DE2652032A1 - Einzelwandmagnetdomaenen-massenspeicher - Google Patents
Einzelwandmagnetdomaenen-massenspeicherInfo
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- 230000005381 magnetic domain Effects 0.000 title claims description 69
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims description 50
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 15
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 claims description 12
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 239000002223 garnet Substances 0.000 claims description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 3
- 241000692870 Inachis io Species 0.000 claims 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 19
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 12
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 11
- 230000006870 function Effects 0.000 description 10
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000004044 response Effects 0.000 description 9
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 7
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 6
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 6
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 5
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 4
- 238000005272 metallurgy Methods 0.000 description 4
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 4
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 108010076504 Protein Sorting Signals Proteins 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 150000002343 gold Chemical class 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000690623 Doras Species 0.000 description 1
- 235000008331 Pinus X rigitaeda Nutrition 0.000 description 1
- 235000011613 Pinus brutia Nutrition 0.000 description 1
- 241000018646 Pinus brutia Species 0.000 description 1
- 235000015076 Shorea robusta Nutrition 0.000 description 1
- 244000166071 Shorea robusta Species 0.000 description 1
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 210000002837 heart atrium Anatomy 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 239000003027 oil sand Substances 0.000 description 1
- 230000037361 pathway Effects 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000007790 scraping Methods 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- 238000009941 weaving Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/02—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements
- G11C19/08—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure
- G11C19/0875—Organisation of a plurality of magnetic shift registers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/02—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements
- G11C19/08—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure
- G11C19/0875—Organisation of a plurality of magnetic shift registers
- G11C19/0883—Means for switching magnetic domains from one path into another path, i.e. transfer switches, swap gates or decoders
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- Magnetic Heads (AREA)
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- Hall/Mr Elements (AREA)
- Mram Or Spin Memory Techniques (AREA)
Description
bu-bd
Anmelderin: International Business Machines
Corporation, Armonk, N.Y. 10504
Amtliches Aktenzeichen: Neuanmeldung Aktenzeichen der Anmelderin: YO 975 045
Einzelwandmagnetdomänen-Massenspeicher
Die Erfindung betrifft eine Anordnung, wie sie dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 zu entnehmen ist.
An anderer Stelle ist ein Verfahren vorgeschlagen worden, das zur Herstellung eines Einzelwandmagnetdomänenspeichers mit
hoher Speicherkapazität und -dichte in hervorragender Weise geeignet ist; hierbei sind drei Maskenverfahrensschritte erforderlich,
wovon einer in Bezug auf Maskenausrichtungserfordernisse äußerst kritisch ist. Bei diesem Verfahren sind Magnetscheibchen
aus weichmagnetischem Material, wie z.B. NiFe, Teil der Ionenimplantationsmaske,
beeinflussen aber nicht die Einzelwandmagnetdomänenweiterleitung
mit Hilfe ionenimplantierter Bereiche. Auf dies Weise definieren die magnetischen Scheibchen sowohl die lonenimplantationsmasken,
als auch Funktionselemente wie sie zur Domänenerzeugung,- weiterleitung,- auslesung und -Vernichtung benötigt
werden..
Verschiedene Systeme unter Anwendung von Einzelwandmagnetdomänen zur Bereitstellung eines Einzelwandmagnetdomänenspeicherchips
sind bekannt. Eine derartige Anordnung in Verwendung als Decodieren
ist der USA Patentschrift 3 701 125 zu entnehmen. In der USA Patentschrift
3 618 054 ist ein Einzelwandmagnetdomänenspeichersysteifi
beschrieben, das aus einer Hauptschleife mit mehreren Nebenschleifen aufgebaut ist. Bei derartigen Speichersystemen sind zum Lesen,
709828/0669
Schreiben, Übertragen zwischen einzelenen Speicherelementen und zuri
Vernichtung von Einzelwandmagnetdomünen spezielle Komponenten erforderlich.
Hierbei werden Einzelwandmagnetdomänen zur Informations
darstellung erzeugt und anschließend an das Speichersystem einge™ j
leitet. Wach Weiterleitung durch ein derartiges Speichersystem I
werden sie ausgelesen, um anschließend vernichtet oder in die Spei-j
cherplätze zurücktransportiert zu werden. Darüberhinaus erfordern diese Speichersysteme oft besondere Übertragungsmaßnahmen, mit
denen Einzelwandraagnetdomänen von einem Weiterleitungspfad auf den
anderen übertragen werden sollen; diese Maßnahme besteht üblicherweise im Anwenden von stromführenden Schleifen, die geeignete
Magnetfeldgradienten zur Durchführung derartiger Übertragsfunktionen
bereitstellen.
Viele Komponenten bzw. Bauelemente zur Erzeugung von Magneteinzel-wanddomänen
und zur Erfassung von Magneteinzelwanddomänen sind bekannt. So ist z.B. eine magnetoresistive Abfühleinrichtung für
jMagneteinzelwanddomänen aus der USA Patenschrift 3 691 540 bekannt.
