DE2150963A1 - Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren der Temperatur eines Infrarotstrahlung emittierenden Gegenstandes - Google Patents

Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren der Temperatur eines Infrarotstrahlung emittierenden Gegenstandes

Info

Publication number
DE2150963A1
DE2150963A1 DE19712150963 DE2150963A DE2150963A1 DE 2150963 A1 DE2150963 A1 DE 2150963A1 DE 19712150963 DE19712150963 DE 19712150963 DE 2150963 A DE2150963 A DE 2150963A DE 2150963 A1 DE2150963 A1 DE 2150963A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
radiation
temperature
wire
detection system
cavity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19712150963
Other languages
English (en)
Inventor
Francois Desvignes
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of DE2150963A1 publication Critical patent/DE2150963A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0022Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation of moving bodies
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05DSYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D23/00Control of temperature
    • G05D23/19Control of temperature characterised by the use of electric means
    • G05D23/1906Control of temperature characterised by the use of electric means using an analogue comparing device
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05DSYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D23/00Control of temperature
    • G05D23/19Control of temperature characterised by the use of electric means
    • G05D23/27Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing element responsive to radiation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

Dr. Herbert Scholz PalciiCDMvait
Anmelder: u.V. p:; υ;»j· ÜLOEILAMPEWI^ÄBRIEKEN
nt*.. PHN- 5526
Anmeldung vom: 12·1Ο.(Ί
Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren der Temperatur eines Infrarotstrahlung emittierenden Gegenstandes.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren der Temperatur eines Infrarotstrahlung emittierenden Gegenstandes, insbesondere eines zylindrischen Gegenstandes, der ausser einer Verschiebung in axialer Richtung auch eine Verschiebung in radialer Richtung vollführen kann, welche Vorrichtung ein für Infrarotstrahlung empfindliches Detektionssystem, eine Referenrstrahlungsquelle und eine elektronische Schaltung enthält zum Vergleichen der elektrischen Signale, die von der vorn Gegenstand bzv. von der Referenzstrahlungequelle herrührenden Strahlung in dem Detektionssyptem erzeugt werden.
Des MeKsen und Kontrollieren der Temperatur sich bevegender langgestreckter zylindrischer Körper ist ein in der Industrie hä'ufig auftretende.·? Problem. Es ergibt fiich insbesondere
209817/0888
bad
— X - ' -Γ > X ίι^ι · JJt ·) φ
beim Ziehen von Fasern oder Mikrokanälen aug Glas oder Kunptstoffdrähten, εονΐβ beim Ziehen von Metalldrähten und beim Bekleiden von elektrischen Drähten oder Fernsprechleitungen mit Kunststoff.
Eine genaue Kontrolle der Temperatur poll dann auf einem oft veichen und spröden Material durchgeführt verdien, das mit grosser Geschwindigkeit bewegt vird* Das Material ist dabei bestimmten mechanischen Spannungsbedingungen unterworfen. Die Maschine kann nicht stillgesetzt werden, ohne dass ihre Wirkung be-
k einträchtigt vird. Es ist wichtig, dass die Temperatur schnell gemessen werden kann, damit sie, venn sie falsch ist, nacheingestellt oder automatisch nachgeregelt werden kann.
Es kann auch wichtig sein, dass man die Qualität des hergestellten Drahtes kennt. Venn der Draht ein elektrischer Leiter ist, ist es von Bedeutung, die Strukturabveichungen dadurch zu lokalisieren, dass die ausserordentlich warmen oder kalten Punkte dieses Drahtes lokalisiert werden, venn dieser Draht von einem konstanten Strom durchflossen vird, wozu auch wieder die Temperatur gemessen und kontrolliert werden muss.
' . Dieser Mess- und Prüfvorgang kann nicht mit Hilfe bekannter üblicher Mittel, wie auf der Oberfläche der Dr Kh te?· an gebrachter thermoelektrischer Elemente, durchgeführt werden. Die Gegenstände, deren Temperatur gemessen werden soll, weisen im allgemeinen geringe Abmessungen auf, und das Vorhandensein thermoelektrischer Elemente auf ihrer Oberfläche würde die zu messende Temperatur stören. Ihre Bewegungen erschweren überhaupt die Anvendurg solcher thermoelektrischer Elemente.
