DE3131296A1 - Verfahren und vorrichtung zum ausschalten eines transistors - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum ausschalten eines transistorsInfo
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- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/082—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit
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Description
Zugelassen bei den deutschen und europäischen Patentbehörden Rüggenstraße 17 · D-8000 München 19
■■■■>-
R 1721-D 7. August 1981
Reliance Electric Company, 220 Park Avenue, Florham Park, N.J. 07 932 / USA
Verfahren und Vorrichtung zum Ausschalten eines Transistors
PATENTANWÄLTE ■ EUROPEAN PATENT ATTORNEYS
Zugelassen bol den deutschon und europäischen Patenlbshörden
Rüggenstraße 17 · D-8000 München 19
R 1721-D 7. August 1981
Reliance Electric Company,
220 Park Avenue, Florham Park, N.J. 07932 / USA
Verfahren und Vorrichtung
zum Ausschalten eines Transistors
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Ausschalten eines Transistors, also allgemein eine
Schutzschaltung für einen Transistor und insbesondere
eine Schaltungsanordnung zum sicheren Ausschalten eines
Transistors aus einem Überlastzustand.
In zahlreichen Anwendungen werden Schalttransistoren betrieben, um Leistung in eine reaktive Last, wie beispielsweise
in induktive oder kapazitive Lasten, einzuspeisen bzw. zu dieser einen Strom zu übertragen. Beim Einschalten
und Ausschalten zum Anlegen und Entfernen von Leistung an bzw. von solchen reaktiven Lasten in stufenartiger
Weise werden flüchtige Schaltvorgänge (im folgenden auch "Schaltstösse" genannt) durch diese Lasten entwickelt,
die eine Spitzenleistungsaufnahme im zugeordneten Schalttransistor oder in Transistoren während solcher
Schaltzeiten verursacht. Wenn ein Transistor eingeschaltet
wird und während der Zeitdauer, in der der Transistor
eingeschaltet oder in einem Leitungszustand gehalten wird, ist dessen Leistungsverarbeitungsvermögen durch die Durchlassvorspannungs-Sicherheits-Betriebsbereich-(FBSOA-)An
gabe für den Transistor begrenzt. Bipolare Transistoren werden insbesondere ausgeschaltet, indem eine Sperrvorspannung
an die Basiselektrode des Transistors im wesentlichen gleichzeitig mit dem Entfernen des Ansteuersignals
von der Basiselektrode gelegt wird.
Das Leistungsverarbeitungsvermögen von bipolaren Schalttransistoren
während eines Ausschaltens ist durch den Sperrvorspannungs-Sicherheits-Betriebsbereich (RBSOA)
angegeben und stellt den Spannungs/Strom-Zustand dar, der während eines in Sperrichtung vorgespannten Ausschaltens
erlaubt ist. Wenn der Basis-Emitter-Übergang eines bipolaren Transistors in Sperrichtung vorgespannt wird,
um Leistung von einer induktiven Last abzuschalten, müssen eine hohe Spannung und ein grosser Strom gleichzeitig
durch den SchaIttransistor unterhalten werden,
wenn dieser ausschaltet. Um zu gewährleisten, dass während
eines Ausschaltens die RBSOA-Kennlinien eines
Schalttransistors nicht überschritten werden, ist es üblich, ein aktives Pegelhalten, ein passives oder mit
einem Widerstand und einem Kondensator bewirktes Dämpfen, ein Lastleistungsformen und dergleichen vorzunehmen. Jedoch bewahren diese üblichen Methoden des Schützens eines
Transistors vor einer Überleistungsaufnahme während des Ausschaltens bei in Sperrichtung vorgespanntem Basis-Emitter-Übergang
den Transistor nicht vor einer Beschädigung oder Zerstörung, wenn aus irgendeinem Grund die
Sperrvorspannung zu einer Zeit anliegt, in der der Transistor ausserhalb seiner RBSOA-Kennlinie leitend ist.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren und eine
Vorrichtung anzugeben, mit denen ein sicheres Ausschalten eines Transistors aus einem Leitungszustand in einem Bereich
ausserhalb von dessen RBSOA-Kennlinie während eines
Fehlerzustandes und aus einer normalen Betriebsart des Leitungszustandes über das Anlegen einer Sperrvorspannung
an dessen Basis-Emitter-Elektroden möglich ist.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren bzw. bei einer Vorrichtung nach dem Oberbegriff der Patentansprüche 1
bzw. 4 erfindungsgemäss durch die im jeweiligen kennzeichnenden
Teil angegebenen Merkmale gelöst.
Das erfindungsgemnsse Verfahren umfasst also die folgenden
Verfahrensschritte:
Erfassen der Spannung zwischen der Kollektor- und der
Emitterelektrode eines Transistors, wenn dieser eingeschaltet ist;
Entfernen des AnSteuerstromes zu der Basiselektrode des
Transistors, während im wesentlichen gleichzeitig eine Stromleitungsstrecke relativ geringer Impedanz zwischen
dessen Basis- und Emitterelektrode aufgebaut wird, wann immer der Pegel der erfassten Spannung gleich ist einem
einen Fehlerzustand anzeigenden vorbestimmten Pegel oder diesen überschreitet, um das Ausschalten des Transistors
zu beginnen; und
Entfernen des Ansteuerstromes zur Basiselektrode, während im wesentlichen gleichzeitig ein vorbestimmter Pegel
einer Sperrvorspannung an der Basiselektrode liegt, um wahlweise den Transistor aus einem normalen Leitungszustand
auszuschalten, wie dies durch die erfasste Spannung angezeigt wird, die unter dem vorbestimmten Pegel
ist.
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ή/ι.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig.1 einen Querschnitt eines bipolaren, dreifachdiffundierten
NPN-Transistors und die Abhän
gigkeit der Stromdichte vom horizontalen Abstand für eine Ansteuerung mit Durchlassund
Sperrvorspannung;
Fig.2 die Durchlassvorspannungs-Sicherheits-Betriebsbereich-Kurve
für den Transistor MJ 10016, her
gestellt von der Firma Motorola Inc., Phoenix, Arizona, USA;
Fig.3 die Sperrvorsnannungs-Sicherheits-Betriebsbe-.
.. " reich-Kurve für den Transistor von Fig.2; und
Fig.4 ein schematisches Schaltbild eines Ausführungsbeispiels der Erfindung.
Schalttransistoren werden in zahlreichen Anwendungen verwendet, um selektiv Leistung an eine" induktive Last, bei
spielsweise die Wicklungen eines Motors, zu legen.
In Fig.1 ist der Querschnitt eines typischen bipolaren
NPN-Transistors gezeigt. Der Transistor umfasst eine Emitterzone 1 aus η -Material, eine Basiszone 3 aus p-Material,
eine Kollektorzone 5 aus η-Material, die einen hohen spezifischen Widerstand aufweist, und eine stark
dotierte Substratzone 7 aus beispielsweise η -Material. Unmittelbar über dem Querschnitt des Transistors sind
Kurven angegeben, die die Stromdichte J in Abhängigkeit vom horizontalen Abstand L zeigen, welche insbesondere
im Substrat während Zeiten einer Durchlassvorspannung F
am Übergang zwischen der Emitterzone 1 und der Basiszone
3 und einer Sperrvorspannung R am gleichen übergang vorliegt, wie dies durch eine Kurve 9 bzw. 11 angedeutet
ist. Es ist darauf hinzuweisen, dass während Zuständen 5 einer Sperrvorspannung die Grosse des Stromes, der sich
im Emitter 1 während des Ausschaltens zusammendrängt,
einen viel höheren Wert als der Strom besitzt, der sich während der Durchlassvorspannung dieses Überganges zusammendrängt,
wobei der Strom viel gleichmässiger über der Emitterzone 1 während des zulezt genannten Zustandes verteilt
ist. Demgemäss ist die während Zuständen einer Durchlassvorspannung erzeugte Wärme im Vergleich mit dem
Sperrvorspannungszustand während des Ausschaltens viel gleichmässiger über dem Substrat verstreut. Das zwingend
vorhandene Zusammendrängen des Stromes im Emitter während einer Sperrvorsnannung führt zur Bildung eines
mittigen heissen Flecks. Demgemäss ist der Durchlassvorspannungs-Sicherheits-Betriebsbereich
insbesondere grosser als der Sperrvorspannungs-Sicherheits-Betriebsbereich
für einen Transistor, wie dies in der Fig.2 bzw. Fig.3 gezeigt ist.