ι
Zur Durchfährung der Speicherfunktion werden in üblicher Weise Einzelwandmagnetdomänen in hierfür vorgesehenen Weiterleitungsstrukturen v/eitergeleitet. So sind insbesondere aus ionenimplantierten Bereichen bestehende Weiterleitungspfade mit gekrümmten Verlauf besonders brauchbar zur Einzelwandmagnetdomänenspeicherungj da die für die Weiterleitungspfade erforderlichen Linienbreiten der die Bereiche bildenden Elemente jeweils etwa vier Magnetdo ■ mänendurchmessern entsprechen,, so daß sich dementsprechend nicht so scharfe Erfordernisse für die Hersteilungslithographie ergeben Derartige ionenimplantierte Strukturen werden beschrieben beispielsweise von R. Wolfe u.a. in nAIP Conference Proceedings", Nr. 10, Part 1, S. 339 (1973), "18. Annual Conference on Magnetism and Magnetic Materials" in Denver, Colorado, 1972. Gleiches gilt für die USA Patenschrift 3 823 329.
Zur Durchfährung der Speicherfunktion werden in üblicher Weise Einzelwandmagnetdomänen in hierfür vorgesehenen Weiterleitungsstrukturen v/eitergeleitet. So sind insbesondere aus ionenimplantierten Bereichen bestehende Weiterleitungspfade mit gekrümmten Verlauf besonders brauchbar zur Einzelwandmagnetdomänenspeicherungj da die für die Weiterleitungspfade erforderlichen Linienbreiten der die Bereiche bildenden Elemente jeweils etwa vier Magnetdo ■ mänendurchmessern entsprechen,, so daß sich dementsprechend nicht so scharfe Erfordernisse für die Hersteilungslithographie ergeben Derartige ionenimplantierte Strukturen werden beschrieben beispielsweise von R. Wolfe u.a. in nAIP Conference Proceedings", Nr. 10, Part 1, S. 339 (1973), "18. Annual Conference on Magnetism and Magnetic Materials" in Denver, Colorado, 1972. Gleiches gilt für die USA Patenschrift 3 823 329.
Die zur Herstellung von Einzelwandmagnetdomäntinchips benötigten
jProzesse sind in den vergangenen Jahren weiterentwiekelt worden,
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so daß nunmehr Einzelebenenmaskenverfahren zur Herstellung von
Einzelwandraagnetdomünenspeichern bekannt sind, bei denen zur Bildung
eines Weiterleitungspfades mit Abstandslücken angeordnete
; ι
Weiterleitungselemente vorgesehen sind. Bei der Herstellung werden j
:aie magnetischen Abfühler unter Anwendung der gleichen Haske niedeij
geschlagen,- d.h. also zusammen mit diesen magnetischen Weiterlei- {
tungselementen. ua darüberhinaus die Weiter leitungselexnente nicht i
in Berührung miteinander stehen, lassen sich elektrische Leitungs-- j züge über die daraus gebildeten Weiterleitungspfade führen, ohne ;
jdaß Kurzschlüsse zu befürchten sind. Das bedeutet aber, daß ein jEinzelwandnagnetdomänenchip unter Verwendung eines einzigen kritischen
MaskenVerfahrensSchrittes hergestellt werden kann.
:Wie sich nun bei Betrachtung des oben genannten Standes der Technik
ergibt, wird aber nirgendwo das Problem bei Herstellung von !Einzelwandmagnetdomänenchips hoher Speicherkapazizät und -dichte
!angeschnitten, wenn die hiermit anzubringenden Weiterleitungselemente
zur Erstellung der Weiterleitungspfade sich einander beirühren sollen. In derartigen Systemen ist es ja schwierig, elektrische
Leitungszüge direkt auf derartigen Weiterleitungspfaden
zu plazieren, da, wie bereits erwähnt, dann Kurzschlüsse auftreten können. Hinzukommt, daß einige kritiche Maskenverfahrensschritte
üblicherweise erforderlich sind, um die Abfühleinrichtungen, die
iWeiterleitungselemente und die Leitungszüge für die übertragung
'von Einzelwandmagnetdomänen,sowia für den Abfühlstrom zu defilieren.
Weiterhin ist es erforderlich, eine Abdeckmaske vorzusehend um den magnetoresistive Abfühler zu schützen, wenn die elek- ι
trischen Leitungszüge aufgebracht werden. Dies alles stellen kri- | ;tische Punkte dar, wenn Einzelwandmagnetdomänen-Techniken zur Erstellung
rationeller Speicherstrukturen hoher Speicherdichte und t -kapazität dienen sollen.
'Dementsprechend besteht die Aufgabe der Erfindung darin, Einzel-
; wandmagnetdomänenspeicherchips hoher Speicherdichte und -kapazität,;
j die sämtliche zur Informationsverarbeitung mit Hilfe von Einzeliwandmagnetdomänen
benötigten Komponenten enthalten, bereit-
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zustellen, deren Herstellung eine minimale Anzahl von Maskenverfahrensschritten
erfordert, wovon lediglich einer als kritisch zu bezeichnen ist, da er eine besondere Ausrichtung erfordert,
wobei die auf dem Chip enthaltenen Komponenten keine Auflösung bedingen, die kleiner als 4d ist, worin d den Einzelwandmagnetdomänendurchmesser
darstellt.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe gelöst, wie es im Kennzeichen des Patentanspruchs 1 angegeben ist.
