DE2705831C3

DE2705831C3 - Optische Ortungsvorrichtung

Info

Publication number: DE2705831C3
Application number: DE2705831A
Authority: DE
Inventors: Alain Clamart Bellisant; Jean Claude Gif-Sur-Yvette Reymond
Original assignee: Thomson CSF SA
Current assignee: Thales SA
Priority date: 1976-02-13
Filing date: 1977-02-11
Publication date: 1980-08-14
Also published as: FR2341137A1; DE2705831B2; FR2341137B1; DE2705831A1; IT1083184B; US4115006A

Description

Die Erfindung betrifft eine optische Ortungsvorrichtung, insbesondere zum Nachweisen von Lichtquellen mit bekanntem Leuchtspektrum, mit einem optischen Empfänger, der ein abstimmbares optisches Filter hoher Selektivität enthält, dessen Durchlaßfrequenz von einer Steuereinheit innerhalb eines vorgegebenen Frequenzbandes zeitabhängig durchstimmbar ist, um nacheinander die verschiedenen empfangenen Wellenlängen auszufiltern, mit einer optoelektronischen Nachweiseinrichtung für die gefilterte Strahlung und ■ einer Verarbeitungsschaltung für die detektierten Signale zur Abtrennung eines Nutzsignals.

Eine derartige Ortungsvorrichtung ist aus der US-PS 36 53 765 bekannt.

Die Nachweiseinrichtung besteht aus einem optischen Empfänger, der an einen photoelektrischen Detektor gekoppelt ist, um die von einem Beobachtungsfeld kommende Strahlung nachzuweisen. Das Beobachtungsfeld besitzt einen bestimmten öffnungswinkel, und die optische Achse des Nachweisgerätes liegt in der Mitte des Beobachtungsfeldes. Die empfangene Strahlung besteht aus der Nutzstrahlung, die von der Quelle kommt, wenn diese sich im Beobachtungsfeld aufhält und aus einer Störstrahlung, die von äußeren Störquellen kommt und entweder direkt oder durch Reflexion in die Nachweisvorrichtung gelangt. Gemessen an ihrer wahren Größe nimmt die nachzuweisende Quelle im allgemeinen im Beobachtungsfeld eine sehr klein scheinende Fläche ein. Darüber hinaus ist die Strahlung, die von der Quelle in die Nachweiseinrichtung gelangt, gering gegenüber der Störstrahlung aus dem gesamten Beobachtungsraum. Die Störstrahlung besteht im allgemeinen aus dem Sonnenlicht, das sehr intensiv sein kann.

So kommt für eine vorgegebene Beobachtungsrichtung die Strahlung des Störlichtes aus dem gesamten Raumwinkel, der für die optische Beobachtung interessant ist. Die Störstrahlung erzeugt nach ihrem Nachweis ein Störsignal, d.h. ein erhebliches Rauschen, während das Nutzsignal von einer sehr schwachen Struhlungs-

quelle kommt und darüber hinaus nur einen sehr kleinen Raumwinkel umfaßt

Der Nachweis eines über dem Rauschen liegenden Signals ist zwar möglich, jedoch nur bei sehr leuchtstarken Quellen, die insbesondere dann sehr leuchtstark sein müssen, wenn sie weit entfernt sind.

Um diesen Schwierigkeiten zu begegnen, sind bestimmte Techniken bekanntgeworden, die es gestatten, das Signal/Rausch-Verhältnis zu vergrößern. An die soll im folgenden kurz erinnert werden.

Eine Lösnngsmöglichkeit besteht darin, eine optische Filterung vorzusehen und nur eine sehr eng begrenzte Bandbreite, die mit der nachzuweisenden Quelle übereinstimmt, auszufiltern. Derartige Geräte sind vor allem zum Nachweis monochromatischer oder aus mehreren monochromatischen Linien bestehender Strahlung geeignet. Auf diese Weise wird ein großer Teil der Störstrahlung durch optische Filterung eliminiert und gelangt nicht in den Detektor.