Bei der Entwicklung des Verfahrens und der Vorrichtung nach der Erfindung benutzte der Erfinder einen DGOT-NPN-Transistor
(hergestellt von der Firma Westinghouse, Youngwood, Pennsylvania, USA) für jeden der Ausgangstransistoren
13 und 15 von Fig. 4. In Fig. 2 stellt eine:
Kurve 17 die Gleichstromgrenze des FBSOA-Bereichs für einen typischen Transistor dar, während eine Strichlinienkurve
19 die Grenze für einen einzigen Impuls von 1o/is angibt. Insbesondere wird die Kurve 19 erhalten,
indem eine Durchlassvorspannung an den Basis-Emitter-Ube.rgang
zwischen den Zonen 1 und 3 eines Transistors für 1o Ais gelegt wird, wobei nach dieser Zeit die Basisverbindung
geöffnet wird, um den Transistor auszuschalten. Wie für den Transistor gezeigt ist, kann dieser während
Zuständen einer Durchlassvorspannung einen Maximalstrom von 5o A bei 4oo V für lo/is und eine Maximalspannung
von 5oo V bei 3o A für 1o/is an der Grenze aushalten.
Im Vergleich ist während Zuständen einer Sperr-
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■γ η.
Vorspannung für diesen Transistor dessen Leistungsaufnahme
auf Extremwerte von entweder 5o A bei 3oo V oder 5 A bei 5oo V begrenzt, wie dies durch eine Kurve 21
in Fig.3 gezeigt ist,
5
5
Das Anlegen einer Sperrvorspannung zwischen dem Basis- und Emitterübergang eines Transistors zum Ausschalten
des Transistors aus einem leitenden Zustand führt - wie oben erläutert wurde - zu hohen Stromdichten in der Emitterzone,
was heisse Flecken und grössere Belastungen des Substrats während des Ausschaltens als während der
Durchlassvorspannungs-Leitungsbetriebsart mit sich bringt. Jedoch wird ein Sperrvorspannungsausschalten in
zahlreichen Anwendungen verwendet, um die Abfallzeit beim Ausschalten des Transistors zu verringern, wodurch
die Schaltverluste herabgesetzt werden. Demgemäss ist
es in Hochfrequenzschaltanwendungen bevorzugt und zumeist erforderlich, Sperrvorspannungs-Ausschalttechniken
zu benutzen.
Beim Durchführen von Laborversuchen erkannte der Erfinder,
dass ein Transistor aus einem Leitungszustand beim
grossten Nennwert seines FBSOA-Bereichs für einen einzelnen
Impuls ausgeschaltet werden kann, indem eine geringe Impedanz zwischen die Basis- und die Emitterelektrode
des Transistors gelegt wird, während gleichzeitig der Basisansteuerstrom von dort entfernt wird. Diese Erkenntnis wird bei der vorliegenden Erfindung ausgenutzt, die
ein Verfahren und eine Vorrichtung vorsieht, die die Vorteile der Sperrvorspannungs-Ausschaltbetriebsart mit
denjenigen der neu entwickelten Ausschaltbetriebsart
verknüpft. In Fig.4 zeigt ein ßchematischos Schaltbild
ein Ausführungsbeispiel der Erfindung zum Schützen jedes
Ausgangstransistors 13 und 15, die insbesondere in einer
Inverterschaltungsanordnung vorgesehen sind, um bei-
spielsweise eine Motorwicklung 23 anzusteuern.
Die Motorwicklung 23 ist in Reihe mit einer Strombegrenzungsspule
25 zwischen einem Ausgangsanschluss 27 und
einem Bezugsanschluss 29 geschaltet. Dioden 31 und 3 3 liegen antiparallel an den Hauptstromstrecken des Transistors
13 bzw. 15, um einen bilateralen Stromfluss für die induktive Lastimpedanz zu liefern. Betriebsspannungen
+V1 und -V1 liegen an einem Betriebsspannungsanschluss
35 bzw. 37. Weiterhin liegen Betriebsspannungen +V„ und -V an einem Betriebsspannungsanschluss 39 bzw.
41 .
Das Ausführungsbeispiel einer Schutzschaltung zum Durchführen des erfindungsgemässen Verfahrens umfasst auch
ein Steuerglied 43 mit einem Anschluss 45 zum Aufnehmen eines Eingangssignals, ein V -Überwachungsglied 47 zum
Erfassen des Spannungspegels zwischen der Kollektor- und der Emitterelektrode des Transistors 13 im leitenden
Zustand, ein I -Überwachungsglied 49"zum Erfassen der Grosse des Kollektorstromes des Transistors 13.und.