Das Einzelwandmagnetdomänen-Speicherchip gemäß der Erfindung
zeichnet sich durch die Anwendung einer Metallurgie aus, die eine doppelte Funktion erfüllt, und durch ein verbessertes
magnetisches Torglied zur Informationsübertragung von einem Speicherregister auf ein anderes. Weiterhin ist für das Speicherchip
gemäß der Erfindung bezeichnend, daß die Domänenabfühleinrichtung bei hoher Domänendichte zur Domänendehnung und -wiedergabe
ausgelegt ist, was speziell nützlich zum Auslesen sehr kleiner Einzelwandmagnetdomänen, nämlich mit einem Durchmesser
im Submikron-Bereich, ist. In einem bevorzugten Ausführungsbelspiel
enthält das Speicherchip gemäß der Erfindung ionenimplantierte Weiterleitungsbereiche, die jeweils Weiterleitungselemente
in einem Haupt-Nebenschleifenspeicherorganisationssystem
definieren. Die Leitungsmetallurgie, in typischer Weise Gold, dient nicht nur zu Leitungsfunktionen, sondern auch als
Maske zur Abdeckung von Bereichen der darunterliegenden Einzelwandmagnetdomänenschicht,
die nicht lonenimplantiert werden sollen. Mit anderen Worten, die Goldauflage erfüllt nicht nur
stromleitende Funktionen, sondern besitzt auch die Aufgabe einer Ionenimplantationsmaske*
Das gemäß der Erfindung verbesserte Übertragungs-Torglied wird
•ur Informationsübertragung von der Speicherhauptschleife zo.
Nebenschleifen oder umgekehrt verwendet. Es besteht aus weichmagnetischen (NiFe) Brücken, die Informationsübertragungsleitbahnen
zwischen Haupt- und Nebenspeicherschleifen im Ansprechen
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auf Leitungszugsströme darstellen. Da diese NiFe-Brücken die
|übertragungsoperation unterstützen, lassen sich die Übertragungs-,leitungszüge
in einer kontinuierlichen Leitungszugschicht de ■ ;
]finieren, indem die gleiche Maske ausgenutzt wird wie die, die zur i
Definition der ionenimplantierten Bereiche dienen soll. Infolge- ;
dessen kann die Leitungsaugmetallurgie bereits in einem frühen :
Verfahrensschritt vorgesehen v/erden, anstatt einen kritischen j
Ausrichtungsmaskenverfahrensschritt nach Abschluß der Ionenim ,plantation
vorzusehen.
Bei der Erfindung stellt allgemein ein Einzelwandmagnetdomänen-·
!medium irgend eine magnetische Schicht dar, die geeignet ist, Einzelwandmagnetdomänen aufzubewahren, wobei bevorzugt ein
!Material mit Granatstruktur Verwendung findet. Auf ein derartiges
Medium wird eine kontinuierliche Schicht aus magnetischem :iate~
irial aufgebracht, um hieraus Komponenten für Maßnahmen zur Abführung
und die Übertragungsbrücken zu bilden. Diese magnetische
j
[Schicht besteht in typischer Weise aus NiFe, das dann außerdem
[Schicht besteht in typischer Weise aus NiFe, das dann außerdem
lals Grundlage für die Leitungszugsmetallurgie dient. Eine Photoliackschicht
dient zur Abdeckung von Bereichen der NiFe-Magnetschicht,
in denen nicht eine Leitungszugsmetallisierung vorgesehen ist. Anschließend wird dann die Leitungszucrsiaetallisierung
(Au} auf die NiFe--Magnetschicht aufgebracht. Diese Goldauflage
[ist für die stromführenden Leitungszüge vorgesehen und wird
außerdem als lonenirtiplantationsmaske verwendet»
Die Eiazelw.andmagnetdomänenschicht wird dann über diese Goldnaske
ionenimplantiert, um so die Weiterleitungselemente für die
JHaupt- und Nebenspeicherschieifen bereitzustellen. Dann wird in
!einem sweiten Maskenverfahrensschritt die Leitungszugmetallisierung
definiert. Mit Hilfe einer Zerstäubungsabtragung wird Gold und NiFe in vorgesehenen Leitungszugsbereichen abgetragen,
um die gewünschte Leitungszugskonfiguration zu erhalten so
wie vorgesehene Bereiche von jeglicher Metallisierung zu befreien. Damit wird erreicht, daß die magnetoresistive Abfühleinrichtung,
äie Domänenvernichter und die magnetischen Übertragungsbrücken dann
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keine Leitungszugsauflage mehr besitzen.
Vorteilhafte Weiterbildungen und Ausgestaltungen der Erfindung lassen sich den Unteransprüchen entnehmen.
Anschließend soll die Erfindung anhand einer Ausführungsbeispielsbeschreibung
mit Hilfe der unten aufgeführten Zeichnungen näher erläutert werden.
Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Ansicht eines Einzelwandmagnetdomänen-Speicherchips
gemäß der Erfindung, mit angedeuteten Steuerkreisen;
Fign. 2A-2F Querschnitte durch ein Speicherchip gemäß der j
Erfindung, nach jeweiligem Abschluß eines Her- j
Stellungsverfahrensschrittes.
