DE2713287A1 - Verfahren zum herstellen von scheibenfoermigen siliciumkoerpern - Google Patents
Verfahren zum herstellen von scheibenfoermigen siliciumkoerpernInfo
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- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 35
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 34
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims abstract description 34
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000006698 induction Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 238000004049 embossing Methods 0.000 claims description 12
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000005496 tempering Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
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- H01L31/1804—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table
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- H01L21/26—Bombardment with radiation
- H01L21/263—Bombardment with radiation with high-energy radiation
- H01L21/268—Bombardment with radiation with high-energy radiation using electromagnetic radiation, e.g. laser radiation
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/036—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
- H01L31/0368—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including polycrystalline semiconductors
- H01L31/03682—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including polycrystalline semiconductors including only elements of Group IV of the Periodic Table
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/546—Polycrystalline silicon PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Optics & Photonics (AREA)
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Description
- Verfahren zum Herstellen von scheibenförmigen Siliciumkörpern.
- Die vorliegende Patentanmeldung betrifft ein Verfahren zum Herstellen von scheibenförmigen Siliciumkörpern, wie sie insbesondere für Solarzellen verwendet werden.
- Zur Herstellung von Solarzellen, welche aus großflächigen Siliciumscheiben bestehen, soll möglichst billiges Silicium verwendet werden. Die Anforderungen, die an diese Bauelemente in Bezug auf Reinheit gestellt werden, sind nicht so hoch wie bei den für Schaltungen einsetzbaren Bauelementanordnungen.
- Es war deshalb ein Weg zu finden, Silicium auf einfache und billige Weise herzustellen, d. h., möglichst ohne Materialverlust.
- Außerdem sollen die teuren Arbeitsgänge wie Läppen und Sägen eines Stabes in Scheiben entfallen.
- Ein Verfahren der eingangs genannten Art zum Herstellen von billigen Siliciumscheiben ist aus der DT-OS 25.08.369 ( = VPA 75 P 1021) zu entnehmen. Bei diesem Verfahren wird polykristallines Silicium aufgeschmolzen und durch Walzen in die Form eines die gewünschte Dicke der scheibenförmigen Siliciumkörper aufweisenden Bandes zum Erstarren gebracht und dann dieses Band entsprechend den gewünschten Abmessungen der Siliciumkörper zerteilt. Mit Ausnahme der Zerteilung des Bandes in die einzelnen Siliciumgrundkörper fallen hier keine Säge- oder Läppprozesse an.
- Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, in einem einzigen Verfahrensschritt einen Siliciumkörper herzustellen, der als Grund- körper für die Herstellung von Solarzellen verwendet werden kann.
- Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß polykristallines Silicium in entsprechender Menge aufgeschmolzen und der gebildete Schmelztropfen unter Verwendung eines Prägestempels in die Form eines die gewünschte Dicke der Scheibe aufweisenden Siliciumkörpers gebracht wird.
- Dabei liegt es im Rahmen des Erfindungsgedankens, das Aufschmelzen der entsprechenden Siliciummenge entweder durch Wärmeeinwirkung mittels Laserstrahlen auf die nach unten angeordnete Kuppe eines schräg gehalterten Siliciumstabes oder durch eine die nach unten hängende Kuppe eines senkrecht gehalterten Siliciumstabes umgebende Induktionsheizspule zu bewirken.
- In einer Weiterbildung des Erfindungsgedankens ist vorgesehen, während des Prägevorgangs sowohl Prägestempel als auch Widerlager zu beheizen. Dabei wird gemäß einem Ausführungsbeispiel nach der Lehre der Erfindung die Temperatur im Bereich von 900 bis 13000C und der Prägedruck auf 50 bis 500 bar eingestellt.
- Wenn erforderlich, können die geprägten Siliciumscheiben im Anschluß an den Prägeprozeß zur Vergrößerung ihrer polykristallinen Körner noch getempert werde. Dabei empfiehlt es sich, eine Temperatur von größer 13000C einzustellen.
- Anhand von zwei Ausführungsbeispielen und der Figuren 1 und 2 soll das erfindungsgemäße Verfahren im Folgenden noch näher erläutert werden. Dabei zeigt die Fig. 1 schematisch eine Prägevorrichtung, bei der der Prozeß in lotrechter Richtung ausgeführt wird, während in Fig. 2 eine Anordnung dargestellt ist, bei der der Prägedruck in horizontaler Richtung erfolgt.
- In Fig. 1 ist eine aus einem axial verschiebbaren (Doppelpfeil 4) Prägestempel 1 und einem festen Widerlager 2 bestehende Anordnung 7 dargestellt, in welche bei geöffneter Anordnung 7 schräg von oben durch gesteuerte Hub-Senk-Bewegungen (s. Doppelpfeil 5) ein polykristalliner Siliciumstab 3 eingeführt wird. Durch fokussierte Laserstrahlung 6 wird die nach unten weisende Kuppe 8 des Siliciumstabes 3 zum Schmelzen gebracht und, sobald der Schmelztropfen 8 die erwünschte Größe erreicht hat, wird der Siliciumstab 3 rasch zurückgezogen (s. Doppelpfeil 5). Dadurch fällt der Schmelztropfen 8 senkrecht nach unten auf das Widerlager 2, wodurch sich bei Berührung durch ein in der Fig. nicht dargestelltes Steuerorgan sofort der Prägestempel 1 schließt (s. Doppepfeil 4). Der Prägestempel 1 und das Widerlager 2 können eine beliebige Form aufweisen und beheizbar ausgestattet sein.
- Durch Einstellung eines bestimmten Taktes der Hub-Senk-Bewegungen sowohl des Siliciumstabes 3 als auch des Prägestempels 1 sowie einer definiert dosierten Laserstrahlung (6) können nach dem Verfahren nach der Lehre der Erfindung scheibenförmige Siliciumkörper von reproduzierbarer Dicke und Größe hergestellt werden.
- Die Scheibendicke wird dabei durch den Anschlag 10 für den Prägestempel 1 bestimmt.
- Das Gleiche gilt auch für die in Fig. 2 gezeigte Anordnung. Hier wird anstelle der Laserstrahlen eine die nach unten hängende Kuppe 18 eines lotrecht gehalterten Siliciumstabes 13 umgebende Induktionsheizspule 17 verwendet. Außerdem erfolgt der Prägeprozeß in horizontaler Richtung. Dabei wird die aus Prägestempel 11 und Widerlager 12 bestehende Anordnung 17 mit Hub-Senk-Bewegungen in Pfeilrichtung 14 beaufschlagt. Der den Schmelztropfen 18 liefernde, lotrecht gehalterte Siliciumstab 13 befindet sich genau senkrecht über der geöffneten Anordnung 17. Sobald der Schmelztropfen 18 die erwünschte Größe hat, wird der Siliciumstab 13 rasch nach oben bewegt (s. Doppelpfeil 15) und der fallende Schmelztropfen 18 bewirkt, sobald er in den Zwischenraum zwischen Prägestempel 11 und Widerlager 12 kommt, durch einen optischen Sensor 19, daß sich die Prägeanordnung 17 sofort schließt und in Funktion tritt. Die Scheibendicke wird durch den Anschlag 20 für den Prägestempel 11 festgelegt.
- 9 Patentansprüche 2 Figuren Leerseite
Claims (9)
- Patentans prüche g Verfahren zum Herstellen von scheibenförmigen Siliciumkörpern, wie sie insbesondere für Solarzellen verwendet werden, d a -d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß polykristallines Silicium in entsprechender Menge aufgeschmolzen und der gebildete Schmelztropfen unter Verwendung eines Prägestempels in die Form eines die gewünschte Dicke der Scheibe aufweisenden Siliciumkörpers gebracht wird.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , daß das Aufschmelzen der entsprechenden Siliciummenge durch Wärmeeinwirkung mittels Laserstrahlen auf die nach unten angeordnete Kuppe eines schräg gehalterten Siliciumstabes .bewirkt wird.
- 3. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , daß das Aufschmelzen der entsprechenden Siliciummenge durch eine die nach unten hängende Kuppe eines senkrecht gehalterten Siliciumstabes umgebende Induktionsheizspule bewirkt wird.
- 4. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , daß während des Prägevorgangs sowohl Prägestempel als auch Widerlager beheizt werden.
- 5. Verfahren nach Anspruch 4, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , daß eine Temperatur im Bereich von 900 bis 13000C eingestellt wird.
- 6. Verfahren nach Anspruch 1 bis 5, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , daß der Prägestempel und der den Schmelztropfen liefernde Stab mit einer Hub-Senk-Bewegung beaufschlagt werden.
- 7. Verfahren nach Anspruch 1 bis 6, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , daß die Betätigung des Prägestempels durch einen optischen Sensor gesteuert wird, wenn die Prägung in horizontaler Richtung durchgeführt wird.
- 8. Verfahren nach Anspruch 1 bis 7, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , daß der Prägedruck auf 50 bis 500 bar eingestellt wird.
- 9. Verfahren nach Anspruch 1 bis 8, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , daß zur Vergrößerung der Kornstruktur die ge-#rägten Siliciumscheiben einem nachfolgenden Temperprozeß unterworfen werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2713287A DE2713287C2 (de) | 1977-03-25 | 1977-03-25 | Verfahren zum Herstellen von scheibenförmigen Siliciumkörpern |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2713287A DE2713287C2 (de) | 1977-03-25 | 1977-03-25 | Verfahren zum Herstellen von scheibenförmigen Siliciumkörpern |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2713287A1 true DE2713287A1 (de) | 1978-09-28 |
DE2713287C2 DE2713287C2 (de) | 1985-01-03 |
Family
ID=6004704
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2713287A Expired DE2713287C2 (de) | 1977-03-25 | 1977-03-25 | Verfahren zum Herstellen von scheibenförmigen Siliciumkörpern |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2713287C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2695511A1 (fr) * | 1992-09-08 | 1994-03-11 | Mitsubishi Electric Corp | Pile solaire en film mince, procédé pour sa production, procédé de production d'un lingot semi-conducteur et procédé de production d'un substrat semi-conducteur. |
-
1977
- 1977-03-25 DE DE2713287A patent/DE2713287C2/de not_active Expired
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
NICHTS-ERMITTELT * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2695511A1 (fr) * | 1992-09-08 | 1994-03-11 | Mitsubishi Electric Corp | Pile solaire en film mince, procédé pour sa production, procédé de production d'un lingot semi-conducteur et procédé de production d'un substrat semi-conducteur. |
US5360745A (en) * | 1992-09-08 | 1994-11-01 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Thin-film solar cell production method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2713287C2 (de) | 1985-01-03 |
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