DE2452134A1

DE2452134A1 - Complex switching circuit function testing device - compares tested circuit function with standard circuit

Info

Publication number: DE2452134A1
Application number: DE19742452134
Authority: DE
Inventors: Juergen Dipl Ing Haensel
Original assignee: Robert Bosch GmbH
Current assignee: Robert Bosch GmbH
Priority date: 1974-11-02
Filing date: 1974-11-02
Publication date: 1976-05-06

Abstract

The circuit testing device comprises a frame holding both circuits and connecting them by means of a multiple connecting plate whose front side is used as a plug-and-socket connector and the rear side for connection with the tested and standard circuits. An auxiliary connector is provided in a second plane, with one side connected with the first connector, while the other is used for its wiring as required. The switching of the connecting fields with the connecting board fields can advantageously be in one-to-one ratio, i.e. each connecting point of fields with each connecting point of the board.

Description

Prüfeinrichtung zur Funktionsprüfung von komplexen Schaltkreisen von~komplexen~Schaltkreisen Die Erfindung betrifft eine Prüfeinrichtung zur Funktionsprüfung von komplexen Schaltkreisen durch Eunktionsvergleich der zu prüfenden Schaltkreise mit jeweils einem Referenzkreis, mit einem Rahmen zur gemeinsamen Aufnahme der Schaltkreise und Anschluß an die Prüfeinrichtung mittels einer Anschlußplatte in Form einer Vielfach-Steckvorrichtung, deren Vorderseite zur lösbaren Verbindung mit den Stromkreisen der Prüfeinrichtung dient, während die Rückseite zur Beschaltung mit dem zu pri,tenden Schaltkreis, sowie dem Referenzschaltkreis vorgesehen ist. Test device for functional testing of complex circuits of ~ complex ~ circuits The invention relates to a test device for functional testing of complex circuits by comparing the functions of the circuits to be tested each with a reference circle, with a frame for the common inclusion of the circuits and connection to the test device by means of a connection plate in the form of a multiple plug-in device, their front for releasable connection with the circuits of the test facility is used, while the back is used for wiring with the circuit to be tested, as well as the reference circuit is provided.

In der Technik der Herstellung elektronischer Geräte nimmt die Fertigung und Prüfung der sogenannten Schaltungskarten einen breiten Raum ein. Diese Schaltungskarten enthalten u.U.In the technique of manufacturing electronic devices, manufacturing takes place and examination of the so-called circuit cards occupy a large space. These circuit cards may contain

mehrere Hundert logische Schaltungen in Halbleitertechnik die wiederum -abhängig von den verschiedenen Eingangssignalen -mehrere Tausend verschiedene Schaltzustände einnehmen können.several hundred logic circuits in semiconductor technology which in turn - depending on the different input signals - several thousand different switching states can take.

Die Prüfung solcher umfangreicher Schaltungskarten erfordert sehr viel Zeit und Sachkenntnis und stellt somit einen erheblichen Kostenfaktor bei der Herstellung elektronischer Geräte dar.The testing of such extensive circuit cards is very demanding a lot of time and expertise and thus represents a significant cost factor in the Manufacture of electronic devices.

Man hat daher in der Vergangenheit versucht die Prüfung auf Funktionsfähigkeit zu beschleunigen.Therefore, in the past, attempts have been made to test the functionality to accelerate.

Ein bekanntgewordenes Gerät zur Funktionsprüfung elektronischer Schaltkreise, auf das sichdie Erfindung bezieht, enthält eine Anzahl von Signalgeneratoren und Vergleichsschatun5en, die den paarweisen Vergleich von über 100 Signalausgängen ermöglichen. Es enthält ferner in einem Prüfrahmen eine zentrale Anschlußplatte mit zwei gleichen Anschlußfeldern zur Verbindung von j jeweils einem Mehrfach-Steckverblnder mit den oben genannten Vergleichsschaltungen und Signalquellen. Für å ede Art von Schaltkreisen muß die Beschaltung der Anschlußplatte mit den Steckverbindern entsprechend entworfen und ausgeführt werden ( Programmierung). Da dieser Vorgang zeitraubend und damit teuer ist, wird die einmal entstandene Prüfschaltung für die wiederholte Prüfung der gleichen Schaltkreisart erhalten. Bei der jetzigen Ausführung der Prüfeinrichtung bedeutet dies, daß der gesamte Prüfrahmen mit der Anschlußplatte und den beiden Steckverbindern komplett verdrahtet bis zur Wiederverwendung gelagert werden muß. Dadurch wird bei einer Fertigung , in der viele verschiedene Arten von Schaltkreiskarten zu prüfen sind, ein erheblicher Platzbedarf hervorgerufen. Auch wird dadurch eine erhebliche Menge Kapitel gebunden.A well-known device for functional testing of electronic circuits, to which the invention relates includes a number of signal generators and Comparison boxes that enable the pairwise comparison of over 100 signal outputs enable. It also contains a central one in a test frame Connection plate with two identical connection fields to connect j each with a multiple plug connector with the comparison circuits and signal sources mentioned above. For every kind of The wiring of the connection plate with the plug-in connectors must correspond to the circuits designed and executed (programming). Since this process is time consuming and thus expensive, the test circuit once created is used for the repeated Test of the same type of circuit received. With the current version of the test facility this means that the entire test frame with the connection plate and the two Connectors completely wired until they have to be stored for reuse. This will help in a manufacture that uses many different types of circuit boards are to be checked, a considerable amount of space is required. It also becomes a significant amount of chapters bound.

Ein anderer wesentlicher Nachteil der bekannten Prüfeinrichtung ist folgender: Die Programmierung (Beschaltung) der Prüfeinrichtung ents t echend der jeweils zu prüfenden Kartenart erfordert ein gewisses Maß an fachmannischem Können und gelingt selten auf Anhieb. Da bei der bekannten Prüfeinrichtung die Mnschlußfelder der Anschlußplatte gleichzeitig zur Verbindung mit der Elektronikschaltung der Prüfeinrichtung dienen und nur in gezogenem Zustand zur Anderung der Beschaltung zugänglich sind, gestaltet sich die Änderung und Kontrolle des Programmes sehr zeitraubend. Während-des Prüfvorganges ist eine Änderung mit gleichzeitiger Anzeige, ob der Programmierfehler nun berichtigt wurde oder nicht, nicht möglich.Another major disadvantage of the known test device is the following: The programming (wiring) of the test device corresponds to the The type of card to be checked requires a certain amount of professional skill and seldom succeeds straight away. Since in the known test device the connection fields the connection plate at the same time for connection to the electronic circuit of the test device serve and are only accessible for changing the circuit when pulled, The change and control of the program turns out to be very time-consuming. During-the The test procedure is a change with a simultaneous display of whether the programming error has now been corrected or not, not possible.

Ausgehend von der bekannten Prüfeinrichtung gibt die Erfindung einen Weg an, Anderungen in der Verknüpfung der Referenzschaltung und der Testschaltung mit der Elektronik der Prüfeinrichtung leichter, schneller und vor allem während des laufenden Prüfvorganges bewerkstelligen zu können. Dabei soll der Aufwand für diese änderung und auch für jede Beschaltung für verschiedene Schaltkreistypen gegenüber der jetzt gebräuchlichen Ausführung stark reduziert werden.Based on the known test device, the invention provides one Way on, changes in the linkage of the reference circuit and the test circuit with the electronics of the test device easier, faster and, above all, during of the ongoing test process. It should the Expenditure for this change and also for each wiring for different circuit types can be greatly reduced compared to the current version.

Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt mit den im Kennzeichen des Patentanspruches genannten Mitteln.The solution to this problem takes place with the characterizing part of the patent claim mentioned means.

Ausgehend von der Überlegung, daß in einer Fertigung mit vielen verschiedenen komplexen Schaltkreiskartendoch in der Mehrzahl der Fälle eine gewisse Normung hinsichtlich der Spannungsversorgung und der Signalein- bzw. ausgänge vorhanden ist, ist auf dem Prüfrahmen in einer zweiten Ebene eine Hilfsanschlußlatte mit zwei Anschlußfeldern angeordnet.Based on the consideration that in one production with many different complex circuit cards, however, in the majority of cases a certain standardization with regard to the power supply and the signal inputs or outputs is available is open the test frame in a second level an auxiliary connection board with two connection fields arranged.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen in Verbindung mit den zugehörigen Teilen der Beschreibung.Advantageous further developments of the invention emerge from the subclaims in connection with the associated parts of the description.

Von den Zeichnungen zeigt: Fig. 1 den Rahmen zur Aufnahme und elektrische Verbindung der Schaltkreise mit der Prüfeinrichtung, Fig. 2 den gleichen Rahmen in perspektivischer Ansicht von der Rückseite, Fig. 3 einen Ausschnitt aus Fig. 1 ebenfalls in perspektivischer Ansicht mit der zur Beschaltung vorgesehenen Lochrasterplatte.Of the drawings: Fig. 1 shows the frame for receiving and electrical Connection of the circuits with the test device, Fig. 2 the same frame in a perspective view from the rear, FIG. 3 shows a detail from FIG. 1 also in a perspective view with the perforated grid plate provided for wiring.

In Fig. 1 ist mit 1 der Rahmen bezeichnet, der die beiden Steckverbinder 2,3 zur Aufnahme und zur elektrischen Verbindung der beiden zu vergleichenden Schaltkreiskarten mit der Prüfvorrichtung trägt. Die Verbindung der Steckverbinder mit der Anschluß platte 4 ( Fig. 2) erfolgt entweder in bekannter Löttechnik oder in lötloser Drahtwickeltechnik. Die in Fig. 2 sichtbare Seite der Anschlußplatte 4 dient zur lösbaren Verbindung des Prüfrahmens 1 mit der Prüfvorrichtung derart, daß der Prüfrahmen1 in einem Schlitz der Prüfvorrichtlmg einlesQt und darauf die Steckstifte einer Viel,fach-Steckvorrichtung derart bewegt werden, daß sie in Kontakt mit der Anschluß platte 4 treten. Die Anschlußplatte 4 ist in zweigleichgroße Anschlußfelder aufgeteilt, von denen eins zur elektrischen Verbindung des Referenzschaltkreises und das andere zur elektrischen Verbindung des zu prüfenden Schaltkreises zenitder Prüf-|vorrichtung dient. Durch die doppelseitige Belegung der Anschlußplatte 4, nämlich einmal durch die Kabel von den Vielfach-Steckvorrichtungen 2,3 ( Fig. 1 ) und zum anderen durch die Vielfach-Steckvorrichtung in der Prüfvorrichtung selbst, ist es -nicht möglich in betriebsfertigem Zustand änderungen an der Verdrahtung der Anschlußplatte 4 vorzusehen.Die Anschlußfelder 6 und 7 auf der Hilfsanschlußplatte 5 weisen vorteilhaft ebensoviel Anschlüsse auf, wie die entsprechenden Anschlußfelder auf der Anschlußplatte 4. Die Beschaltung der Anschlußfelder 6, 7 mit den Anschlußfeldern der Anschlußplatte 4 -kann vorteilhaft so erfolgen, daß jeweilskin Anschlußpunkt der -Anschlußplatten 6, 7 mit jeweils einem Anschlußpunkt der Anschlußplatte 4 verbunden ist. Von den Steckverbindungen 2>g führen nur die Verbindungen direkt zur Anschlußplatte 4, die bei den zu prüfenden Schaltkreisen stets gleich sind.In Fig. 1, 1 denotes the frame that holds the two connectors 2.3 for receiving and electrically connecting the two circuit cards to be compared with the test device. The connection of the connector with the connector Plate 4 (Fig. 2) takes place either in known soldering technology or in solderless wire winding technology. The side of the connection plate 4 visible in FIG. 2 is used for the releasable connection of the test frame 1 with the test device in such a way that the test frame 1 in a slot the test device reads and then the pins of a multi-fold plug-in device be moved in such a way that they come into contact with the connection plate 4. The connection plate 4 is divided into two equal-sized connection fields, one of which is for electrical connection Connection of the reference circuit and the other for electrical connection of the circuit to be tested zenit the test device | Due to the double-sided Assignment of the connection plate 4, namely once through the cables from the multiple plug-in devices 2,3 (Fig. 1) and on the other hand by the multiple plug-in device in the test device itself, it is -not possible in the ready-to-use state to make changes to the wiring of the connection plate 4. The connection fields 6 and 7 on the auxiliary connection plate 5 advantageously have as many connections as the corresponding connection fields on the connection plate 4. The wiring of the connection fields 6, 7 with the connection fields the connection plate 4 can advantageously be made so that each skin connection point of the connection plates 6, 7 are each connected to a connection point of the connection plate 4 is. From the plug connections 2> g only the connections lead directly to the connection plate 4, which are always the same for the circuits to be tested.

Die Programmierung der Anschlußfelder 6, 7 kann nun dadurch erfolgen, daß ein entsprechend langes Stück Leitung mit beidseitig vorgesehenen Steckerstiften in der notwendigen Weise in zwei Bohrungen des Anschlußfeldes 6 bzw. 7 die Verbindung herstellt. The connection panels 6, 7 can now be programmed by that a correspondingly long piece of cable with connector pins provided on both sides in the necessary manner in two bores of the connection panel 6 and 7, the connection manufactures.

Vorteilhafter erfolgt die Beschaltung der Anschlußfelder 6, 7 durch eine Schaltkarte 8, die im Rastermaß so viel Steckstifte 9 aufweist, wie zur vollständigen Beschlatung eines Schaltkreistyps mit der Prüfeinrichtung notwendig sind. Die Steckerstifte 9 können untereinander entweder durch Löttechnik oder durch lötlose Wickeltechnik verdrahtet sein. The wiring of the connection panels 6, 7 is more advantageous a circuit board 8, which has as many pins 9 in the grid as to complete It is necessary to load a circuit type with the test device. The connector pins 9 can be used either by soldering or by solderless winding technology be wired.

Beim Wechsel des zu prufenden.Schaltkreistyps kann einfach die komplett verdrahtete Schaltkarte 8 gegen eine entsprechend anders verdrahtete Schaltkarte ausgewechselt und der Prüfvorgang fortgesetzt werden. When changing the circuit type to be tested, simply the completely wired circuit board 8 against a circuit board wired differently replaced and the test process continued.

Vorteilhaft besteht die Schaltkarte 8 aus zwei identischen Kartenteilen, die zwischen sich die mit einer Halteeinrichtung versehenen Steckerstifte 9 festhalten.The circuit card 8 advantageously consists of two identical card parts, which hold the connector pins 9, which are provided with a holding device, between them.

Claims

Test equipment for functional testing of complex circuits Function comparison of the circuits to be tested with one reference circuit each, with a frame for the common accommodation of the circuits and connection to the test device by means of a connection plate in the form of a multiple plug-in device, the front to detachable connection with the circuits of the test device, while the Rear side for wiring with the circuit to be tested and the reference circuit is provided, characterized by the arrangement of an auxiliary connection plate in a second level, in such a way that this is on one side with the first mentioned Connection plate elektrisc verbur.) N and the other side for changeable wiring the connection plate is provided.

2. Testing device according to claim 1, characterized in that the Auxiliary connection plate is designed in the grid.

? Test device according to claim 1 or 2, characterized in that that the changeable wiring is carried out by a perforated grid plate with inserted plug-in pins is.

4. Test device according to claim 1, 2 or 3, characterized in that that the pins can be clamped between two grid plates of the same type.

L e r s e i t e