DE3134627A1

DE3134627A1 - Verfahren zum messen von leistungsdaten und vorrichtung dafuer

Info

Publication number: DE3134627A1
Application number: DE19813134627
Authority: DE
Inventors: Heinz 3101 Nienhof Daugart
Original assignee: Rheinmetall GmbH
Current assignee: Rheinmetall Industrie AG
Priority date: 1981-09-02
Filing date: 1981-09-02
Publication date: 1983-03-10
Also published as: DE3134627C2

Description

Verfahren zum Messen von Leistungsdaten
und Vorrichtung dafür Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum essen yen Lei stungsdaten mit den im Oberbegriff des Anspruchs 1 genannten Merkmalen und Vorrichtung zur Durchführung des Ver fahrens.
Für derartige Verfahren und Vorrichtungen war es bisher erforderlich, für jede zu vermessende Anlage einen eigenen Meßstand einzurichten, der alle für das Messen erforderlichen Geräte und den Rechner mit Bildschirmvorrichtung und ggf.
Schnelldrucker aufwies. Bekannte Anlagen sind in ihrer Leistungsfähigkeit begrenzt und außerdem deshalb aufwendige weil für jede Meßstelle sämtliche Geräte vorhanden sein müssen.
Bekannte Kalibrierverfahren beschränken sich auf die Überprüfung von Rinzelkomponent und einzelnen Platinen und die Justierung von Wandlersystemen. Fehler und Nichtlinearitäten der Messperipherie, wie Relaismatri.xa Interfaces und Datenübert:ra.gungsstrecke werden dabei nicht erfaßt.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein Verfahren und Vorrichtung vorzuschlagen, bei denen eine erhebliche Leistungssteigerung, also neben einer Steigerung der Meßgenauigkeit eine wesentliche Beschleunigung der Messungen bei vermindertem Aufwand an Geräten möglich wird. Außerdem sollen außer einer reinen Datenvermessung weitere Aufgaben wie Schnittstellenüberprüfung, ggf. stufenweise Inbetriebnahme der Arbeitsgeräte und optische Justage mit dem neuen Verfahren durchführbar sein. Die bisher beim Kalibrieren nicht erfaßten Fehlerquellen sollen bei dem neuen Verfahren in die Messung einbezogen und berücksichtigt werden. Die zur Lösung der gestellten Aufgabe wesentlichen Merkmale der Erfindung sind für das Verfahren im Patentanspruch 1, für die Vorrichtung im Patentanspruch 6 genannt. Die Unteransprüche nennen Ausführungsarten der Erfindung. Durch die Erfindung können große Datenmengen bei großer Geschwindigkeit verarbeitet werden.
Das wesentliche neue Grundprinzip der Erfindung ist somit darin zu sehen, daß über einen Prozeßrechner eine Autokalibrierstation gesteuert wird, welche eine Referenzspannung abgibt. Diese Spannung wird ferngeleitet einem an jedem Meßplatz angeordneten Meßgerät zugeführt, dort wird durch Rechneranweisung an das Meßgerät eine selbsttätige Kalibrierung durchgeführt, und zwar als mathematische Korrektur der dort befindlichen A/D-Wandler. Es wird also dadurch der Vorteil erreicht, daß das Kalibrieren einzelner Meßgeräte in Zeitintervallen überflüssig wird, da hier ständig alle Geräte kalibriert werden. Es muß nur noch ein einziger, hochgenauer Digitalspannungsmesser im Autokalibrator manuell kalibriert werden. Durch das selbsttätige rechnergesteuerte Abgleichen des Meßgerätes wird eine regelmäßige Überprüfung der Meßgeräte genauigkeit sichergestellt.
Das Meßgerät (INBIF = Inbetriebnahme Interface) ist ein modular aufgebautes Gerät, das aus Baugruppen der Mikro- prozessor-Technologie aufgebaut ist. Es enthält alle Meß-und Befehlselemente, die für den Prüfablatif der Inbetriebnahme einer Anlage, z. B. des Panzers, benötigt werden.
Der Prozeßrechner ermöglicht es, mehrere Meßstände bzw.
