DE2704338C2 - - Google Patents
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- G—PHYSICS
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19772704338 DE2704338A1 (de) | 1977-02-02 | 1977-02-02 | Schaltungsanordnung zum ueberpruefen von in schaltkreisen eingebauten halbleiterelementen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19772704338 DE2704338A1 (de) | 1977-02-02 | 1977-02-02 | Schaltungsanordnung zum ueberpruefen von in schaltkreisen eingebauten halbleiterelementen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2704338A1 DE2704338A1 (de) | 1978-08-03 |
| DE2704338C2 true DE2704338C2 (https=) | 1987-11-05 |
Family
ID=6000191
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19772704338 Granted DE2704338A1 (de) | 1977-02-02 | 1977-02-02 | Schaltungsanordnung zum ueberpruefen von in schaltkreisen eingebauten halbleiterelementen |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE2704338A1 (https=) |
-
1977
- 1977-02-02 DE DE19772704338 patent/DE2704338A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2704338A1 (de) | 1978-08-03 |
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