DE2938160A1 - Doppelbrechendes bauelement fuer polarisierende interferenzapparate - Google Patents
Doppelbrechendes bauelement fuer polarisierende interferenzapparateInfo
- Publication number
- DE2938160A1 DE2938160A1 DE19792938160 DE2938160A DE2938160A1 DE 2938160 A1 DE2938160 A1 DE 2938160A1 DE 19792938160 DE19792938160 DE 19792938160 DE 2938160 A DE2938160 A DE 2938160A DE 2938160 A1 DE2938160 A1 DE 2938160A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- prism
- image
- wollaston
- wollaston prism
- prisms
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/28—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Polarising Elements (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
Titel; Doppelbrechendes Bauelement für polarisierende Interferenzapparate
Die Erfindung betrifft ein doppelbrechendes Bauelement, das vorwiegend in Verbindung mit Interferenzkontrasteinrichtungen
für Auf- und Durchlichtmikroskope verwendet wird. Diese Interferenzkontrasteinrichtungen werden im
allg· als Ergänzungseinheiten für normale Mikroskope
ausgeführt. Sie können aber auch integrierender Bestandteil eines Mikroskops sein. Sie werden vor allem in der
Biologie und Medizin und in anderen technischen Arbeitsgebieten, wie Chemie und Metallographie, zur Kontrastierung
von Phasenobjekten eingesetzt. Das sind solche mikroskopische
Objekte, die bei normaler Hellfeldbeobachtung
nicht oder nur schwach kontrastiert sind.
Die nach dem Prinzip der differentiellen Bildaufspaltung
im polarisierten Licht arbeitenden, zur Kontrastierung
von Phasenobjekten dienenden interferenzmikroskopischen
Anordnung verwenden überwiegend Wollastonprismen, die aus zwei verkitteten Einzelprismen aus doppelbrechendem
Material bestehen und deren optische Achsen senkrecht zueinander orientiert sind. Sie befinden sich abbildungsseitig
in der Fähe der Austrittspupille des Objektivs und beleuchtungsseitig in der Nahe der vorderen Kondensorbrennebene«
3406
030028/QSAO
293816Q
Die WolleBtonprismen bewirken eine Winkelaufspaltung
dee einfallenden, durch einen vorgeschalteten Polarisator linear polarisierten Strahls in seine senkrecht
zueinander polarisierten Strahlkomponenten, wodurch von jedem Objekt zwei Bilder entstehen, die um einen
geringen Betrag seitlich gegeneinander versetzt sind und durch Interferenz in der Zwischenbildebene zu
einem Reliefkontrast führen· Die Mittendicken der
Teilprismen werden für die beiden abbildungsseitig
und beleuchtungsseitig angeordneten Wo11aetonpriemen
im a11g· so abgestimmt, daß für den Achsenstrahl der
Gangunterschied zwischen der ordentlichen und außerordentlichen Strahlkomponente bei jedem Wollastonprisma
null ist· Das ist dann aber nicht für die außeraxialen
und geneigten Strahlen der Fall·
Diese sich auf den Bildkontrast ungünstig auswirkenden Gangunterschiedsdifferenzen zwischen den Komponenten
der verschiedenen Strahlen lassen sich durch geeignete Abstimmung der Daten des beleuchtungsseitigen zum abbildungsseitigen
Wollastonprisma teilweise kompensieren.