Die Tatsache, dass dio betrachteten zylindrischen Körper, z.B. Drähte, die sich in Richtung ihrer Achse bewegen und
209817/0888 bad original
-V- F.PHN.5526.
sich manchmal auch langsam um dieselbe Achse drehen, sich auf unregelmäßige Veine quer zur Achsenrichtung über einen Abstand verschieben, der z.B. zehrmal grosser als der Durchmesser ist, hat zur Folge, dass der Messvorgang viel komplizierter vird .
Die Temperatur könnte dadurch gemessen verden, dapc die von Körper emittierte Infrarotstrahlung bestimmt wird. Ein derartiges Verfahren vürde ohne besondere Vorkehrungen unvermeidlich grosse Fehler veranlassen, veil dabei der Emissionsfaktor, d.h. das Verhältnis zvischen der Helligkeit des reellen Körpers und der eines schvarzen Körpers bei derselben Temperatur, genau bekannt sein muss. Der Emissionsfaktor ist aber oft nur annähernd bekannt und kann sich ausiserdem infolge atmosphärischer Bedingungen längs des zylindrischen Körpers ändern. Für Metalldrähte ist der Emissionsfaktor niedrig, vras die Genauigkeit erheblich beeinträchtigen oder sogar das Verfahren unbrauchbar machen könnte. *
Die Erfindung hat den Zweck, eine auf die Emission von Infrarotstrahlung ansprechende Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren
der Temperatur langgestreckter zylindrischer Körper zu schaffen, die mit grosser Genauigkeit wirkt, vährend das Ergebnis dieses Mess- und Prüfvorgangs von radial gerichteten Bewegungen des zylindrischen Körpers unabhängig ist.
Die Vorrichtung nach der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daos die Referenzstrahlungsquelle durch einen mit einer Oeffnung vergebenen und als schwarzen Strahler wirkenden Hohlraum gebildet vird, innerhalb dessen der Gegenstand bewegt verden kann} daps zvischen der Oeffnung und dem Detektionssystem ein erstes bewegbares strahlungsreflektierendes Element angeordnet ist, das in einer ersten Lage nur von dem Kohlraun herrührende Strahlung und
209817/0888
F.PEN.
in einer zveiten Lage von dem Hohlraum sovie von dem Gegenstand herrührende Strahlung auf das Detektionssystem richten kann; und dass ein .optoelektronisches System zum Detektieren der beiden erwähnten Lagen vorgesehen ist, wobei die elektrischen Ausgangsimpulse des optoelektronischen Systems dazu benutzt werden können, in der elektronischen Schaltung das vom Detektionssyatem gelieferte Signal zu bemustern. In dieser Vorrichtung verschiebt sich der zylindrische Gegenstand gegen einen Hintergrund, der sich wie ein schvarzer Körper bekannter und gleichmSssiger Helligkeit verhält, quer zu einem parallelen optischen Bündel mit einem bestimmten Querschnitt. Der Teil der von dem Hintergrund emittierten und von dem zylindrischen Gegenstand abgeschirmten Strahlung sovie der vom zylindrischen Gegenstand emittierte Teil der Strahlung" sind der sichtbaren Oberfläche des erwähnten Gegenstandes in dem vom Detektor abgetasteten Feld proportional. Wenn - ungeachtet der Lage des Gegenstandes in dem Feld - diese Oberfläche konstant "bleibt, ist der Unterschied zwischen den oben betrachteten Strahlungen von den Emissionakennlinien und der Temperatur des schwarzen Strahlers und des zylindrischen Gegenstandes abhängig und von der Lage dieses Gegenstandes in dem Feld unabhängig. Dieser Strahlungsunterschied ist in einem Sonderfall gleich null, und zwar wenn der zylindrische Gegenstand und der schwarze Heferenzhintergrund die gleiche Temperatur aufweisen. Dies gilt sogar, wenn sich die sichtbare Oberfläche des zylindrischen Gegenstandes in dem Feld ändern wird. So kann auch die Temperatur eines langgestreckten zylindrischen Gegenstandes mit einem niohtkreisförmigen Querschnitt, der ausser einer Bewegung im Feld auch eine rotierende Bewegung vollführt, gemessen werden. Dies gilt auch für langgestreckte Gegenstände, deren Querschnitt in der Achsen-
209817/0888
-V- . F. PHU. 5526.
richtung variiert. Die Temperatur kann mit Hilfe eines Nullverfahrens gemessen und kontrolliert werden.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand der Zeichnung näher erläutert, in der»
Fig. 1a und 1b schematisch eine Vorder- bzw. eine Seitenansicht einer Ausführungsform einer Vorrichtung nach der Erfindung zeigen,
Fig. 2 die Wirkungsweise der Vorrichtung nach der Erfindung veranschaulicht, und
Fig. 3 das elektrische Blockschaltbild dieser Vorrichtung zeigt. .
In diesen Figuren sind entsprechende Teile mit den gleichen Bezugsziffern bezeichnet.
In Fig. 1 bezeichnet 1 den Draht, dessen Temperatur
gemessen werden soll. Dieser Draht wird senkrecht zu der Zeichnungsebene mit Hilfe einer nicht dargestellten Antriebsvorrichtung verschoben. Der Draht wird über einen schmalen Spalt 2 in einen rohrförmigen Raum 3 eingeführt, der in bezug auf seinen Durchmesser lang ist und der eine gleichmässige Temperatur aufweist, die geändert werden kann. Die Innenwand des Rohres weist einen hohen Emissionsfaktor auf. Aus einer Oeffnung 4» die etwa tialbweg3 der Länge des Rohres liegt, kann Strahlung austreten. Diese Strahlung kann mit Hilfe eines optischen Systems beobachtet werden, das u.a. einen flachen Spiegel 5 enthält, der um eine Achse 6, die sich parallel zu der Achse des rohrförmigen Raumes 3 und somit zu der Achse des Drahtes 1 erstreckt, schwingen kann. In dem Gang der vom Spiegel 5 reflektierten Strahlung iet eine konvergierende Linse 7 aus einem für Infrarotstrahlung durchlässigen Material, z.B. Germanium, ange-
209817/0888
F.PK1T.5526.
bracht. In dem Bildbrennpunkt dieser Linse ist die empfindliche Oberfläche eines für Infrarotstrahlung empfindlichen Detektors 8 angeordnet, dessen Ausgangsklemmen mit 10 bezeichnet sind. Dieser Detektor kann gegebenenfalls z.B. mit Hilfe eines Dewar-Gefäseea 5 abgekühlt werden.
/ Um eine von der Länge des Drahtes unabhängige Messung
' zu sichern, ist zwischen dem Spiegel 5 und der Linse 7 eine rechteckige Blende 11 angeordnet, deren Ränder 12 und 13 (siehe Fig. Tb) zu der Achse des Drahtes senkrecht sind. Infolgedessen liegt die
^ . beobachtete Länge des Drahtes fest. Dieser Draht wird gegen die Hintergrundstrahlung beobachtet, die von der Wand des Rohres 3 herrührt. Infolge der Schwingung des Spiegels 5 werden zu verschiedenen Zeitpunkten verschiedene Teile dieses Feldes der Hintergrundatrahlung beobachtet. In Fig. 1b sind zwei solche Feldteile mit 14 und 15 bezeichnet.
Bei einem kreisförmigen Querschnitt des Drahtes übt eine Drehung des Drahtes um seine Achse keinen Einfluss aus. Dann ist die geometrische Ausdehnung des optischen Bündels, der einerseits durch die Oberfläche des-Detektors und andererseits durch den in dem vom Detektor beobachteten Feld befindlichen Teil des Drahte3 bestimmt wird, von der Lage des Drahtes in diesem Feld unabhängig. Dies gilt ebenfalls für die von dem Rohr 3 emittierte Hintergrundstrahlung, die von dem Draht abgeschirmt wird, und für die von den Draht emittierte Strahlung. Damit die von derselben Stelle herrührende effektive auf den Detektor gerichtete Strahlung von der Lage des Drahtes in dem Feld unabhängig ist, ist es ausßerdem erforderlich, dass die Infrarotdurchlässigkeit der Linse 7 konstant ist. Die? kann dadurch erreicht werden, dass eine Linse mit einer verhältnisrnässig
209817/0888
P. Pliii. 5526.
kleinen Apertur gewählt wird..
In Fig. 1a sind weiter eine Anzahl nachstehend noch zu "beschreibender Teile dargestellt, und zwar eine Lichtquelle 16 und zwei photoelektrische Zellen 17 und 18, die in derselben Brennebene der Linse I9 angeordnet sind, derart, äas3 durch Reflexion auf der Rückseite des schwingenden Spiegels 5 und durch Fokussierung und Autokollimation mit Hilfe von I9 ein Bild der Lichtquelle 16 abwechselnd auf den Zellen 17 und 18 erzeugt wird.
In Fig. 2 sind die Lage des analysierten Feldes als Funktion der Zeit sowie die Lage des Drahtes in bezug auf dieses Feld dargestellt. D bezeichnet die Breite des Feldes, d_ die Breite des Drahtes. Die Querlage des Drahtes"kann sich in der Zeit ändern, aber es wird angenommen, dass diese Aenderung, gleich wie die Schwingung des Spiegels, innerhalb bestimmter Grenzen bleibt.
In dem Ausführungsbaiapiel ist die zulässige Querverschiebung des Drahtes kleiner als D - ä und ist die maximale Verschiebung des analysierten Feldes in der üTcane des Drahtes grosser als D. Es können dann zwei äusaerste Lagen des Spiegels 5 angegeben werden, und zwar eine Lage, in der der Draht völlig in dem analysierten Feld liegt, und eine'andere Lage,in der der Draht völlig ausserhalb des analysierten Feldes liegt.
Die elektrischen Signale, die von dem Infrarotdetektor zu den Zeitpunkten abgegeben werden, zu denen der Spiegel diese Lagen einnimmt, aind auf der Unterseite der Fig. 2 dargestellt. Die Zeit ist als Abszisse und die Grosse der elektrischen Signale ist als Ordinate aufgetragen. Diese Signale werden mit Hilfe einer in Fig. 3 blockschematisch gezeigten elektronischen Schaltung miteinander verglichen.
' 209817/0888
P.PHlT.5526.
I« dieser Figur bezeichnet 8 den Infrarotdetektor,
während 20 einen Verstärker mit einer Bandbreite von" z.B. 10 - 1000 Hz für eine Schwingungsfrequenz des Spiegels von 100 Ez bezeichnet. Zwei Tore 21 und·22 werden abwechselnd während einer kurzen Zeit-, spanne von Ί msec, von Signalen geöffnet, die von den photoelektrischen Zellen 1? und 18 herrühren (siehe auch Fig. 1a). Diese Photozellan werden über die Linse I9 und den schwingenden Spiegel 5 von der Lichtquelle 16 bestrahlt. Der Unterschied zwischen den Signalen an den Ausgängen der Tore 21 und 22 wird durch den Helligkeitsunterschied zwischen dem Draht und dem rohrförmigen Raum bestimmt. Die Ausgangssignale der Tore 21 und 22 werden in der Schaltung 23 miteinander verglichen und dann verstärkt. Die weitere Verarbeitung ist von Fall zu Fall verschieden und hängt von der Art des Drahtes ab. Nachstehend werden einige Verarbeitungsbeispiele beschrieben, die mit Hilfe der Teile 24, 25 und 26 der Vorrichtung nach Fig. 3 durchgeführt werden können.
Wenn A den Absorptionsemissionsfaktor des Drahtes,
L1 die Helligkeit eines schwarzen Körpers bei der reellen Temperatur des Drahtes und L die Helligkeit des als schwarzer Strahler wirkenden Raumes dargestellt, ist die Helligkeit des DrahteB L»j
Lf - A L«a + (1-A) Ln
und ist die Helligkeit des Signals nach Bemusterung:
L « Lf - Ln = A(L'n-Ln) (1).
Die Grosse L1 ,die Temperaturinformation Über den Draht enthält, kann nur von L und. L hergeleitet werden, wenn A bekannt ist. Andererseits ist die absolute Ungewissheit über L' umso grösaer, je nachdem L1 -L grosser ist, d.h., je nachdem die Temperaturabweichung zwischen dom Draht und dem rohrförmigen Raum grosser ist.
209817/0888
- V- P.FIIK.5526.
Verschiedene Fälle sind denkbar»
1. Die Temperatur eines Metalldrahtes soll gemessen und kontrolliert werden. Für einen Metalldraht iat A niedrig. A wird durch die geringsten Oberflächenunterschiede, Verschmutzungen und Oxydation "beeinflusst. Es ist von Bedeutung, dass L1 -L niedrig und sogar nahezu gleich null ist, gleich wie L. Es kann dann ein Nullverfahren Anwendung finden. Das von 23 herrührende Signal kann dann dazu verwendet werden, die Temperatur T des rohrförmigen Raumes mit Hilfe des Teiles 24 zu regeln, so dass diese Temperatur gleich der des Drahtes wird. Dies lässt sich durch Steuerung eines Rheostats erzielen, der einen Teil des Erhitzungskreises des als schwarzer Strahler wirkenden Körpers 3 bildet. Das von 23 herrührende Signal kann auch dazu benutzt werden, mit Hilfe des Teiles 25 die Temperatur des Drahtes derart zu regeln, dass diese gleich der des Raumes wird.,Dies kann durch Steuerung des Motors, mit dessen Hilfe der Draht gezogen wird, erfolgen, derart, dass der Draht die Temperatur eines Vorerhitzungsraumes annehmen kann. Diese beiden Verfahren können auch angewandt werden, falls die Drähte keinen kreisförmigen Querschnitt aufweisen, oder sogar wenn ihr Querschnitt nicht absolut konstant ist. Ab das Signal gleich null ist oder nicht, wird durch die Gleichheit in der Temperatur des Drahtes und des Raumes bestimmt und ist von der sichtbaren Oberfläche des Drahtes in dem analysierten Feld unabhängig. 2. Die Temperatur eines Drahtes, dessen' Emissionsfaktor hoch und wenig veränderlich ist, z.B. eines Drahtes aus einem organischen Material oder einem feuerfesten Oxyd, wie Glas, soll genau -geraessen und kontrolliert werden. In diesem Falle braucht die Temperatur des rohrförmigen Raumes nicht mehr in der Nähe der Temperatur des Drahtes zu liegen. Das vom Teil 23 herrührende Signal kann
209817/0888
- «>— f.Pia',5526.
einem Messgerät zugeführt werden, das die Temperatur des Drahtes anzeigen kann; dieses Messgerät ist z.B. ein Galvanometer. Beim Eichen des Messgerätes werden die Temperatur des Raumes, der Emissionsfaktor und der Durchmesser des Drahtes berücksichtigt.
In einer Ausführungsform der Vorrichtung nach der Erfindung kann ein Temperaturunterschied in der Grössenordnung von 10C mit einen ■befriedigendem Signal-Rauachverhältnis und mit einer Ansprechzeit von ·Γ£Γ~ Sekunde gemessen werden. Die Bemusterung ermöglicht ea,
den Mittelwert der Ergebnisse über längere Perioden zu erhalten, die eine bessere Abtastung des Signals im Falle einer noch immer verhältnis-
V *
massig langsamen Steuerung gestatten. Mit einer Geaamtbeobachtungsdauer in der Grössenordnung von Sekunden kann eine Ternperaturabweichung von weniger als 0,1 *C angezeigt werden.
209817/0888

Claims (5)

P. PHlI. 5526. PATEKTAIiS PRU3CHE j
1.J Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren der Temperatur eines Infrarotstrahlung emittierenden Gegenstandes, inabesondere eines zylindrischen Gegenstandes, der ausser einer Verschiebung in axialer Richtung auch eine Verschiebung in radialer Richtung vollführen kann, welche Vorrichtung ein for Infrarotstrahlung empfindliches Detektionssystera, eine Referenzstrahlungsquelle und eine elektronische Schaltung enthält zum Vergleichen der elektrischen Signale, die von der von dem Gegenstand Tjzw. von der Referenzstrahlungsquelle herröhrenden Strahlung im Detektionssystem erzeugt werden, dadurch gekennzeichnet, dass die Referenzstrahlungsquelle durch einen mit einer Oeffnung versehenen und als schwarzen Strahler wirkenden Hohlraum gebildet wird, innerhalb dessen der Gegenstand bewegt werden kann; dass zwischen der Oeffnung und dem Detektionssystem ein erstes bewegbares strahlungsreflektierendes Element angeordnet ist, das in einer ersten Lage nur von dem Hohlraum herrShrende Strahlung und in einer zweiten Lage von dem Hohlraum sowie von dem Gegenstand herrührende Strahlung auf das Detektionssystem richten kann; und dass ein optoelektronisches System zum Detektieren der beiden erwähnten Lagen vorgesehen ist, vobei die elektrischen Ausgangs impulse des optoelektronischen Systems dazu verwendet werden können, in der elektronischen Schaltung das vom Betektionssystem gelieferte Signal zu bemustern.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das optoelektronische System nacheinander eine Strahlungsquelle, ein synchron mit dem ersten strahlungsreflektierenden Element bewegbares zweites strahlungsreflektierendes Element und zwei stralilungsempfindliuhe Detektoren enthält.
209817/0888
P. PHlJ. 5526.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch eine von dem elektronisch bearbeiteten Signal gesteuerte Erhitzungsvorrichtung, die die Temperatur des Hohlraumes gleich der des Gegenstandes machen kann.
209817/0888
«ft
Leerseite
DE19712150963 1970-10-15 1971-10-13 Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren der Temperatur eines Infrarotstrahlung emittierenden Gegenstandes Pending DE2150963A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR7037242A FR2109406A5 (de) 1970-10-15 1970-10-15

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2150963A1 true DE2150963A1 (de) 1972-04-20

Family

ID=9062793

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19712150963 Pending DE2150963A1 (de) 1970-10-15 1971-10-13 Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren der Temperatur eines Infrarotstrahlung emittierenden Gegenstandes

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPS479196A (de)
DE (1) DE2150963A1 (de)
FR (1) FR2109406A5 (de)
IT (1) IT939994B (de)
NL (1) NL7113888A (de)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4114367A1 (de) * 1990-05-02 1991-11-14 Keller Gmbh Pyrometer zur beruehrungslosen temperaturmessung von laufenden und quer zur laufrichtung schlingernden messobjekten
WO2000047962A1 (de) * 1999-02-10 2000-08-17 Steag Rtp Systems Gmbh Vorrichtung und verfahren zum messen der temperatur von substraten
DE19905524A1 (de) * 1999-02-10 2000-09-21 Steag Rtp Systems Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Messen der Temperatur von Substraten
WO2014090994A2 (de) * 2012-12-14 2014-06-19 Sikora Ag Verfahren und vorrichtung zum berührungslosen bestimmen der temperatur eines bewegten gegenstands mit unbekanntem emissionsgrad
DE102022126635A1 (de) 2022-10-13 2024-04-18 Maag Germany Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Temperaturbestimmung eines Fördergutstroms sowie Granuliereinrichtung mit einer solchen berührungslosen Temperaturbestimmungsvorrichtung

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4008616A (en) * 1975-10-20 1977-02-22 United States Steel Corporation Scanning pyrometer
FR2421372A1 (fr) * 1978-03-31 1979-10-26 Inst Metiznoi Promy Pyrometre photo-electrique
FR2447543A1 (fr) * 1979-01-23 1980-08-22 Ir Tec Procede et dispositif pour la mesure, par thermometrie infrarouge, de la temperature d'un fil ou d'une tole
FR2473707A2 (fr) * 1980-01-11 1981-07-17 Mecilec Sa Procede et dispositif pour la mesure, par thermometrie infrarouge, de la temperature d'un fil, barre ou tube, ou d'une tole
FR2498322B1 (fr) * 1981-01-16 1985-10-25 Mecilec Sa Procede de mesure du rayonnement infrarouge pour determiner la temperature de fils et barres en deplacement
GB2099990B (en) * 1981-06-05 1984-11-28 Philips Electronic Associated Temperature measurement using thermal imaging apparatus
US4553854A (en) * 1982-12-17 1985-11-19 Nippon Kokan Kabushiki Kaisha Method for continuously measuring surface temperature of heated steel strip