Inbetriebnahmestände nahezu gleichzeitig zu steuern und somit an allen Ständen die Zeisungsdatenvermessung durchzuführen. Hierbei werden den einzelnen selbsttatig arbeitenden Meßgeräten (INBIF) von dem Prozeßrechner eine Reihe von Befehlen digital zugeleitet. Über den vom Pro zeßrechner gesteuerten Scanner ist es möglich, jede beliebige Spannung dem Meßgerät während des Betriebes zuzuführen.
Der Scanner wird über den Autokalibrator mit einem Analogsignal versorgt. Die Eichspannung am Meßgerät wird durch Ausmassen der Analogdatenstrecke über ein hochauflösendes Digitalspannungsmesser und mit Ermittlung der Ist-Werte am Autokalibrator ermittelt.
Die Messung eines Leistungsdatums erfolgt nach den in Anspruch 5 genannten Verfahrensschritten.
Bei-dem neuen Verfahren sind Totalausfälle des Prozeßrechners nicht zu erwarten, da er mit einem seinem Programm ständig unterlagerten sensitiven Prüfprogramm versehen ist> wodurch Fehler im Frühstadium erkannt werden können und damit vorbeugende Maßnahmen zur Beseitigung eingeleitet werden können. Als zusätzliche Sicherung gegen Totalausfall des Prozeßrechners können jedoch die Meßgeräte mit integrierten Massenspeichern ausgerüstet sein, deren Speicherelemente, Floppy-Discs oder Magnetenblasenspeicher (bubbles), aus einem seperaten Rechnersystem mit den erforderlichen Daten geladen werden können.
Durch den Einsatz einer Lichtleitertelemetrie, also dadurch, daß der Prozeßrechner über je eine Lichtleiterdatenstrecke mit jedem Meßgerät (INBIF) verbunden ist, reduzieren sich die Datenübertragungsfehler, z. B. aufgrund von Kontaktausfällen oder Übersprechen oder elektromagnetischer Störungen, da umfangreiche Kabelbäume überflüssig werden Dadurch, daß das INBIF seine den Meßvorgang auslösenden Befehle durch einfache, aneinandergereihte Sprachelemente (Software-Modulen) erhält, ist an ihm eine weitgehende Software-Steuerung möglich. Dadurch bleibt das System leicht modifizierbar und servicefreundlich. Durch ein eingesetztes Multiprozessorsystem können áuch große Datenmengen bei großer Geschwindigkeit mühelos verarbeitet werden. Durch ein Bussystem im Meßgerät wird eine einfache Austauschbarkeit einzelner Platinen im Meßgerät-und die Erweiterung des Meßgerätes möglich. Durch ein zusätzliches Handterminal ist eine einfache Bedienung des Meßgerätes sichergestellt.
Bei den verwendeten Geräten werden einheitliche Schnittstellen verwendet. Außerdem werden indirekte Steckkontakte und Platinen im Euroformat verwendet. Dadurch wird im ganzen Meßsystem eine geringe Störanfälligkeit erreicht, und es besteht die Möglichkeit eines Einsatzes ohne zeit-und kostenintensive Modifikation an anderen Produktions-oder Meßanlagen.
Die Zeichnung zeigt eine Ausführungsform der neuen Anlage als Panzertestsystem.
In Fig, 1 als Schema des Aufbaus der Geräte, in Fig. 2 ein Blockschaltbild des Meßgerätes (INBIF), in Fig. 3 schematisch den Aufbau des Autokalibrators, in Fig. 4 als Blockschaltbild des Scanner, in Fig. 4a Teilelemente des Meßgerätes (INBIF) mit Zuleitungen.
Die Fig. 1 zeigt in einer unteren Reihe fünf Meßstände für Panzer 11 und rechts darüber zwei optische Stände für weltere Panzer 11 zur Leistungsdatenvermessung. Der Prozeßrechner 1 ist einerseits mit einem Rontrollterminal 8, einem Bedienungsterminal 9 und einem Schnelldrucker 10 verbunden und andererseits über den Autokalibrator 2 und den Scanner 3 über die Analogdatenstrecke 5 mit jedem der Meßgeräte 4 (INBIF). Weiterhin ist er unmittelbar über die Datenstrecke 6 mit den gleichen Meßgeräten 4 (INBIF) verbunden. Jedes Meßgerät ß ist mit einem Handterminal 12 verbunden und mit den Arbeitsgeräten in dem zugehörigen Panzer 11. Der Prozeßrechner ist über eine weitere Leitung 15 unmittelbar mit dem Scanner 3 verbunden. Sämtliche Panzer 11 sind mit Schieifringadaptoren 14 und die beiden oberen Panzer außerdem mit optischen Justierwänden 13 ausgerüstet. Schleifringadaptoren und Justierwände sind über Leitungen 16 ebenfalls mit dem Prozeßrechner verbunden. Die Leitungen 5 und 6 sind über Kabelgalgen 17 zu den Meßgeräten 4 geführt. Eine im Anspruch 5 prazisierte Messung eines Leistungsdatums wird mit der Anlage folgendermaßen durchgeführt: 1. Ein im Meßgerät 4 befindlicher Analogdigital--Wandler wird über den Prozeßrechner 1 auf Gleich- oder Wechseispannung vorbereitet.
2. In dem Autokalibrator 2 wird über den Prozeßrechner 1 eine Spannung in der Größenordnung der am Panzerturm zu messenden Spannung eingestellt.
3. Durch Umschaltung des Scanner 3 wird dieser Wert in einem hochgenauen Digitalspannungsmesser 7 kontrolliert und an den Prozeßrechner 1 übermittelt.
4. Der Prozeßrechner l gibt den Befehl an das Meßgerät 4 die von dem Autokalibrator 3 gelieferte Spannung zu messen.
5. Der Spannungswert des hochgenauen Digitalspannungsmessers wird über den Prozeßrechner 1 dem Meßgerät 4 mitgeteilt.
6. Das Meßgerät 4 führt eine Fehlerrechnung über den Digitalspannungsmesserwert im Vergleich zum im Analogdigitalwandler gespeicherten Wert durch und setzt korrigierte Werte des Analogdigitalwandlers in einen Fehlerspeicher i-n- köder außerhalb des Meßgerätes 4.
7. Es erfolgt die Durchführung der Messung des Nutzsignals im Panzerturm zur Leistungsdatumsvermessung.
8. Dem über den Analogdigitalwandler gemessenen Wert wird der vorher berechnete Fehler aufgeschlagen und dem Prozeßrechner 1 als korrigierter Wert übermittelt.
Bei einer bevorzugten Ausffihrungsform nach der Erfindung sind die einzelnen Geräte wie folgt aufgebaut: 1. Prozeßrechner Der zentrale Prozeßrechner ist dafür ausgelegt, die Programmorganisation und Übergabe von Parametern, wie z. B. Soll-Werte, Toleranzen, Looplange5 Abrufkriterien usw. zu übernehmen und diese als Software-Verben an das INBIF zu übertragen, in dem sie gespeichert werden. Er ist weiterhin dafür ausgelegt, die Meßergebnisse, die vom INBIF nach Abarbeitung der Prüfprogramme übertragen werden5 auszuwerten.
2. INBIF (Fig 2 und Fig. 4a) Im INBIF sind erfindungsgemäß nachstehende Geräte vereinigt: a) Geräte zum Messen von Signalen der Leistungsdaten der zu messenden Anlage über Analog/Digital- bzw.
Resolver/Digital-Wandler.
br Steuergeräte zur Positionierung von Baugrllppen oder Geräten der zu messenden Anlage im Falle der Vermessung eines Panzets, z. B. von Turm/lfaffe, Hauptzielfernrohr (EMES) oder Periskop mit mindestens zwei Steuerausgängen zum Ansteuern von zwei Achsen der Baugruppen oder Geräte.
c) Massenspeicher (Floppy-Discs) zur Ablage der gesamten Prüf-Software aus z. B. 50 bis 60 Software-Modulen, sowie zur Speicherung der Kalibrierkorrekturfaktoren.