Solche Anordnungen sind zuerst in der britischen Patentschrift 639 014 und in der französischen Patentschrift
1 059 123 vorgeschlagen worden. In der britischen Patentschrift 639 014 werden die Wollastonprismen
direkt in der Brennebene von Objektiv und Kondensor angeordnet, wo auch die Strahlenaufspaltung erfolgt, während
in der französischen Patentschrift 1 059 123 durch veränderte Orientierung der optischen Achse des einen
Teilpristnas das so etwas abgewandelte Wollastonprisma
auch außerhalb der Brennebene und damit anwendungsfreundlicher angeordnet werden kann und die Strahlenaufspaltung
so erfolgt, daß sich die Komponenten oder ihre rückwärtigen Verlängerungen in der Brennebene von Objektiv oder
Kondensor schneiden·
3406 030028/0640
Eine vollständige Kompensation der Gangunterschiedsdifferenzen gelingt bei den Anordnungen nach GB-PS 639 014
und FB-PS 1 059 123 für Pupille und Bildfeld allerdings nur bei völlig symmetrischem Aufbau nach der o. g· britischen
Patentschrift, d. h. wenn die Brennweiten von Kondensor und Objektiv gleich sind, denn nur dann sind
auch die beiden Wollastonprismen gleich. Jedoch ist ein solcher Aufbau in der Praxis nur in Sonderfällen realisierbar.
Je stärker die Symmetrie gestört ist, um so weniger vollständig ist eine Kompensation möglich.
Die Pupillenkompensation für die durch einen Achsenpunkt des Bildfeldes gehenden Strahlen gelingt immer. Es sind
lediglich Prismenwinkel und Orientierung der optischen Achsen beider Wollastonprismen so aufeinander abzustimmen,
daß die im be leuchtungs seit igen Wollastonprisma aufgespalteten
Strahlkomponenten im bildseitigen Wollastonprisma wieder vereinigt werden. Für außeraxiale Bildpunkte
ist die Pupillenkompensation auch noch mit guter Näherung möglich. Das ist nicht für die Feldkompensation zur Erreichung
der gleichmäßigen Kontrastierung über das gesamte Bildfeld der Fall, insbesondere, wenn man die mit den heute
üblichen Großfeldobjektiven erreichbaren großen Bildfelder voll nutzen will·
Es läßt sich theoretisch und experimentell zeigen, daß ein vom Azimut der die Wollastonprismen durchsetzenden
Lichtbündel abhängiger Effekt auftritt, der zu einer hyperbelförmigen Helligkeitsverteilung im Bildfeld führt
DD-PS 113 271, Stude et application d'un interfSromStre
i polarisation, Optica Acta 1 (1954) 50-58. Die Größe der auftretenden Helligkeitsunterschiede und des gleichmäßig
kontrastierten Bereiches hängt bei optimaler Anpassung der beiden Wollastonprismen vor allem von ihrer Dikke
und nach der FR-PS 1 059 123 vom Orientierungswinkel der optischen Achse im schräg zur Prismenbasis orientierten
Teilprismen,also dem Abstand von der Brennebene ab.
3406 030028/0540
Die Wollaatonprismen können aus Stabilitätsgründen
nicht beliebig dünn gemacht werden. Das gilt insbesondere für das abbildungsseitige Prisma, weil schon eine geringe Abweichung von der Planparallelität zu deutliehen Mängeln in der Bildqualität führen kann, so daß ohne zusätzliche Hilfsmittel durch Verringerung der
Prismendicke die Feldinhomogenität nicht entscheidend
reduziert werden kann·
nicht beliebig dünn gemacht werden. Das gilt insbesondere für das abbildungsseitige Prisma, weil schon eine geringe Abweichung von der Planparallelität zu deutliehen Mängeln in der Bildqualität führen kann, so daß ohne zusätzliche Hilfsmittel durch Verringerung der
Prismendicke die Feldinhomogenität nicht entscheidend
reduziert werden kann·
In der DD-PS 113 271 wird ein zusätzliches polarisationsoptisches
Element und die Möglichkeit seiner Anwendung zur Reduzierung der Inhomogenitäten im Feld eines
mit Wollastonprismen ausgestatteten Interferenzmikroskops
beschrieben, das aber nur sehr beschränkt anwendbar ist, da das Wollastonprisma vereinfacht als plan»
parallele Kristallplatte mit zu den Basisflächen paralleler Kristallachse angenommen wird, die zur optischen Geräteachse senkrecht angeordnet ist.
parallele Kristallplatte mit zu den Basisflächen paralleler Kristallachse angenommen wird, die zur optischen Geräteachse senkrecht angeordnet ist.