Transistoren 51, 53 und 55, die alle in der dargestellten Weise verbunden sind, um den Betrieb des Transistors
13 zu steuern, wobei dieser Transistor während seiner
Leitungsperiode geschützt wird. Eine ähnliche Schaltung, 5 die in bestimmten Anwendungen das Steuerglied 43 ausnutzt,
kann verwendet werden, um den Betrieb des Transistors 15 zu steuern und diesen Transistor vor Überlastbedingungen
zu schützen; jedoch ist diese Schaltung zur Vereinfachung der Darstellung in Fig.4 nicht gezeigt.
Der Betrieb der Schaltung der Pig.4 wird im folgenden
näher erläutert:
Wenn ein Hochpegel-Eingangssignal beispielsweise am Eingangsanschluss
45 liegt, snricht das Steuerglied 43 darauf an, indem ein AnSteuerstromsignal oder ein Hoch-
pegelsignal zur Basiselektrode des Transistors 51 gespeist
wird, um diesen Transistor einzuschalten. Wenn der Transistor 51 uinsehalLet, nimmt die Impedanz zwischen
dessen Kollektor- und Emitterelektroden im wesentliehen ab, so dass ein Strom dorthindurch von der Spannungsquelle
+V„ in die Basiselektrode des Ausgangstransistors
13 fliessen kann, wodurch der Transistor 13 einschaltet. Dieser verringert beim Einschalten die Impedanz
seiner Hauptstromstrecke zwischen seinen Kollektor-Ιο und Emitterelektroden, wodurch ein Strom von der Spannungsquelle
+V1 in die Reihenverbindung der Last 2 3 und
der Strombegrenzungsspule 25 zur Bezugspotentialquelle
fliessen kann, die mit einem Bezugsanschluss 29 verbunden ist. In diesem Beispiel ist die Bezugspotentialquel-Ie
geerdet dargestellt. Wenn der Transistor 13 so einschaltet, verringert sich der Spannungsabfall zwischen
seinen Kollektor- und Emitterelektroden im wesentlichen - infolge der entsprechenden Verringerung der Impedanz
dazwischen. Insbesondere beträgt die'Kollektor-Emitter-Spannung V_„ eines Schalttransistors in Sättigung etwa
o,5 V. Das V_ -Überwachungsglied 47 erfasst den Pegel
der Spannung V„_ des Transistors 13 im leitenden Zustand.
Wenn eine Pehlerbedingung auftritt, wie beispielsweise
ein Kurzschluss über der Last 23, wobei angenommen wird, dass der Transistor 13 anfänglich in
einem Sättigungszustand leitend war, dann wird der
Transistor durch den grossen Fehlerstrom aus der Sättigung getrieben, so dass seine Spannung V_„ rasch über
seinen Sättigungssnannungspegel ansteigt. Das V_ -Uberwachungsglied
erfasst die olötzliche Steigerung in der Spannung V_ des Transistors 13 und legt ein Hochpegel-Fehlersignal
an das Steuerglied 43. Das Steuerglied 4 3 spricht auf die Änderung im Pegel des Fehlersignals von
hoch nach niedrig an, indem das Ansteuerstromsignal vom Transistor 51 entfernt und dieser Transistor ausgeschal-
tet wird, damit das Ansteuerstromsignal vom Transistor
13 entfernt wird. Auch legt das Steuerglied 43 gleichzeitig ein Ansteuerstromsignal oder ein Hochpegelsignal
an die Basiselektrode des Transistors 55, um diesen Transistor einzuschalten. Wenn der Transistor 55 so einschaltet,
verringert sich die Impedanz zwischen seinen Kollektor- und Emitterelektroden wesentlich, um eine Stromstrekke
einer sehr geringen Impedanz zwischen den Basis- und Emitterelektroden des Transistors 13 zu liefern, wodurch
der Transistor 13 sicher aus seinem Fehlerzustand ausschalten kann. Auch behält das Steuerglied 4 3 Signale
eines geringen Pegels an den Basiselektroden der Transistoren 51 und 53 bei, damit diese Transistoren ausgeschaltet
gehalten werden.
Das V -Überwachungsglied 4 7 kann in üblicher Weise ausgeführt werden.
Beispielsweise ist in der US-PS 4 158 866 vom 19. Juni 197 9 für eine Schutzschaltung für einen transistorisierten
Schalter eine solche V -Überwachungsschaltung beet
schrieben. Das V^^-Überwachungsglied 47 kann so ausgelegt
werden, dass es den Pegel eines Fehlersignals von einem niedrigen auf einen hohen Pegel nach dem Auftreten der
Spannung V„,„ des Transistors 13 ändert, die von einem re-5
lativ niedrigen SpannungsOegel auf einen gewissen vorbestimmten
Pegel ansteigt. Gewöhnlich wird der vorbestimmte Pegel zum Ansteuern bzw. Triggern des V -Überwachungsgliedes 47 auf einen Wert nahe dem Sättigungsspannungspegel
des geschützten Transistors eingestellt, damit das rascheste Ansprechen der Schaltung auf den Transistor gewährleistet wird, der aus einem gesättigten Leitungszustand
aus der Sättigung geht. Jedoch kann es - wie oben angedeutet wurde - in zahlreichen Anwendungen wünschenswert
sein, den vorbestimmten Triggerpegel auf einen gewissen anderen Pegel als den Sättigungsspannungspegel des
Transistors einzustellen.
Es sei angenommen, dass der Transistor 13 eingeschaltet wurde, wie dies oben erläutert ist, und dass kein Fehlerzustand
während der Leitungszeit dieses Transistors auftritt. Wenn das an einem Anschluss 45 liegende Eingangssignal
eine Pegeländerung von hoch nach niedrig erfährt, dann spricht in diesem Beispiel das Steuerglied 4 3
an, indem das Basisansteuersignal vom Transistor 51 entfernt und dort ein Niederpegelsignal angelegt wird, damit
der Transistor 51 ausschaltet. Gleichzeitig ändert das Steuerglied 4 3 den Signalpegel an der Basiselektrode des
Transistors 53 von niedrig nach hoch, um dort einen Strom
einzuspeisen, wodurch der Transistor 53 einschaltet, während der Transistor 51 ausschaltet. Wenn der Transistor
5 3 so eingeschaltet wird, verringert sich die Impedanz zwischen seinen Kollektor- und Emitterelektroden wesentlich,
damit eine Sperrvorspannung oder Betriebsspannung -V„ (weniger die Spannung V des Transistors 53) an die
Basiselektrode des Transistors 13 gelegt wird, wobei das Ansteuerstromsignal geradezu zuvor von dort über das Ausschalten
des Transistors 51 entfernt wurde. Die Sperrvorspannung an der Basiselektrode des Transistors 13 führt
dazu, dass dieser Transistor sehr ranch aus soha.L tot, wie
dies oben erläutert wurde.
In bestimmten Anwendungen kann es wünschenswert sein, den Pegel des an der Basiselektrode des Transistors 53 liegenden
Stromes zu modulieren, um den Pegel der Impedanz zwischen dessen Kollektor- und Emitterelektroden zu steuern,
damit wiederum die Steuerung des Pegels der Sperrvorspannung an der Basis des Transistors 13 beeinflusst wird.
Die Grosse des in den Transistor 53 gespeisten Basisstroms
nimmt mit abnehmender Grosse des Laststroms zu, um die dem Transistor 13 zugeordneten Ausschaltverluste
möglichst klein zu machon. Innerhalb eines Bereiches kann
die Ausschaltzeit für einen Transistor auf diese Weise
möglichst klein gemacht werden. Jedoch hängt mit einer relativ hohen Grosse des Laststromes, der sich dem RBSOA-Nennwert
des Transistors nähert, der Optimalwert der Sperrvorspannung -V„ von der Schaltfrequenz und der Grosse des
Laststromes ab. Es ist darauf hinzuweisen, dass sogar in einer solchen Betriebsart die RBSOA-Grenze überschritten
werden kann, indem der Pegel der Sperrvorspannung verringert
wird, dh., indem diese Spannung weniger negativ gemacht wird, sofern die Schaltfrequenz nicht zu hoch ist.
Um eine Optimierung des Pegels der Sperrvorspannung -V
zu liefern, ist das Ι_,-überwachungs glied 4 9 vorgesehen,
damit die Grosse des Kollektorstromes erfasst und ein diese
Grosse anzeigendes Signal I_ an das Steuerglied 43 gelegt
wird. Innerhalb eines Bereiches kann das Steuerglied 4 3 so ausgelegt werden, dass die Grosse des Basisstromes
■in den Transistor 53 umgekehrt proportional zur Grosse
des Kollektorstromes I- eingestellt wird, so dass der Pegel
der Sperrvorspannung am Transistor 13 mit abnehmender
Grosse des Kollektorstromes I (gleichwertig zum
Laststrom) zunimmt oder umgekehrt.