d) Drei Mikroprozessoren, von denen der erste als Master µ P die Organisation und Verwaltung des Programmablaufs, wie Datentransfer zwischen INBIF und Prozeßrechner, Speicherorganisation, Programmzuweisung, Synchronisation, Abspeichern von Meßwerten auf Speicherelemente, sowie Durchschalten der Meßpfade übernimmt, während der zweite (µP 1) alle Rechenoperationen, die im Rahmen der Meßdatenerfassung anfallen, wie Korrektur der Meßwerte durch die Kalibrierfaktoren, Wahl des Meßbereiches usw., übernimmt. Im Bedarfsfalle übernimmt er weiterhin das Durchschalten der Meßpfade (Matrix), Ausschalten des entsprechenden Wandlers, Demodulators, Filters usw. Der dritte Mikroprozessor (µP 2) übernimmt die Regelungsaufgaben bei der Positionierung des Systems der zu vermessenden Anlage. Durch diese Dreiteilung wird der Zugriff aller drei Mikroprozessoren auf einen gemeinsam verwalteten Arbeitsspeicherbereich über eine gemeinsame, einheitliche Schnittstelle (einheitlicher Mikroprozessorbus) ermöglicht. Außerdem wird dadurch die gleichzeitige Abarbeitung von Programmpaketen aller drei Mikroprozessoren möglich und es ergibt sich ein flexibler und variabler Aufbau der er der Hardware aufgrund eines einzigen gemeinsamen Bussystems. Dadurch wird die wesentliche Beschleunigung des Meßvorgangs im Sinne eines multi-processingsystems erreicht.
Für die zu messenden Signalarten AC, DC, ist das INBIF erfindungsgemäß wie folgt ausgerüstet: a) Für AC-Spannungen 0-30 V mit A/D-Wandler mit vorgeschaltetem Eingangsspannungsteiler.
b) für DC-Spannungen im Bereich von 0 - 30 V mit Eingangsspannungsteiler mit nachgeschaltetem A/D-Wandler und für Statusinformationen (30 V ja/nein) einer Relaiseingangsstufe.
c) Für AC-Spannungen 30 V/hOQ Hz ein 400 Hz-Demodulator mit umsschaltbarem Eingangsspannungstereich, einem nachfolgenden Filter und A/D-Wandler.
d) Für zweiphasige Resolver-5ignale 30 V/400 Hz mit einem hochauflösenden Resolver/Digital-Wandler.
3. Autokalibrator (Fig. 3) Der Autokalibrator 2 weist eine Eichnormalreferenzquelle 18 auf, sowie den hochgenauen Digitaispannungsmesser 7.
Weiterhin ist er mit einem Frequenzzähler 19 und einem Signalgenerator 20 ausgerüstet. Mit diesen Geräten wird die Frequenz der Wechselspannungssignaie gemessen bzw.
eingestellt. Mit 21 ist die Schnittstelle zwischen Prozeßrechner 1 und Autokalibrator 2 bezeichnet und mit 22 die Schnittstelle zwischen Prozeßrechner 1 und dem Scanner 3. Durch den Autokalibrator werden erfindungsgemäß die Wandlersysteme des INBIF, nämlich Analog/Digital-Wandler 12 - 14 bit Auflösung und Digital/Analog-Wandler 14 bit Auflösung kalibriert. Das erfolgt nach folgenden Schritten: a) Ermittelung des Fehlers der Signalübertragungsstrecke vom Autokalibrator als Referenzquelle zum INBIF. Für AC- und DC-Signale werden ein oder mehrere Korrekturfaktoren in Abhängigkeit vom eingestellten Signalpegel ermittelt. Die Berechnung dieser Korrekturwerte und nachfolgende Justierung der Referenzquelle erfolgt durch den Prozeßrechner.
b) Festlegung der Nullpunkt-Abweichung der im INBIF vorhandenen A/D- und DlA-Wandler dazu wird eine mit Korrekturwerten aus der Ermittlung des Fehlers der Signalübertragungsstreclie vom Autokalibrator zum INBIF beaufschlagte Null-Volt-Referenz auf den Eingang des Wandlers gegeben. Die beim Auslesen des Wandlers evtl. festgestellte Differenz zum Soll-Wert-Null-Volt wird dann als konstanter Korrekturwert bei späteren Messungen im INBIF ber,icksichtigt.
c) Überprüfung der Linearität der Wandler. Dazu wird die Referenz der Spannungsquelle zyklisch um den Betrag eines bit-Sprunges über den gesamten Meßbereich des Wandlers erhöht. Dadurch können beim Auslesen des Wandlers Linearitätsfehler festgestellt werden und Fehler durch Austausch des Wandlers oder anderer Komponenten behoben werden.
d) Die Kalibration der D/A-Wandler wird dadurch realisiert, daß man fest definierte bit-Kombinationen auf die Eingänge der Wandler gibt und die daraus resultierende Ausgangsspannung über die bereits überprüften A/D-Wandler mißt.