Bei Auflichtanordnungen, in etwas geringerem Maße aber
auch im Durchlicht, besteht die Gefahr, daß durch Reflexlon
an den Grenzflächen der abbildungsseitigen Wollastonprismen unerwünschte Lichtreflexe ins Bild gelangen,
die zu einer Verschleierung desselben führen. Diese Reflexe können durch eine geringe Neigung des Wollastonprisma
s unschädlich gemacht werden. Durch eine Neigung
um 4° gegen die optische Geräteachse wird z. B. erreicht,
daß diese Reflexe auch bei einem Bildfelddurchmesser von
32 mm nicht ins Bildfeld gelangen. Allerdings muß man
dann einen unsymmetrischen Durchgang durch das Wollastonprisma in Kauf nehmen, woraus sich eine weitere Störung der Symmetrie und damit der Kompensation ableitet.
dann einen unsymmetrischen Durchgang durch das Wollastonprisma in Kauf nehmen, woraus sich eine weitere Störung der Symmetrie und damit der Kompensation ableitet.
3406
030028/05A0
Es soll eine Einrichtung geschaffen werden, die bei wesentlicher Reduzierung des Reflexlichtes eine gleichmässige
Kontrastierung über große Bildfelder ermöglicht. Daraus resultiert eine deutliche Steigerung des Kontrastes
und der Bildqualität sowie die'*wesentliche Herabsetzung der Feldinhomogenitäten.
Es werden optimale Bedingungen für die Kontrastierung
mikroskopischer Phasenobjekte im Interferenzmikroskop geschaffen, indem das Wollastonprisma sehr dünn in der
Größenordnung von 1 mm ausgeführt und zur mechanischen Stabilisierung in Glaskeile eingebettet wird, deren
Brechzahl angenähert der mittleren Brechzahl von Quarz entspricht, so daß an den Grenzflächen Glas-Quarz kein
Reflexlicht entsteht. Die Glaskeile werden so ausgeführt, daß insgesamt eine planparallele Platte ausreichender
Dicke (3 bis 4 mm) entsteht. Diese Platte wird so zur optischen Geräteachse geneigt (etwa 3 - 4°), daß
der sowohl bei Auflicht- als auch bei Durchlichtbeleuch- tung entstehende Hauptreflex nicht ins Bildfeld gelangt.
Der Keilwinkel der Glaskeile wird so gewählt, daß der an der ersten Grenzfläche gebrochene Achsenstrahl nahezu
senkrecht auf die Grenzfläche des eingekitteten Wolla-
stonprismas trifft und damit wegen des symmetrischen Durchgangs der Lichtbündel durch das Prisma günstigste
Bedingungen zur Kompensation der Feldinhomogenitäten geschaffen werden. Ein solches Bauelement ist für eine
Auflichtanordnung besonders zweckmäßig, weil hier die
Gefahr der Bildverschleierung durch Reflexe besonders groß ist. Außerdem ist in diesem Fall die spezielle
Anpassung des Kompensationsprismas an das abbildungsseitige
Prisma zur optimalen Feldkompensation nicht
3406 030028/0540
-Jr-
möglich, da Beleuchtungs- und Abbildungsstrahlen durch
dasselbe Wollastonprisma gehen, das demnach gleichzeitig
als Kompensationsprisma und als abbildungsseitiges
Prisma wirkt. Als wesentliches Mittel zur Verringerung der PeIdInhomogenitäten verbleibt deshalb hier nur die
Verringerung der Prismendicke.
Das vorgeschlagene Bauelement iat aber auch für Durchlicht, insbesondere bei Verwendung auf unendlichen
Bildabstand korrigierter Objektive, zur Peldkompensation
und zur Vermeidung von Reflexen vorteilhaft anzuwenden·
Anhand einer Abbildung soll mit einem Ausführungsbeispiel für Auflichtbeleuchtung die Erfindung erläutert
werden.
