DE3416659C2 - - Google Patents

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Edward 2000 Hamburg De Clar
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Natec Institut fur Naturwissenschaftlich-Technische Dienste 2000 Hamburg De GmbH
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    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
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