DE3332986C2

DE3332986C2 -

Info

Publication number: DE3332986C2
Application number: DE19833332986
Authority: DE
Inventors: Johannes Dr.-Ing. 1000 Berlin De Fleischer
Original assignee: Optronik Opto - Elektronische - Systeme 1000 Berlin De GmbH
Current assignee: OPTRONIK GMBH OPTO - ELEKTRONISCHE - SYSTEME, 1000
Priority date: 1983-09-10
Filing date: 1983-09-10
Publication date: 1988-02-04
Also published as: DE3332986A1

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Hauptanspruchs.

Eine solche Vorrichtung ist bekannt (DE-OS 29 28 306). Von Nachteil ist jedoch, daß die Probe in eine schnelle Rotationsbewegung versetzt werden muß, um einen Mittel wert der Reflexionseigenschaften beim Messen zu erhalten. Weiterhin ist von Nachteil, daß die Probe nur aus einer Richtung von einer quasi punktförmigen Licht quelle belichtet wird. Infolge des rotatorischen An triebes ist das bekanntere Reflexionsmeßgerät aufwendig.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein ohne drehbare Teile also nach einem statischen Verfahren ar beitendes Reflexionsgerät hoher Genauigkeit so auszu gestalten, daß die Messung mit einer einzigen Belichtung ohne Mittelwertbildung mehrerer Messungen möglich ist.

Diese Aufgabe wird bei einer gattungsgemäßen Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Hauptanspruches erfindungsgemäß durch dessen kennzeichnende Merkmale gelöst.

Mit der erfindungsgemäßen Realisierung ist ein nach einem statischen Verfahren im Gegensatz zu den dynamischen Verfahren nach dem Stande der Technik ar beitendes Reflexionsmeßgerät ohne jegliche bewegten Teile möglich. Außerdem kann bei diesem Gerät die ge normte 45/0°-Meßgeometrie gewahrt werden, die Entladungs lampen als Strahlungsquelle verwendet werden, da eine Bogenunruhe oder der geometrische Einfluß unterschied licher räumlicher Entladungswege bei der Blitzent ladung der Entladungslampe keinen meßbaren Einfluß auf das Meßergebnis ausüben kann.

Weiterhin ermöglicht die Erfindung einen außerordent lich kompakten Aufbau, wenn in zweckmäßiger Ausge staltung eine ringförmige Blitzlampe dicht über der Probe, jedoch außerhalb der Blende angebracht wird.

Zweckmäßige Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Er findung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.

Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert, die eine schematische Darstellung der Er findung im Querschnitt zeigt. Die dargestellte Anordnung dient zur Messung des spektralen Strahldichtefaktors unter Wahrung der genormten 45/0°-Meßgeometrie mit einer Lichtquelle 4 für gepulstes Licht, deren eine Bogenentladung mit 5 und deren andere Bogenentladung schematisch mit 6 bezeichnet ist. Die Lichtquelle ist torusförmig ausgebildet und parallel zu einem Strahltenteiler 8 in Form einer optisch klaren Scheibe angeordnet, so daß die Strahlung unter einem mittleren Einfallswinkel von 45° auf die mit einem ersten Ab stand von dem Strahlenteiler 8 angeordnete und zu messende Probe 3 fällt.

Ein Teil der Strahlung wird an dem Strahlenteiler 8 reflektiert und gelangt auf eine spiegelsymmetrisch zu der Probe 3 bezüglich des Strahlenteiles 8 ange ordneten Referenzprobe 7. Eine Blende 9 verhindert die direkte Einstrahlung von der Lichtquelle auf die Referenzprobe 7. Der Probe 3 bzw. der Referenzprobe 7 sind jeweils Detektoren 1 bzw. 2 zugeordnet, welche das von der Referenzprobe senkrecht zu deren Ebene reflektierte Licht messen.

Da die Entfernungen von dem Strahlenteiler 8 zur Probe 3 sowie von dem Strahlenteiler 8 zur Referenzprobe 7 gleich sind, ist das Verhältnis der Strahlungsanteile, welche von der Probe 3 auf die Apertur des Detektors 1 gelangen, zu jenen, die von der Referenzprobe 7 auf die Apertur des Detektors 2 gelangt, unabhängig von der Lage 5 bzw. 6 der Bogenentladung der Lichtquelle konstant.

Anstelle der Referenzprobe kann eine Trübglasfläche als Auffangfläche für den unmittelbar dahinter anzu bringenden Detektor 2 verwendet werden.

Claims

1. Vorrichtung zur Messung der Reflexionseigen schaften einer Probe,

- mit einer Lichtquelle, die die Probe unter einem Winkel bestrahlt, z. B. für die 45/0°- Meßgeometrie;
- mit einem ersten Detektor zum Empfang des von der Probenoberfläche senkrecht reflektierten Lichts;
- mit einem ebenen Strahlenteiler zwischen der Lichtquelle und der Probe;
- mit einem zweiten Detektor zum Empfang des von Strahlenteiler reflektierten Lichts;

gekennzeichnet durch die Merkmale:

- die Lichtquelle ist als kreisringförmige Ent ladungslampe für gepulstes Licht ausgebildet;
- eine erste Apertur befindet sich in einer Ebene parallel zur Ringebene der Lampe in einem Abstand, der die Meßgeometrie defi niert;
- der Strahlenteiler erfaßt den gesamten Kegel mantel zwischen der Lampe und der ersten Apertur;
- eine zweite Apertur befindet sich im Spiegel bild der ersten bezüglich des Strahlentei lers;
- an die Stelle einer Apertur ist die Probe einbringbar, während sich an der Stelle der anderen Apertur ein Detektor zum Empfang von Referenzlicht befindet;
- es ist eine Blende vorgesehen, die direkte Lichteinstrahlung auf die lichtquellenseiti ge Apertur abschirmt.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle eine Kurzbogenlampe niedri ger Leistung (kleiner 150 W) ist.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlenteiler spektral-selektiv ist.

4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlenteiler (8) aus einer teil reflektierenden Schicht besteht.

5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Träger der strahlenteilenden Schicht aus Kunststoff besteht.

6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der erste und zweite Detektor (1, 2) zur spektralselektiven Aufnahme ausgebildet sind.

7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß anstelle der Referenzprobe (7) ein trüb durchlässiges, streuendes Medium angebracht ist und die Eintrittsapertur des zweiten Detektors (2) unmittelbar dahinter angebracht ist.