Das durch den Polarisator 1 linear polarisierte einfallende Licht wird nach Reflexion am Planglas 2 und Passieren
des Glaskeils 3 an dem aus den beiden aus Quarz bestehenden Teilprismen 4 und 5 zusammengesetzten WoI-lastonprisma
aufgespaltet. Die beiden senkrecht zueinander polarisierten Strahlkomponenten schneiden sich
nach Passieren des Glaskeils 6 in der Objektivbrennebene 7, durchlaufen das Objektiv 8 und werden nach Reflexion
am Objekt 9 durch die Wirkung des Objektivs in der Objektivbrennebene wieder zum Schnitt gebracht und
im Wollastonprisma vereinigt. Vom Analysator 10 werden
nur die in gleicher Ebene schwingenden Anteile der Strahlkomponenten hindurchgelassen, die miteinander interferieren,
und im Bild erscheint das beobachtete Objekt durch eine geringe seitliche Aufspaltung reliefartig
kontrastiert. Das in zwei Glaskeile eingekittete Wollastonprisma wird so geneigt, daß der sonst vorhandene
Leuchtfeldblendenreflex nicht mehr ins Bild
3406 030028/05*0
gelangt. Der Keilwinkel der Glaskeile wurde so gewählt, weil damit wegen des symmetrischen Durchgangs der Strahlenbündel
günstigste Kompensationsbedingungen geschaffen werden.
030028/0540
Claims (1)
- Doppelbreckendes Bauelement für polarisierende Interferenzapparate, das zur kontrastreichen Darstellung von Phasenobjekten in den mikroskopischen Strahlengang gebracht wird und eine differentielle Bildaufspaltung bewirkt, dadurch gekennzeichnet, daß ein aus zwei dünnen Teilprismen von doppelbrechendem Material bestehendes Wollastonprisma derart in Glaskeile eingekittet ist, daß bei einer Neigung des erfindungsgemäßen Bauelementes gegenüber der optischen Geräteachse der Achsenstrahl nahezu senkrecht auf die Grenzfläche des Wollastonprismas trifft·3406030028/05 U0ORIGINAL INSPECTED
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD20989978A DD139902A1 (de) | 1978-12-19 | 1978-12-19 | Doppelbrechendes bauelement fuer polarisierende interferenzapparate |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2938160A1 true DE2938160A1 (de) | 1980-07-10 |
Family
ID=5515943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19792938160 Withdrawn DE2938160A1 (de) | 1978-12-19 | 1979-09-21 | Doppelbrechendes bauelement fuer polarisierende interferenzapparate |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5664311A (de) |
DD (1) | DD139902A1 (de) |
DE (1) | DE2938160A1 (de) |
FR (1) | FR2444949A1 (de) |
GB (1) | GB2038500A (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0045321B1 (de) * | 1980-07-31 | 1986-12-10 | International Business Machines Corporation | Verfahren und Einrichtung zur optischen Distanzmessung |
JPS5936220A (ja) * | 1982-08-25 | 1984-02-28 | Toshiba Corp | 固定スリット型光電顕微鏡 |
GB2270774B (en) * | 1992-09-10 | 1995-09-27 | Univ Open | Polarized light microscopy |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2700918A (en) * | 1949-01-19 | 1955-02-01 | American Optical Corp | Microscope with variable means for increasing the visibility of optical images |
FR1056682A (fr) * | 1951-05-18 | 1954-03-01 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Microscope interférentiel |
FR1059124A (fr) * | 1952-05-14 | 1954-03-23 | Centre Nat Rech Scient | Dispositif interférentiel à polarisation pour l'étude des objets transparents ou opaques appartenant à la classe des objets de phase |
FR1421644A (fr) * | 1964-11-25 | 1965-12-17 | Polskie Zaklady Optyczne | Microscope polarisant à interférence |
FR1429314A (fr) * | 1964-12-14 | 1966-02-25 | Centre Nat Rech Scient | Perfectionnements à l'interférométrie |
FR1563680A (de) * | 1967-10-20 | 1969-04-18 | ||
GB1248771A (en) * | 1968-08-02 | 1971-10-06 | Vickers Ltd | Double-refracting interference microscope |
AT309103B (de) * | 1969-10-25 | 1973-08-10 | Leitz Ernst Gmbh | Optisches Bauelement für Zweistrahl-Interferenzmikroskope, zur Aufspaltung bzw. Vereinigung eines polarisierten Strahlenbündels |
US3868168A (en) * | 1973-01-16 | 1975-02-25 | American Optical Corp | Combination of birefringent elements for polarizing interferential systems |
-
1978
- 1978-12-19 DD DD20989978A patent/DD139902A1/de not_active IP Right Cessation
-
1979
- 1979-09-21 DE DE19792938160 patent/DE2938160A1/de not_active Withdrawn
- 1979-12-17 FR FR7930837A patent/FR2444949A1/fr active Pending
- 1979-12-18 GB GB7943529A patent/GB2038500A/en not_active Withdrawn
- 1979-12-19 JP JP16419079A patent/JPS5664311A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5664311A (en) | 1981-06-01 |
DD139902A1 (de) | 1980-01-23 |
FR2444949A1 (fr) | 1980-07-18 |
GB2038500A (en) | 1980-07-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2401973C2 (de) | Polarisations-Interferenzmikroskop | |
DE2518047A1 (de) | Interferometer | |
EP0710369A1 (de) | Höchstaperturiges katadioptrisches reduktionsobjektiv für die mikrolithographie | |
DE3204686A1 (de) | Optisches system zur durchlichtmikroskopie bei auflichtbeleuchtung | |
DE2428810C2 (de) | Interferenzmikroskop | |
DE4228962C2 (de) | Optisches System zum Vergrößern eines Anzeigefeldes | |
DE10164058B4 (de) | Inspektionsvorrichtung | |
DE19751155A1 (de) | Bilderzeugungsvorrichtung zum Erzeugen eines Bildsignals aus dem einfallenden Licht | |
DE2938160A1 (de) | Doppelbrechendes bauelement fuer polarisierende interferenzapparate | |
WO2007054396A1 (de) | Dunkelfeldobjektiv für ein mikroskop | |
EP1359453A2 (de) | Anordnung und Verfahren zum polarisationsoptischen Interferenzkontrast | |
DE1572735B1 (de) | Optische Vorrichtung zur UEberpruefung der Brechungseigenschaften planparalleler,lichtdurchlaessiger Proben | |
DE1243509B (de) | Mischbild-Entfernungsmesser, insbesondere fuer Spiegelreflex-Kameras mit in der Sucherbildebene angeordneten Prismen aus doppelbrechendem Material | |
DE2458720C2 (de) | Vorrichtung zur Änderung der Neigung des Gegenstandsfeldes oder des Bildfeldes in bezug auf die optische Achse in optischen sammelnden Systemen | |
DE2259262C3 (de) | ||
DD143183B1 (de) | Zwischenabbildungssystem zur durchfuehrung von kontrastverfahren bei mikroskopen | |
DE102019217479A1 (de) | Optisches System für ein bildgebendes Verfahren sowie Verwendung des optischen Systems | |
EP0627642B1 (de) | Binokularer Einblick | |
DE2259262B2 (de) | Interferometer | |
EP1408361B1 (de) | Polarisationsinterferenzmikroskop | |
DE3542218A1 (de) | Anordnung zur kompensation von gangunterschiedsdifferenzen | |
DE109091C (de) | ||
DE598973C (de) | Opakilluminator fuer Polarisationsmikroskope | |
DE29609959U1 (de) | Strahlteiler für ein konfokales Scanningmikroskop | |
DE2629501A1 (de) | Weiche fuer lichtleiter |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |