DE3424133A1 - Beugungsgitter - Google Patents

Beugungsgitter

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DE3424133A1
DE3424133A1 DE19843424133 DE3424133A DE3424133A1 DE 3424133 A1 DE3424133 A1 DE 3424133A1 DE 19843424133 DE19843424133 DE 19843424133 DE 3424133 A DE3424133 A DE 3424133A DE 3424133 A1 DE3424133 A1 DE 3424133A1
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grating
light
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diffraction grating
grid
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Application number
DE19843424133
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English (en)
Inventor
Kiyoshi Yokohama Kanagawa Yokomori
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/32Holograms used as optical elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/18Diffraction gratings

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)

Description

  • Beschreibung
  • Die Erfindung betrifft ein Beugungsgitter' und betrifft insbesondere ein holographisches Gitter für einen Hologrammscanner bzw. -abtaster und darüber hinaus ein durchlässiges Oberflächenrelief-Beugungsgitter.
  • Ein durchlässiges Oberflächenrelief-Beugungsgitter ist üblicherweise als ein Lichtstrahl ablenkendes Element eines holographischen Scanners in einem Laserdrucker verwendet worden. Ein solcher holographischer Scanner weist üblicherweise eine vielfacettierte Scheibe auf, welche drehbar gehaltert ist und welche eine Anzahl holographisch erzeugter Oberflächenrelief-Beugungsgitter aufweist, die in einem Kreis und in Abständen voneinander angeordnet sind. Wenn die Scheibe angetrieben wird und sich dreht, laufen die Beugungsgitter nacheinander an einem Bildinformation enthaltenden Lichtstrahl vorbei, so daß der Lichtstrahl periodisch über einen vorbestimmten Winkel abgelenkt wird, so daß der Lichtstrahl auf einer Abbildungsebene abgetastet wird. In diesem Fall wird zur Lichtstrahlabtastung ein gebeugter Lichtstrahl von jedem der Beugungsgitter verwendet. Jedoch ist das durchlässige Oberflächenrelief-Beugungsgitter noch nicht vollständig untersucht, insbesondere im Hinblick auf seinen Beugungswirkungsgrad,und somit ist sogar der experimentell erreichbare Beugungswirkungsgrad zur Zeit 30% oder niedriger. Ein Beugungswirkungsgrad von 34% ist theoretisch geplant worden, aber bei dieser Untersuchung ist die Theorie eines ebenen Gitters angewendet worden, bei welcher das Oberflächenrelief-Beugungsgitter als ein ebenes Gitter betrachtet wird, so daß diese Untersuchung für nicht gut begründet gehalten wird.
  • Gemäß der Erfindung soll daher ein durchlässiges Oberflächenrelief-Beugungsgitter mit einem höheren Beugungswirkungsgrad geschaffen werden, welcher vorzugsweise bei 60% oder mehr liegt. Ferner soll gemäß der Erfindung ein Oberflächenrelief-Beugungsgitter geschaffen werden, das in einem holographischen Scanner oder Abtaster verwendbar ist. Gemäß der Erfindung ist dies bei einem Beugungsgitter nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 durch die Merkmale im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 erreicht. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
  • Nachfolgend wird die Erfindung anhand von bevorzugten Ausführungsformen unter Bezugnahme auf die anliegenden Zeichnungen im einzelnen erläutert. Es zeigen: Fig. 1 im Querschnitt eine schematische Darstellung eines holographischen Beugungsgitters gemäß einer Ausführungsform der Erfindung, Fig. 2 eine schematische Darstellung zur Erläuterung der Beugung von Licht, welches auf das Beugungsgitter der Fig. 1 auffällt, Fig. 3 bis 7 Kurvendarstellungen, welche jeweils den Beugungswirkungsgrad von Beugungslicht erster Ordnung wiedergeben, welches von einem Gitter durchgelassen worden ist,das eine sinusförmige Form hat und n0 = 1,66 aufweist, wobei Fig. 3 bis 6 für h/d = 0,5, ,0, 1,5 bzw. 2,0 gelten, und Fig. 7 für /d = 1,414 und e = 450 gilt, Fig. 8 eine Kurvendarstellung, in welcher Bereiche von und h/d dargestellt sind, in welchen der Beugungswirkungsgrad 60° oder mehr ist,und Fig. 9 eine schematische Darstellung eines Systems zum Herstellen eines durchlässigen Oberflächenrelief-Beugungsgitters gemäß der Erfindung.
  • In Fig. 1 ist schematisch im Querschnitt ein durchlässiges Oberflächenrelief-Beugungsgitter gemäß einer Ausführungsform der Erfindung dargestellt. Wie dargestellt, weist das Beugungsgitter eine transparente Glasplatte 1 und ein lichtdurchlassendes Kunstharz 2 auf der Platte 1 auf. Das Kunstharz 2 ist so ausgebildet, daß seine Dicke sich periodisch in einer vorbestimmten Richtung ändert und folglich wirkt das Kunstharz 2 als Brechungsgitter. Ein derartiges Brechungsgitter wird normalerweise als ein durchlässiges Oberflächenreliefugungsgitter bezeichnet. Das hierzu behandelnde Beugungsgitter ist bezüglich der vertikalen Mittellinie zumindest annähernd symmetrisch.
  • In Fig. 2 ist schematisch dargestellt, was passiert, wenn Licht auf das Beugungsgitter der Fig. 1 auftrifft. In Fig. 2 ist mit d der Gitterabstand, mit h die Gittertiefe bzw.
  • -höhe, mit G der Einfallwinkellmit Adie Wellenlänge, mit ein Beugungswinkel von Licht 0-ter Ordnung und mit 6, ein Beugungswinkel von Beugungslicht erster Ordnung bezeichnet.
