DE3144849C2 - - Google Patents
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19813144849 DE3144849A1 (de) | 1981-11-11 | 1981-11-11 | Opto-elektronisches justierverfahren bei der herstellung von mehrlagenschaltungen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19813144849 DE3144849A1 (de) | 1981-11-11 | 1981-11-11 | Opto-elektronisches justierverfahren bei der herstellung von mehrlagenschaltungen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3144849A1 DE3144849A1 (de) | 1983-05-19 |
DE3144849C2 true DE3144849C2 (fr) | 1990-07-12 |
Family
ID=6146166
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813144849 Granted DE3144849A1 (de) | 1981-11-11 | 1981-11-11 | Opto-elektronisches justierverfahren bei der herstellung von mehrlagenschaltungen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3144849A1 (fr) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3544801A (en) * | 1969-05-01 | 1970-12-01 | Fairchild Camera Instr Co | Mask design for optical alignment systems |
US3844655A (en) * | 1973-07-27 | 1974-10-29 | Kasper Instruments | Method and means for forming an aligned mask that does not include alignment marks employed in aligning the mask |
DE2812976C2 (de) * | 1978-03-23 | 1980-03-06 | Erich Ing.(Grad.) 3003 Ronnenberg Luther | Verfahren zur Feststellung des Versatzes zwischen Leiterbahnen und Kontaktlöchern bei einer Leiterplatte sowie eine Leiterplatte zur Verwendung in diesem Verfahren |
DE2835353C2 (de) * | 1978-08-11 | 1982-05-13 | Luther & Maelzer Gmbh, 3050 Wunstorf | Verfahren zur Feststellung des Versatzes zwischen Kontaktlöchern und Leiterbahnen bei einer Leiterplatte sowie eine Leiterplatte zur Verwendung in diesem Verfahren |
US4353087A (en) * | 1979-03-12 | 1982-10-05 | The Perkin-Elmer Corporation | Automatic mask alignment |
-
1981
- 1981-11-11 DE DE19813144849 patent/DE3144849A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3144849A1 (de) | 1983-05-19 |
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