DE292523T1 - Teilchenanalysator zur messung des widerstandes und der reaktanz von teilchen. - Google Patents
Teilchenanalysator zur messung des widerstandes und der reaktanz von teilchen.Info
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Claims (19)
1. Teilchenanalysiergerät mit einem Detektor (12), welchen
eine Anzahl von Teilchen durchlaufen, wobei der Detektor
(12) einen elektrischen Widerstand (50) und eine Reaktanz
(52) aufweist, wobei sich entweder der Widerstand (50) oder die Reaktanz (52) oder beide beim Durchlaufen eines
Teilchens (20) ändern, dadurch gekennzeichnet,
daß eine ein aktives Element (32) und einen Schwingkreis (34) zur Erzeugung eines Ausgangssignals (Fig. 3) aufweisende
Oszillatoreinheit (24) vorgesehen ist, wobei der '
Schwingkreis (34) mit dem Detektor (12) gekoppelt ist, so
daß Widerstand (50) und Reaktanz (52) einen Teil des
Schwingkreises (34) bilden, und daß Wandler (58,60;62,64,66) für jede Ausgangssignaländerung der Oszillatoreinheit
beim Durchlaufen eines Teilchens durch den Detektor (12) vorgesehen sind.
2. Analysiergerät nach Anspruch 1, mit einer Konstant-Strom-Quelle
(22) zum Liefern konstanten Stroms durch den Detektor (12), dadurch gekennzeichnet, daß Trennelemente
(26) zum Trennen der Konstant-Strom-Quel1e (22) und des
Oszillators (24) vorgesehen sind.
3. Analysiergerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Trenne 1 etnente (26) eine in Reihe zwischen der Konstant-Strom-QuelIe (22) und dem Detektor (12) geschaltete
Induktionsspule (54) aufweisen sowie einen in Reihe
zwischen dem Schwingkreis (34) und dem Detektor (12) geschalteten
Kondensator (56).
4. Analysiergerät nach einem der Ansprüche 1, 2 oder 3, da-
durch gekennzeichnet, daß die Wandler (62,64,66) zwischen
dem aktiven Element (32) und dem Schwingkreis (34) geschaltet
sind.
5. Analysiergerät nach einem der Ansprüche 1, 2 oder 3, d a durch
gekennzeichnet, daß der elektrische Widerstand (50)
und die Reaktanz (52) parallel mit dem Schwingkreis (34)
geschaltet sind.
6. Analysiergerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Oszillatoreinheit (24) mindestens zwei Oszillatoren
(76,78) aufweist, welche jeweils mit einem Schwingkreis (34) zur Erzeugung von Signalen mit zwei verschiedenen
Frequenzen (FI,F2) versehen und mit dem Detektor (12) gekoppelt sind, so daß der Widerstand (50) und die
><. 20 Reaktanz- (52) des Detektors (12) einen Teil des Schwingkreises (34) jedes Oszillators (76,78) bilden.
7. Analysiergerät nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß jeder Oszillator (76,78) mit dem Detektor (12) über Filterelemente (77,79) zum Herausfiltern jedes Signals
mit der Frequenz (FI,F2) des von dem anderen Oszillator
(76,78) erzeugten Signals gekoppelt ist.
8. Analysiergerät nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß jedes Filterelement (77,79) einen Paral1 elschwing-
kreis (84,86;92,94) aufweist, welcher mit dem Detektor
(12) und dem mit den Filterelementen (77,79) verbundenen
Oszillator (76,78) in Reihe geschaltet ist.
9. Analysiergerät nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß der Parallelschwingkreis (84,86;92,94) auf die Fre-
quenz (FI,F2) des anderen Oszillators (78,76) abgestimmt
st.
10. Analysiergerät nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß jedes Filterelement (77,79) einen Sperrkreis
(80,82;88,90) aufweist, welcher mit dem mit dem Filterelement (77,79) verbundenen Oszillator (76,78) parallel
geschaltet ist.
11. Analysiergerät nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
daß der Sperrkreis (80,82;88,90) auf die Frequenz
(F2;F1) des anderen Oszillators (78,76) abgestimmt ist.
12. Analysiergerät nach einem der Ansprüche 1 bis 3 und 6
bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Oszillator
(76,78) mit dem Detektor (12) für einen Hochfrequenzstrom
durch den Detektor (12) gekoppelt ist.
13. Analysiergerät nach einem der Ansprüche 1 bis 3 und 6
bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Wandler (58,60)
mit dem Schwingkreis (34) jedes Oszillators (76,78) gekoppelt
sind.
14. Analysiergerät nach einem der Ansprüche 1 bis 3 und 6
bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Schwingkreis
(34) jedes Oszillators (24) zwei in Reihe geschaltete Reaktanzen (42) eines Typs aufweist, welche mit einer
Reaktanz (40) des entgegengesetzten Typs parallel geschaltet sind, wodurch ein Hü 11kurven-Ausgangssigna1
(Fig. 3) zwischen den in Reihe geschalteten Reaktanzen (42) des einen Typs geschaffen wird.
15. Analysiergerät zur Bestimmung von Teilchen (20) in einer
Lösung und gewissen Teilchen-Parametern, mit einem Detektor (12), welchen die Lösung durchfließt und welcher
einen gewissen elektrischen Widerstand (50) und eine Re-
aktanz (54) aufweist, wobei sich beim Durchfließen eines Teilchens (20) entweder der Widerstand (50) oder die Reaktanz
(54) oder beide ändern, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Anzahl von 0szi11atoren(F1,F2,...,FN) vorhanden
sind, von welchen jeder ein unterschiedliches Frequenzsignal
erzeugt,
daß Kopplungsvorrichtungen (Tl...TN, 56-1...56-N) zum
parallelen Koppeln der einzelnen Oszillatoren ( FI , F2,...,FN ) mit dem Detektor (12) vorgesehen sind,
wobei die Kopplungsvorrichtungen (TI...TN,56—1...56—N)
ein mit jedem Oszillator (F1,F2...FN) verbundenes
Reaktanzelement (80,82,84,56-1...56-N) aufweisen, welches so angeordnet und bemessen ist, daß das von jedem
Oszillator (F1,F2...FI\I) erzeugte Signal über einen niederohmigen
Pfad (56—1...56 —N) mit dem Detektor (12) und
über einen hochohmigen Pfad (Tl...TN) mit dem anderen
Oszillator oder den anderen Oszillatoren (F1.F2...FN)
gekoppelt ist, und
daß eine Ausgabevorrichtung (58,60) gewisser Parameter
für jede der Frequenzen (FI...FN), jedesmal wenn ein
Teilchen (20) den Detektor (12) durchläuft, vorgesehen
ist.
16. Analysiergerät nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kopplungsvorrichtungen (Tl...TN, 56-1...56-N)
einen in Reihe zwischen jedem Oszillator (FI...FN) und dem Detektor (12) geschalteten Parallelschwingkreis
(84,86:92,94) aufweisen, wobei jeder Para11 elschwingkreis
(84,86;92,94) auf die Frequenz der Oszillatoren
(FI...FN) abgestimmt ist, mit welchen er nicht gekoppelt
■ ist.
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17. Analysiergerät nach Anspruch 15 oder 16, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kopplungsvorrichtungen (Tl...TN, 56-1...56-N) einen mit jedem Oszillator (FI...FN) parallel
geschalteten Sperrkreis (80,82;88,90) aufweisen, wobei
jeder Sperrkreis (80,82;88,90) auf die Frequenz der
Oszillatoren (FI...FN) abgestimmt ist, mit weichen er nicht gekoppelt ist.
18. Analysiergerät nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kopplungsvorrichtungen (Tl...TN, 56-1...56-N)
Kapazitäten (56—1...56—N) einschließen, die verbunden
sind mit und gekoppelt sind in Reihe zwischen jedem Oszillator
(FI...FN) und dem Detektor (12).
19. Analysiergerät nach einem der Ansprüche 15 oder 16, dadurch
gekennzeichnet, daß die Kopplungsvorrichtungen (Tl...TN, 56-1...56-N) Kapazitäten (56-1...56-N) einschließen,
die verbunden sind mit und gekoppelt sind in
Reihe zwischen jedem Oszillator (FI...FN) und dem Detektor (12).
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/921,654 US4791355A (en) | 1986-10-21 | 1986-10-21 | Particle analyzer for measuring the resistance and reactance of a particle |
| PCT/US1987/002744 WO1988003267A1 (en) | 1986-10-21 | 1987-10-20 | Particle analyzer for measuring the resistance and reactance of a particle |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE292523T1 true DE292523T1 (de) | 1989-10-05 |
Family
ID=26776352
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE1987907867 Pending DE292523T1 (de) | 1986-10-21 | 1987-10-20 | Teilchenanalysator zur messung des widerstandes und der reaktanz von teilchen. |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE292523T1 (de) |
-
1987
- 1987-10-20 DE DE1987907867 patent/DE292523T1/de active Pending
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