DE3025418A1 - Vorrichtung zur bestimmung einer eigenschaft einer probe - Google Patents

Vorrichtung zur bestimmung einer eigenschaft einer probe

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DE3025418A1
DE3025418A1 DE19803025418 DE3025418A DE3025418A1 DE 3025418 A1 DE3025418 A1 DE 3025418A1 DE 19803025418 DE19803025418 DE 19803025418 DE 3025418 A DE3025418 A DE 3025418A DE 3025418 A1 DE3025418 A1 DE 3025418A1
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Carl J. Port Washington N.Y. Schmid
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/255Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems

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Description

  • Vorrichtung zur Bestimmung einer Eigenschaft einer Probe
  • Die Erfindung bezieht sich auf eine .Strahlungsmeßvorrichtung und betrifft insbesondere eine Vorrichtung zur Bestimmung einer bestimmten Eigenschaft einer Probe.
  • Obgleich die Erfindung ein weiteres Anwendungsgebiet besitzt, eignet sie sich speziell für die quantitative Analyse von Blut und anderen Körperflüssigkeiten. Für diagnostische Zwecke wird bekanntlich eone Anzahl von Proben einer Körperflüssigkeit, die als Reihensegmente in einem Strom fließen und durch Blasen von Luft oder einem anderen inerten Strömungsmittel getrennt sind, üblicherweise einzeln und der Reihe nach mit einem oder mehreren Reagentien behandelt, um eine Strömung einer optischen Dichte mit einer bestimmten Wellenlänge zu bilden, welche eine quantitative Charakteristik der Probe angibt. In bestimmten Fällen besteht das Reagens z.B. aus einer Säurelösung mit einer bestimmten Farbe, die mit etwas in der Probe enthaltener Glucose reagiert und eine der Glucosemenge proportionale Minderung der Farbdichte bewirkt. Diese Dichtenminderung wird mittels eines Kolorimeters gemessen, und der Meßwert wird z.B. in mg Glucose pro 100 ml Lösung festgehalten bzw. aufgezeichnet. Die bisherigen Strahlungsmeßvorrichtungen der angegebenen Art sind mit bestimmten Nachteilen behaftet. Beispielsweise treten bei vielen derartigen, bisherigen Vorrichtungen Schwierigkeiten in den Fällen auf, in denen eine bestimmte, zu untersuchende Probe eine hohe Dichte besitzt und demzufolge die Intensität der zu messenden Strahlung auf eine Größe unterhalb derjenigen abnimmt, bei welcher genaue Messungen möglich sind.
  • Eine Änderung der Intensität der Strahlungsquelle für die Vorrichtung hat ebenfalls einen ungünstigen Einfluß auf die Meßgenauigkeit. Darüber hinaus - und dies ist in den Fällen von besonderer Bedeutung, in denen die Vorrichtung zur Lieferung unmittelbarer Anzeigen für die Konzentration eines in der Probe enthaltenen Stoffs angeordnet ist - erwies es sich bisher häufig als schwierig, das Ansprechverhalten bzw. den Frequenzgang (response) der Vorrichtung so zu eichen, daß eine vorgegebene, bekannte Standard- oder Bezugslösung ein Ansprechen an der richtigen Stelle der Ausgangs skala liefert.
  • Aufgabe der Erfindung ist damit insbesondere die Schaffung einer verbesserten Vorrichtung zur Messung oder Bestimmung der für eine spezielle Eigenschaft einer Probe repräsentativen Strahlung.
  • Diese Vorrichtung soll dabei auch im Fall von Proben mit abnormal hoher oder niedriger Dichte genaue Meßwerte liefern, wobei die erhaltenen Meßwerte von der Intensität der Strahlungsquelle praktisch unabhängig sind.
  • Weiterhin soll sich diese Vorrichtung einfach in Obereinstimmung mit der gewünschten Ausgangs skala bzw. dem gewünschten Anzeigemaßstab eichen lassen.
  • Schließlich soll diese Vorrichtung auch wirtschaftlich herzustellen und unbedingt zu-verlässig im Betrieb sein.
  • den Die genannte Aufgabe wird durch die in/beigefügten Patentansprüchen gekennzeichneten Merkmale gelöst.
  • In spezieller Ausführungsform weist die Strahlungsmeßvorrichtung eine Glühlampe oder eine andere Lichtquelle für sichtbare oder unsichtbare Strahlung sowie eine zweckmäßige Optik zur Abnahme der Strahlung von der Lichtquelle und zur Führung dieser Strahlung längs eines vorbestimmten Strahlengangs auf. Auf gegenüberliegenden Seiten des Strahlengangs sind zwei optische Systeme mit gegenseitigem Abstand angeordnet. Ein Probenhalter, z.B. in Form eines einen ständig fließenden Probenstrom enthaltenden Rohrs, ist so angeordnet, daß die Strahlung vom ersten optischen System auf ihn auftrifffEin ausgewählter, nahezu monochromatischer Teil der Strahlung von der Lichtquelle wird über eine Strahlungsteileranordnung geleitet, und ein Teil dieser Strahlung tritt dann in Form eines Proben-Abtaststrahls durch das erste optische System zur Probe hindurch. Beim Durchgang durch die Probe wird die Intensität des Strahls entsprechend der optischen Dichte der Probe modifiziert.
  • Die Intensität des aus der Probe austretenden Strahls wird zur Lieferung eines für die Probendichte repräsentativen Ausgangssignals gemessen bzw. bestimmt.
  • Gemäß einem Merkmal der Erfindung wird die Strahlungsteileranordnung von einem Schlitten oder einem Wagen getragen, der zur Änderung der die Probe erreichenden Strahlungsintensität auf den Probenhalter zu und von ihm hinweg bewegbar ist. Die Strahlungsintensität läßt sich somit einfach in bezug auf einen bekannten Standard einstellen, so daß auch im Fall von Proben mit hoher Dichte oder in stark verdünntem Zustand außerordentlich genaue Dichtenmessungen gewährleistet werden.
  • Gemäß einem anderen Merkmal der Erfindung ist bei bestimmten, besonders wesentlichen Ausführungsformen eine Strahlungsteileranordnurg vorgesehen, die als Strahlteiler dient, um die von der Strahlungsquelle eingehende Strahlung in einen Proben-Abtaststrahl und einen Bezugsstrahl aufzuteilen, der durch das zweite optische System abgegriffen wird. Die Vorrichtung weist zwei Detektoren auf, welche jeweils die Intensität der betreffenden Strahlen feststellen und deren Signale durch einen Verhältnisdetektor miteinander verglichen werden, um ein von der Intensität der Strahlungsquelle unabhängiges Ausgangssignal zu liefern.
  • Gemäß einem noch weiteren Merkmal der Erfindung sind in speziellen Ausführungsformen die beiden optischen Systeme auf gegenüberliegenden Seiten der Strahlungsteileranordnung optisch aufeinander ausgerichtet. Die Bewegung des tragenden Wagens auf den Probenhalter zu und von ihm hinweg hat gleichzeitig eine Änderung der Intensitäten von Abtaststrahl und Bezugsstrahl zur Folge. Wenn der Wagen beispielsweise vom Probenhalter weg bewegt wird, wird die Intensität der die Probe erreichenden Strahlung erhöht, während die Intensität der den Bezugsdetektor erreichenden Strahlung verringert wird und umgekehrt.
  • Die Vorrichtung läßt sich somit ohne weiteres in Anpassung an die Dichte einer speziellen, zu untersuchenden Probe eichen.
  • Im folgenden sind bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung anhand der beigefügten Zeichnung näher erläutert.
  • Es zeigen: Fig. 1 eine vereinfachte schematische Darstellung einer Strahlungsmeßvorrichtung gemäß einer speziellen Ausführungsform der Erfindung, Fig. 2 ein schematisches Blockschaltbild einer elektrischen Schaltung für die Vorrichtung nach Fig. 1 und Fig. 3 eine vereinfachte schematische Darstellung einer Strahlungsmeßvorrichtung gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung.
  • In Fig. 1 ist die Strahlungsmeßvorrichtung schematisch in Form eines Kolorimeters mit einer Glühlampe oder einer anderen geeigneten Lichtquelle 10 dargestellt. Der verwendete Ausdruck "Licht" bezieht sich nicht nur auf sichtbares Licht, sondern auch auf Strahlung, die eine längere oder kürzere Wellenlänge besitzt als das sichtbare Spektrum. Das von der Lichtquelle 10 kommende Licht wird durch einen Konkavspiegel 11 gesammelt und längs des allgemein mit 12 bezeichneten Strahlengargs gerichtet.
  • Im Strahlengang 12 durchläuft das Licht eine Kollimatorlinse 13, durch welche es zu parallelen Strahlen geformt wird und sodann eine Bandpaß-Filterlinse 14. Letztere bewirkt in an sich bekannter Weise, daß nur ein ausgewählter, nahezu monochromatischer Teil des Lichts im Strahlengang 12 weitergeleitet wird. Die Bandbreite des aus der Linse 14 austretenden Lichts liegt beispielsweise in der Größenanordnung von 15m.
  • Das Licht von der Bandpaß-Filterlinse 14 wird von einer Strahlungsteileranordnung 15 abgenommen, die zwei rechtwinkelige Prismen 17 und 18 mit jeweils einer Diagonalfläche 20 und zwei rechtwinklig zueinanderstehenden Flächen 22 und 23 enthält. Die Prismen 17 und 18 sind so angeordnet, daß ihre Flächen 22 in auf Abstand stehenden Ebenen parallel zum Strahlengang 12 liegen, während ihre Flächen 23 in einer einzigen, gemeinsamen Ebene senkrecht zum Strahlengang angeordnet sind. Die Diagonalflächen 20 sind versilbert oder anderweitig mit einem geeigneten reflektierenden überzug versehen, und in der dargestellten Anordnung schneiden die Flächen 20 einander längs einer Linie, die unter einem rechten Winkel zum Strahlengang 12 liegt. Bei dieser Anordnung teilen die Reflex-ionsflächen 20 das von der Lichtquelle 10 stammende monochromatische Licht aus noch näher zu beschreibenden Gründen in zwei eindeutig getrennte Strahlenbündel auf.
  • Die Strahlungsteileranordnung 15 ist auf einem bewegbaren Schlitten oder Wagen 25 angeordnet. Letzterer besteht im allgemeinen aus einem Block aus Aluminium oder einem anderen geeigneten Werkstoff, und er weist obere Schrägflächen auf, die mit den Reflex-ionsflächen 20 der Prismen 17 und 18 verkittet sind. Bei der dargestellten Ausführungsform befindet sich der Wagen 25 hinter dem Strahlengang 12, um eine Interferenz mit dem Licht im Strahlengang zu verhindern.
  • Der Wagen 25 ist mittels einer geeichten bzw. kalibrierten Nachführ-Schraubspindel 27 in einer Richtung senkrecht zum Strahlengang 12 bewegbar. Die Schraubspindel 27 durchsetzt einen feststehenden Träger oder Halter 26 sowie eine Gewindebohrung im Wagen 25 und ist am einen Ende mit einem gerändelten Knopf 28 versehen. Durch Drehen des Knopfes 28 können der Wagen 25 und somit die an ihm angebrachten Prismen 17 und 18 als Einheit verschoben werden, um die Ausrichtung der Prismenanordnung relativ zum Strahlengang 12 zu ändern.
  • Ein optisches Proben-Abtastsystem 30 und ein optisches Bezugssystem 31 sind mit gegenseitigem Abstand auf gegenüberliegenden Seiten des Strahlengangs 12 jeweils in einer Position angeordnet, in welcher sie die von der Strahlungsteileranordnung 15 kommende Strahlung abzunehmen vermögen. Die optischen Systeme 30 und 31 sowie die Strahlungsteileranordnung 15 sind längs einer optischen Achse bzw. eines Strahlengangs 33, die bzw.
