DE3135383C1

DE3135383C1 - Vorrichtung zur Gesichtsfeldprüfung

Info

Publication number: DE3135383C1
Application number: DE19813135383
Authority: DE
Inventors: Hanne-Lore Dipl.-Phys. 8000 München Wieczorek
Original assignee: Optische Werke G Rodenstock
Current assignee: Optische Werke G Rodenstock
Priority date: 1981-09-07
Filing date: 1981-09-07
Publication date: 1983-10-13
Also published as: CH660296A5

Abstract

Beschrieben wird ein Verfahren zur Gesichtsfeldprüfung, das in kürzestmöglicher Zeit die Ermittlung der Zahl der relativen und absoluten Defekte erlaubt. Hierzu wird in einem Vortest eine vorläufige Information über die Zahl der (relativen und absoluten) Defekte ermittelt, so daß für die eigentliche Gesichtsfeldprüfung immer die optimale Strategie gewählt werden kann, die ein zuverlässiges Ergebnis in kürzestmöglicher Zeit liefert. Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich insbesondere zur Verwendung in einem vollautomatischen Perimeter.

Description

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben. Durch die gemäß Anspruch 2 verwendetete Überschwelligkeit, d. h. daß die Intensität der Lichtpunkte etwa viermal so hoch ist wie die Intensität, mit der das Auge einen Lichtpunkt normalerweise gerade noch wahrnimmt, können kleine Schwankungen der Empfindlichkeit über das Gesichts- feld das Ergebnis nicht verfälschen. Die gemäß Anspruch3 gewählte »wesentlich erhöhte Intensität« erlaubt eine sichere Bestimmung der absoluten Defekte.
Die Steuereinheit steuert nicht nur das Aufleuchten und die Intensität der über das Gesichtsfeld verteilten Lichtpunkte, speichert die Antwort der zu untersuchenden Person in Zuordnung zum Ort und zur Intensität des jeweiligen Lichtpunkts, sondern entscheidet auch nach dem Siebtest, den sie mit einer bestimmten Zahl von speziell verteilten Lichtpunkten ausführt, welcher Arbeitsablauf für die eigentliche Gesichtsfeldprüfung am vorteilhaftesten ist, und führt dann selbsttätig die Gesichtsfeldprüfung gemäß diesem Arbeitsablauf durch.
Die Steuereinheit kann dabei auf beliebige Weise aufgebaut sein. Zweckmäßigerweise besteht die Steuereinheit aus einem Mikroprozessor mit den üblichen Peripherieeinheiten, wie Schreib/Lese-Speichern, beispielsweise zum Speichern der Antworten der untersuchten Person in Zuordnung zum Ort und zur Intensität des Lichtreizes, Festwertspeichern, beispielsweise zur Niederlegung des erfindungsgemäßen Arbeitsablaufs, Ein- und Ausgabeeinheiten, wie Ansteuereinheiten für die über das Gesichtsfeld verteilten Lichtpunkte, und einer Leuchtdiodenanzeigeeinheit zur Anzeige der im Gesichtsfeld ermittelten Defekte und deren Tiefe.
Die Vorrichtung zur Gesichtsfeldprüfung (Perimeter), deren Arbeitsablauf von der Steuereinheit gesteuert wird, kann dabei auf beliebige Weise ausgebildet sein.
Insbesondere kann als Einrichtung, in der die punktförmigen Lichtquellen über das Gesichtsfeld der untersuchten Person verteilt aufleuchten, eine Halbkugel verwendet werden, über deren Innenfläche Leuchtdioden verteilt sind, von denen jede einen Lichtpunkt bildet - Leerseite -