  • Das Licht, welches auf das Beugungsgitter 2 in der Richtung A mit einer Lichtmenge Pi auftrifft, wird durch das Beugungsgitter 2 in der Richtung C gebeugt. Dieses gebeugte Licht wird durchgelassenes Beugungslicht erster Ordnung genannt, und seine Lichtmenge ist mit P1 bezeichnet. Unter dieser Voraussetzung kann die Beugungsgleichung mit dem Beugungswinkel von durchgelassenem Beugungslicht m-ter Ordnung, welcher Beugungswinkel mit zum und die Beugungszahl mit m bezeichnet ist, folgendermaßen ausgedrückt werden: sin e = mA/d + eosin Xm In Fig. 3 bis 6 ist jeweils der Beugungswirkungsgrad von durchgelassenem Beugungslicht erster Ordnung für ein Beugungsgitter mit einer sinusförmigen Form und mit n0 = 1,66 dargestellt. In jeder dieser Kurven gibt die ausgezogene Linie den Fall für ein TE-Polarisationslicht wieder, welches ein lineares Polarisationslicht parallel zu den Rillen des Gitters ist, und die gestrichelte Linie gibt den Fall für TM-Polari- sationslicht wieder, welches ein lineares Polarisationslicht senkrecht zu den Rillen des Gitters ist. Bekanntlich entspricht der Einfallwinkel e dem sogenannten Braggschen Einfallswinkel, welcher der Beziehung zu e = sin (/2d) genügt.
  • In Fig. 7 ist eine Kurve dargestellt, welche den Brechungswirkungsgrad von durchgelassenem Beugungslicht erster Ordnung als Funktion eines Beugungstiefeverhältnisses h/d für den Fall von TE-Polarisationslicht wiedergibt, welches auf ein Beugungsgitter mit >/d = 1,414 und # G = 450 auftrifft. In der Kurvendarstellung der Fig. 7 ist der Beugungswirkungsgrad mit dem Brechungsindex n0 eines Gittermaterials als Parameter aufgetragen.
  • Aus den in Fig. 3 bis 7 wiedergegebenen Kurvendarstellungen können die Bedingungen, bei welchen der Beugungswirkungsgrad von durchgelassenem Beugungslicht erster Ordnung 60% oder mehr ist, folgendermaßen festgesetzt werden.
  • (1) Für lineares Polarisationslicht, das parallel zu den Rillen des Gitters verläuft: 0,5 < t/d < 2,0 1,0 < h/d < 2,75 (2) Für lineares Polarisationslicht, das senkrecht auf die Rillen des Gitters auftrifft: 0,5 <= /d < 1,4 1,0 # h/d < 2,5.
  • In Fig. 8 ist eine Kurve dargestellt, auf deren Ordinate h/d und auf deren Abszisse >/d aufgetragen ist. In der Kurve der Fig. 8 sind Bereiche von /d und h/d dargestellt, in welchen der Beugungswirkungsgrad 60% oder mehr ist.
  • In Fig. 9 ist eine schematische Darstellung wiedergegeben, welche ein System zum Herstellen eines durchlässigen Oberflächenrelief-Beugungsgitters gemäß der Erfindung zeigt.
  • Wie dargestellt, weist das System einen Laser 5 als Lichtquelle, eine konvexe oder Kollimatorlinse 6, eine Kondensor-oder Objektivlinse 7, ein Nadelloch 8, eine konvexe oder Kollimatorlinse 9, ein Verteilungskorrekturfilter 10, einen Strahlenteiler 11, sowie Spiegel 12 und 13 auf. Wenn Licht von dem Laser 5 abgegeben wird, wird es durch die Linse 6 gebündelt, und das auf diese Weise gebündelte Licht wird dann durch die Linse 7 auf das Loch 8 scharf eingestellt.
  • Das Licht wird dann divergent, wenn es durch das Loch 8 hindurchgeht, und dieses divergente Licht wird dann durch die Linse 9 wieder gebündet. Bekanntlich hat das durch die Linse 9 gebündelte Licht eine Lichtintensitätsverteilung, welche infolge der Filterwirkung des Loches 8 annähernd die Form einer Gaußschen Verteilung hat. Das Verteilungskorrekturfilter 10 ist so ausgelegt, daß es eine Lichtdurchlässigkeit mit der umgekehrten Gaußschen Verteilung besitzt. Wenn somit das gebündelte Licht mit einer Lichtintensitätsverteilung in Form der Gaußschen Verteilungskurve durch das Verteilungskorrekturfilter 10 hindurchgeht, wird ein gebündeltes Licht mit einer gleichförmigen Verteilung erhalten. Dieses gebündelte Licht wird dann durch den Strahlenteiler 11 in zwei Strahlenbündel aufgeteilt, und mit diesen beiden Strahlenbündeln werden dann überlagernd der auf der Glasplatte 10 ausgebildete Photolack bestrahltJnachdem sie von den entsprechenden reflektierenden Spiegel 12 und 13 reflektiert worden sind.
  • Folglich erzeugen die zwei Strahlen auf dem Photolack 2 eine Interferenz, wodurch ein Muster aus abwechselnd dunklen und hellen Streifen gebildet wird, so daß der Photolack entsprechend diesem abwechselnd aufgebrachten, dunklen und hellen Streifenmuster sensibilisiert wird. Wenn dann ein positiver Photolack Verwendet wird, werden, wenn nach einer Bestrahlung der Photolack entwickelt wird, die sensibilisier- ten Teile entfernt, wodurch sich dann Rillen annähernd in Form einer sinusförmigen Kurve bilden, wie in Fig. 1 dargestellt ist. Insbesondere wurde beispielsweise als Photolack AZ1350 (hergestellt von der Shipley Co.) und als Lichtquelle 5 ein 80mW He-Cd-Laser (mit einer Wellenlänge von 441,6nm) verwendet. Bei einer Belichtungsmenge von 60mJ/cm2 und einer Entwicklungsdauer von imin wurde ein Muster mit einer Mustertiefe h = 0,7 Mikron und einem Abstand d=0,45Mikron erhalten.
  • Wenn das Licht von einem He-Ne-Laser auf das auf diese Weise hergestellte Gitter unter einem Einfallswinkel von 450 auftriff wurden als Beugungswirkungsgrad für durchgelassenes Beugungslicht erster Ordnung 90% erhalten.
  • Das vorstehend beschriebene Gitter war beispielsweise sinusförmig. Jedoch soll die Erfindung nicht hierauf beschränkt sein, sondern es können auch verschiedene andere Formen angewendet werden, solange sie bezüglich einer vertikalen Mittellinie zumindest annähernd symmetrisch sind.
  • Ende der Beschreibung

Claims (5)

  1. Beugungsgitter Patentansprüche 1 Beugungsgitter/ dadurch g e k e n n z e i c h n e t, daßes für einfallendes Licht, weiches lineares Polarisationslicht parallel zu Rillen des Gitters ist, folgender Beziehung genügt: 0,5 # #/d 2,0 1,0 < h/d < 2,75, oder daß es für einfallendes Licht, das lineares Polarisationslicht senkrecht zu den Rillen des Gitters ist, den nachstehenden Beziehungen genügt: 0,5 < )/d < 1,4 1,0 < h/d < 2,5 wobei Adie Wellenlänge des auf das Gitter auftreffenden Lichts, h die Tiefe des Gitters und d der Abstand in dem Gitter ist.
  2. 2. Beugungsgitter nach Anspruch 1, dadurch g e k e n nz e i c h n e t, daß das Gitter(3) auf einer transparenten Glasplatte (2) ausgebildet ist.
  3. 3. Beugungsgitter nach Anspruch 2, dadurch g e k e n nz e i c h n e t, daß das Gitter (3) einen lichtdurchlässigen Photolack (2) aufweist.
  4. 4. Beugungsgitter nach Anspruch 1, dadurch g e k e n nz e i c h n e t, daß das Gitter (3) bezüglich einer vertikalen Mittellinie in seiner Form symmetrisch ist.
  5. 5. Beugungsgitter nach Anspruch 4, dadurch g e k e n nz e i c h n e t, daß das Gitter (3) annähernd sinusförmig ist.
DE19843424133 1983-06-30 1984-06-30 Beugungsgitter Ceased DE3424133A1 (de)

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DE3424133A1 true DE3424133A1 (de) 1985-01-03

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DE19843424133 Ceased DE3424133A1 (de) 1983-06-30 1984-06-30 Beugungsgitter

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JPH01144832U (de) * 1988-03-29 1989-10-04

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US4093339A (en) * 1977-05-26 1978-06-06 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Method and apparatus for fabricating optical waveguide grating resonators
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US-Z.: J. Opt. Soc. Am., Vol. 68, No. 9, Sept. 1978, S. 1206-1210 *
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JPS6011802A (ja) 1985-01-22

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