  • der den Strahlengang 12 unter einem rechten Winkel schneidet, optisch aufeinander ausgerichtet.
  • Das optische Abtastsystem 30 enthält eine Fo]ussierlinse 35, welche den von der Fläche 20 des Prismas 17 reflektierten Teil des monochromatischen Lichts empfängt. Dieses empfangene Licht wird auf das eine Ende einer Röhre bzw. eines Lichtrohrs 36 gebündelt, die bzw. das koaxial zur optischen Achse 33 angeordnet ist.
  • Die Linse 35 bildet einen Proben-Abtaststrahl, welcher das Lichtrohr 36a durchläuft und eine in einem rohrförmigen Probenhalter 37 befindliche Materialprobe beleuchtet.
  • Der Probenhalter 37 besteht aus einem durchsichtigen Werkstoff, ist jedoch mit einem undurchsichtigen Überzug 39 versehen, um einen Austritt des die Probe durchlaufenden Lichts zu verhindern. Ersichtlicherweise ist der Probenhalter 37 so ausgebildet, daß er einen kontinuierlichen Strom einer flüssigen Probe aufnimmt, die zur Erzeugung einer bestimmten Farbcharakteristik mit geeigneten Reagentien behandelt worden ist, wobei die Dichte dieser Probe bzw. ihrer Farbcharakteristik der Gewichtsmenge einer vorgegebenen, in der Probenlösung enthaltenen Substanz proportional ist. Eine beispielhafte Vorrichtung zur Lieferung des flüssigen Probenstroms zum Probenhalter ist in der Parallelanmeldung P ... vom selben Anmeldetag beschrieben. Die Intensität des die Probe durchlaufenden Strahlungsbündels wird als logarithmische Funktion der Probendichte verringert. Nach dem Austritt aus der Probe durchläuft das Strahlenbündel ein zweites Lichtrohr 36b, und es wird durch eine Sperrschicht-Fotozelle bzw. ein Fotoelement 38 abgegriffen, das dem Probenhalter gegenüberliegend auf der optischen Achse 33 angeordnet ist.
  • Auf ähnliche Weise empfängt das optische Bezugssystem 31 ein Bezugsstrahlenbündel in Form des von der Fläche 20 des Prismas 18 reflektierten Teils des monochromatischen Lichts. Das Bezugssystem 31 enthält eine Fokussierlinse 40, welche das eingehende Strahlenbündel auf das eine Ende eines Lichtrohrs 41 bündelt. Das Lichtrohr 41 ist axial auf der optischen Achse 33 angeordnet und richtet das einfallende Licht auf ein Fotoelement 42. Die Intensität des vom Fotoelements 42 abgegriffenen Lichts ist bei der gewählten Wellenlänge der Lichtintensität der Lichtquelle 10 proportional.
  • Gemäß Fig. 2 sind das Proben-Abtastfotoelement 38 und das Bezugsfotoelement 42 jeweils mit einem logarithmischen Verstärker 45 bzw. 46 verbunden. Die Ausgangssignale der Verstärker 45 und 46 werden einer Verhältnisdetektorschaltung 49 eingespeist, die ein Ausgangssignal entsprechend dem Verhältnis zwischen den ermittelten Intensitäten des Proben und des Bezugsstrahlenbündels liefert. Das Ausgangssignal kann mittels eines geeigneten Streifenschreibers 50 aufgezeichnet werden. Verhältnisdetektor 49 und Streifenschreiber 50 sind so geeicht, daß sie eine unmittelbare Anzeige für die Konzentration einer ausgewählten Substanz innerhalb jeder einzelnen der aufeinanderfolgenden Proben, welche das Probenrohr 37 (Fig. 1) durchlaufen, in beispielsweise Milligramm pro 100 ml der Lösung, liefern.
  • Wie erwähnt, trennt die Strahlungsteileranordnung 15 das von der Lichtquelle 10 kommende Licht in praktisch monochromatische Proben-Abtast- und Bezugsstrahlenbündel mit einer durch die Bandpaß-Filterlinse 14 bestimmten Wellenlänge auf. Die Intensitäten beider Strahlenbündel können mittels des Knopfes 28 an der Nachführ-Schraubspindel 27 gleichzeitig geändert werden. Wenn die Dichte einer bestimmten, im Probenrohr 37 befindlichen Probe für die Lieferung eindeutiger Messungen zu hoch ist, wird beispielsweise mittels der Schraubspindel 27 die Strahlungsteileranordnung 15 gemäß Fig. 1 nach rechts vom optischen Abtastsystem 30 hinweg und auf das optische Bezugssystem 31 zu verschoben. Auf Grund dieser Verschiebung wird ein größerer Anteil des von der Lichtquelle 10 stammenden Lichts durch das Prisma 17 zum Proben-Abtastsystem 30 reflektiert, während ein entsprechend kleinerer Anteil des Lichts durch das Prisma 18 zum Bezugssystem 31 reflektiert wird. Die Intensität des die Probe im Probenrohr 37 bestrahlenden Strahlenbündels wird somit entsprechend vergrößert, so daß am Fotoelement 38 ein größeres Ausgangs signal auftritt, während eine entsprechende Abnahme der Intensität des das Bezugsfotoelement 42 erreichenden Strahlenbündels gegeben ist.
  • Für die Messung von sehr stark verdünnten Probenmaterialien wird umgekehrt mittels der Nachführ-Schraubspindel 27 die Strahlungsteileranordnung 15 vom optischen Bezugssystem 31 hinweg und in Richtung auf das optische Proben-Abtastsystem 30 verschoben. Hierdurch wird eine Verringerung der Intensität des das Probenrohr 37 beleuchtenden Lichts und eine entsprechende Erhöhung der Intensität des das Bezugsfotoelement 42 erreichenden Lichts erreicht. Durch Verwendung einer entsprechend zweckmäßig im voraus kalibrierten oder geeichten Skala für den Verhältnisdetektor 49 und den Streifenschreiber 50 kann das Ansprechverhalten bzw. der Frequenzgang der Vorrichtung ohne weiteres so eingestellt werden, daß eine vorgegebene, bekannte Standardlösung einen Meßwert an der richtigen Stelle der Skala liefert. In diesem Fall kann die Konzentration aufeinanderfolgender, unbekannter Proben ohne die Notwendigkeit für weitere Berechnungen unmittelbar von der Skala abgelesen werden.
  • In abgewandelter Ausführungsform der Erfindung werden in der Strahlungsteileranordnung anstelle der Prismen Spiegel verwendet.
  • Gemäß der Fig. 3 sind beispielsweise zwei Flachspiegel 55 und 56 so auf dem Wagen 25 angeordnet, daß sie bei Betätigung der Nachführ-Schraubspindel 27 gemeinsam verschiebbar sind. Die Spiegel 55 und 56 sind unter einem rechten Winkel zueinander in solcher Position angeordnet, daß sie einen ausgewählten, im wesentlichen monochromatischen Lichtanteil von der Bandpaß-Filterlinse 14 längs der optischen Achse 33 in entgegengesetzte Richtungen durch die betreffenden optischen Systeme 30 und 31 werfen. Die Intensitäten der resultierenden Proben-Abtast- und Bezugsstrahlenbündel werden auf vorher beschriebene Weise durch die Fotoelemente 38 bzw. 42 abgegriffen bzw. gemessen, wobei diese Fotoelemente ein entsprechendes Ausgangssignal zum Verhältnisdetektor 49 und zum Streifenschreiber 50 liefern. Die Ausrichtung der Spiegel längs der optischen Achse 33 ist mittels der Schraubspindel 27 und des Knopfes 28 ohne weiteres änderbar, so daß das von der Lichtquelle 10 kommende Licht in Proben- und Bezugsstrahlenbündel unterschiedlicher Intensität aufteilbar ist. Auf ähnliche Weise, wie in Verbindung mit Fig. 1 beschrieben, wird durch eine Verschiebung der Spiegel auf das optische System 30 zu oder von ihm hinweg eine Verringerung oder Erhöhung der Intensität des die Probe beleuchtenden Lichts und eine entsprechende Erhöhung bzw. Verringerung der Intensität des am Bezugsdetektor (Fotoelement 42) ankommenden Lichts erreicht.
  • Aus Fig. 3 ist ersichtlich, daß der auf der optischen Achse 33 liegende Teil des Probenrohrs 37a deutlich länger ist als der entsprechende Teil des Probenrohrs 37 gemäß Fig. 1. Das (längere) Probenrohr 37a eignet sich besonders für die Bestimmung von vergleichsweise stark verdünnten Proben, während das kürzere Probenrohr 37 für Proben höherer Dichte benutzt wird. In einer vorgegebenen Vorrichtung sind die Probenrohre 37 und 37a austauschbar; zur Erzielung von Meßwerten mit hoher Genauigkeit ist es dabei jedoch wesentlich, daß der Abstand zwischen der Fokussierlinse 35 und dem Fotoelement 38 gleich bleibt. Aus diesem Grund werden die Längen der Lichtrohre 36a und 36b entsprechend dem jeweils verwendeten, bestimmten Probenrohr gewählt.
  • Ein Vorteil der Prismenanordnung gemäß Fig. 1 gegenüber dem Flachspiegelsystem nach Fig. 3 besteht darin, daß die Reflex-ionsflächen 20 der Prismen stets vor Kratzern und anderen Oberflächenfehlern geschützt sind, die ihnen beispielsweise bei der Reinigung beigebracht werden könnten.
  • Obgleich vorstehend nur zwei derzeit bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung dargestellt und beschrieben sind, sind dem Fachmann selbstverständlich verschiedene Änderungen und Abwandlungen möglich, ohne daß vom Rahmen und Grundgedanken der Erfindung abgewichen wird. Leerseite

Claims (15)

  1. Vorrichtung zur Bestimmung einer Eigenschaft einer Probe Patentansprüche 9 Vorrichtung zur Bestimmung einer Eigenschaft einer Probe g e k e n n z e i c h n e t durch eine Strahlungsquelle (10), durch eine Einrichtung (11, 13, 14) zur Abnahme der Strahlung von der Strahlungsquelle und zur Richtung dieser Strahlung längs eines Strahlengangs (12), durch mindestens ein längs einer den Strahlengang (12) schneidenden optischen Achse (33) auf Abstand von diesem Strahlengang angeordnetes optisches System (30, 31) durch eine Einrichtung (37), die eine Probe eines zu untersuchenden Stoffs in einer solchen Lage hält, daß das Licht vom optischen System auf die Probe fällt, durch eine im Strahlengang (12) an seinem Schnittpunkt mit der optischen Achse (33) angeordnete Strahlungsteilereinrichtung (15) zur Abnahme der Strahlung von der Strahlungsquelle (10) und zum Aufteilen dieser Strahlung in zwei getrennte StrahlenbündelS wobei die Strahlungsteilereinrichtung das eine Strahlenbündel in Form eines Proben-Abtaststrahlenbündels durch das optische System zur Probe richtet, so daß das Probenstrahlenbündel durch die Probe läuft und eine Änderung seiner Intensität erfährt, durch einen Detektor (38) zur Abnahme des Strahlenbündels von der Probe und zur Bestimmung seiner Intensität, durch einen Wagen (25) zur Halterung der Strahlungsteilereinrichrung und durch eine Einrichtung (27, 28) zur Verschiebung des Wagens (25) längs der optischen Achse zur Änderung der Intensität des Probenstrahlenbündels.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß die die Probe aufnehmende Einrichtung ein Probenhalter (37) ist, daß das eine Strahlenbündel über das optische System auf eine im Probenhalter befindliche Probe geworfen wird und daß bei der Bewegung des Wagens längs der optischen Achse vom optischen System hinweg die Intensität der die Probe erreichenden Strahlung erhöht und bei seiner Bewegung auf das optische System zu diese Intensität verringert werden kann; während die Intensität des anderen Strahienbündels ::tsprechend verringert bzw.
    erhöht wird.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß die Strahlungsteilereinrichtung mindestens ein am Wagen befestigtes Prisma (17, 18) aufweist.
  4. 4. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß die Strahlungsteilereinrichtung mindestens ein am Wagen befestigtes Spiegelgitter bzw. einen Flachspiegel (55, 56) aufweist.
  5. 5. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch g e k e n n z e i c h n e t , daß das optische System eine Strahlungs-Rietinichtung und Einrichtungen zum Fokussieren vo sreung auf die Richteinrichtung aufweist und daß die Intensität des einen Strahlenbündels entsprechend der Dichte der Probe modifizierbar ist.
  6. 6. Vorrichtung zur Bestimmung einer Eigenschaft einer Probe, insbesondere nach einem der vorangehenden Ansprüche, g e k e n n z e i c h n e t duch eine Strahlungsquelle, durch Mittel zur Abnahme der Strahlung von der Strahlungsquelle und zur Rich-ung der Strahlung längs eines Strahlengangsffl durch zwei mit Abstand voneinander auf gegenüberniegenden Seiten des Strahlengangs auf einer diesen schneidenden optischen Achse liegende optische Systeme, durch eine Einrichtung, welche eine Probe eines zu un':4zrsuchenden Stoffs in einer Stellung hält, in welcher die Probe mit der Strahlung vom ersten optischen System beufschlagbar ist, durch eine im Strahlengang an seinem Schnittpunkt mit der optisces Achse angeordnete Strahlungsteilereinrichtung zur abnahme der Strahlung von der Strahlungsquelle und zur Aufteilung dieser Strahlung in einen Proben-Abtast- und einen Bezugsstrahl, wobei diese Einrichtung den Probenstrahl durch das erste optische System zur Probe und den Bezugsstrahl durch das zweite optische System leitet, wobei der Probenstrahl beim Durchgang durch die Probe eine Änderung seiner Intensität erfährt, durch zwei Detektoren zur Aufnahme des Proben- und des Bezugsstrahls von der Probe bzw. vom zweiten optischen System zwecks Messung der Intensitäten der empfangenen Strahlen, durch mit den beiden Detektoren verbundene Einrichtungen zum Vergleichen der Intensitäten beider Strahlen, durch einen Schlitten bzw. Wagen zur Halterung der Strahlungsteilereinrichtung und durch eine Einrichtung zur Bewegung des Wagens längs der optischen Achse, um die Intensitäten beider Strahlen gleichzeitig zu ändern.
  7. 7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß die die Probe aufnehmende Einrichtung ein Probenhalter (37) ist, daß das eine Strahlenbündel über das optische System auf eine im Probenhalter befindliche Probe geworfen wird und daß bei der Bewegung des Wagens längs der optischen Achse vom optischen System hinweg die Intensität der die Probe erreichenden Strahlung erhöht und bei seiner Bewegung auf das optische System zu diese Intensität verringert werden kann, während die Intensität des anderen Strahlenbündels entsprechend verringert bzw.
    erhöht wird.
  8. 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch g e k e n n z e i c hn e t , daß die optische Achse den Strahlengang unter einem rechten Winkel schneidet.
  9. 9. Vorrichtung nach Anspruch 6 bis 8, dadurch g e k e n n z e i c h n e t , daß die Strahlungsteilereinrichtung die einfallende Strahlung in im wesentlichen monochromatische Proben-Abtast- und Bezugsstrahlen aufteilt.
  10. 10. Vorrichtung nach Anspruch 6 bis 9, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß im Strahlengang Xollimatorelemente zum Kollimieren der Strahlung von der Strahlungsquelle und zur Richtung der kollimierten Strahlung zur Strahlungsteilereinrichtung vorgesehen sind und daß im Strahlengang zwischen den Kollimatorelementen und der Strahlungsteilereinrichtung ein Element zum Filtern der kollimierten Strahlung angeordnet ist.
  11. 11. Vorrichtung nach Anspruch 6 bis 9, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß die Strahlungsteilereinrichtung mehrere starr am Wagen befestigte Prismen aufweist.
  12. 12. Vorrichtung nach Anspruch 6 bis 9, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß die Strahlungsteilereinrichtung mehrere starr am Wagen befestigte Flachspiegel aufweist.
  13. 13. Vorrichtung nach Anspruch 6 bis 9, dadurch g e -k e n n z e i c h n e t , daß in den Strahlengang eine Einrichtung für die Auswahl eines im wesentlichen monochromatischen Teils der Strahlung eingeschaltet ist, daß die beiden optischen Systeme jeweils ein Strahlungsricht- oder -leitelement sowie ein Element zum Fokussieren der Strahlung auf das Leitelement aufweisen und daß die Strahlungsteilereinrichtung die im wesentlichen monchromatische /in Strahlung abnimmt und diese im wesentlichen monochromatische Proben-Abtast- und Bezugsstrahlen(bündel) aufteilt.
  14. 14. Vorrichtung nach Anspruch 6 bis 13, dadurch g e -k e n n z e i c h n e t , daß eine Einrichtung zur automatischen Einführung von aufeinanderfolgenden, zu untersuchenden Proben in den Probenhalter vorgesehen ist und daß die Strahlungsteilereinrichtung zwei rechtwinkelige (right) Prismen aufweist.
  15. 15. Vorrichtung nach Anspruch 6 bis 15, dadurch g e -k e n n z e i c h n e t , daß in den Strahlengang zwischen Strahlungsquelle und Strahlungsteilereinrichtung eine Kollimatoreinrichtung eingeschaltet ist und daß an die beiden Detektoren Einrichtungen zum Vergleichen der Intensität von Proben-Abtast-und Bezugsstrahl und zur Lieferung eines für die Dichte der Probe repräsentativen Ausgangssignals angeschlossen sind.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2542102A1 (fr) * 1983-03-04 1984-09-07 Nicolet Instrument Corp Instrument d'analyse muni d'un condenseur optique
DE3539667A1 (de) * 1985-11-08 1987-05-14 Bruker Analytische Messtechnik Optisches spektrometer, insbesondere infrarot-spektrometer

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1977359A (en) * 1931-03-24 1934-10-16 Westinghouse Electric & Mfg Co Method of analysis employing photosensitive devices
US2612814A (en) * 1948-05-26 1952-10-07 Du Pont Differential refractometer
US3565529A (en) * 1967-09-26 1971-02-23 Guyton Arthur C Arteriovenous oxygen difference analyzer

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1977359A (en) * 1931-03-24 1934-10-16 Westinghouse Electric & Mfg Co Method of analysis employing photosensitive devices
US2612814A (en) * 1948-05-26 1952-10-07 Du Pont Differential refractometer
US3565529A (en) * 1967-09-26 1971-02-23 Guyton Arthur C Arteriovenous oxygen difference analyzer

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DE-Buch Kortüm: Kolorimetrie Photometrie und Spektrometrie, Springer-Verlag 1962, S. 263 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2542102A1 (fr) * 1983-03-04 1984-09-07 Nicolet Instrument Corp Instrument d'analyse muni d'un condenseur optique
DE3539667A1 (de) * 1985-11-08 1987-05-14 Bruker Analytische Messtechnik Optisches spektrometer, insbesondere infrarot-spektrometer
US4760258A (en) * 1985-11-08 1988-07-26 Bruker Analytische Messtechnik Gmbh Optical instrument

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