Als eine Alternative zum Modulieren der Grosse des am
Transistor 53 liegenden Basistromes für eine Optimierung des Pegels der dem Transistor 13 zugeführten Sperrvorspannung
kann das Steuerglied ausgelegt werden, um abhängig von der Grosse des Stromes I eine programmierbare
Spannungsquelle zu steuern, die eine Spannung -V2 abgibt.
Eine programmierbare Spannungsquelle ist in Fig. 4 nicht dargestellt.
Das Steuerglied 43 kann durch eine Kombination einer Digital- und einer Analog-Logik aufgebaut werden. Alternativ
kann das Steuerglied 43 einen programmierten Mikroprozessor aufweisen, um eine Majorität von dessen Funktionen
zu liefern.
Die Erfindung ermöglicht also ein rasches Ausschalten
eines Transistors aus normalen Betriebszuständen mittels
einer Sperrvorspannung zwischen dessen Basis- und Emitterelektroden.
Wenn zusätzlich ein Fehlerzustand auftritt, der einen überlastzustand verursacht, welcher den Transistor ausserhalb der Sättigung zu leiten treibt, wird eine
Stromstrecke geringer Impedanz zwischen den Basis- und
Emitterelektroden des Transistors geschaffen, so dass dieser aus dem überlastzustand sicher ausschaltet. Gegebenenfalls
kann nach einigen/us die Sperrvorspannung erneut
durch Programmieren des Steuergliedes angelegt werden, so dass anschliessend der Transistor 55 ausschaltet und der
Transistor 53 einschaltet, während der Transistor 51 ausgeschaltet
gehalten wird. Durch die Erfindung ist es möglieh, dass ein Transistor aus seinen höchsten Nennwerten
für Spannung und Strom, wie diese in seinem FBSOA-Bereich angegeben sind, über das Anlegen der geringen Imnedanz
zwischen seinen Basis- und Emitterelektroden ausgeschaltet
werden kann, wobei jedoch eine Ausschaltzeit relativ .länger als die Ausschaltzeit ist, die beim Sperrvorspannungsaus
schalten aus einem normalen Leitungszustand erhalten wird.
Claims (1)
- Patentansprüche1. Verfahren zum Ausschalten eines Schalttransistors, der in einer Schutzschaltung vorgesehen ist und eine Kollektorelektrode, eine Emitterelektrode und eine Basiselektrode aufweist, von denen die Basiselektrode ein Ansteuerstromsignal zum Einschalten des Transistors empfängt aus einem Leitungszustand eines Fehlerstromes einer im wesentlichen höheren Grosse als derjenigen der maximalen Grosse des Stromes, die durch die Sperrvorspannungs-Sicherheits-Betriebsbereich-Angabe für diesen Transistor bestimmt ist,
gekennzeichnet durch 15Ca) Erfassen der Spannung zwischen der Kollektorelektrode (5) und der Emitterelektrode (1) des Transistors (13,15), wenn dieser eingeschaltet ist,
2o(b) Entfernen des Ansteuerstromes zur Basiselektrode(3), während im wesentlichen gleichzeitig eine Stromleitungsstrecke einer relativ geringen Impedanz zwischen der Basiselektrode (3) und der Emitterelektrode (1) verbunden wird, wann immer der Pegel der erfassten Spannung gleich ist einem einen Fehlerzustand anzeigenden vorbestimmten Pegel oder diesen überschreitet, um das Ausschalten des Transistors einzuleiten, und(c) Entfernen des Ansteuerstromes zur Basiselektrode (3), während im wesentlichen gleichzeitig ein vorbestimmter Pegel einer Sperrvorspannung an die ■**■■"■■*bestimmten Pegel oder gleich mit oder über dem vorbestimmten Pegel liegt, um ein Fehlersignal mit einem "niedrigen" bzw. "hohen" Pegel zu erzeugen, wobei der hohe Pegel des Fehlersignals den Transistor (13,15) anzeigt, der einen Strom während eines Fehlerzustandes leitet, und eine Steuereinrichtung (43) mit einer Einscha^einrichtung (49), die anfänglich auf einen hohen Pegel eines Eingangssignals anspricht, um das Ansteuerstromsignal an die Basiselektrode (3) zu legen, damit der Schalttransistor (13,15) einschaltet, und die danach auf das gleichzeitige Auftreten eines niederen Pegels des Fehlersignals mit einem hohen Pegel des Eingangssignals anspricht, um die Einspeisung des Ansteuerstromsignals in die Basiselektrode (3) aufrecht zu erhalten, mit