Das in Fig. 1 schematisch gezeigte Einzelwandmagnetdoniänen-Speicher]
'chip läßt eine Ilaupt-Nebenschleifenspeicherorganisation erkennen, j
|wobei das Chip selbst mit Hilfe zweier Maskenverfahrensschritte j
hergestellt werden kann. In diesem Ausführungsbeispiel wird Ionenimplantation verwendet, um aneinandergereihte Weiterleitungselemente
zur Bildung der Weiterleitungspfade für die Einzelwand-nagnetdomänen bereitzustellen, die im Ansprechen auf ein sich
in der Schichtebene drehendes Weiterleitungsmagnetfeld H in der Magnetschicht 10, wie gewünscht, weitergeleitet werden.
Im Einzelnen besteht das magnetische Medium 10 aus einem zur Auf-Dewahrung
von Einzelwandmagnetdomänen geeigneten Material,- wobei äas durch das magnetische Medium 10 gebildete Substrat 10 mit
äiner nicht-magnetischen Abstandsschicht 12 überdeckt ist. Das
nagnetische Medium 10 kann aus einem Einzelwandraagnetdomänenmaterial
bekannter Art bestehen, wie z.B. aus einem Seltene-Erden™
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JO
Eisen-Granat. Die nicht--iuagnetische Abstandsschicht 12, soll ver-'hindern,
daß das darunterliegende magnetische Medium 10 während !nachfolgender Verfahrensschritte, wie z.B. der Zerstäubungsabtra"
;gung, abgeätzt wird. Darüber hinaus verhindert die nicht-magnetische
Abstandsschicht 12 eine spontane Nukleation von Einzelwand-j
rnagnetdomänen im magnetischen Medium 10. Die Dicke der magnetischen1
'Abstandsschicht 12 beträgt in typischer Weise etwa 4000 Ä. j
'Das in Fig. 1 gezeigte Speicherchip enthält Komponenten zur Durch- j
führung der Funktionen: Schreiben, Lesen, Weiterleiten (Speicher- J
j l
ung), übertragung zwischen Speicherzellen und Domänenvernichtung, j
jAlle Bereiche des magnetischen Mediums 10, die ionenimplantiert \
jsein sollen, sind durch die Schraffüren in Bereichen 14 angedeutet.
!Alle übrigen Bereiche des magnetischen Mediums 10 sind also nicht ionenimplantiert.
Die Schreib-Komponente W, die zur Nukleation von Einzelwandmagnetdomänen im magnetischen Medium 10 dient, besteht aus einem Leitungszug
16, der über die Anschlußverbindung 16A an Masse liegt.
Ein Stromimpuls I im Leitungszug 16 führt zur Nukleation einer !Einzelwandmagnetdomäne B1 im U-förmig gebogenen Teil dieses Leitungszuges.
!Der eigentliche Speicherbereich des Speicherchips enthält die jHauptspeicherschleife 18 und verschiedene Nebenspeicherschleifen
20. Einzelwandmagnetdomänen B werden längs der Hauptspeicherschleife 13 und der Nebenschleifenspeicher 20 im Ansprechen auf
jdie Drehung eines Weiterleitungsmagnetfeldes H, daß in Schichtebene des magnetischen Mediums 10 aufgerichtet ist, weitertransiportiert.
Diese Einzelwandmagnetdomänen B bewegen sich längs der Kanten und in Berührung mit den ionenimplantierten Bereichen
■im magnetischen Medium 10. Die Hauptspeicherschleife besteht allerdings nicht aus einem geschlossenen Pfad, sondern dient dazu,
Einzelwandmagnetdomänen B von der Schreibkomponente W zur Lasekomponents R zu befördern.
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Um nun Einzelwandmagnetdomänen B zwischen der Iiauptopeicherschleife
18 und den Nebenspeicherschleifen 20 zu transferieren, dient ein
Überbrückungsleitungszug 22. Der uberbrückungsleitungszug 22 bedeckt
einen Teil des die Hauptspeicherschleifen bildenden Weiterleitungspfades,
um dann ebenfalls über Anschlußleitung 16A mit Masse verbunden zu sein; d.h. der Schreib-Leitungszug 16 und der
Überbrückungs--Leitungszug 22 teilen sich in der Benutzung des
Anschlußes 16A. Zwischen Hauptspeicherschleife 18 und jede der Nebenspeicherschleifen 20 befinden sich magnetische Überbrückungen
24. Typischer Weise bestehen diese magnetischen Brücken aus dem gleichen Material, z.B. NiFe, wie es für die anderen Funktionen
auf dem Speicherchip angewendet wird. Im Ansprechen auf einen Stromimpuls I im Leitungszug 22 werden Einzelwandmagnetdomänen B
zwischen der Hauptspeicherschleife und den verschiedenen Neben·- speicherschleifen transferiert. Die Transferrichtung hängt dabei·
'von der Richtung des Stromes im Leitungszug 22 ab. Bevor nun Einzelwandmagnetdomänen B auf die Lesekomponente R gelangen, werder
sie jeweils in eine gestreckte Form gebracht, wie es durch die Domäne B2 angedeutet ist, und zwar im Ansprechen auf einen Strom
I im Domänendehnungs-Leitungszug 26. Sowie sich die derart
verlängerte Einzelwandmagnetdomäne B2 weiter nach rechts auf die Lesekomponente R zu bewegt, wird sie in eine Vielzahl von einzelner
Einselwandmagnetdoraänen, wie z.B. B3, aufgeteilt, die sich dann
längs der Kanten der ionenimplantierten Bereiche 14 zur Lesekomponente 12 weiterbewegen, wo sie insgesamt zur Bereitstellung eines
einsigen Lesesignals erfaßt werden, um so ein entsprechend verstärktes
Ausgangssignal abzugeben.