Abweichungen vom Soll-Wert werden bei der Angabe von Spannungswerten durch Korrekturfaktoren korrigiert.
Alle festgestellten Korrekturwerte werden sowohl im Prozeßrechner als auch im Speicher des INBIF abgespeichert.
4. Scanner (Fig. 4) Der Scanner 3 dient als Schaltmatrix zum Durchschalten der Meß- und Steuerpfade im Rahmen der Autokalibration.
Die AC- und DC-Eichnormalea d. h. Referenzen, gelangen von der Eichnormal.-Referenzquelle 18 des Autokalibrators auf die Steuerebene des Scanners 3 und werden hier nach Bedarf wahlweise auf eins der sieben INBIF oder direkt auf den hochgenauen Digital-Spannungsmesser 7 im Autokalibrator geschaltet.
Die Rückleitungen von den INBIF-Geräten sind im Scanner über eine Relais-Matrix zu einer Meßebene zusammengefaßt, die wiederum auf den Digital-Spannungstnesser im Autokalibrator geschaltet ist. Der Scanner ist aus einer Relais-Matrix für Meß- und Steuerebenen mit je mindestens acht Schaltphaden ausgerüstet, Die Steuerung der Matrix erfolgt über eine IEC-Schnittsi:elle des Prozeßrechners -mit einer entsprechenden Steuerkarte. Das Blocksohalt bild nach Fig. 4 zeigt den grundsätzlichen Aufbau des Scanners. Vor jedem Meßvorgang erfolgen am Scanner folgende Kalibrierschritte: a) Ermittlung des Leitungsfehlers der Signalleitung von dem Autokalibrator als Eichquelle zum Scanner. Dazu werden durch Aufschalten je eines Relais in der Meß-und Steuerebene Hin- und Rückleitung von/zum Autokalibrator untereinander verbunden. Die Differenz zwischen direkt gemessenem Eichsignal und dem Signal auf der Rückleitung vom Scanner ergibt einen Leitungsfehler.
b) Ermittlung des Leitungsfehlers vom Scanner zum INBIF.
Durch unterschiedliche Leitungslängen und andere Störeinflüsse ist ein unterschiedlicher Leitungsfehler zwischen Scanner und jedem der einzelnen INBIF zu erwarten. Zur Eleminierung dieser Fehler wird der Leitungsfehler jeder INBIF-Zuleitung dadurch ermittelt, daß man den Spannungsabfall des Eichsignals über Hin-und Rückleitung bis zum INBIF mißt. Dazu wird das entsprechende Relais der Meß- und Steuer ebene im Scanner durchgeschaltet.
Bezugszeichenliste 1 Prozeßrechner 2 Autokalibrator 3 Scanner 4 Meßgerät (INBIF) S Kalibrierleitung 5 Lichtleiterdatenstrecke 7 Digitalspannungsmesser 8 Kontrollterminal 9 Bedienungsterminal 10 Schnelidrucker 11 Panzer 12 Handterminal 13 optische Justierwand 14 Schleifringadapter 15 Leitung 16 Leitung 17 Kabelgalgen 18 Eichnormal-Referenzquelle 19 Frequenzzähler 20 Signalgenerator 21 Schnittstelle 22 Schnittstelle

Claims

P a t e n t a n 5 p r ii c h e 1. Verfahren zum Messen von Leistungsdaten, z. B. Spannungen an Arbeitsgeräten in einer mit diesen Geräten ausgerüsteten Anlage, z. B. einem Panzer, bei dem die am Gerät gemessenen Daten einem Rechner zugeleitet werden, in dem sie gespeichert werden, und von dem sie auf einen Bildschirm oder einen Schnelldrucker abgerufen werden können, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß ein einziger Prozeßrechner (1) für eine Mehrzahl von Meßständen über ein einziges Gerät zum se-lbsttätigen rechnergesteuerten Abgleichen, einen Autokalibrator (2), je ein jedem Meßstand zugeordnetes intelligentes Meßgerät , ein INBIF (4), bestehend aus h/D-Wandlern, Mikroprozessoren und Speichern, als Fehlerrechnungselement steuert.
2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t, daß die für die Steuerung durch den Prozeßrechner (1) erforderliche Umschaltung der einzelnen Meßgeräte (4) zur Parallelvermessung über einen zwischen Autokalibrator (2) und den Meßgeräten (4) eingesetzten, als Wechselschalter wirkenden, Analogsignalverteiler, einen Scanner (3), über eine vorzugsweise als Analogdatenstrecke ausgebildete Kalibrierleitung (5) erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, d a d u r c h g ek e n n z e i c h n e t, daß ein digitales Ansteuern jedes der Meßgeräte (4) über je eine zwischen Prozeßrechner (1) und jedem Maßgerät (4) angeordnete Lichtleiterdatenstrecke (6), z. B. ein Glasfaserkabel, erfolgt.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche I bis 3, d a -d u r c h g e k e n n z e'i c h n e t, daß zum Aus -lösen der Meßvorgänge für unterschiedliche Meßvorgänge, wie Leistungsdatenvermessung, Schnittstellenüberprüfung, ggf. stufenweise Inbetriebnahme der Arbeitsgeräte, sowie optische Justage, eine aus aneinandergereihten einfachen Sprachelementen (Software-Modulen) bestehende Meßgerätesprache verwendet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, d a --d u F c h g e k e n n z e i c h n e t, daß ein Meßvorgang nach den Verfahrensschritten erfolgt: a) Einstellen einer Spannung in einer Größenordnung der zu messenden Spannung durch den Prozeßrechner (1) an dem Autokalibrator (2); b) Messung der Spannung an dem Autokalibrator (2) über den nachgeschalteten Scanner (3) in einem Digitalspannungsmesser (7); c) Änderung der Spannung am Atokalibrator (2) um den unter b) gemessenen Fehler durch den Prozeßrechner (1); d) Umschalten des Scanner (3) und Messung der Spannung zwischen Autokalibrator (2) und Meßgerät (4), die über Leitungen miteinander verbunden sind, im gleichen Digitalspannungsmesser (7); e> Änderung der Spannung im Autokalibrator (2) um den unter d) gemessenen Fehler durch den Prozeßrechner (1) f> Einstellen eines Soll-Wertes durch den Prozeßrechner (lY an einem A/D-Wandler des Meßgerätes (4); g) Messen der Spannung im A/D-Wandler des Meßgerätes (4) als Digitalwert; h) Ausrechnen des Fehlers und Speicherung der sich aus g) ergebenden Differenz als Soll-Wert in Prozenten in einen Speicher eines Mikrorechners des Meßgerätes (4); i) Schalten des A/D-Wandlers des Meßgerätes (4)~durch einen Mikrorechner des Meßgerätes (4) auf eine ein Meßsignal führende Vielfachleitung, z. B. eine Vierfachleitung zum Arbeitsgerät in der Anlage, z. B. dem Panzer (11); j) Messen des Systemwertes des Arbeitsgerätes im A/D-Wandler des Meßgerätes (4); k) Korrektur (Aufschlag oder Abschlag) und ggf. Anzeige der unter h) gemessenen Abweichung auf den unter j) gemessenen Wert, ggf. Anzeige oder Abspeicherung; 1) Wiederholung der Schritte a bis k an jedem nächsten, dem jeweiligen Meßgerät (4) zugeordneten Arbeitsgerät und danach an jedem Arbeitsgerät der weiteren Meßgeräte (4).
6. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 5, g e k e n n z e i c h n e t d u r c h einen Prozeßrechner (1) mit einem seinem Programm ständig unterlagerten Prüfprogramm, der einerseits über einen Autokalibrator (2) und einen Scanner (3) mittels einer talibrierleitung (5) und andererseits über eine Lichtleiterdatenstrecke (6) unmittelbar mit einer Mehrzahl von jedem Meßplatz zugeordneten Meßgeräten (4)j bestehend aus A/D-Wandler, Mikroprozessoren und Speichern, verbunden ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6j d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t, daß jedes Meßgerät (4) einen Massespeicher aufweist, der über ein zusätzliches Rechnersystem mit den erforderlichen Daten aufladbar ist.