Eine weitere Lösungsmöglichkeit, die zusammen auch mit der vorerwähnten durchgeführt werden kann, besteht darin, ein räumliches Abtasten mit Hilfe von durchsichtigen, auf einem undurchsichtigen Untergrund angeordneten Schlitzen durchzuführen, die sich quer zur optischen Achse des Nachweisgerätes bewegen und eine zeitliche Modulation des Signals erzeugen.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Ortungsvorrichtung für Strahlungsquellen zu entwikkeln.die sich durch ein besonders großes Signal/Rausch-Verhältnis auszeichnet.

Die Lösung dieser Aufgabe ist im Patentanspruch 1 beschrieben.

Die Ortungsvorrichtung für eine Lichtquelle von bekannten Spektraleigenschaften besteht nach der Erfindung aus folgenden Elementen: einem optischen Empfänger mit einer Fokussierungsoptik für das aus dem Beobachtungsfeld kommende Licht, einer optoelektronischen Nachweiseinrichtung, einem optischen Filter, dessen Durchlaßband für das betreffende Spektrum geeignet ist, wobei dieses Filter durchstimmbar und von großer Selektivität ist und von einer Steuereinheit durchgestimmt wird, um periodisch den in Frage kommenden Spektralbereich zu untersuchen, wobei bei jeder Untersuchung die verschiedenen Wellenlängen ausgefiltert werden. Die optoelektronische Nachweiseinrichtung besteht aus einem elektronischen Hochpaßfilter mit einer Grenzfrequenz, die geeignet ist, die Gleichkomponente zu entfernen, die aus der Störstrahlung der Umgebung herrührt.

Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung werden in den nachfolgenden Ausführungsbeispielen anhand der schematisch vereinfachten Figurenzeichnungen erläutert. Es zeigt

Fig.l verschiedene Spektraldiagramme und deren erfindungsgemäße Analyse,

Fig. 2 ein Blockschaltbild einer vereinfachten Ortungsvorrichtung,

F i g. 3 ein Blockschaltbild einer anderen Ortungsvorrichtung,

Fig.4 bis 6 Blockschaltbilder von Einzelelementen der in F i g. 3 dargestellten Ortip; ^vorrichtung,

F i g. 7 ein zusammengesetztes vereinfachtes Blockschaltbild einer Ortungsvorrichtung nach F i g. 3.

In Fig. 1 a ist die spektrale Zusammensetzung des von der Ortungsvorrichtung empfangenen Lichtes innerhalb einer durch die Wellenlängen Al und XZ begrenzten Bandbreite dargestellt. Die Stärke der Störstrahlung, die im alleemeinen auf das Sonnenlicht zurückzuführen ist.

ändert sich nur sehr wenig mit der Wellenlänge, da ihr Spektrum der Strahlung eines schwarzen Körpers entspricht. Die spektrale Intensität ändert sich nur wenig in Abhängigkeit von der Wellenlänge und entspricht im wesentlichen einem Mittelwert LF, der im betrachteten Frequenzband im wesentlichen konstant ist Die Strahlung der Lichtquelle LS weist dagegen eine spektrale Struktur auf. In dem gewählten Beispiel wird eine monochromatische Emission mit der Wellenlänge

ίο A2 angenommen.

Das Prinzip der Analyse besteht darin, den vorgegebenen Spektralbereich von Al bis A3 zu untersuchen. Dieser Spektralbereich ist ausreichend breit, um die gesuchten Emissionsspektren zu enthalten. Die Untersuchung besteht darin, daß ein spektrales Fenster mit dem Zentrum bei AO und einer Halbwertsbreite Δλ über den zu untersuchenden Spektralbereich geschoben wird. Auf diese Weise werden die verschiedenen Anteile der Strahlung, deren Wellenlängen zwischen den Werten Al und A3 liegen, nacheinander durch Filterung untersucht. Im Falle einer monochromatischen Emission setzt sich das registrierte Signal SD(Fig. Ib) aus einem konstanten Untergrund SC, der auf die während des Abtastvorganges zwischen den Zeiten r 1 bis f 3 produzierte Störstrahlung zurückzuführen ist und aus einem Nutzanteil SU zusammen, der zum Zeitpunkt 12 erzeugt wuide. Zum Zeitpunkt ti befand sich das Fenster der spektralen Registrierung bei der Wellenlänge A2.

Nach einer vorteilhaften Ausführungsform erfolgt das spektrale Abtasten zwischen den Wellenlängen Al und A2 zeitlich linear, was durch die Sägezahnkurven der F i g. Ic veranschaulicht wird.

Darüber hinaus wird der spektrale Abtastvorgang

JS periodisch wiederholt, vorzugsweise mit einer Periode T, die der Dauer eines Durchlaufes (F ig. Ic) entspricht. Folglich wiederholt sich das Nutzsignal SU mii der gleichen Häufigkeit (Fig. Ib), wodurch schließlich die elektronische Filterung und nahezu vollständige Eiitfernung der auf die Störstrahlung zurückzuführenden Gleichkomponente SCermöglicht wird.

In Fig. Id ist das Spektrum einer Emissionsquelle mit mehreren diskreten Spektrallinien dargestellt, wie es beispielsweise von einem oder mehreren Lasern erzeugt wird. Jedesmal, wenn die Durchlaßwellenlänge des spektralen Fensters mit der Wellenlänge einer der Emissionslinien übereinstimmt, wird ein Signal erzeugt, dessen Stärke der Intensität dieser Spektrallinie entspricht. Eine inkohärente Strahlungsquelle wie etwa eine Elektrolumineszenzdiode kann ein kontinuierliches Spektrum (Fig. Ie) erzeugen. Das untersuchte Frequenzband von der Wellenlänge Al bis zur Wellenlänge A2 ist einerseits hinreichend stark eingeengt und andererseits wird von diesem Frequenzband das Emissionsspektrum erfaßt.

Fig. 2 zeigt ein Blockschema einer erfindungsgemäßen Ortungsvorrichtung für den Fall einer monochromatischen Emissionsquelle. Die Emissioncquelle ist durch den Block 1 veranschaulicht und kann aus einem

wi Laser oder einem Halbleiterlaser bestehen. Die Quelle, die durch den Block 2 dargestellt ist, befindet sich in einiger Distanz dazu in dem Beobachtungsbereich. Die nachzuweisende Quelle stellt ein Ziel dar, und zwar im allgemeinen einen Flugkörper. Das Ziel kann aktiv sein,

b5 d. h., es kann von sich aus Strahlung bestimmter Wellenlängen emittieren oder es kann passiv sein, in welchem Fall es von einer entfernten Strahlungsquelle, die sich etwa auf dem Erdboden befinden kann,

angestrahlt wird und einen Teil der Strahlungsenergie in die Ortungsvorrichtung reflektiert. In beiden Fällen wird angenommen, daß die Quelle eine isotrope Strahlung erzeugt, jedoch insbesondere auch in Richtung der Ortungsvorrichtung strahlt.

Der optische F.mpfänger ist durch ein Eingangsobjektiv 3 mit der optischen Achse Z dargestellt. Diesem ist ein photoelektrischer Detektor 4 nachgeschaltet, dessen empfindliche Fläche in der Bildebene liegt und auf die optische Achse Z zentriert ist. Der optische Detektor ,₀ besteht vorzugsweise aus einer Mehrzahl von Detektorelementen, um eine räumliche Lokalisierung des Zielobjektes zu ermöglichen. Er kann beispielsweise aus einem Mosaik von Detektorelementen bestehen und so die Messung des Höhen- und Seitenwänkels zu dem ,₅ Flugobjekt ermöglichen. Der Einfachheit halber wird er im Moment nur aus einem Element bestehend betrachtet, dem wiederum nur ein Nachweis- und Empfangskanal nachgeschaltet ist. Für die Ortung von sehr entfernten Zielen ist der Detektor im wesentlichen im Brennpunkt des Objektives 3 angeordnet. Ein optisches Filter 5 ist in den Strahlengang geschaltet und befindet sich vorzugsweise möglichst nahe vor dem Detektor 4, wodurch es entsprechend klein gestaltet sein kann.

Das optische Filter ist durchstimmbar und besitzt ein hohes Auflösungsvermögen. Die Frequenz des Filters und folglich seine sehr schmale Durchlaßbandbreite werden in dem betrachteten Spektralbereich zwischen den Wellenlängen Al und A3 durch eine Steuerungsvorrichtung, die ein elektrisches Signal liefert, verschoben. Das Emissionsspektrum der Strahlungsquelle wird auf diese Weise untersucht.

Ein derartiges Filter kann aus einem Kristall von Lithiumniobat bestehen, durch den akustische Wellen mit Hilfe eines piezoelektrischen Wandlers gesendet werden. Der piezoelektrische Wandler wird durch ein elektrisches Signal gesteuert. Die Wirkungsweise eines derartigen Filters ist in der Literatur beschrieben, insbesondere in dem Artikel »Acousto-Optic Tunable Filter« von S. E. Harris und R. W. Wallace, erschienen im »Journal of the Optical Society of America« Vol. 59, Nr. 6, Juni 1969, S. 744-747.

Die Fütereinheit besteht aus einem Kristall 5 und einer Steuereinheit 6, die auf ein vorgegebenes äußeres Signal Sl die gewünschte Durchlaßfrequenz des Kristallfilters 5 einstellt, wobei die Durchlaßfrequenz des Kristallfilters im allgemeinen eine Funktion der Amplitude des Steuersignals 51 ist. Um ein zeitlich lineares, periodisches Verschieben der Durchlaßfrequenz zu erzeugen, erhält die Steuereinheit 6 ein Signal 51 der in Fig. Ic dargestellten Form. Dieses Signal wird von einem Sägezahnspannungsgenerator 7, der seinerseits durch ein von der Synchronisationseinheit 8 kommendes periodisches Zeitsignal mit der Periode T (Fig. If) ausgelöst wird, erzeugt

Das registrierte Signal SD (Fig. Ib) wird vorverstärkt (Vorverstärker 9) und in einem elektronischen Filter 10 behandelt, um die von der Störstrahlung oder vom Empfängerrauschen herrührende konstante Kornponente SC zu entfernen. Das Filter 10 ist ein Hochpaßfilter, das aus einem RC-Glied bestehen kann (schematisch dargestellt durch den Kondensator Ci und den Widerstand R1). Dem Filter 10 ist ein Verstärker 11 und eventuell ein Amplitudenbegrenzer sowie ein Impulsformer nachgeschaltet; um das Ausgangssignal des Filters 10 in ein für die weitere Verarbeitung geeignetes Signal 52 zu verwandeln. Die Impulse 52 werden in dem als Block 12 dargestellte! Gerät weiter verarbeitet. In dem in F i g. 2 betrachtetei Beispiel handelt es sich um einen Kathodenstrahloszillo graph, dessen Zeilenkippfrequenz durch die Synchroni sationseinheit H und dessen Vertikalablenkung durcl das nachzuweisende Signal gesteuert werden. Eil derartiges System ermöglicht den Nachweis eine erwarteten Leuchtquelle in einem Beobachtungsfeld.

In dem allgemeineren Fall, in dem das bekannt« Spektrum der Emissionsquelle mehrere Spektralliniei (Fig. Id) oder ein kontinuierliches Spektrum (Fig. Ic aufweist, unterscheidet sich die Nachweiseinrichtunj von der in F i g. 2 dargestellten durch zusätzliche in di< Nachweiskette zwischen das Filter 10 und der Verstärker 1 ί eingeschaltete Schaltkreise. Diese zusatz liehen Schaltkreise bestehen wie in F i g. 3 dargestell aus den Korrelationsschaltungen 20 und 21 oder au; entsprechenden Filtern. Auf den Eingang des Korrela tionsschaltkreises 21 werden das verstärkte Signal 5t und ein Referenzsignal 53, das der erwarteten Form dei Signals SU entspricht, gegeben, um· das Signal durcf Autokorrelation zu identifizieren. Das Referenzsigna 53 wird von einem Generator 20 erzeugt, der vor einem Synchronisationsimpuls H ausgelöst wird. Da; Referenzsignal wird somit periodisch erzeugt, und zwai mit derselben Periode, mit der das Filter 5 durchge stimmt wird. Der Schaltkreis 20 weist einen program mierbaren Speicher auf, der auf äußere Ansteuerung da; Referenzsignal 53, das dem erwarteten Spektrurr entspricht, erzeugt.

Für den Fall, daß das Emissionsspektrum au: mehreren Einzellinien zusammengesetzt ist, kann dei Schaltkreis 20 aus Verzögerungsleitungen 23, 24, 2i bestehen (F i g. 4). Durch diese Verzögerungsleitunger werden zeitlich verschobene Impulse unterschiedlichei Amplitude erzeugt, die der Form des zu erwartender Spektrums entsprechen (F i g. 1 d). Die unterschiedlicher Amplituden können durch entsprechende vorgegebene Verstärkungsfaktoren der jeweiligen Verstärker erzieli werden. Eine entsprechende Struktur kann durch eine Verzögerungsleitung mit mehreren Ausgängen herge stellt werden, die entsprechende Verzögerungswerte liefert.

Für den Fall eines kontinuierlichen Emissionsspektrums (Fig. Ie) kann die Schaltung 20 aus einerr programmierbaren Speicher 26 und einem nachfolgenden Integrationsglied oder Tiefpaßfilter 27 bestehen Durch einen Synchronisationsimpuls H ausgelöst erzeugt der Speicher 26 einen Impulszug, desser Umhüllende der Form des zu erwartenden Spektrum« entspricht.

F i g. 6 bezieht sich auf ein Ausführungsbeispiel einei Korrelationsschaltung 21 nach Fig.3. Diese Korrelationsschaltung besteht aus einem Multiplikator 30, dei die korrelierenden Signale aufnimmt und der ausgangsseitig an zwei Integrationsschaltungen angeschlosser ist Diese enthalten eine Filterschaltung 31 mit einei dem Videospektrum der empfangenen Signale angepaßten Durchlaßbandbreite und eine Integrationsschaltung 32. Das angepaßte Filter 31 besteht aus einem Tiefpaßfilter mit einer Grenzfrequenz zwischen 1/2 7 und I/77 um die unerwünschten Komponenten des Videospektrums von der Form zu eliminieren. Das

Signal am Ausgang des Filters 31 ist im wesentlicher gleichmäßig und wird im Schaltkreis 32 integriert Dieser enthält ein ÄC-Glied mit der Zeitkonstanter R2C2, die als Funktion der Periodendauer T de«

Signals und der benöt'gten Ansprechzeit des Empfängers bestimmt wird. Die Zeitkonstantc wird so bestimmt, daß das Signal an den Klemmen des Integrationskondensators Cl im wesentlichen dem Mittelwert des in die Integrationsschaltung eintreten- > den Signals entspricht. Das Ausgangssignal des Schaltkreises 31 kann ebenfalls direkt mit einer entsprechenden Vorrichtung 34 sichtbar gemacht werden. Für weitere durch einen Block 35 dargestellte Verwertungsmöglichkeiten wird das Signal vom Aus- i<> gang des Integrationskreises 42 in einer Schaltung 33 mit einem vorgegebenen Schwellwert VS verglichen. Die Höhe der Schwelle VS wird im allgemeinen so festgelegt, daß eine bestimmte Rate von Fehlalarmen nicht überschritten wird.

Ortungsgeräte zum Nachweis von Strahlungsquellen sind im allgemeinen in der Lage, einen Höhen- und einen Seitenwinkel zu einem erkannten Ziel anzugeben und unter Umständen ausgehend von diesen Daten die optische Achse des Gerätes automatisch auf das Ziel auszurichten. Der Lichtdetektor besteht zu diesem Zweck aus mehreren Elementen. Zum Beispiel kann ein Detektor mit vier Quadranten und vier Empfangskanälen verwendet werden, in denen der Höhen- und Seitenablagewinkel SX und SY in bezug auf eine vorgegebene horizontale X-Achse und eine vertikale V-Achse berechnet werden. Eine andere Technik besteht darin, das einfallende optische Lichtsignal durch periodisches Unterbrechen zu modulieren, indem eine mit Schlitzen versehene undurchsichtige Scheibe durch das Lichtbündel geführt wird.

Ein Ausführungsbeispiel dieser Art wird anhand von F i g. 7 beschrieben. Der Lichtdetektor besteht aus mehreren streifenförmigen Detektorelementen 4a bis 4n, die parallel zur A"-Richtung liegen und nebeneinander in V-Richtung aufgereiht sind. Die Modulation wird durch eine Spur auf der Scheibe 41 erzeugt, die gleichförmig um eine Achse parallel zur Z-Achse rotiert. Es wird eine Spur betrachtet, die aus durchsichtigen Schlitzen 40 auf undurchsichtigem Untergrund besteht. Durch die Rotation wird eine bestimmte digitale Kodierung wie z. B. eine Pseudozufallskodierung erzeugt Eine von der Synchronisationseinheit 8 gesteuerte Antriebsvorrichtung 42 gewährleistet die gleichmäßige Rotation der Scheibe 41. Es ist notwendig, daß ein spektraler Abtastvorgang während der Zeit stattfindet, die minimal zwischen dem Ende einer Unterbrechung des Lichtbündels und der nachfolgenden Unterbrechung zur Verfügung steht. Mit anderen Worten, wenn Lm die Breite des kleinsten Schlitzes und Tm die Zeitdauer ist, die dieser Schlitz benötigt, um die optische Achse Z zu durchqueren, dann muß die Periodendauer 7" des spektralen Abtastvorganges kleiner oder gleich Tm sein.

Die dem Lichtdetektor nachgeschaltete Nachweiseinrichtung besitzt η gleichartige Kanäle, von denen der Einfachheit halber nur ein einziger dargestellt ist. Der Kanal, der dem ersten Detektorelement nachgeschaltet ist, besteht aus einem Vorverstärker 9a, einem Filter 10a, einem Verstärker 11a und einer Korrelationsschaltung 21a. Ein gemeinsamer Generator zur Erzeugung des Referenzsignals S3 versorgt die Multiplikationsschaltungen der η-Kanäle 21a bis 21/7. jede Korrelationsschaltung enthält eine Schwellwertvergleichsschaltung (33, F i g. 6). Auf diese Weise liefert dasjenige Detektorelement, auf das das Bild des Zieles fällt, das Nutzsignal für die nachfolgende Auswertung 43. Zusätzlich zu dieser räumlichen Bestimmung der K-Koordinate des Zieles wird von dem Schaltkreis 43 die X-Ablage des Zieles bestimmt. Dies geschieht dadurch, daß die zeitliche Verschiebung des Nutzsignals gegenüber einem vorgegebenen zeitlichen Referenzsignal gemessen wird. Zu diesem Zweck können die Schaltkreise 43a bis 43/7 Filter- oder Korrelationsschaltungen aufweisen, die an die durch die Schlitze 40 verursachte Modulation angepaßt sind, um schließlich die Höhen- und Seitenablage zur weiteren Auswertung zu bestimmen. So wird z. B. durch die Nachstellschaltkreise 44 und 45 die Z-Achse der Ortungsvorrichtung automatisch auf das Ziel ausgerichtet. Die Höheneinstellung des Rahmens 46 wird durch Rotation um eine Achse X und die Seiteneinstellung durch Rotation um eine Achse Y erzielt. Die Ausgangssignale der Nachstellschaltkreise 44 und 45 bestimmen diese Rotationen in Abhängigkeit der Ablagewerte SX und SKdes Zieles.

Dadurch, daß eine spektrale Filterung periodisch wiederholt wird, gelingt es bei einer erfindungsgemäßen Ortungsvorrichtung, die Störstrahlung der Umgebung weitgehend zu unterdrücken, wodurch ein besseres Funktionieren der Ortungsvorrichtung gewährleistet ist. Insbesondere eignet sich die erfindungsgemäße Vorrichtung für optoelektronische Ortungssysteme zur Bestimmung der Winkel- oder der Ablagekoordinaten eines leuchtenden Zieles.

Hier/u 4- Blatt Zeichnuncen

Claims

Patentansprüche:

1. Optische Ortungsvorrichtung, insbesondere zum Nachweisen von Lichtquellen mit bekanntem Leuchtspektrum, mit einem optischen Empfänger, der ein abstimmbares optisches Filter hoher Selektivität enthält, dessen Durchlaßfrequenz von einer Steuereinheit innerhalb eines vorgegebenen Frequenzbandes zeitabhängig durchstimmbar ist, ι ο um nacheinander die verschiedenen empfangenen Wellenlängen auszufiltern, mit einer optoelektronischen Nachweiseinrichtung für die gefilterte Strahlung und einer Verarbeitungsschaltung für die detektierten Signale zur Abtrennung eines Nutzsignals, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuereinheit (6, 7, 8) so ausgebildet ist, daß die Untersuchung des Frequenzbandes, das im wesentlichen dem erwarteten Spektrum entspricht, periodisch erfolgt, daß die Verarbeitungsschaltung ein Hochpaßfilter (10) enthält, dessen Grenzfrequenz so gewählt ist, daß die von der Umgebungsstörstrahlung herrührende Gleichspannungskomponente entfernt und das periodische, auf die Quelle zurückzuführende Nutzsignal (SU) erhalten wird und daß das Nutzsignal (SU)an Korrelationsschaltungen (20, 21) oder entsprechende Filter gelangt.

2. Ortungsvorrichtung nach Anspruch 1 zum Nachweis einer Lichtquelle, deren Spektrum mehrere unterschiedliche Wellenlängen aufweist, dadurch jo gekennzeichnet, daß die Verarbeitungsschaltung nach dem Hochpaßfilter einen Referenzsignalgenerator (20) und eine Korrelationsschaltung (21) aufweist, die das Nutzsignal und ein dem erwartetem Spektrum entsprechendes Referenzsignal (S3) erhält und daß eine Synchronisationsschaltung ein mit der Periode der Untersuchung gleiches periodisches Taktsignal erzeugt, um die Steuereinheit und den Referenzsignalgenerator (20) zn synchronisieren.

3. Ortungsvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzsignalgenerator (20) eine Mehrzahl von parallelgeschalteten Verzögerungsleitungen (23, 24, 25) enthält, die das Taktsignal gleichzeitig empfangen.

4. Ortungsvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzsignalgenerator einen programmierbaren Speicher (26) aufweist, der von dem Taktsignal angesteuert wird und dem eine Integrationsschaltung (27) nachgeschaltet ist.

5. Ortungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Korrelationsschaltung (21) folgende in Serie geschaltete Elemente aufweist: eine Multiplikationsschaltung (30), die Nutz- und Referenzsignale aufnimmt, einen Tiefpaßfilter (31) mit einer Grenzfrequenz zwischen « 1/2 Tund MT, wobei 7'die Periode der Filterdurchstimmung ist, eine Integrationsschaltung (32), um den Mittelwert des gefilterten Signals zu bilden, und eine Vergleichsschaltung (33) mit einem dem Mittelwert entsprechenden Schwellwert. e>o

6. Ortungsvorrichtung nach Anspruch 1, zum Nachweis einer monochromatischen Lichtquelle, dadurch gekennzeichnet, daß die Verarbeitungsschaltung nach dem Hochpaßfilter (10) einen Verstärker und einen Pulsformer (11) enthält, der M das Nutzsignal (S2) an eine Auswerteschaltung (12) weitergibt.

7. Ortungsvorrichtung nach einem der Ansprüche

1 bis 6, bei dem die Steuereinheit aus einem Steuerteil zur Durchstimmung des Filters und einem Generator zur Erzeugung des Durchstimmsignals besteht, dadurch gekennzeichnet, daß das durchstimmbare Filter aus einem Lithiumniobatkristall und aus einem piezoelektrischen Wandler besteht, der von der Steuereinheit eine Sägezahnspannung erhält, um eine zeitlich lineare periodische Untersuchung des Frequenzbandes zu erhalten.

8. Ortungsvorrichtung nach Anspruch 7 zur Winkelortung eines Ziels, dadurch gekennzeichnet, daß sie aus η Detektorelementen (4a... 4n) besteht, die jeweils an einen Kanal eines η Kanäle aufweisenden Auswertungssystems angeschlossen sind, daß eine, aus einer undurchsichtigen, mit Schlitzen versehenen, drehbaren Scheibe bestehende Modulationsvorrichtung (41 bis 42) sowie eine Empfangseinheit (43) vorgesehen sind, in der durch Filterung und/oder Korrelation aus den Signalen der η Kanäle Winkelkoordinaten (SY, SX) errechnet werden, und daß der kleinste der Schlitze mindestens so breit ist, daß seine Verweilzeit in der optischen Achse mindestens gleich der Periodendauer der Filterdürchstimmung ist.