DE3341844C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3341844C2
DE3341844C2 DE19833341844 DE3341844A DE3341844C2 DE 3341844 C2 DE3341844 C2 DE 3341844C2 DE 19833341844 DE19833341844 DE 19833341844 DE 3341844 A DE3341844 A DE 3341844A DE 3341844 C2 DE3341844 C2 DE 3341844C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
contour
sensor
measuring arrangement
arrangement according
output signals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19833341844
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE3341844A1 (de
Inventor
Wilfried Dipl.-Ing. 2800 Bremen De Heinisch
Wilhelm Dipl.-Ing. 2874 Lemwerder De Janning
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
STN Systemtechnik Nord GmbH
Original Assignee
Messerschmitt Bolkow Blohm AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Messerschmitt Bolkow Blohm AG filed Critical Messerschmitt Bolkow Blohm AG
Priority to DE19833341844 priority Critical patent/DE3341844A1/de
Publication of DE3341844A1 publication Critical patent/DE3341844A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3341844C2 publication Critical patent/DE3341844C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
DE19833341844 1983-11-19 1983-11-19 Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen Granted DE3341844A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19833341844 DE3341844A1 (de) 1983-11-19 1983-11-19 Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19833341844 DE3341844A1 (de) 1983-11-19 1983-11-19 Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3341844A1 DE3341844A1 (de) 1985-05-30
DE3341844C2 true DE3341844C2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) 1989-08-17

Family

ID=6214724

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19833341844 Granted DE3341844A1 (de) 1983-11-19 1983-11-19 Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3341844A1 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH061288B2 (ja) * 1986-10-07 1994-01-05 富士通株式会社 高さ補正による自動焦点合せ装置
DE4003390A1 (de) * 1990-02-05 1991-08-08 Emco Maier Gmbh Vorrichtung zum erfassen der kontur eines werkstueckes
DE4105284A1 (de) * 1991-02-20 1992-11-05 Bacher Gmbh B Verfahren und vorrichtung zur videounterstuetzten montage

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4063283A (en) * 1975-04-03 1977-12-13 Chemetron Corporation Automatic envelope measuring system
US4213117A (en) * 1977-11-28 1980-07-15 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for detecting positions of chips on a semiconductor wafer
DE3044611A1 (de) * 1980-11-27 1982-11-25 Webb Service GmbH, 6000 Frankfurt Verfahren und vorrichtung zur erkennung von querschnittsprofilen von objekten

Also Published As

Publication number Publication date
DE3341844A1 (de) 1985-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69312403T2 (de) Messung der Wanddicke eines transparenten Gefässes
DE3424806C2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html)
DE68902419T2 (de) Verfahren zur positionierung eines objektes in bezug auf eine ebene, laengenmessverfahren und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens.
DE3901185C2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html)
DE60021837T2 (de) KMM V-Spiralnuten Formmessung ( Gewinde, Innengewinde, Schneckenrad ) mit Drehtisch und Zweiflankenkontakt
EP1747483B1 (de) Ortungsgerät sowie verfahren zur kalibrierung eines ortungsgeräts
DE19842250A1 (de) Verfahren zur Bestimmung des Abstandes zwischen einem Objekt und einer sich örtlich verändernden Einrichtung, insbesondere einem Kraftfahrzeug
DE19711467A1 (de) Verfahren zur Bestimmung des senkrechten Abstandes zwischen einem Objekt und einer sich örtlich verändernden Einrichtung
DE102007058506A1 (de) Optischer Abstandssensor
DE102008049821A1 (de) Abstandssensor und Verfahren zur Ermittlung eines Abstands und/oder von Abstandsschwankungen zwischen einem Bearbeitungslaser und einem Werkstück
DE2702452C2 (de) Einrichtung zur Lagebestimmung eines einen anderen Remissionsgrad als der Hintergrund aufweisenden Objektes
CH666547A5 (de) Optisch-elektronisches messverfahren, eine dafuer erforderliche einrichtung und deren verwendung.
DE19514692C2 (de) Optische Koordinaten-Meßmaschine zur berührungslosen, dreidimensionalen Vermessung von Werkstücken auf einer Meßfläche
DE69117141T2 (de) Gerät zum Bestimmen einer Ultraschallgeschwindigkeit mittels einer V(z)-Messung sowie Ultraschallmikroskop unter Verwendung dieses Geräts
DE3341844C2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html)
DE102006029650B4 (de) Schaltungsanordung und Verfahren zur Kippfehlerermittlung an einer Positionsmesseinrichtung
CH680950A5 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html)
DE3913159A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung von wellenfoermigen deformationen an wenigstens einer schienenoberseite (schienenlaufflaeche) eines schienenweges
DE4009144A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der mit aeusseren konturflaechen charakterisierten form und abmesssungen eines gegenstandes
DE69021546T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Photodetektion.
DE2150963A1 (de) Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren der Temperatur eines Infrarotstrahlung emittierenden Gegenstandes
DE3312203C2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html)
DE69401017T2 (de) Verfahren zum Messen der Breite der Orientierungsfläche eines Einkristalls
EP2977786A1 (de) Entfernungsmessender sensor zur erfassung und abstandsbestimmungen von objekten
DE3725896C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Position eines Fahrzeugs

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: STN SYSTEMTECHNIK NORD GMBH, 2800 BREMEN, DE

8339 Ceased/non-payment of the annual fee