Die Lesekomponente R besteht aus einer Anzahl von Abfühlelementen
23, die derart miteinander verbunden sind, daß sich ein kumulatives
Ausgangssignal im Ansprechen auf die Einzelwirkungen der Einzelwandmagnetdomänen B3 ergibt. In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
bestehen die Abfühlelemente 28 aus magnetoresistivem Material, z.B. aus NiFe. Der elektrische Leitungsztig
29 stellt dabei einen Abfühlstrom I_ über die in Serie ge-
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«■-
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schalteten Abfühlelemente 28 bereit. Auf diese Weise wird also eine Einzelwandmagnetdomäne, die sich dem Domänen-Dehnungsleitungs
zugsbereich nähert, senkrecht zur Fortbewegungsrichtung gedehnt und dann in eine Vielzahl einzelner Einzelwandmagnetdomänen aufgeteilt,
die jeweils für sich mit Hilfe der Lesekomponente R erfasst werden. Auf diese Weise ergibt sich ein verstärktes Ausgangssignal,
was vorteilhaft zur Erfassung von Einzelwandmagnetdomänen mit sehr geringem Durchmesser ist, wie es z.B. bei Submikroneinzelwandmagnetdomänen
der Fall ist.
Nach ihrer Erfassung werden die Einzelwandmagnetdomänen B3 nach rechts fortbewegt, um dann von den Domänenvernichtern 30 eingefangen
zu werden. Diese Domänenvernienter bestehen in typischer
Weise aus weichmagnetischem Material, wie z.B. NiFe. Da im vorliegenden
Falle eine Speicherorganisation mit zerstörendem Auslesen vorliegt, wird anschließend die Schreibkomponente W aktiviert,
um neue Einzelwandmagnetdomänen entsprechend den soeben ausgelesenen Daten zu erzeugen und in den Speicher einzugeben.
Wie sich aus dem Herstellungsverfahren angedeutet in den Fign. 2A~
SF ergibt, sind gewisse Bereiche des Einzelwandmagnetdomanenspei·-
cherchips mit Schichtbereichen magnetischen Materials und elektrisch
leitenden Materials bedeckt, wohingegen andere Bereiche keinerlei Schichten aufweisen. Im Einzelnen besitzen die Überbrückungsbereiche
24, die Abfühlelenemte 28 und die Domänenvernichter 30 keine überlagerten Schichten. In einem typischen Ausführungsbeispiel
bestehen die Überbrückungsbereiche 24, die Abfühlelemente 28 und die Domänenvernichter 30 aus NiFe, das anfänglich
als geschlossene Schicht auf dem gesamten Substrat 12 aufliegt. Es wird hervorgehoben, daß die Schraffur zur Anzeige ionenimplantierter
Bereiche 14 sich auch unterhalb der überbrückungsbereiche 24 der Abfühlelemente 28 und der Domänenvernichter 30 erstreckt.
Die derart bereitgestellten ionenimplantierten Bereiche beeinträchtigen jedoch nicht die durch überbrückungen 24, Abfühlelemente
28 und Domänenvernichter 30 durchzuführenden Funktionen.
Y0 975 045 7098 2S/0SB9
Der Teil 32 der Hauptspeicherachleife 18, nür-ilich uer Bereich der
Hauptspeicher schleife 1b zwischen 'i'ransferleitungazug 22 und
Domänendehnungsleitungszug 26, ist nicht durch eine äarüberliägen
magnetische Schicht und leitende Schicht beim endgültig vorliegenden
'iagnetspeicherchip abgedeckt. Dies gilt ebenso für die
Bereiche 34 und 36. D.h. in den Bereichen 34, die zwischen Domä-nendehnungsleitungszug
26 und Abfühlleitungssug 30 liegen, gibt
es keine abdeckenden Schichten aus luagnetisehen und elektrisch
leitendem Material. Schließlich besteht in den Bereichen vier iiei·-
terleitungselemente zwischen Abfdhlleitungszug 29 und jjoiucinenvernichter
30 keine darüberliegende magnetische oder elektrisch leitende Schicht.
Das Vorma JTieti:jicrungofel<.L l-i zur stabilisierung der Ein ζ ölsandmagnetdomänenabraeasungen
iiti I-iagne c^ediuia 10, wird durch lie Vornagnetisierungsfeldquelle
38 bereitgestellt, die von aixsich
balcarinter Ausführungsforr sein kann. Das V.reiterleituugt-.r.;agiieu-feld
H, das in Ebene der -iagnetschicht gerichtet ist uiiu zur
VJeiterieitung der Einzelwandia'agiietdoiuanen seine ITinkellag-3 in dieser
Ufaene entspreciiend ändert, v/ird durcli il±n leiterleitimgsnagnetfeidquelle
bereitgestellt. Im allgemeinen bestellt di«ae aus
einer Kombination von X·- und Y--stromführenden Spulen, die unter
entsprechender Steuerung die Drohung des Weiterleitungsmagnetfel-■
de s veran1as sen.
Der Schreibstron I wird durch die Sciircibctromcfuclle 42 bereit ·
gestellt, wohingegen der Transforntrom In. von der Vramfer ■
stonquelle 44 geliefert wird. Der Donanendehnungsstror.·. In,, v/ird
durch die iJonvlnendehnungsstro--,-fuelle 4b Loreitgestellt, wohinge·-
gegen der Abfühlstrora In von der Abfühlatroiwaielle 48 geliefert
vrird. Die j-iagnetfeldrfu>.-.llen 30 und 40,. sowie sämtliche Stromquellen 42, 44, 4.; und 48 werden von einer Steuerstromoinheit 50
gesteuert, die gleichfalls von bekannter Bauart sein kann, um Zeitgeberilapulse zur Synchronisierung des Eetriebs der ver
schiedenen Stromquellen und xiagneLfeidquellen zu synchronisieren.
y?5 045 709828/OBB
So wird z.B. nach Abfühlen einer Einzelwandmagnetdoiaäne durch
die Lesekomponente R ein Signal auf die Schreibstromquelle 42 übertragen, um entweder einen Nukleationsstrom I im Leitungszug
16 bereitzustellen oder auch nicht, ja nach dem, ob eine Einzelwandmagnetdomäne
durch die Lesekoiaponente R abgefühlt worden ist
,oder nicht.
Bei Betrieb werden Daten in die ilauptspeicherschleife 18 unter
umwenden eines ansic'i bekannten Codes, nämlich Auftreten oder
Fehlen eines Nukleationsstromes I in Schreibloitungszug 16. ein gegeben.
Tritt ein Nukleationsstrom I, auf,, dann wird eine Einzel-
wandmagnetctomüne B1 an der gezeigten Stelle erzeugt, um dann auf
die Hauptspeicherdchleife 13 transportiert zu werden, so wie sich
das Weiterleitungsmagnetfela II ixi seiner Winkellage ändert. Die
so erzeugten uaten breiten sich nach rechts im Ansprechen auf die iJeiterläitungsiaagnotfelddreauiig aus. Sind die gewünschten Daten
in die llauptapeichersohleife 13 eingegeben, dann lassen sie sich
auf die Webens;, eichersclileif en 20 mittels eines Transferstromes
I,., im Leitungszug 22 transferieren. Je nach Richtung diesos
Stromes erfolgt fein Transfer von d.jr Lauotsrieicherschleif^ 13 zu
liebenspeicherschleife 20 oder umgekehrt. Wukleation und 'i'rarisfer
sx/ischen Kaur-tspeicherscliloife 18 und IJebenspeicJierschleife 20
können aabei gleichzeitig auftreten.
Soll Information aus Jen Speichcrachleifen 20 ausgelesen v/erJanf
c.ann wir ein nntsprocLendsr Stroniiiupuls Ir auf den Lsituiigszug
i"A feingageboix. liisruurch erfolge ein Transfer dos in der Nebenspeicherschleife
enthaltenen Einzelwandinagnetdoruänenmusters auf
die liauptspeicheroChlaife 13, ui.i hier im Ansprechen auf die Uexterleitungsmagnetfcldarehuny
nach rechts transportiert zu werden.
Erreicht die durch das DOuuinenmuster dargestellte Information de..
Uonrinondelinungülaituiijszug 2G1 dann wird ein Stroii I auf den
Leitungszucj 2G geliefert, der dann jede.· in dem Datenmuster enthaltene
I]iiizeli7anämagnetaoiiUiri3 senkrecht zur Ausbreituncsrichtung
ctreckt. Kine derart ceäehnte Einzelwandmarnetdoia.'lufc: wanaert
975 045 709828/05B9
nach rechts, längs der Kanten der ionenimplantierten Bereiche 14 ,
die die Bereiche 34 umgeben. An der vorgesehenen Stelle wird die Einzelwandmagnetdomäne in einzelne Domänen B3 aufgeteilt, die dann
unterhalb der Abfühlelernente 28 gelangen. Ein im Ansprechen hierauf
erzeugtes Signal wird in einen hier nicht gezeigten Abfühlverstärker
verstärkt, so daß ausgelesene Daten im Ansprechen auf auftretende und fehlende Einzelwandmagnetdomänen verwertbar sind.
Ist anschließend eine Einzelwandmagnetdomäne ausgelesen worden, dann werden die aufgeteilten Einzelwandmagnetdomänen B3 längs den
Kanten der Bereiche 36 übertragen, um auf die Domänenvernichter zu gelangen wo sie eingefangen werden.
Die Abfühlelemente 28 bestehen in typischer Weise aus magnetoresistiven
Bauelementen, die in Serie miteinander geschaltet sind. Wie ansich aus der USA Patenschrift 3 691 540 bekannt, werden
diese magnetoresitiven Bauelemente einer Widerstandsänderung unterworfen, wenn magnetische Streufelder der hieran vorübergelangenden
Einzelwandmagnetdomänen zur Wirkung kommen. Diese Widerstandänderung wirkt sich als Spannungsabfall über diese in
Serie geschalteten Bauelemente aus, so daß hiermit eine Möglichkeit
besteht, daß Auftreten oder Fehlen von Einzelwandmagnetdomänen in Flußkopplungsnähe der Abfühlelemente anzuzeigen.
So wird also in Abhängigkeit davon, ob Einzelwandmagnetdomänen in einem vorübergelangenden Domänenmuster auftreten oder nicht,
eine dementsprechende Signalfolge ausgelöst und durch die Steuereinheit
50 auf die Schreibstromquelle 42 übertragen. Diese Signalfolge aktiviert falls erforderlich, die Schreibstromquelle 42 um
entsprechend neue Einzelwandmagnetdomäne zu erzeugen, die dann an Stelle der soeben durch die Lesekomponente R erfassten Einzelwandmagnetdomänen
in das Speichersystem eingegeben werden.
Zusammenfassend läßt sich sagen, daß das Haupt-Nebenschleifenspeichersystem
gemäß Fig. 1 sich durch die Anwendung von Leitungszügen 16, 22, 26 und 29 auszeichnet, die gleichzeitig als Ionenimplantationsmasken,
also zusätzlich zu ihrer Verwendung als strom-YO 975 045 709828 /0S59
führende Elemente, dienen. Dieses erfindungsgemäße Speichersystem
jist fernerhin charakterisiert durch die Anwendung magnetischer überbrückungen zwischen der Hauptspeicherschleife 18 und den verschiedenen hiermit gekoppelten Nebenspeicherschleifen 20. Schließ- ;
ι ' j
jlich ist eine Domänendehnungs-Datenwiedercrabeabfühleinrichtung ge -
ι \
,paß der Erfindung vorgesehen, die sich in einer minimalen Anzahl
jvon Ilasken Verfahrens schritten herstellen läßt.
JDies ergibt sich anhand der Fign. 2A-2F, mittels derer die Zwischer
[s-badien der erfindungsgemäßen Einzelwandmagnetdomänenspeichereinrichtung
bei ihrer Herstellung wiedergegeben sind. So stellt im Einzelnen Fig. 2F einen Querschnitt durch die in Fig. 1 schematisch
gezeigte Anordnung längs der Linie 2F-2F dar.
In Fig. 2A ist das magnetische Medium 10 mit einer nichtmagne-tischen
Abstandsschicht 12 überzogen. Hierüber liegt eine zusammenhängende Schicht 52, gebildet aus magnetischem Material,
las die gesamte Abstandsschicht 12 überdeckt. Die magnetische Schicht 52 kann z.B. aus NiFe bestehen. Sie dient als Grundlage
für die Leitungszugsmetallisxerung und außerdem zur Ausbildung ier verschiedenen magnetischen Bauelemente wie z.B. der magietischen
Brücken 24, der Abfühlelemente 28 und der Domänenvernichter 30.
In Fig. 2B überdeckt eine gemusterte Photolackschicht 54 die Schicht 52, um diejenigen Oberflächenbereiche zu schützen, die
aicht von einer elektrisch leitenden Schicht überzogen werden
sollen. Im Einzelnen schützt die Photolackschicht 54 die magietischen überbrückungen 24, die Abfühlelemente 28, die Domänenvernichter
30 und sämtliche Gebiete 14 des magnetischen Mediums 12, die nicht mittels Ionen implantiert werden sollen.
En Fig. 2C ist eine Ionenimplantationsmaske bestehend aus einer
liedergeschlagenen Metallauflage 56, bestehend z.B. aus Gold, auf
lie magnetische Schicht 52 aufgetragen. Die niedergeschlagene
975 046 709828/Ö5S9
jGoldauflage besteht aus den Leitungszügen 16, 22, 26 und 29. Mit
jancieren Worten, die magnetische Schicht 52 dient zur Durchführung
gewisser Systemfünktionen und außerdem als Hetallisierungsgrund : lage zur Bildung der Ionenimplantationsmaske. Die verschiedenen ' elektrischen Leitungszüge 16, 22, 26 und 29 werden in einem
nachfolgenden Ätzverfahrensschritt gegeneinander isoliert. ι
jancieren Worten, die magnetische Schicht 52 dient zur Durchführung
gewisser Systemfünktionen und außerdem als Hetallisierungsgrund : lage zur Bildung der Ionenimplantationsmaske. Die verschiedenen ' elektrischen Leitungszüge 16, 22, 26 und 29 werden in einem
nachfolgenden Ätzverfahrensschritt gegeneinander isoliert. ι
In Fig. 2D ist die Photolackschicht 54 entfernt, so daß das magnetische
Medium 10 unter Anwenden der iiaskenschicht 56 ionenimiplantiert
v/erden kann. Die Ionenimplantation wird mittels der :
I ~ I
pfeile 58 angedeutet. Dieser Verfahrensschritt erfolgt unter
anwenden ansich bekannter Techniken die sich eines Protonen- oder
Borionen- Strahls bedienen.. Während dieser Ionenimplantation , werden also die Bereiche 14 des magnetischen Mediums 10 ent· ' sprechend beeinflußt. - - .
anwenden ansich bekannter Techniken die sich eines Protonen- oder
Borionen- Strahls bedienen.. Während dieser Ionenimplantation , werden also die Bereiche 14 des magnetischen Mediums 10 ent· ' sprechend beeinflußt. - - .