Claims

Patentansprüche: 1. Vorrichtung zur Gesichtsfeldprüfung mit einer Einrichtung, in der über das Gesichtsfeld der zu untersuchenden Person verteilte Lichtpunkte aufleuchten, deren Intensitätsverteilung das physiologische Empfindlichkeitsgefälle im Auge kompensiert, und mit einer Steuereinheit, die die Lichtpunkte mit verschiedenen Intensitäten, deren Absolutwerte der Empfindlichkeit des jeweiligen Auges angepaßt ist, aufleuchten läßt, wobei die zu untersuchende Person die Antwort »gesehen« bzw. »nicht gesehen« jeweils durch Auslösen eines Signals in die Steuereinheit eingibt,dadurch gekennzeichnet, daß die Steuereinheit in einem Siebtest mit einer ausgewählten, verhältnismäßig kleinen Zahl von über das Gesichtsfeld verteilten Lichtpunkten eine vorläufige Information über die Zahl der Defekte, d.h. der Lichtpunkte, die die zu untersuchende Person bei der Empfindlichkeit des Auges angepaßter Intensität nicht sieht, und über die Zahl der relativen Defekte ermittelt, d. h. der bei angepaßter Intensität nicht gesehenen Lichtpunkte, die die zu untersuchende Person bei wesentlich erhöhter Intensität sieht, und daß die Steuereinheit in einem Haupttest, (a) wenn die Defektquote im Siebtest bei angepaßter Intensität unter 20% liegt, oder wenn bei einer Defektquote über 20% die Mehrzahl der Defekte relativ ist, die noch nicht dargebotenen Lichtpunkte mit der Empfindlichkeit des Auges angepaßter Intensität aufleuchten läßt, und die hierbei ermittelten Defekte nochmals mit derselben Intensität und anschließend die erneut nicht gesehenen Lichtpunkte mit wesentlich erhöhter Intensität aufleuchten läßt, (b) wenn die zu untersuchende Person im Siebtest zwischen 20% und 50% der dargebotenen Lichtpunkte auch bei wesentlich erhöhter Intensität nicht sieht, die noch nicht dargebotenen Lichtpunkte mit der Empfindlichkeit des Auges angepaßter Intensität aufleuchten läßt, die hierbei ermittelten Defekte mit wesentlich erhöhter Intensität, und die bei wesentlich erhöhter Intensität gesehenen Defekte nochmals mit der Empfindlichkeit des Auges angepaßter Intensität aufleuchten läßt, (c) wenn die zu untersuchende Person im Siebtest mehr als 50% der dargebotenen Lichtpunkte auch bei wesentlich erhöhter Intensität nicht sieht, die noch nicht dargebotenen Lichtpunkte zunächst mit wesentlich erhöhter Intensität und die hierbei gesehenen Lichtpunkte nochmals mit der Empfindlichkeit des Auges angepaßter Intensität aufleuchten läßt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die der Empfindlichkeit des Auges angepaßte Intensität des Lichtpunktes viermal so groß wie die Intensität ist, bei der ein Lichtpunkt von dem jeweiligen Auge gerade noch wahrgenommen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die wesentlich erhöhte Intensität einhundert mal so groß wie die Intensität ist, bei der ein Lichtreiz von dem jeweiligen Auge gerade noch wahrgenommen wird.

Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Gesichtsfeldprüfung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.

Derartige Vorrichtungen dienen zur Ermittlung der Lage etwaiger relativer# und/oder absoluter Defekte im Gesichtsfeld. Unter einem »relativen Defekt« versteht man eine Stelle, an der die Empfindlichkeit auf Lichtreize (Lichtunterschiede zur Umgebungshelligkeit) gegenüber der normalen Empfindlichkeit des jeweiligen Auges vermindert ist, während man eine Stelle als »absoluten Defekt« bezeichnet, wenn an dieser Stelle auch ein sehr starker Lichtreiz nicht mehr wahrgenommen wird.

Hierzu weisen die bekannten Vorrichtungen eine Vielzahl von über das Gesichtsfeld der zu untersuchenden Person verteilten punktförmigen Lichtquellen auf.

Diese Lichtquellen können beispielsweise über die Innenfläche einer Halbkugelschale verteilt sein. Die zu untersuchende Person, die mit dem zu prüfenden Auge den Mittelpunkt der Halbkugel fixiert, antwortet jeweils, ob sie den Lichtpunkt gesehen hat, oder ob nicht Um nun zu untersuchen, ob ein nicht gesehener Lichtpunkt an einem absoluten oder an einem relativen Defekt im Gesichtsfeld liegt, ist es Stand der Technik (»Automatic Perimetry in Glaucoma Visual Field Screening«, Graefes Archiv 200 (1976), S.21-37), nicht gesehene Lichtpunkte zunächst mit verdoppelter Intensität, und falls die Lichtpunkte erneut nicht wahrgenommen werden, im Anschluß hieran mit nochmals erhöhter Intensität darzubieten.

Damit ist es bei der bekannten Vorrichtung zur Gesichtsfeldprüfung erforderlich, die einzelnen Lichtpunkte nacheinander zum Teil mehrmals mit unterschiedlicher Intensität abzufragen. Da die Zahl der über das gesamte Gesichtsfeld verteilten Lichtpunkte zur vollständigen Gesichtsfeldprüfung in der Größenordnung von etwa 200 sein muß, nimmt eine Gesichtsfeld prüfung sehr viel Zeit, und zwar bis zu einer Stunde, in Anspruch. Es ist selbstverständlich, daß die zu untersuchende Person während einer so langen Zeit ermüdet, so daß die Zuverlässigkeit der mit bekannten Vorrichtungen erhaltenen Ergebnisse nicht sehr groß ist.

Es ist Aufgabe der Erfindung, eine Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 derart weiterzubilden, daß die Zahl der relativen und absoluten Defekte im Gesichtsfeld (Defekttiefe- und -quote) mit hoher Genauigkeit in relativ kurzer Zeit ermittelt werden kann.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst. Durch den Siebtest kann schnell entschieden werden, mit welcher Defektquote in etwa zu rechnen ist, so daß immer der dem untersuchten Auge optimal angepaßte Arbeitsablauf der erfindungsgemäßen Vorrichtung gewählt werden kann. Damit nimmt die Gesichtsfeldprüfung bei Verwendung der erfindungsgemäßen Vorrichtung immer die kürzest mögliche Zeit in Anspruch, so daß die zu untersuchende Person kaum ermüdet und die Zuverlässigkeit des Ergebnisses der Gesichtsfeldprüfung hoch ist.