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4114367A1 (de) * 1990-05-02 1991-11-14 Keller Gmbh Pyrometer zur beruehrungslosen temperaturmessung von laufenden und quer zur laufrichtung schlingernden messobjekten
WO2000047962A1 (de) * 1999-02-10 2000-08-17 Steag Rtp Systems Gmbh Vorrichtung und verfahren zum messen der temperatur von substraten
DE19905524A1 (de) * 1999-02-10 2000-09-21 Steag Rtp Systems Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Messen der Temperatur von Substraten
US6847012B1 (en) 1999-02-10 2005-01-25 Steag Rtp Systems Gmbh Apparatus and method for measuring the temperature of substrates
DE19905524B4 (de) * 1999-02-10 2005-03-03 Steag Rtp Systems Gmbh Vorrichtung zum Messen der Temperatur von Substraten
WO2014090994A2 (de) * 2012-12-14 2014-06-19 Sikora Ag Verfahren und vorrichtung zum berührungslosen bestimmen der temperatur eines bewegten gegenstands mit unbekanntem emissionsgrad
WO2014090994A3 (de) * 2012-12-14 2014-09-04 Sikora Ag Verfahren und vorrichtung zum berührungslosen bestimmen der temperatur eines bewegten gegenstands mit unbekanntem emissionsgrad
CN104969044A (zh) * 2012-12-14 2015-10-07 斯考拉股份公司 用于非接触地确定具有未知热辐射系数的运动物体的温度的方法和装置
JP2016501378A (ja) * 2012-12-14 2016-01-18 シコラ アーゲー 未知の放射率を有する移動物体の温度を非接触的に求めるための方法およびデバイス
US9804030B2 (en) 2012-12-14 2017-10-31 Sikora Ag Method and device for contactlessly determining the temperature of a moving object having an unknown degree of emission
CN104969044B (zh) * 2012-12-14 2018-07-20 斯考拉股份公司 用于非接触地确定具有未知热辐射系数的运动物体的温度的方法和装置
DE102022126635A1 (de) 2022-10-13 2024-04-18 Maag Germany Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Temperaturbestimmung eines Fördergutstroms sowie Granuliereinrichtung mit einer solchen berührungslosen Temperaturbestimmungsvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
IT939994B (it) 1973-02-10
NL7113888A (de) 1972-04-18
FR2109406A5 (de) 1972-05-26
JPS479196A (de) 1972-05-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2533906A1 (de) Beruehrungslose oberflaechen-pruefvorrichtung
DE3937559C2 (de)
DE2325457A1 (de) Vorrichtung zum messen des abstandes von flaechen aus transparentem material
DE3151800A1 (de) Anordnung zum ermitteln der lage eines werkstuecks
CH693549A5 (de) Opto-elektronischer Sensor.
DE2256736B2 (de) Meßanordnung zur automatischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit und Ebenheit einer Werkstückoberfläche
DE2227436A1 (de) Vorrichtung zur erfassung des porfiles eines werkstueckes
DE2810025A1 (de) Vorrichtung zur messung der neigung einer flaeche
DE2150963A1 (de) Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren der Temperatur eines Infrarotstrahlung emittierenden Gegenstandes
DE2164397A1 (de) Optische Spurvorrichtung
EP0266525A1 (de) Verfahren zum Generieren von Lagesignalen, die Orte repräsentieren, welche die etwa elliptische Querschnittsfläche eines Objektes begrenzen
DE2452826B2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Höhenlage von Punkten einer Oberfläche
DE3108344A1 (de) Laserinspektionssystem
DE2059106C3 (de) Verfahren und Hilfsvorrichtung zum selbsttätigen Messen von Strichbreiten oder Kantenabständen kleiner Objekte
DE3706271C2 (de)
DE2750109C2 (de) Vorrichtung zur kontaktlosen Messung linearer Wegstrecken, insbesondere des Durchmessers
DE3115887C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Infrarot-Strahlungsmessung der Temperatur eines Strahlers
DE3315576A1 (de) Einrichtung zur optischen abstandsmessung, insbesondere zur messung von profilen von werkstuecken oder schneidkanten von werkzeugen
DE1207103B (de) Vorrichtung zur Messung der Lage einer reflektierenden Flaeche
DE3312203C2 (de)
DE3701775C2 (de) Dickenmonitor
DE1548361B2 (de) Meßeinrichtung zur berührungslosen Bestimmung der Abmessungen von Körpern
DE3112812A1 (de) "fotoelektrische messeinrichtung fuer elektronische garnreiniger"
DE2546961C3 (de) Anzeigevorrichtung für Panorama-Anzeigegeräte
DE2128379C3 (de) Vorrichtung zur Feststellung von Unregelmäßigkeiten in sich bewegendem, bogenförmigem Material