erfolgt. Somit ist bei dem be
kannten Verfahren nicht nur ein verhältnismäßig großer Zeit
aufwand erforderlich, sondern es gibt bei jedem Bearbeitungs
schritt auch eine Anzahl Fehlermöglichkeiten.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein Verfahren zum Bestim
men der Zeitkonstanten von Meßgrößenaufnehmer derart zu ver
bessern, daß mit geringerem Aufwand auch bei Elementen bzw.
Prüflingen mit mehreren Zeitkonstanten die Bestimmung aller
Zeitkonstanten simultan in nur einem einzigen Meßvorgang mit
größerer Genauigkeit, weniger Verarbeitungsschritten und damit
insgesamt schneller durchführbar ist. Eine Aufgabe der Erfin
dung ist auch darin zu sehen, eine Vorrichtung zum Durch
führen dieses Verfahrens zu schaffen.
Gemäß der Erfindung ist diese Aufgabe bei dem Verfahren zum
Bestimmen der Zeitkonstanten von Meßgrößenaufnehmern mit be
kannten, analytischen Übertragungsfunktionen durch die Verfah
rensschritte des Anspruchs 1 gelöst. Eine vorteilhafte Weiter
bildung dieses Verfahrens ist Gegenstand des Anspruchs 2. Eine
Vorrichtung zum Durchführen des erfindungsgemäßen Verfahrens
ist im Anspruch 3 angegeben, während vorteilhafte Weiterbil
dungen dieser Vorrichtung Gegenstand der Ansprüche 4 und 5
sind.
Die Erfindung macht Gebrauch von dem Fall einer sich sprung
haft ändernden Eingangsgröße, d. h. wenn die Eingangsgröße zu
einem bestimmten Zeitpunkt t=0 von einem bestimmten Wert auf
einen anderen Wert springt, bzw. sich sehr steil (schnell) von
einem auf den anderen Wert ändert. Der sich dann einstellende,
zeitliche Verlauf der Ausgangsgröße wird als Sprungantwort be
zeichnet. Es gilt dann:
uA(t) = k · uü(t) (1)
wobei uA(t) der zeitliche Verlauf der Ausgangsgröße, k die
"Anregung", d. h. die Höhe des Sprunges der Eingangsgröße und
uü(t) die Übertragungsfunktion sind.
(Beim Übergang von der die Größe wiedergebenden Gleichung (1)
zu physikalischen Größen ist natürlich zu beachten, daß insbe
sondere bei Sensoren, Meßwertaufnehmer und Reglern Eingangs-
und Ausgangsgröße häufig in unterschiedlichen Einheiten vor
liegen, so daß eine entsprechende Umrechnung erforderlich
ist).
Als Beispiele werden jeweils für t=0 die Sprungantwort für einen
Prüfling angegeben
mit Tiefpaßcharakteristik:
mit Hochpaßcharakteristik:
und mit Bandpaßcharakteristik
wobei τT die Zeitkonstante des Tiefpasses, τH die Zeitkon
stante des Hochpasses und τB₁, τB₂ die Zeitkonstanten des
Bandpasses sind.
Bei den Gl.′en (2) und (3) handelt es sich um Sprungantworten
von Prüflingen "erster Ordnung". Prüflinge "zweiter Ordnung"
haben jeweils zwei unterschiedliche Zeitkonstanten. Entspre
chend umfangreich wird dann auch der Ausdruck der Sprungant
wort.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand einer bevorzugten Aus
führungsform für eine ganz spezielle Anwendung unter Bezug
nahme auf die anliegenden Zeichnungen erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein schematisches Blockdiamgramm einer Vorrichtung zur
Zeitkonstantenbestimmung beliebiger Prüflinge;
Fig. 2 eine schematische Schnittansicht einer Vorrichtung zur
Zeitkonstantenbestimmung optischer Sensoren mit relativ großen
Zeitkonstanten und
Fig. 3 eine schematische Schnittdarstellung einer Vorrichtung
zur Zeitkonstantenbestimmung optischer Sensoren mit sehr klei
nen Zeitkonstanten.
Eine Vorrichtung zum Durchführen des erfindungsgemäßen Verfah
rens ist in Fig. 1 schematisch dargestellt. Das zu untersuchen
de Element, ein Prüfling P, wird mit seinem Eingang EP an eine
Einheit SPRE (Sprungeinheit) angeschlossen, mit welcher die
Eingangsgröße sprunghaft verändert werden kann. Sich hierfür
eignende Einheiten SPRE für verschiedene Arten von Prüflingen
P sind weiter unten im einzelnen angegeben.
Ist die Ausgangsgröße des Prüflings P eine elektrische Span
nung, so wird dessen Ausgang AP unmittelbar an einen Ana
log/Digital-Umsetzer ADC angeschlossen. Über den Analog/Digi
tal-Umsetzer ADC ist ferner eine Verbindung zu einem elektro
nischen Rechner COMP hergestellt, welcher eine Befehlseingabe
BE und eine Datenausgabe DA aufweist.
Die Einheit SPRE zur Erzeugung des Eingangssprungs und der
Analog/Digital-Umsetzer ADC sind über eine Steuerleitung STL mit
dem Rechner COMP verbunden. Ferner ist der Analog/Digital-Um
setzer ADC über eine Triggerleitung TRL mit dem Rechner COMP
verbunden.
Ist die Ausgangsgröße des Prüflings P nicht eine elektrische
Spannung, wie beispielsweise eine Druckänderung in einer Go
lay-Zelle bei Beaufschlagung mit Infrarot-Strahlung, so ist
zwischen diesem Ausgang AP und dem Analog/Digital-Umsetzer ADC
eine Wandlereinheit WE einzufügen, welche die Ausgangsgröße
dieses Prüflings in eine elektrische Spannung umwandelt. Liegt
beispielsweise als Ausgangsgröße ein Druck vor, so wird mit
Hilfe eines Dehnungsmeßstreifens als Wandlereinheit WE dieser
Druck in eine elektrische Spannung umgewandelt. Dabei darf na
türlich die Ausgangsgröße durch die Wandlereinheit WE nicht
verfälscht werden.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Bestimmung der Zeitkon
stanten läuft dabei folgendermaßen ab:
Zu einem Zeitpunkt t=0 wird vom Rechner COMP über die Steu erleitung STL ein Steuersignal abgegeben. Dieses Steuersignal bewirkt in der Einheit SPRE die Auslösung eines Sprunges der Ausgangsgröße; dieser Sprung wirkt auf den Eingang EP des Prüf lings P. Das Steuersignal bewirkt ferner, daß der Analog/Di gital-Umsetzer ADC zum Zeitpunkt t=0 die Umsetzung der Aus gangsspannung des Prüflings P bzw. des Wandlers WE in digitale Werte beginnt, und die digitalen Daten an den Rechner weiter gibt, der sie speichert. Die Wandelzeitpunkte und damit die Wandelgeschwindigkeit des Umsetzers ADC wird vom Rechner COMP über die Triggerleitung TRL gesteuert. Ebenso wird der ganze Vorgang und insbesondere die Datenerfassung vom Rechner über die Leitungen STL und/oder TRL beendet.
Zu einem Zeitpunkt t=0 wird vom Rechner COMP über die Steu erleitung STL ein Steuersignal abgegeben. Dieses Steuersignal bewirkt in der Einheit SPRE die Auslösung eines Sprunges der Ausgangsgröße; dieser Sprung wirkt auf den Eingang EP des Prüf lings P. Das Steuersignal bewirkt ferner, daß der Analog/Di gital-Umsetzer ADC zum Zeitpunkt t=0 die Umsetzung der Aus gangsspannung des Prüflings P bzw. des Wandlers WE in digitale Werte beginnt, und die digitalen Daten an den Rechner weiter gibt, der sie speichert. Die Wandelzeitpunkte und damit die Wandelgeschwindigkeit des Umsetzers ADC wird vom Rechner COMP über die Triggerleitung TRL gesteuert. Ebenso wird der ganze Vorgang und insbesondere die Datenerfassung vom Rechner über die Leitungen STL und/oder TRL beendet.
Die Dauer einer Datenerfassung, d. h. die Meßdauer des Aus
gangssignals und die Wandelrate (die Wandelgeschwindigkeit)
des Umsetzers ADC sind selbstverständlich den zu erwartenden
Zeitkonstanten anzupassen, d. h. die Meßdauer muß deutlich grö
ßer sein als die größte Zeitkonstante des Prüflings P, und die
Wandelrate sollte Hunderte von Meßwerten innerhalb der klein
sten Zeitkonstanten ermöglichen. Die Zeitäquidistanz der Am
plitudenwerte ist dadurch erreicht, daß der A/D-Wandler über
die Triggerleitung TRL mit einem Triggerimpuls getaktet wird,
welcher von einem hochgenauen, quarzgesteuerten Oszillator des
Rechners COMP abgeleitet ist.
Nach einer solchen Datenerfassung liegt die Sprungantwort des
Prüflings P in mehreren hundert oder sogar tausend Meßwerten
in digitaler Form im Speicher des Rechners COMP vor. Die Meß
werte entsprechen einem Ausdruck in Form der Gl. (1).
Diese Meßwerte werden dann im Rechner COMP zur Bestimmung der
Zeitkonstanten auf folgende Weise verwendet:
Für den Prüfling sei die Sprungantwort nach Gl. (1) bis auf die Zahlenwerte der Zeitkonstanten bekannt. Mit Hilfe dieser Sprungantwort werden aus den digitalen Meßwerten unter Anwen dung von Iterationsrechenverfahren (Ausgleichsrechnung) die Zeitkonstanten derart bestimmt, daß eine theoretisch errechne te Sprungantwort (Sprungantwort mit den errechneten Zeitkon stanten) möglichst genau mit der gemessenen Sprungantwort übereinstimmt (z. B. Gauß′sche Ausgleichsrechnung, Minimierung der Fehlerquadratsumme, Quadratsummennorm, least square fit, maximum likelihood usw.).
Für den Prüfling sei die Sprungantwort nach Gl. (1) bis auf die Zahlenwerte der Zeitkonstanten bekannt. Mit Hilfe dieser Sprungantwort werden aus den digitalen Meßwerten unter Anwen dung von Iterationsrechenverfahren (Ausgleichsrechnung) die Zeitkonstanten derart bestimmt, daß eine theoretisch errechne te Sprungantwort (Sprungantwort mit den errechneten Zeitkon stanten) möglichst genau mit der gemessenen Sprungantwort übereinstimmt (z. B. Gauß′sche Ausgleichsrechnung, Minimierung der Fehlerquadratsumme, Quadratsummennorm, least square fit, maximum likelihood usw.).
Die so ermittelten Zeitkonstanten sind damit die tatsächlichen
Zeitkonstanten des Prüflings P, und sie werden auf der Daten
ausgabe DA dargestellt. Die Zeitkonstanten sind sehr genau be
stimmt, da nur eine kleine Anzahl unbekannter Größen, nämlich
eben die Zeitkonstanten, aus einer sehr großen und zeitlich
dicht beieinander liegenden Anzahl von Meßwerten bestimmt
wird.
Beispielsweise wird für einen Tiefpaß nur eine Zeitkonstante
aus mehreren Hunderten oder Tausenden von Meßwerten bestimmt.
Mathematisch betrachtet bedeutet dies, daß ein mehrhundert-
bzw. mehrtausendfach überbestimmtes Gleichungssystem gelöst
wird; hierdurch wird der Fehler des Ergebnisses (d. h. der
Zeitkonstanten) wesentlich geringer als der (unvermeidliche)
Meßfehler des einzelnen Meßwerts (bei der Anwendung der Aus
gleichsrechnung).
Darüber hinaus können und werden mit dem erfindungsgemäßen
Verfahren nicht nur die Zeitkonstanten bestimmt, sondern es
wird auch die sogenannte "Anregung" k errechnet, d. h. die Höhe
des Eingangsprunges. Dies hat den Vorteil, daß dieser nicht
gemessen zu werden braucht.
Für ein Tiefpaß werden also zwei unbekannte Größen, nämlich
τ und k, bestimmt.
Durch eine zeitlich entsprechend dichte Umsetzung der Sprung
antwort in digitale Meßwerte werden also mit dem erfindungsge
mäßen Verfahren hohe zeitliche Auflösungen erreicht; damit
sind auch nahe beieinanderliegende Zeitkonstanten bestimmbar.
Durch die Verwendung moderner und damit leistungsfähiger Rech
ner kann die Bestimmung der Zeitkonstanten trotz des enormen
Rechenaufwandes in sehr kurzer Zeit durchgeführt werden. Somit
ist durch das erfindungsgemäße Verfahren bei geringerem Auf
wand eine genauere und schnellere Zeitkonstantenbestimmung er
reicht.
Natürlich können mit dem erfindungsgemäßen Verfahren nicht nur
die Zeitkonstanten aus der Sprungantwort, sondern ebenso auch
aus einer Impulsantwort, d. h. einem Impuls als Eingangssignal,
bzw. für jede beliebige Eingangsfunktion, d. h. für jedes be
liebige Zeitverhalten der Eingangsgröße, bestimmt werden, so
lange diese Größe mathematisch in der Gl. (1) anstelle der Grö
ße k darstellbar ist.
Darüber hinaus ist es auch möglich, die eingangs angeführten
Elemente, insbesondere Sensoren, Meßwertaufnehmer usw. simul
tan mit Hilfe der Zeitkonstantenbestimmung zu eichen bzw. zu
kalibrieren. Damit wird der Sprung der Eingangsgröße mit Hilfe
einer geeichten bzw. kalibrierten Quelle erzeugt, wodurch er
genau definiert ist. Der Quotient aus Ausgangsgröße und Ein
gangsgröße in den jeweils vorliegenden Einheiten ist dann der
Kalibrierfaktor. Mit Hilfe dieses Kalibrierfaktors kann dann
aus der jeweiligen Ausgangsgröße die tatsächliche Höhe der
Eingangsgröße in den richtigen Einheiten berechnet werden.
Die in Fig. 2 dargestellte Ausführungsform ist zur Bestimmung
der Zeitkonstanten relativ langsamer, optischer Detektoren,
wie beispielsweise von Bolometern, von pyroelektrischen Detek
toren, Thermoelement-Detektoren u. ä., verwendbar. Die Einheit
SPRE zur Erzeugung des Sprungs der Eingangsgröße weist in
Fig. 2 einen Hohlraumstrahler HRST, welcher ein Schwarzer Kör
per ist, eine Blende BL und einen Kameraverschluß KV auf, wel
cher kurze Verschlußzeiten von beispielsweise 1/1000 s besitzt
und welcher vom Rechner COMP über die Steuerleitung STL in der
vorstehend beschriebenen Weise geschaltet werden kann.
Der Hohlraumstrahler HRST ist beispielsweise elektrisch auf
eine bestimmte Temperatur aufgeheizt, und die von ihm ausgehen
de infrarote und/oder sichtbare Strahlung (bei Glut) wird
durch Öffnen oder Schließen des Kameraverschlusses dem Strah
lungsdetektor D, d. h. dem Prüfling P, zugeführt bzw. abge
schaltet. Somit wird dem Detektor D eine sich sprunghaft än
dernde Eingangsgröße zugeführt. Mit der Blende BL lassen sich
definierte geometrische Verhältnisse schaffen, wodurch dieser
Aufbau in Verbindung mit dem als Eichquelle dienenden Hohl
raumstrahler HRST zur Eichung der Detektoren verwendbar ist.
Anstelle des Hohlraumstrahlers HRST kann für entsprechende An
wendungen eine andere Strahlungsquelle verwendet werden, bei
spielsweise ein Nernst-Stift, ein Globar, eine Glühlampe, eine
Quecksilber-Dampflampe, eine lichtemittierende Diode o. ä. Der
weitere Aufbau der Ausführungsform in Fig. 2 entspricht hin
sichtlich der verschiedenen Einheiten sowie ihrer Funktions
weise der Ausführung in Fig. 1.
In Fig. 3 ist eine Ausführungsform des erfindungsgemäßen Ver
fahrens dargestellt, welche sich zur Bestimmung der Zeitkon
stanten schneller optischer Sensoren, wie beispielsweise von
Halbleiterdetektoren, also Siliziumdioden, Indium Antimonid-
Detektoren, Quecksilber-Kadmium-Tellurid-Detektoren, Bleisul
fid- und Bleiselenid-Detektoren u. ä. eignet. Die Einheit SPRE
zur Erzeugung des Sprungs der Eingangsgröße wird hierbei durch
einen Laser LA in Verbindung mit einem akustooptischen Modula
tor AOM gebildet, welcher in gewohnter Weise über die Steuer
leitung STL vom Rechner COMP aus geschaltet wird. Der spektra
le Empfindlichkeitsbereich des zu untersuchenden Sensors D,
d. h. des Prüflings P, bestimmt die Wahl des zu verwendenden
Lasers LA hinsichtlich der Wellenlänge der von diesem ausge
sandten Strahlung.
Durch die Schaltung des akustooptischen Modulators AOM läßt
sich die Strahlung des Lasers LA in sehr kurzen Schaltzeiten
auf den Detektor bringen bzw. von diesem fernhalten. Der damit
erzeugte Sprung seiner Eingangsgröße wird im weiteren Verlauf
der Ausführungsform nach Fig. 3 analog den Funktionen nach
Fig. 1 verarbeitet.
Anstelle des akustooptischen Modulators AOM nach Fig. 3 können
als Schaltelemente SPRE auch Pockelszellen, elektrooptische Mo
dulatoren u. ä. verwendet werden. Damit lassen sich Schaltzei
ten der Eingangsgrößen im Nanoskundenbereich ausführen. Diese
Sprünge sind dann zur Bestimmung der Zeitkonstanten von Halb
leiterdetektoren, welche im Bereich von Mikrosekunden liegen,
schnell genug.
Claims (5)
1. Verfahren zum Bestimmen der Zeitkonstanten von Meßgrößen
aufnehmern mit bekannten, analytischen Übertragungsfunktionen,
bei welchem
ein Meßgrößenaufnehmer mit der Meßgröße sprunghaft beaufschlagt wird;
die Sprungantwort in einen elektrischen Kurvenverlauf (Span nung oder Strom) gewandelt wird;
diesem elektrischen Kurvenverlauf eine Anzahl von n Amplituden (UA) entnommen wird und diese mittels eines A/D-Wandlers in di gitale Meßsignalwerte gewandelt werden, welche im Speicher eines elektronischen Rechners gespeichert werden;
aus diesen digitalen Meßsignalwerten im Rechner - unter Ver wendung der bekannten analytischen Übertragungsfunktion - in einem ausgleichenden Iterationsalgorithmus durch möglichst ge naue Annäherung der analytischen Spannungsantwort an die ge messene und die Zeitkonstanten des Meßgrößenaufnehmers berechnet werden, und
falls die Amplitude des Eingangsprungs nicht genau genug be kannt wird, diese auch noch berechnet wird.
ein Meßgrößenaufnehmer mit der Meßgröße sprunghaft beaufschlagt wird;
die Sprungantwort in einen elektrischen Kurvenverlauf (Span nung oder Strom) gewandelt wird;
diesem elektrischen Kurvenverlauf eine Anzahl von n Amplituden (UA) entnommen wird und diese mittels eines A/D-Wandlers in di gitale Meßsignalwerte gewandelt werden, welche im Speicher eines elektronischen Rechners gespeichert werden;
aus diesen digitalen Meßsignalwerten im Rechner - unter Ver wendung der bekannten analytischen Übertragungsfunktion - in einem ausgleichenden Iterationsalgorithmus durch möglichst ge naue Annäherung der analytischen Spannungsantwort an die ge messene und die Zeitkonstanten des Meßgrößenaufnehmers berechnet werden, und
falls die Amplitude des Eingangsprungs nicht genau genug be kannt wird, diese auch noch berechnet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an
stelle der Sprungantwort eine Impulsanwort in entsprechender
Weise erzeugt und verarbeitet wird.
3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach den
Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine Einheit
(SPRE) zur Erzeugung einer sprungförmigen oder impulsförmigen
Änderung der Eingangsgröße mit dem Eingang des zu untersuchen
den Prüflings (p) verbunden ist,
daß für den Fall einer nicht-elektrischen Ausgangsgröße des Prüflings (P) ein Wandler (WE) die Ausgangsgröße des Prüflings (P) in eine elektrische Größe umwandelt,
daß ein Analog/Digital-Umsetzer (DAC) die elektrische Aus gangsgröße des Prüflings (P) oder des Wandlers (WE) in zeit lich diskrete, digitale Meßsignalwerte umwandelt, die in einem nachgeordneten Rechner (COMP) speicherbar sind,
daß zur Kopplung von Rechner (COMP), Umsetzer (ADC) und Ein heit (SPRE) eine Signalleitung (SL) vorgesehen ist, über wel che vom Rechner (COMP) aus die Zeitkonstantenbestimmung start bar und beendbar ist,
daß ferner zur Kopplung von Rechner (COMP) und Umsetzer (ADC) eine Triggerleitung (TRL) vorgesehen ist, über welche vom Rechner (COMP) die zeitliche Häufigkeit und Lage der vom Um setzer (ADC) umzusetzenden Werte des zeitlichen Verlaufs der Ausgangsgröße des Prüflings (P) steuerbar ist, und
daß außerdem zur Befehlseingabe für den Rechner (COMP) eine Befehlseingabeeinheit (BE) und eine Datenausgabeeinheit (DA) zur Anzeige der Meßergebnisse vorgesehen ist.
daß für den Fall einer nicht-elektrischen Ausgangsgröße des Prüflings (P) ein Wandler (WE) die Ausgangsgröße des Prüflings (P) in eine elektrische Größe umwandelt,
daß ein Analog/Digital-Umsetzer (DAC) die elektrische Aus gangsgröße des Prüflings (P) oder des Wandlers (WE) in zeit lich diskrete, digitale Meßsignalwerte umwandelt, die in einem nachgeordneten Rechner (COMP) speicherbar sind,
daß zur Kopplung von Rechner (COMP), Umsetzer (ADC) und Ein heit (SPRE) eine Signalleitung (SL) vorgesehen ist, über wel che vom Rechner (COMP) aus die Zeitkonstantenbestimmung start bar und beendbar ist,
daß ferner zur Kopplung von Rechner (COMP) und Umsetzer (ADC) eine Triggerleitung (TRL) vorgesehen ist, über welche vom Rechner (COMP) die zeitliche Häufigkeit und Lage der vom Um setzer (ADC) umzusetzenden Werte des zeitlichen Verlaufs der Ausgangsgröße des Prüflings (P) steuerbar ist, und
daß außerdem zur Befehlseingabe für den Rechner (COMP) eine Befehlseingabeeinheit (BE) und eine Datenausgabeeinheit (DA) zur Anzeige der Meßergebnisse vorgesehen ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
zur Bestimmung der Zeitkonstanten thermischer Detektoren, die
Einheit (SPRE) zur Erzeugung des Sprungs der Eingangsgröße
einen Hohlraumstrahler (HRST), eine Blende (BL) und einen
schnellen Kameraverschluß (KV) umfaßt.
5. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
zur Bestimmung der Zeitkonstanten schneller Halbleiterdetekto
ren, die Einheit (SPRE) zur Erzeugung des Sprungs der Ein
gangsgröße eine Laserquelle (LA) in Verbindung mit einem optischen (elektro
optischen oder akustischen) Modulator umfaßt.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873713643 DE3713643C2 (de) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | Verfahren zum Bestimmen der Zeitkonstanten von Meßgrößenaufnehmern und Vorrichtung zum Durchführung des Verfahrens |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19873713643 DE3713643C2 (de) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | Verfahren zum Bestimmen der Zeitkonstanten von Meßgrößenaufnehmern und Vorrichtung zum Durchführung des Verfahrens |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3713643A1 DE3713643A1 (de) | 1988-11-10 |
DE3713643C2 true DE3713643C2 (de) | 1994-04-07 |
Family
ID=6326160
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19873713643 Expired - Fee Related DE3713643C2 (de) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | Verfahren zum Bestimmen der Zeitkonstanten von Meßgrößenaufnehmern und Vorrichtung zum Durchführung des Verfahrens |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3713643C2 (de) |
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- 1987-04-23 DE DE19873713643 patent/DE3713643C2/de not_active Expired - Fee Related
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