einer ersten Ausschalteinrichtung (55), die auf einen hohen Pegel des Fehlersignals anspricht, um das Ansteuerstromsignal von der Basiselektrode (3) zu entfernen, während im wesentlichen gleichzeitig eine Stromleitungsstrecke einer relativ geringen Impedanz zwischen der Basiselektrode (3) und der Emitterelektrode (1) aufgebaut wird, damit der Transistor (13,15) ausschaltet, wodurch der Transistor (13,15) aus einem Leitungszustand eines Fehlerstromes einer im wesentlichen höheren Grosse als derjenigen der maximalen Grosse des Stromes ausschaltbar ist, der durch die Sperrvorspannungs-Sicherheits-Betriebsbereich-Angaben für diesen Transistor (13,15) bestimmt ist.5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuereinrichtung (43) eine zweite Ausschalteinrichtung (51,53) aufweist, die auf den Pegel des Eingangssignales anspricht, das sich von einem hohen auf einen niederen Pegel zu den Zeiten ändert, in denen der Pegel des Fehlersignals niedrig ist, um das Ansteuer-35«Φ ν «ι· * fa * * ν «·-2-Basiselektrode (3) gelegt wird, um selektiv den Transistor (13,15) aus einem normalen Leitungszustand auszuschalten, der dadurch angezeigt ist, dass die erfasste Spannung unter dem vorbestimmten Pegel liegt.2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass im Verfahrensschritt (b) der vorbestimmte Pegel der erfassten Spannung auf einen Pegel innerhalb einer vorbestimmten Differenz der Sättigungsspannung des Transistors (13,15) eingestellt wird, um zu erfassen, wenn die Leitung des Transistors (13,15) aus einem gesättigten in einen ungesättigten Leitungszustand übergeht.3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass im Verfahrensschritt (c) der Pegel der Sperrvorspannung mit abnehmender Grosse des Kollektorstromes in einem Bereich von Grossen des Kollektorstromes erhöht wird, um die Ausschaltzeit für diesen Transistor (13,15) möglichst klein zu machen, wodurch die Schaltverluste möglichst klein werden.4. Schutzvorrichtung für einen Schalttransistormit einer Kollektorelektrode, einer Emitterelektrode und einer Basiselektrode zum Empfangen einer Betriebsspannung, mit einer Verbindung zu einer Last bzw. zum Empfangen eines Ansteuerstromsignals zum Einschalten des Transistors ,gekennzeichnet durch eine Fühlereinrichtung (47), die auf den Pegel der Spannung zwischen der Kollektorelektrode (5) und der Enitterelektrode (1) anspricht, welche entweder unter einem vor-signal von der Basiselektrode (3) zu entfernen, während im wesentlichen gleichzeitig hiermit ein vorbestimmter Pegel einer Sperrvorspännung angelegt ist, damit rasch der Transistor (13,15) aus einem normalen Zustand durch Leitung ausschaltet.6. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Ausschalteinrichtung (51 ,53) eine Sperrvorspannungs-Steuereinrichtung aufweist, die auf die Grosse des durch die Kollektor-Emitter-Stromstrecke des Schalttransistors (13,15) fliessenden Stromes anspricht, um innerhalb eines Bereiches den Pegel der Sperrvorspannung mit. abnehmender Grosse dieses Stromes zu steigern, damit die Ausschaltzeit dieses Transistors (13,15) möglichst klein wird, wodurch die Schaltverluste möglichst klein werden.7. Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Ausschalteinrichtung (55) eine erste Halbleitereinrichtung mit einer Hauptstromstrecke zwischen der Basiselektrode (3) und der Emitterelektrode (1) und einer Steuerelektrode zum Empfangen eines ersten Ausschaltsignals aufweist, die auf das erste Ausschaltsignal anspricht, um im wesentlichen die relative Impedanz von deren Hauptstromstrecke zu verringern, damit die Stromleitungsstrecke der relativ niedrigen Impedanz aufgebaut wird.8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Ausschalteinrichtung (51 ,53) weiterhin eine zweite Halbleiterschalteinrichtung mit einer Hauptstromstrecke zwischen der Basiselektrode (3) undeiner SperrvorSpannungsquelle (39,41) und mit einer Steuerelektrode zum Empfangen eines zweiten Ausschaltsignals aufweist, wobei die zweite Halbleiterschalteinrichtung (51 ,53) auf das zweite Ausschaltsignal anspricht, um im wesentlichen die relative Impedanz von deren HauptStromstrecke zu verringern, damit die Sperrvorspannung an die Basiselektrode (3) des Schalttransistors (13,15) gelegt wird.9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Einschalteinrichtung eine dritte Halbleiterschalteinrichtung mit einer Hauptstromstrecke zwischen einer Betriebsspannungsquelle und der Basiselektrode (3) und mit einer Steuerelektrode aufweist, die auf ein Einschaltsignal anspricht, um im wesentlichen die Impedanz von deren Hauptstromstrecke zu verringern, wodurch ein Strom von der Betriebsspannungsquelle zur Basiselektrode (3) speisbar ist, wobei dieser Strom das Ansteuerstromsignal darstellt, das den Schalttransistor (13,15) einschalten lässt.1o, Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuereinrichtung (4 3) eine Logikeinrichtung aufweist, die anspricht auf(1) den Pegel des Eingangssignals, das sich von niedrig nach hoch ändert, um das Einschaltsignal zu erzeugen, und anschliessend auf das Einschalten des Schalttransistors (13,15) mit(2) gleichzeitigem Auftreten der hohen Pegel des Fehlersignals und des Eingangssignals, um das erste Ausschal tsignal zu erzeugen, oder(3) gleichzeitiges Auftreten des Pegels des niedrigwerdenden EingangssignaIs mit dem niedrigen Fehlersignal, um das zweite Ausschaltsignal zu erzeugen.11. Vorrichtung nach Anspruch ίο, dadurch gekennzeichnet, dass die Sperrvorspannungs-Steuereinrichtung aufweist:die zweite Halbleiterschalteinrichtung (51,53), die ein Transistor ist,eine Einrichtung (4 9) zum Erfassen der Grosse des durch die Kollektor-Emitter-Stromstrecke des Schalttransistors (13,15) fliessenden Stromes, um ein Laststromgrossensignal zu liefern, unddie Logikeinrichtung (43) einschliesslich einer weiteren Einrichtung, die auf das Laststromgrössensignal anspricht, um den Pegel des zweiten Ausschaltsignals direkt proportional hiermit zu ändern, wodurch der Pegel der Impedanz der Hauptstromstrecke der zweiten Halbleiterschalterrichtung (51 ,53) in einer Weise änderbar ist, die den Pegel der an der Basiselektrode (3) liegenden Sperrvorspannung steuert.12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Logikeinrichtung (43) einen Mikroprozessor aufweist, der programmiert ist, um dessen ungezählte Funktionen durchzuführen.13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 12, gekennzeichnet durch eine Diode (31 ,33) parallel zur Emitter-Kollektor-Strecke des Transistors (13,15).
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/176,358 US4375074A (en) | 1980-08-08 | 1980-08-08 | Dual-mode transistor turn-off |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3131296A1 true DE3131296A1 (de) | 1982-04-29 |
Family
ID=22644030
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813131296 Withdrawn DE3131296A1 (de) | 1980-08-08 | 1981-08-07 | Verfahren und vorrichtung zum ausschalten eines transistors |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4375074A (de) |
JP (1) | JPS5754425A (de) |
DE (1) | DE3131296A1 (de) |
GB (1) | GB2082003A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Family Cites Families (6)
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1980
- 1980-08-08 US US06/176,358 patent/US4375074A/en not_active Expired - Lifetime
-
1981
- 1981-08-07 GB GB8124223A patent/GB2082003A/en not_active Withdrawn
- 1981-08-07 DE DE19813131296 patent/DE3131296A1/de not_active Withdrawn
- 1981-08-08 JP JP56123608A patent/JPS5754425A/ja active Pending
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JPS5754425A (de) | 1982-03-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: DIEHL, H., DIPL.-PHYS. DR.RER.NAT., PAT.-ANW., 800 |
|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |