DE3441092C2 - Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Messung von Profilkurven und insbesondere von Unebenheitskurven - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Messung von Profilkurven und insbesondere von UnebenheitskurvenInfo
- Publication number
- DE3441092C2 DE3441092C2 DE19843441092 DE3441092A DE3441092C2 DE 3441092 C2 DE3441092 C2 DE 3441092C2 DE 19843441092 DE19843441092 DE 19843441092 DE 3441092 A DE3441092 A DE 3441092A DE 3441092 C2 DE3441092 C2 DE 3441092C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- sensor
- angle
- measuring base
- angle sensor
- curves
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 20
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 9
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 9
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000003100 immobilizing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/34—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B7/345—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19843441092 DE3441092C2 (de) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Messung von Profilkurven und insbesondere von Unebenheitskurven |
AT0304485A AT390626B (de) | 1984-11-09 | 1985-10-21 | Vorrichtung zur kontinuierlichen messung von profilkurven |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19843441092 DE3441092C2 (de) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Messung von Profilkurven und insbesondere von Unebenheitskurven |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3441092A1 DE3441092A1 (de) | 1986-05-22 |
DE3441092C2 true DE3441092C2 (de) | 1987-02-05 |
Family
ID=6249964
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19843441092 Expired DE3441092C2 (de) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Messung von Profilkurven und insbesondere von Unebenheitskurven |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
AT (1) | AT390626B (ja) |
DE (1) | DE3441092C2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10220175C1 (de) * | 2002-05-06 | 2003-04-17 | Db Netz Ag | Messverfahren und Anordnung zum Erfassen der Nachgiebigkeit eines Gleises |
CN103502534A (zh) * | 2011-04-10 | 2014-01-08 | 维尔弗里德·舍夫 | 用于出于维护铁路轨道的目的测量轨道区段的布置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT398414B (de) * | 1991-11-13 | 1994-12-27 | Plasser Bahnbaumasch Franz | Messanordnung zum kontinuierlichen messen von wellenförmigen unebenheiten einer schiene |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH510171A (fr) * | 1969-12-26 | 1971-07-15 | Matisa Materiel Ind Sa | Procédé pour le contrôle et/ou la rectification d'une voie ferrée et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé |
CH583337A5 (ja) * | 1975-02-25 | 1976-12-31 | Speno International | |
CH591597A5 (ja) * | 1975-11-07 | 1977-09-30 | Matisa Materiel Ind Sa | |
CH630015A5 (fr) * | 1979-03-06 | 1982-05-28 | Speno International | Dispositif de mesure des deformations ondulatoires de la surface de roulement des rails d'une voie ferree. |
DE3208882C1 (de) * | 1982-03-11 | 1983-07-07 | ESG Elektronik-System-GmbH, 8000 München | Winkelmeßvorrichtung |
CH653073A5 (fr) * | 1982-10-18 | 1985-12-13 | Speno International | Dispositif de mesure de la profondeur des deformations ondulatoires de la surface de roulement des rails d'une voie ferree. |
-
1984
- 1984-11-09 DE DE19843441092 patent/DE3441092C2/de not_active Expired
-
1985
- 1985-10-21 AT AT0304485A patent/AT390626B/de not_active IP Right Cessation
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10220175C1 (de) * | 2002-05-06 | 2003-04-17 | Db Netz Ag | Messverfahren und Anordnung zum Erfassen der Nachgiebigkeit eines Gleises |
EP1361136A1 (de) | 2002-05-06 | 2003-11-12 | DB Netz Aktiengesellschaft | Messverfahren und Anordnung zum Erfassen der Nachgiebigkeit eines Gleises |
CN103502534A (zh) * | 2011-04-10 | 2014-01-08 | 维尔弗里德·舍夫 | 用于出于维护铁路轨道的目的测量轨道区段的布置 |
CN103502534B (zh) * | 2011-04-10 | 2015-11-25 | 维尔弗里德·舍夫 | 用于出于维护铁路轨道的目的测量轨道区段的布置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ATA304485A (de) | 1989-11-15 |
DE3441092A1 (de) | 1986-05-22 |
AT390626B (de) | 1990-06-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2617707C2 (de) | Vorrichtung zum Vermessen einer Oberfläche | |
EP2108105B1 (de) | Verfahren zur bestimmung einer einflussgrösse auf die exzentrizität in einem winkelmesser | |
DE2829222C3 (de) | Vorrichtung zum Überwachen der Stellung eines beweglichen Organs | |
EP2089670B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur dickenmessung | |
WO1998054543A1 (de) | Riffel- und langwellenmessung mit längslichtstrich, für schienen | |
EP2920544A1 (de) | Optische messverfahren und messvorrichtung mit einem messkopf zum erfassen einer oberflachentopographie mittels kalibrierung der orientierung des messkopfs | |
DE3150977A1 (de) | Verfahren und einrichtung zur ermittlung und korrektur von fuehrungsfehlern | |
DE4134371A1 (de) | Verfahren zur messung der effektiven momentanposition eines von einem schlitten getragenen tastelementes bzw. werkzeugs | |
DE2337219A1 (de) | Optischer messkopf zur abstandsanzeige | |
DE102007036850B4 (de) | Verfahren zur Korrektur von Nichtlinearitäten der Interferometer einer Koordinaten-Messmaschine | |
EP0243524A1 (de) | Einrichtung zur Messung der Kreisformabweichung exzentrischer Lagerflächen, insbesondere von Pleuellagern | |
EP2762832A1 (de) | Optische Einzelpunktmessung | |
DE2513389C2 (de) | Einrichtung für die berührungslose Überprüfung und Bestimmung der Abmessungen und Form von großen Werkstücken | |
EP0908698B1 (de) | Verfahren zum Messen von Langprodukten | |
DE3444723C2 (ja) | ||
DE3441092C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Messung von Profilkurven und insbesondere von Unebenheitskurven | |
DE4421302C1 (de) | Verfahren zur Eliminierung des Rollwinkels einer Meßachse einer Koordinatenmeßmaschine sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2164347C3 (de) | Meß vorrichtung zum Messen der Gewindesteigung einer Gewindespindel | |
DE2658399A1 (de) | Interferometrisches verfahren | |
DE69401017T2 (de) | Verfahren zum Messen der Breite der Orientierungsfläche eines Einkristalls | |
EP3608624B1 (de) | Kapazitiver distanzsensor | |
DE3850391T2 (de) | Kontaktlose profilierungsmethode. | |
EP3816014B1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur erfassung von geometrischen daten eines aus zwei schienen gebildeten gleises mit einem auf dem gleis verfahrbaren rahmengestell | |
DE2539577A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum feststellen von winkelversetzungen | |
DE19842190C1 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Topographie von gekrümmten Oberflächen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |