DE3216734A1 - Laserelektronenstrahlroehre und verfahren zur thermovakuumbehandlung derselben - Google Patents
Laserelektronenstrahlroehre und verfahren zur thermovakuumbehandlung derselbenInfo
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Description
«■-«■$.—
Die Srfinduns baaiaht sich auf Halbleiterlaser,
insbesondere auf aina Lassrelektronenstrahlröhre und
ein Verfahren zur Tharoo vakuumbehandlung derselben.
Dia Erfindung kann in Systemen zur Frojektionsdarstelluns
von Informationen auf Schirmen für kollektive Nutzung, in Adressenwählsystemen, in Systemen der optischen
Rastermikroskope benutzt werden·
Die bekannten LaserelektronanstrahlrÖhren (SU-Urheberschain
Nr. 270 1CO, angemeldet am 20.02.67, Kl.
21 13/25; USA-PS Nr. 355^956, veröffentlicht am
26.01.71) enthalten in dem evakuierten Kolben eine Elektronenkanone, ein Slektronenbündelsteuersystem
und einen Laserschirm, der eine dünne pianparallele
^c Halbleitarplatta mit glatten Flächen, auf welchen dielektrische
Reflesionsüberzüge aufgetragen sind, die
als Resonatorspiegel dienen, darstellt.
Jadoch wird auf dar Oberfläche und in dem Volumen des dielektrischen Eaflosionsüberzuges auf der von dem
Elektronanbündal bombardierten Fläche der Halbleiterplatta
eina Ladung gespeichert, die zu einer Entfokus—
sierung des ilnregungaelektronenbündela und einer Zerstörung
des Dielektrilcumüberzuges infolge von Mikrodurchschläsen
führt.
Bekannt i3t auch eins Laserelektronenstrahlröhre
(US4-P8 Hr. 3757250, veröffentlicht am 04.03.73), die
einen evakuierten Kolben, in dem ein8 Elektronenkanone, ein Slektronenbündelsteuersystem und ein Schirm
untergebracht1 sind, enthält. Bar Schiria ist als planparallele
Halbleiterplattο ausgeführt, auf deren
Flächen Hof Issionsüb-araüge, die Rasonatorspiegel bilden,
aufgetragen sind. Ha Heflazionsüberzug seitens
der Elektronesikanono ist aina auf dia Fläche der Halbleiterplatte
aufgodaiapfto Silo er dünnschicht von 0,155 jurn
Dicke benutzt«,
Jedoch absorbiert bei einer darartigen Lasrer—
elektronenstrahlröhre dia Silberdünnschicht teilweise die auf diese fallc-ndo Laser 3tr ah lung (ca. 7% für
_ S —
frisch aufgedampfte Dürm3Cnicht)9 vvaa den Strahlungs—
wirkungsgrad herabsetzt· V/ährend des Betriebes einer
solchen Elektronenstrahlröhre findet unter der EFirkunÄ
des Elektronehbündels eine Wechselwirkung zwisehen
Silber und Halbleitermaterial statt, die von einer Senkung der StrahlunKseigenschaften des Halbleiters
und der fieflexionseigenschaften der Silberdünnschicht
begleitet wird. Dies führt zu einer nichtumkehrbaren Degradation des Schirms der Laserelektro-
nenstrahlröhre und zu einer schnellen Senkung des Strahlungswirkungsgrades, was die Lebensdauer der Laserelektronenstrahlröhre
auf einige Dutzende von Stun» den im Fernsehbetrieb beschränkt.
In der Optik finden neben den Metallüberzügen auch Metalldielektrikumreflexionsüberzüge Verwendung (Furman
. Sh.A. "Optische Dünnschichtüberzüge", Leningrad "Maschinostro^-enie", 1977)» die aus einer Metallschicht
und einer Dielektrikumschicht mit einer Dicke - ■ 9
worin 7t die Lichtwellenlänge im Vakuum , η·* die ßrechungszahl des Dielektrikums bedeuten, bestehen.
Jedoch weisen diese Überzüge einen ungenügend hohen fieflesionsf aktor auf und ihre Benutzung in Laserelektronenstrahlröhren
sicher nicht die nötige Wirksamkeit und Lebensdauer derselben·
Bekannt ist ein Verfahren zur Thermo ν akuuiiibehandlung
von Elektrovakuumgeräten, darunter Elektronen- . Strahlrohren, bei deren Evakuierung (Cherepnin Ii.V.
"Vakuumeigenschaftan von Materialien für Elsktronengeräte",
Moskau, "Sovetskoe Radio", 1966, S. Des^hmsn "Wissenschaftliche Grundlagen der Vakuumtechnik", Moskau,
"Mir11, 1964, S. 417-419), das die Ausheizung des
evakuierten JKolbena bei einer Temperatur, bei welcher
aus dem Material des Kolbens, des Schirms und der Elektronenkanone die sorbierten Gase und Wasserdämpfa
entfernt werden, vorsieht, so, zum Beispiel, wird die Thermovakuumbehandlung für Slektrovakuumglas, aus wel-
COPY
r-\ O 1 Γ* "~Ι 1 /
„r- J ζ. I O / O 4
chea in wecon'ulichsn dia Kolben dar Elektronenstrahlröhren
gefertigt sind, boi einer Temperatur von 3CO
bis 400°C durchgeführt, :
Bsi Loseralaktronenstrahlröhran jedoch, bei welchen
einer der Reflesionsüberzüge der Halbleiterplatte,
die den Resonatorspiegel bilden, eins direkt auf der
Flachs dieser Platte aufgetragene SiIberdünnschicht
darstellt, findet bei einer längeren Ausheizung bei Temperaturen von über 150°G eine Wechselwirkung zwisehen
Halbleitermaterial und Material des Reflesionsüberzuges (Silber) statt, wodurch der Reflexionsfaktor
dieses Überzuges vermindert und die Strahlunßrseigenschaften
des Halbleitermaterials verschlechtert werden, so daß infolgedessen der Strahlungsgrad des Laserschirms
herabgesetzt wird.
Bekannt ist ferner ein Verfahren zur Thermovakuumbehandiung
von Laserelektronenstrahlröhren, bei deren Evakuierung (Nicoll F.H. "An experimental pulsend
GdS laser cathoderay tube", RC/A. Review, 196Ö, V. 29»
Nr. 3, pp. 379-335)» das eine längere Ausheizung der evakuierten Röhre bei einer Temperatur von 1^00C vorsieht·
Bsi einer derartigan Thermovakuumbehandlung
wird der Strahlungswirkungsgrad des Laserschirms noch nicht vermindert, aber di© Entgasung das Kolbens des
Schirms und der Elektronenkanone ist ungenügend gut. Deswegen wird bei längerer Lagerung bzw. bei längerem
Betrieb der Elektronenstrahlröhre bei dieser das Vakuum verschlechtert, was zu einer Senkung der Zuverlässigkeit
und der Lebensdauer dar Elektronenkanone und somit der gesamten Elektronenstrahlröhre führt.
Dar Erfindung liegt die Aufgaba zugrunde, eine
Laserelektronenstrahlröhro zu schaffen und ein Verfahren
2ur The r mo ν akuujnb eh andlung derselben anzugeben,
bei der dia konstruktiv© Ausführung des Schirms und die V/ahl dar Behandlung3temperatur der Röhre es gestatten.
ain-3 7/echselwirkung zwischen dem Halbleitermaterial
des Schirms und dem Material des Resonatorspiegels su verhindern, dan. 2oflesionsfaktor des Spiegels,
COPY
den Strahlungswijrkungsgrad des Halbleitermaterial de3
Schirms zu erhöhen und wirksamer die Innenf lächsn der
Röhre zu entgasen, was zu einer Erhöhung des Strah- . lungswirkungsgrades der Laserelektronenstrahlröhre und j
deren Lebensdauer führt· . !
Die gestellte Aufgabe wird dadurch gelöst, daß bei der Laserelektronenrchrev die einen evakuierten Kolben
enthält, in dem. eine Elektronenkanone, ein Elektronenbündelsteuersystem
und ein Schirm, der als planparallele Halb le it er platte .nit glatten Flächen ausgeführt
ist, auf welchen einen Ee,sonatorspiegel bildende Reflexionsüberzüge
aufgetragen sind, wobei der kanonenseitige überzug eine Metalldünnschicht hat, untergebracht sind,
gemäß der Erfindung der elektronenkanonenseitige Über- .
zug eine Schicht aus optisch durchsichtigem Festdielek- ;
trikum zwischen der Metalldünnschicht und der Fläche der Halbleiterplatte enthält, deren Dicke durch folgende
Beziehung bestimmt wirds
Eier in bedeuten:
h - Dic^e der Schicht au3 optisch, durchsichtigem
Festdielektrikum;
j\ — Strahlungswellenlänge der Laserelektronenstrs":''
j\ — Strahlungswellenlänge der Laserelektronenstrs":''
röhre;
n^ - Brechungszahl des Dielektrikums; nm 1^0 ^m ~* reeler und imaginärer Teil cisi* ßrechungszahl des MetaJJ.s;
ρ - ganze positive Zahl oder 0.
n^ - Brechungszahl des Dielektrikums; nm 1^0 ^m ~* reeler und imaginärer Teil cisi* ßrechungszahl des MetaJJ.s;
ρ - ganze positive Zahl oder 0.
Zur Sicherung eines maximalen Strahlungswirkungsgrades duxon Erreichung des maximalen Reflexionsfaktors
für den Spiegel ist es zr/eckmäßig, die Dicke der DielektrJJcumschicht
aus folgender Beziehung zu wählen:
&
BAD
321673A
Hierin bedeuten:
h - Dick© der Schicht aus optisch durchsichtigem
Festdielektrikum;
j\ - Strahlungswellenlänge der Laserelektronenröhre;
n, - Brechungszahl des Dielektrikums; η und k - reeler und imaginärer Teil der Brechungszahl des Metalls;
ρ - ganze positive Zahl oder Null.
ρ - ganze positive Zahl oder Null.
10· Zum .Erreichen einer großen Lebensdauer des Schirms
und eines hohen fief lexionsf aktprs des Spiegels ist es
zweckmäßig, die Schicht des optisch durchsichtigen Festdielektrikums
aus SiO2 oder Al2Oo auszuführen.
Zur Erhöhung des Strahlungswirkungsgrades und der Lebensdauer der Laserelektronenstrahlröhre hat man deren
Thermovakuumbehandlung durch Ausheizen bei einer Temperatur von 155 bis 2.550G durchzuführen.
Nachstehend soll die Erfindung durch ein konkretes Ausführungsböispiel mit Bezugnahme auf die beiliegenden
Zeichnungen erläutert werden. Es zeigen:
Fig. 1 eine der Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Laserelektronenstrahlröhre im Längsschnitt;
Fig. 2 die Abhängigkeit des Strahlungswirknnftsgrades
der Laserelektronenstrahlröhre von dem fiefIexionsfaktor
des elektronenkanonenseitigen Spiegels, gemäß der Erfindung;
Fig. 3 die Abhängigkeit des Reflexionsfaktors des
elektronenkanonenseitigen Spiegels von der Dicke der Dielektrikumschicht;
. Fig. 4 die Abhängigkeit der optimalen Dicke der Schicht aus optisch durchsichtigem Festdielektrikum von
der Brechunftszahl des Dielektrikum^;
Fig. 5 die Abhängigkeit des Reflexionsfaktors des
elektronenkanonenseitigen Spiegels von der Brechungszahl
des Dielektrikums;
Fig. 6 - die Abhängigkeit der reduzierten Strahlungsleistung äßr Laserelektronenstrahlröhre von deren
Betriebszeit j
Fig. 7 die Abhängigkeit des reduziertes Strahlung awirkungsgrades der Laserelektronenstrahlröhre von
der Temperatur ihrer Thermovakuumbehandlung.
Die Laserelektronenstrahlröhre enthält einen evakuierten Kolben 1 (Fig. 1) und in diesem eine Elektronenkanone
2, ein Steuersystem 3 für das Elektronenbündel 4 und einen Laserschirm 5» der als■planparallele
Halbleiterplatte 6 mit glatten Flächen, auf welchen die Reflexionsüberzüge 7 und 8, die den Resonator spiegel
bilden, aufgetragen sind· Der Überzug 7 läßt teilweise eine in der Halbleiterplatte 6 bei der Bombardierung
mit dem Elektronenbündel 4· erzeugte Strahlung durch.
Der seitens der Elektronenkanone 2 liegende überzug 8 enthält eine Metallschicht 10f insbesondere eine SiI-berschicht
und eine Schicht 11 aus optisch durchsichtigem Festdielektrikum, deren Dicke durch folgende Be-
** Ziehung bestimmt wirds
Hierin bedeuten!
h - Dicke der Dielektrikumschicht 5 Λ - Strahlungslänge der Laserelektronenstrahlröhre;
nd ~ Brechungszahl des Dielektrikums;
nd ~ Brechungszahl des Dielektrikums;
nm und kffi - reeler und imaginärer Teil der Brechungszahl des Metalls;
ρ - ganze positive Zahl oder Null·
ρ - ganze positive Zahl oder Null·
Zum Erreichen eines maximalen Reflexionsfaktors
für den Überzug 8 ist di© Dicke der Dielektrikumschicht
11 aus folgender Beziehung gewählts
Zum Erreichen, ©inss maximalen Wirkungsgrad©© für
den Schirm 5 und einer maximalen lebensdauer für die Laserelektronenstrahlröhre
ist die Dielektrikumschicht 11 aus SiO2 oder Al2O3 ausgeführte
Pig. 2 zeigt die Abhängigkeit 12 des Strahlungswirkungsgrades
der Laserelektronenstrahlröhre mit einer au3 Ka&miumsulfid bestehenden Platts 6 für den Schirm
(Fig.D von dem Strshlunssfaktor H (Fig. 2) des seitens
der Elektronenkanone 2 angeordneten Überzuges 8 (Fig.
1) im Fernsehanregung3betrieb bei einer Elektronenenergie
von Ξ ss 60 keV, einem Bündelhalbmesser von RQ =
20 /um einer Stromdichte im Bündel 4 von j = 100 ,
^y T*l ^"
einer Dicke der Halbleiterplatte 6 von 1 = 20/um
einem Reflektorfaktor des teilweise durchlässigen Überzuges
7 von E1 ss O185 und einer Temperatur des Schirms
5 von t° = -1980C.
Fig. 3 zeigt Abhängigkeiten 13 und 14 des Reflexionsfaktors
R des aus der Halbleiterplatte 6 (Fig. 1) aus K-admi^-umsulfid auf den auf dieser Platte 6 auf getragenen^
eine SiIberdünnschicht 10 und eine Dielektrikumschicht
11 aus SiOp bzw. Al^O- enthaltenden Reflexionsüberzug fallenden Lichtes von der Dicke dieser Dielektrikumschicht
11·
Fig. 4 zeigt die Abhängigkeit der optimalen Dicke h der Dielektrikumschicht 11 (Fig. 1) von der Brechungszahl n, (Fig. 4) des Dielektrikums. Die Dünnschicht 10
(Fig. 1) des Überzuges 8 besteht aus Silber. Die Kurve 15 (Fig. 4) entspricht dem V7ert ρ = O und die Kurve 16
dem Wert ρ ss 1.
In Fig. 5 ist die Abhängigkeit des Reflexionsgrades
R des aus der aus Kadmiumsulfid bestehenden Halbleiterplatta
6 (Fig· 1) auf den auf die Oberfläche der Platte
6 auf getragenen und eine Silberdünnschicht 10 und eine Dielektrikumschicht 11 enthaltenden Reflesionsüberzug
fallenden Lichtes von der Brechungszahl n, (Fig. 5)
dieses Dielektrikums gezeigt.
In Fig. δ sind in relativen Einheiten Abhängigkeiten
p(t) der Strahlungsleistungen der Laser-
p(o;
elektronen3trahlröhren mit Schirmen 5 (Fig. 1)» deren
Platten 6 aus Cadmiumsulfid ausgeführt sind, und mit
Reflexionsüberzügen U9 die eine S über dünnschicht 10
> und eine Diele^trikuEiaehicht 11 au3 SiOP (is)und
pO-, (19) enthalten, von der Betriebszeit t, der .Bohren
im FernsehbQtrieb bei E = 60 keV? EQ = 20 yum.
J = 1CO —%— gezeigt.
cm-Pig
7 zeigt, in relativen Einheiten die Abhängigkeit 20 das StrahlungSTCirkungsgrades '*t der
Laserelektronenstrahlröhra mit einem Schirm 3 (Pig· 1)
aus Kadmiussulf id und einem ßefiesionsüberzug ö, der
eine SiO2-SChIChLt von 0r06 /umDicka und eine Silberschicht
von 0,2 yumDicke 'enthält, von der Temperatur
t C der Thermovakuumbehandlung.
Die Laserelektronenstrahlrchrs funktioniert folgenderweise.
Bei der Bombardierung das Laserschirms 5 (£ig· Ό
mit dem Elektronenbündel 4 entsteht in der Halbleiterplatte 6 eine Laserstrahlung 99 dia durch den teilwei se
durchlässigen überzug 7 austritt. Der Strahlungswirkungsgrad steigt entsprechend der Abhängigkeit 12
(Fig. 2) bei Vergrößerung des fieflesionsfaktors R
(Pig. 1) des seitens der Elektronenkanone 2 liegenden Überzug* 8 (Pig. 1) an.
Der Beflexionsüberzug 3 mit der Dielektrikumschicht
11 der Dicke h, die durch die Beziehung;
bestimmt wird»
worin
worin
h - Dicke 'der Diolektrikumschicht;
j\ — Strahlungewellenläiige dar Laserelektronenstrahlröhre;
n^ - Br a c hujag a zahl des Dielektrikums?
n^ - Br a c hujag a zahl des Dielektrikums?
H21 und k^ - reelen bzw. imaginären 'fall der Brechungszahl
des Metalls?
ρ - ganze positive Zahl oder O COPY
bedeuten, hat einen hohen Heflerionsfaktor S, dessen
Maximalwert bei einer Dicke erreicht wird, die aus der
32 1 673 A
Beziehung gewählt wird»
Der überzug 8 hat entsprechend Fig. 5 einen Reflexionsfaktor
R, der um so größer ist, je kleiner die
Brechungszahl n^ des Dielektrikums ist, deshalb erreicht
bei Benutzung von Oxyden SiO2 oder AIpO- als
Dielektrikumschicht 11, die eine niedrige Brechungs-—10
zahl aufweisen, der Reflexionsfaktor R (Pig. 2) eines
solchen Überzuges den Wert R =- 0,97, was die Möglichkeit bietet, den Strahlungswirkungsgrad um das 1,2 bis
1,5fache gegenüber einer Laserelektronenröhre, bei der
ein Silberüberzug benutzt wird, zu erhöhen· Darüber hinaus vermindert die zwischen der Halbleiterplatte 6
und der Metalldünnschicht 10 befindliche Dielektrikumschicht
11 von optimaler Dicke die Strahlungsbelastung dieser Schicht 10 und verhindert eine Wechselwirkung
und eine Wechseldiffusion zwischen Dünnschicht 10 und Halbleiterplatte 6. Dadurch bleiben die Reflexionseigenschaften
des Überzuges 8 und die Strahlungseigenschaften des Halbleitermaterials der Platte 6 praktisch
unverändert im Laufe einer langen Betriebszeit der Laserelektronenstrahlröhre, was zu einer 6 bis lOfachen
Vergrößerung ihrer Lebensdauer führt·
Die erfindungsgemaße Laserelektronenstrahlröhre wird einer Thermovakuumbehandlung unterworfen, bei
welcher man eine Ausheizung der evakuierten Röhre bei einer Temperatur von 155 bis 2550C vornimmt.
Dia Ausheizung in dem angegebenen Temperaturbereich 155 .·♦ 255°G gestattet es, die Wandungen des aus
Elektrovakuumglas gefertigten Kolbens 1 (Fig. 1) wirksam zu entgasen, insbesondere eine hohe Desorption der
Wasserdämpfe zu sichern und dadurch um das 2 bis 3faehe
das Vakuum in der Elektronenstrahlröhre zu erhöhen. Darüber hinaus führt die Ausheizung in diesem Temperaturbereich
zur Erhöhung des StrshlunKswirkungsgrades
(Kurve 20, Fig. 7) um das 1,1 bis 1,7fache wegen der
Erhöhung der Strahlungseigenschaften des
materials der Platt© 6. (Fig. 1), was durch di© Ausheilung der Erenkel-Defekt© und die wärmefördernde
Beinigung des Halbleiters· von Metalloid-Zwischesgitteiatomen
bedingt ist«,
Hierbei verhindert die Dielektrikumschiclit 11 des
Reflesionsüberzuges ö die y/echaelwirkung zwischen des.
Metalloidatomen und der Metaildünnschiciit 1Q8
die Eeflerionseigenschaften des Überzuges 8 bei
Ausheizung in dieses Temperaturbereich erhaltea bleiben.
Eine Ausweisung der Elektronenstrahlröhre bei höheren Temperaturen (über 255°C) führt dam5 daß di©
zur Oberfläche wandernden Metalloidatome durch die Bielektrikumachicht
11 diffundieren,, mit dem Silber is.
Wechselwirkung treten und den Eeflesionsfaktor R (Fig©
2) des Überzuges 8 (Fig. ö) vermindern· Darüber faiaaus
führt ein© Ausheizung bei Temperaturen von übe:? Q
zu einer Bildung von eigenen Defekten in der Halbleiterplatte 6, was die
schäften dea Halbleiters verschlechtert · Deshalb
schlechtert ein© Ausheizung der Elektronanstrahlröte?e
bei Temperaturen von über 255°C <ien Strahlungs^irku^gs
grad (Kurve 20, Fig. 7) ihres Schirms 5 (Fig. 1)e
Im folgenden soll das erfindungsgemäJSe Yerfshrea
zur Thermovakuumbehandlung der Laserölektronenstrahlröhre
durch Beispiele, die seine Realisierbarkeit bestätigen, erläutert werden.
Beispiel .1.
Beispiel .1.
Man evakuiert ein© Xaser©lektronenstrahiröte<§ mit
einer aus Kadmiumsulfos@leniö bestehenden Platt© 6
(Fig. 1) und einen eine Silberdünnscliic&t 10 τοη,
0,2 juüiDick© und ©ine SiO^-Scliiolit 11 voa O9055 janent
halt enden fieflesionsüberzug ß auf ©inen Druek
5·10 mm Q3 und heizt sie D@il einer Temperatur von
23Ο ± 5°C im Laufe voa 10 Stunden aus* vsonacla mam sie
bis auf 200C abkühlt und auf ©im hohes. Fakuum yoa
. 14 -
5.IO ° mm QS evakuiert. Bei der so behandelten Elektronenstrahlröhre
wird das Vakuum um das 3f ache gegenüber einer bei 15Q0C ausgeheizten Röhre verbessert,
während ihr Strahlungswirkungsgrad um das 1,2fache ansteigt·
Man evakuiert eine Laserelektronenstrahlröhre mit einer aus Kadmiumsulfid bestehenden Schirmplatte 6
(Fig. 1) und einem Reflexionsüberzug ö, der eine SiI-ber
dünn schicht 10 von 0,2 pnDicke und eine AIpO ο-
-Schicht 11 von 0,058 junDicke enthält, auf einen Druck
von 1.10~ mm QS und heizt sie dann bei einer Temperatur von iaO°C im Laufe von 15 Stunden aus, wonach
man sie bis auf 200C abkühlt und auf ein hohes Va-
—7
kuum von 1.10 ' evakuiert. Bei der auf diese Art behandelten
Elektronenstrahlröhre wird das Vakuum, um das 2f ache gegenüber einer bei 15O0C ausgeheizten RÖhrö verbessert,
während ihr Strahlungswirkungsgrad um das 1,1fache ansteigt.
Die erfindungsgemäße nach dem erfindungsgemäßen
Verfahren wärmebehandelte Laserelektronenstrahlröhre
hat einen hohen Wirkungsgrad und eine lange Lebensdauer, dadurch, daß die Dielektrikumschicht 11 von
optimaler Dicke eine Erhöhung des Reflexionsfaktors ' des elektronenkanonenseitigen Überzuges 8 sichert und
eine Wechselwirkung zwischen der Metalldünnschicht 10 und der Halbleiterplatte. 6 unter der Wirkung der Elektronenbombardierung
und der Ausheizung verhindert. Diese Röhre wird weitgehende Anwendung in Systemen zur
Froöektionsdarstellung von Informationen auf Schirmen
von kollektiver Nutzung, in Adressenwählsystemen und in Systemen der Rastermikroskopie finden.
Leerseite
Claims (5)
- LASEEELBEZDfiONENSTRAHIiRÖilBE UND VERFAHREN ZUH THERMOVAKUUMBMANDHJNG DERSELBEN PATENTANSPRUCH. B ι (τ) Laaerelektronenstrah!röhre mit einem evakuierten Kolben, in dem untergebracht sind- eine Elektronenkanone,- ein Elektronenbündelsteuersystem,_- ein Schirm, ausgeführt als planparallele HaIbleiterplatte mit glatten flächen, auf weichen angeordnet sind J- Reflexionsüberzüge, die Resonatorspiegel bilden,- einer von welchen, der seitens der Elektronenkanone liegt, eine Metalldünnschicht hat, d a durch gekennzeichnet, daß- der seitens der Elektronenkanone (2) liegende Überzug (8) enthält«- eine Schicht (11) aus optisch durchsichtigelt Festdielektrikum, die sich zwischen der iäetalldünnschicht (10) und der Fläche der Halbleiterplatte (6) befindet und deren Dicke durch folgende Beziehung bestimmt istiworin bedeuten-h - Dicke der Schicht (11) aus optisch durchsichtigem Pestdielektrikuni;Λ - Strahlungswellenlänge der Lasereiektronenstrahl röhre;nd- Brechungszahl des Dielektrikums;11W und kni " reeler und imaginärer Teil der Brechungszahl des Metalls;ρ - ganze positive Zahl oder Null.
