DE2740764C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE2740764C2
DE2740764C2 DE19772740764 DE2740764A DE2740764C2 DE 2740764 C2 DE2740764 C2 DE 2740764C2 DE 19772740764 DE19772740764 DE 19772740764 DE 2740764 A DE2740764 A DE 2740764A DE 2740764 C2 DE2740764 C2 DE 2740764C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
electron beam
resist
semiconductor
resist mask
resist layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19772740764
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE2740764A1 (de
Inventor
Hugo Dr.Rer.Nat. Dipl.-Phys. 8035 Gauting De Ruechardt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19772740764 priority Critical patent/DE2740764A1/de
Publication of DE2740764A1 publication Critical patent/DE2740764A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2740764C2 publication Critical patent/DE2740764C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
    • H01L21/0271Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers
    • H01L21/0273Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers characterised by the treatment of photoresist layers
    • H01L21/0277Electrolithographic processes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
DE19772740764 1977-09-09 1977-09-09 Verfahren zum herstellen einer halbleitervorrichtung Granted DE2740764A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19772740764 DE2740764A1 (de) 1977-09-09 1977-09-09 Verfahren zum herstellen einer halbleitervorrichtung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19772740764 DE2740764A1 (de) 1977-09-09 1977-09-09 Verfahren zum herstellen einer halbleitervorrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2740764A1 DE2740764A1 (de) 1979-03-22
DE2740764C2 true DE2740764C2 (enrdf_load_stackoverflow) 1989-09-14

Family

ID=6018580

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19772740764 Granted DE2740764A1 (de) 1977-09-09 1977-09-09 Verfahren zum herstellen einer halbleitervorrichtung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2740764A1 (enrdf_load_stackoverflow)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4508952A (en) * 1983-02-17 1985-04-02 University Patents, Inc. Electron beam cutting

Also Published As

Publication number Publication date
DE2740764A1 (de) 1979-03-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2516390C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestrahlen einer strahlungsempfindlichen Lackschicht zum Herstellen mikrominiaturisierter Bauelemente
DE3878751T2 (de) Verfahren zur elektronenstrahlaufzeichnung und system in verbindung mit kontinuierlich verschiebbarem tisch unter verwendung von gross-bereichsablenkung.
DE2811553C2 (enrdf_load_stackoverflow)
DE2222665A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Ausrichten von Elektronenprojektionssystemen
DE2441421A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur ausrichtung von elektronenstrahlen
DE3206374C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Eichen der Ablenkung eines aus geladenen Teilchen bestehenden Strahls
DE2260229C3 (enrdf_load_stackoverflow)
DE3727453A1 (de) Verfahren zum ausrichten eines musters auf einem chip
DE2659247A1 (de) Elektronenstrahlenbuendel benutzendes, lithografisches system
DE2056620A1 (de) Vorrichtung zur Belichtung von Halb leiterelementen
DE2725959C3 (de) Elektronenstrahl-Bearbeitungseinrichtung
DE2647855A1 (de) Verfahren zum projizieren eines buendels aus geladenen partikeln
DE19732668C2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Kalibrierung von Strahlabtastvorrichtungen
DE2121000A1 (de) Einrichtung zum Vergleich von Mustern
DE3130422C2 (de) Verfahren zum Aufzeichnen eines Bildmusters auf einem mit einem für Elektronen empfindlichen Material beschichteten Substrat
DE1804646A1 (de) Korpuskularstrahl-Bearbeitungsgeraet mit einem Objekttisch und Ablenkmitteln fuer den Strahl
DE3342491A1 (de) Automatische vorrichtung zum herstellen oder pruefen von geraeten
DE2320888C3 (de) Verfahren zum Einstellen des Auftreffpunktes eines Elektronenstrahls auf einer Zielfläche und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE19544753C2 (de) Elektronenstrahl-Schreibverfahren
EP0003527A2 (de) Verfahren und Anordnung zur Fokussierung eines Ladungsträgerstrahls auf Halbleiterplättchen
DE2731142C3 (de) Verfahren zur Feststellung der Lage eines Elektronenstrahls in bezug auf auf einem Objekt angeordnete Ausrichtmarkierungen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE2740764C2 (enrdf_load_stackoverflow)
DE2704441A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur bestrahlung einer werkstueckflaeche
DE3346001C2 (enrdf_load_stackoverflow)
EP0222219A2 (de) Einrichtung, bei der ein Elektronenstrahl auf ein Medium trifft

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8125 Change of the main classification

Ipc: H01J 37/304

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee