DE3432580A1 - Test arrangement for an electronic apparatus - Google Patents

Test arrangement for an electronic apparatus

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DE19843432580
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Jürgen Dr.-Ing. 1000 Berlin Wazeck
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Robert Bosch GmbH
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Robert Bosch GmbH
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    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G06F11/2733—Test interface between tester and unit under test

Abstract

A test arrangement for an electronic apparatus is proposed, which can be tested by means of various, selectable programs. The electronic apparatus (10), which has a microprocessor circuit (16), is connected to an internal test device (15) which can be driven by means of an external test set (26), via the microprocessor circuit. The electronic apparatus has externally accessible contacts (18) which are connected to the test set via a connecting cable (22). The test set contains an electronics section which can be switched over and by means of which the microprocessor circuit of the electronic apparatus can be switched over to various test modes. <IMAGE>

Description

Prüfanordnung für ein elektronisches GerätTest arrangement for an electronic device

Stand der Technik Die Erfindung geht von einer Prüfanordnung nach der Gattung des Anspruchs 1 aus.PRIOR ART The invention is based on a test arrangement of the genre of claim 1.

Es sind schon Prüfanordnungen für elektronische Geräte bekannt, bei denen mittels einer die Gerätefunktionen steuernden Mikroprozessorschaltung bei Bedarf ein Selbsttest vorgenommen wird.There are already test arrangements for electronic devices known which by means of a microprocessor circuit controlling the device functions A self-test is carried out if necessary.

Der Test läuft dabei nach einem fest vorgegebenen Programm automatisch ab und endet mit der Ausgabe des Testergebnisses.The test runs automatically according to a fixed program and ends with the output of the test result.

Vorteile der Erfindung Die erfindungsgemäße Prüfanordnung für ein elektronisches Gerät hat den Vorteil, daß durch den Anschluß eines externen Prüfgerätes verschiedene Meß- und Prüfprogramme gewählt werden können.Advantages of the invention The test arrangement according to the invention for a electronic device has the advantage that by connecting an external test device different measurement and test programs can be selected.

Damit ist eine den jeweiligen Gegebenheiten angepaßte individuelle Prüfung des elektronischen Gerätes möglich.This is an individual adapted to the respective circumstances Testing of the electronic device is possible.

Besonders vorteilhaft ist eine erfindungsgemäße Prüfanordnung, bei der das elektronische Gerät ein durch eine in einen Schlitz des Gerätes einschiebbare Gebührenkarte mit außenliegenden elektrischen Kontakten aktivierbares Gerät ist und bei der ein Gerät und Prüfgerät verbindendes -Verbindungskabel an seinem dem Gerät zugewandten Ende eine Steckvorrichtung in Form der Gebührenkarte aufweist. Durch die vorgenannte Maßnahme verringert sich der technische Aufwand für das Anschließen des Prüfgerätes.A test arrangement according to the invention is particularly advantageous at the electronic device can be inserted through a slot in the device Charge card with external electrical contacts is a device that can be activated and the connection cable connecting a device and the test device to its Device facing end has a connector in the form of the charge card. The aforementioned measure reduces the technical effort for the connection of the test device.

Zeichnung Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird in der Zeichnung an Hand eines Blockschaltbildes dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erl-äutert.Drawing An embodiment of the invention is shown in the drawing shown on the basis of a block diagram and in the following description explained in more detail.

Beschreibung der Erfindung Eine erfindungsgemäße Prüfanordnung umfaßt ein zu prüfendes elektronisches Gerät 10, das in seinem Innern mehrere elektrische Baugruppen, von denen in der Zeichnung nur die Baugruppen 11, 12, 13 gezeigt sind, enthält. Diese Baugruppen sind über Leitungen 14 wechselseitig mit einer geräteinternen Prüfvorrichtung 15 verbunden. Die Prüfvorrichtung steht mit einer zu dem elektronischen Gerät ohnehin gehörenden Mikroprozessorschaltung 16 in Verbindung, deren Anschlüsse 17 zu Kontakten 18 führen, die in einer Reihe nebeneinander an einer Innenseite eines Schlitzes 19 angeordnet sind. In den Schlitz 19 paßt eine flache Steckvorrichtung 20 mit zu den Kontakten 18 korrespondierenden Gegenkontakten 21. Die Steckvorrichtung 20 bildet ein Ende eines mehradrigen Verbindungskabels 22, zum Beispiel eines Bandkabels, das die Verbindung zu einem elekrischen Prüfgerät 26 herstellt. Das Kabel trägt an seinem anderen Ende eine Buchsenleiste 23 mit Buchsen 24. Die Buchsenleiste paßt in eine entsprechende Vertiefung 25 des elektrischen Prüfgerätes 26. Innerhalb der Vertiefung 25 befinden sich Steckerstifte 27, die mit den Buchsen 24 der Buchsenleiste 23 korrespondieren. Das Prüfgerät weist unter anderem mehrere Schalter 28, Steller 29 und Anzeigeelemente 30 auf.Description of the Invention A test arrangement according to the invention comprises an electronic device under test 10, which has several electrical inside it Assemblies, of which only assemblies 11, 12, 13 are shown in the drawing, contains. These assemblies are mutually connected to an internal device via lines 14 Test device 15 connected. The test device is connected to the electronic one Device already belonging to the microprocessor circuit 16 in connection, their connections 17 lead to contacts 18, which are in a row next to each other on an inside a slot 19 are arranged. A flat plug-in device fits into the slot 19 20 with mating contacts 21 corresponding to the contacts 18. The plug-in device 20 forms one end of a multi-core connecting cable 22, for example a ribbon cable, which establishes the connection to an electrical test device 26. The cable carries at its other end a socket strip 23 with sockets 24. The socket strip fits in a corresponding recess 25 of the electrical test device 26. Within the Recess 25 there are plug pins 27 that connect to the sockets 24 of the socket strip 23 correspond. The test device has, inter alia, several switches 28, actuators 29 and display elements 30.

Die Wirkungsweise der vorstehend beschriebenen Prüfanordnung ist folgende. Sind elektronisches Gerät 10 und Prüfgerät 26 über das Kabel 22 miteinander elektrisch verbunden, so gibt das Prüfgerät bei Betätigung eines der Schalter oder mehrerer Schalter 28 an die Mikroprozessorschaltung 16 des elektronischen Gerätes eine oder mehrere Steuerspannungen ab, die die Mikroprozessorschaltung auf einen Testmodus von mehreren Testmodi umschalten. Die Mikroprozessorschaltung 16 steuert die interne Prüfvorrichtung 15 des elektronischen Gerätes, die ihrerseits an bestimmte Prüfpunkte der Baugruppen Prüfsignale abgibt und/oder von den Baugruppen elektrische Größen abnimmt. Die Meß- oder Prüfergebnisse können entweder an dem elektronischen Gerät selbst oder mittels der Anzeigeelemente 30 des Prüfgerätes 26 angezeigt werden.The mode of operation of the test arrangement described above is as follows. If the electronic device 10 and the test device 26 are electrically connected to one another via the cable 22 connected, the test device gives when one or more of the switches are operated Switch 28 to the microprocessor circuit 16 of the electronic device one or several control voltages that the microprocessor circuit on a Toggle test mode from multiple test modes. The microprocessor circuit 16 controls the internal test device 15 of the electronic device, which in turn is connected to certain Test points of the assemblies emits test signals and / or from the assemblies electrical Sizes decreasing. The measurement or test results can either be sent to the electronic Device itself or by means of the display elements 30 of the test device 26 are displayed.

Wenn das elektronische Gerät 10 ein durch eine Gebührenkarte, das ist zum Beispiel eine Karte mit internem elektronischem Speicherbaustein, aktivierbares Gerät ist, das ohnehin einen Ein und Ausgabeschlitz sowie die erforderlichen Kontakte für die Gebührenkarten aufweist, dann hat die Steckvorrichtung 20 vorzugsweise die in dem Blockschaltbild gezeigte Konfiguration einer Gebührenkarte, deren elektrische Kontakte mit 21 bezeichnet sind und Gegenkontakte zu den Kontakten 18 des elektronischen Gerätes bilden.When the electronic device 10 is charged by a charge card, the is for example a card with an internal electronic memory module that can be activated Device is that anyway has an input and output slot and the necessary contacts for the charge cards, then the connector 20 preferably has the In the block diagram shown configuration of a charge card, the electrical Contacts are designated by 21 and mating contacts to the contacts 18 of the electronic Device.

Das Prüfgerät 26 enthält neben einem Stromversorgungsteil einen Elektronikteil, der unter anderem eine Mikroprozessorschaltung enthält, die mit den Steckerstiften 27 und den Schaltern 28 verbunden ist.In addition to a power supply part, the test device 26 contains an electronics part, which contains, among other things, a microprocessor circuit that connects to the connector pins 27 and the switches 28 is connected.

Claims (2)

Ansprüche 1. Prüfanordnung für ein elektronisches Gerät, das eine Mikroprozessorschaltung und eine elektronische Prüfvorrichtung für die elektrischen Funktionen des Gerätes enthält, dadurch gekennzeichnet, daß Mikroprozesorschaltung (16) und Prüfvorrichtung (15) intern miteinander verbunden sind und daß das elektronische Gerät (10) von der Außenseite des Gerätes zugängliche Kontakte (18) zum Anschließen eines externen Prüfgerätes (26) aufweist, welches die Mikroprozessorschaltung auf einen wählbaren Prüfmodus schaltet und dadurch die Prüfvorrichtung des Gerätes aktiviert sowie zur Abgabe von Meßdaten und/oder Prüfergebnissen an das Prüfgerät veranlaßt.Claims 1. Test arrangement for an electronic device that has a Microprocessor circuit and an electronic test device for the electrical Contains functions of the device, characterized in that microprocessor circuit (16) and test device (15) are internally connected and that the electronic Device (10) from the outside of the device accessible contacts (18) for connection an external test device (26), which the microprocessor circuit on switches a selectable test mode and thereby activates the test device of the device as well as the delivery of measurement data and / or test results to the test device. 2. Prüfanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das elektronische Gerät (10) ein durch eine in einen Schlitz (19) des Gerätes einschiebbare Gebührenkarte mit außenliegenden elektrischen Kontakten aktivierbares Gerät ist und daß ein Gerät (10) und Prüfgerät (26) verbindendes Verbindungskabel (22) an seinem dem elektrischen Gerät zugewandten Ende eine Steckvorrichtung (20) in Form einer Gebührenkarte aufweist.2. Test arrangement according to claim 1, characterized in that the an electronic device (10) which can be inserted through a slot (19) of the device Charge card with external electrical contacts is a device that can be activated and that a device (10) and test device (26) connecting connecting cable (22) its end facing the electrical device a plug-in device (20) in the form a fee card.
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