- 2. Laserelektronenstrahlröhre nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Dicke der Schicht (11) aus optisch durchsichtigem Dielektrikum aus folgender Beziehung gewählt ist--worin bedeuten ·h - Dicke der Schicht (11) aus optisch durchsichtiges Festaielektrikum;Λ - Strahlungswellenlänge der Laserelektronenstrahlröhre;nd - Brechungszahl des Dielektrikums;13In unci ^m " reeler und imaginärer Teil der Brechungszahl des Metalls;ρ - ganze positive Zahl oder ITuIl.
- 3. Laserelektronenstrahlröhre nach Ansprüchen 1-2, dadurchgekennseichne t,dass die Schicht (11) des optisch durchsichtigen Dielektrikums aus SiO2 besteht.
- 4.Laserelektronenstrahlröhre nach Ansprüchen 1-2,d adurch gekennseiclane t.dass die Schicht (11)des optisch durchsichtigen Dielektrikums aus Al2Oo besteht.
- 5. Verfahren zur Thermovakuumbehandlung der Laser elektronenstrahl röhre nach Anspruch 1-4, das die Ausheizung der evakuierten Röhre beinhaltet, dadurch gekennzeichnet, daß man di© Ausheizung der Röhre bei einer Temperatur von 155 bis 2550C vornimmt.Copy
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823216734 DE3216734A1 (de) | 1982-05-05 | 1982-05-05 | Laserelektronenstrahlroehre und verfahren zur thermovakuumbehandlung derselben |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823216734 DE3216734A1 (de) | 1982-05-05 | 1982-05-05 | Laserelektronenstrahlroehre und verfahren zur thermovakuumbehandlung derselben |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3216734A1 true DE3216734A1 (de) | 1983-11-10 |
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ID=6162723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19823216734 Withdrawn DE3216734A1 (de) | 1982-05-05 | 1982-05-05 | Laserelektronenstrahlroehre und verfahren zur thermovakuumbehandlung derselben |
Country Status (1)
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---|---|
DE (1) | DE3216734A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3440173A1 (de) * | 1983-11-04 | 1985-05-23 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Projektions-kathodenstrahlroehre |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3558956A (en) * | 1967-02-20 | 1971-01-26 | Fizichesky Inst Im Lebedeva | Cathode-ray tube |
US3575627A (en) * | 1967-12-29 | 1971-04-20 | Rca Corp | Cathode-ray tube with screen comprising laser crystals |
US3657735A (en) * | 1970-03-20 | 1972-04-18 | Rca Corp | Electron beam excited laser |
US3864645A (en) * | 1970-06-01 | 1975-02-04 | Minnesota Mining & Mfg | Electron beam laser optical scanning device |
-
1982
- 1982-05-05 DE DE19823216734 patent/DE3216734A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3558956A (en) * | 1967-02-20 | 1971-01-26 | Fizichesky Inst Im Lebedeva | Cathode-ray tube |
US3575627A (en) * | 1967-12-29 | 1971-04-20 | Rca Corp | Cathode-ray tube with screen comprising laser crystals |
US3657735A (en) * | 1970-03-20 | 1972-04-18 | Rca Corp | Electron beam excited laser |
US3864645A (en) * | 1970-06-01 | 1975-02-04 | Minnesota Mining & Mfg | Electron beam laser optical scanning device |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
DE-Z: Funktechnik 1967, 22. Jg., Nr.16, S.576-580 * |
M. Born und E. Wolf "Principles of Optics", 4. Auflage (1970), Pergamon Press Oxford-London- Edinburgh-New York- Toronto-Sidney-Paris-Braun- schweig, S. 61-66, 627-633 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3440173A1 (de) * | 1983-11-04 | 1985-05-23 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Projektions-kathodenstrahlroehre |
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