DE3219609C2 - - Google Patents

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DE3219609C2
DE3219609C2 DE3219609A DE3219609A DE3219609C2 DE 3219609 C2 DE3219609 C2 DE 3219609C2 DE 3219609 A DE3219609 A DE 3219609A DE 3219609 A DE3219609 A DE 3219609A DE 3219609 C2 DE3219609 C2 DE 3219609C2
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DE3219609A
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Andre Louis Tenuta De Ipatinga Br Azevedo
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Usinas Siderurgicas De Minas Gerais Sa Belo Horizonte Minas Gerais Br
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Usinas Siderurgicas De Minas Gerais Sa Belo Horizonte Minas Gerais Br
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/295Electron or ion diffraction tubes

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS59163548A (ja) * 1983-03-09 1984-09-14 Central Res Inst Of Electric Power Ind 電子線回折像の自動分析方法
EP0122563B1 (de) * 1983-04-14 1988-03-30 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Abbildung von elektrischen Sperrschichten (pn-Übergängen) in Halbleitern durch Verarbeitung von korpuskularstrahlinduzierten Signalen im Raster-Korpuskularmikroskop

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2619598A (en) * 1949-06-29 1952-11-25 Westinghouse Electric Corp Electron diffraction detecting system
US2727153A (en) * 1949-06-29 1955-12-13 Westinghouse Electric Corp Electron diffraction camera
FR1006940A (fr) * 1949-12-15 1952-04-29 Csf Perfectionnements aux appareils analyseurs à diffraction electronique
FR1013282A (fr) * 1950-02-25 1952-07-25 Csf Perfectionnements aux analyseurs à diffraction électronique
JPS5562652A (en) * 1978-11-01 1980-05-12 Internatl Precision Inc Image photographing and its device in electron microscope

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FR2519145A1 (fr) 1983-07-01
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GB2117966B (en) 1986-01-08
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