in Fig. 2ü ist ein zweiter Ilaskensverfahrensschritt angedeutet,
pine gemusterte Photolackauflage 60 dient als Voraussetzung zur ; Merausarbeitung des Schreiblaitungszuges 16 des Transferleitungs■
2uges 22 des Domänenstrecker leitungs zuges 2(S und des Abfühllei ·
tungszuges 29. D.h. Bereiche der Magnetschicht 52 und der darüber
liegenden elektrisch leitenden Schicht 56 werden in den Partien 32," 34 und 36 (Fig. 1) abgetragen, um die elektrischen Leitungszüge
22, 26 und 29 zu definieren und gleichzeitig gegeneinander elektrisch isoliert anzuordnen.
i
pine gemusterte Photolackauflage 60 dient als Voraussetzung zur ; Merausarbeitung des Schreiblaitungszuges 16 des Transferleitungs■
2uges 22 des Domänenstrecker leitungs zuges 2(S und des Abfühllei ·
tungszuges 29. D.h. Bereiche der Magnetschicht 52 und der darüber
liegenden elektrisch leitenden Schicht 56 werden in den Partien 32," 34 und 36 (Fig. 1) abgetragen, um die elektrischen Leitungszüge
22, 26 und 29 zu definieren und gleichzeitig gegeneinander elektrisch isoliert anzuordnen.
i
i ■
:?ig. 2F zeigt wie gesagt, die fertiggestellte Struktur', womit sich \
prgibt, daß lediglich zwei -laskenverfahrensschritte erforderlich r
sind, von denen nur der zweite eine gewisse Ilaskenausrichtung i
Erforderlich machte. D.h. ein Haupt--Nebenschleifenspeicher sy stein ι
gemäß der Erfindung weist die Funktionen Schreiben, Lesen, Speichern, Transfer und Domänenvernichtung unter Verwendung von aneinandergereihten
Weiterleitungselementen für Einzelwandmagnet·-
domänen auf, wobei zur Herstellung nur zwei ·iaskenVerfahrens-Schritte erforderlich sind.
domänen auf, wobei zur Herstellung nur zwei ·iaskenVerfahrens-Schritte erforderlich sind.
975 045 709828/0BS9
ι In mancherlei Hinsicht kann von vorstehender Beschreibung abgewichen
werden, ohne daß der Rahmen der Erfindung überschritten j ^ wird. So kann z.B. die Goldauflage 56 aufgedampft oder aufgestäubt j
!werden. Fernerhin läßt sich die Goldauflage vor Niederschlag der !lliFe-Schicht 52 auftragen. So kann z.B. auch eine Goldschicht auf
j eine Siliciumdioxidschicht 12 niedergeschlagen werden, um anschließend
die Goldschicht zur Herausbildung der elektrischen ILeitungszüge auszuätzen, die dann ihrerseits wiederum einen Teil '
der Ioneniiaplantationsmaske darstellen. Die Goldauflage wird
außerdem in den Bereichen abgetragen, die unterhalb der SiO9-- <
Schicht liegen, wo Abfühlelemente, magnetische Überbrückungen ;
und Domänenvernichter ausgebildet werden sollen. Hiernach wird dann das magnetische Iledium 10 ionenimplantiert, um dann eine
zusammenhängende NiFe Schicht über das gesamte Substrat niederzuschlagen.
Anschließend wird dann zur Definition der magnetischen j überbrückungen der Abfülilelemsnte und der Domänenvernichter, sowie
zur Her/ausbildung der elektrischen Leitungszüge 16, 22, 26 und 29
eine liaske gebildet. Anstelle der zur Bildung der Weiterloitungspfada
aneinander gereihten Weiterleitungselemente, die jeweils
einander berühren, lassen sich auch jeweils im Abstand vonein- :
ander angeordnete Woiterleitungeleriente auftragen/ wobei unter
Umständen auch die einzelnen Vieiterloitungselemente eine andere
geometrische Struktur als i'reisform aufweisen können.
975 045 709828/0 5.5 9
Leerseite
Claims (7)
- P A T E H T Λ N S P R Ü C H E(Iy LiiiselWanctmagnotdomrnGiirsptiicherfiystfc":"-..- bei dor.; unter dem Einfluf. eines sie], in ScKichto1·-^!^ -ir.il'-.jnilcn ,'eit.^.rleitungs · r.iagnetfcldes im Z-Uoamr.iorivirkü.u rät auf cv-jr .\agnetschicht aufliegenden. Vveifc .irlaitunfi\;f;;leino:iti;i\, \ie sur Aus'jiLlunt; von Weiterleitungapfaden in Gestalt von Haupt- und Neben-speichersciileifen auf der Magnetschicht aufgebracht sind, Einzelwandmagnetdoraänen weiterleitbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Weiterleitungspfaue aus scheiben-· formigen^. aneindergereihten, nicht ionenimplantierten Weiterleitungseleraenten in einem oder mehreren sonst ionenimplantierten Bereichen der .iagnetschicht bestehen, daß zv7xschen der Hauptspeicherschleife und den senkrecht hierzu liegenden Nebenspeiciierschleifen jeweils aus mag·- netischeiii j7xaterial bestehenue Überbrücjtungsmittel zur Domänenübertragung von aer Hauptspeicherschleife zur jeweiligen Webanspeicherschleife und umgekehrt angeordnet sind,daß der die Hauptspeicherschleife bildende Weiterleitungs·· pfad für Einzelvandmagnetdoiiiänen mit einem elektrischen Leitungszug überdeckt ist unddaß aiii Eingang der Hauptspeichersciileife ein Einzelv/andmagnetdomänengenerator und am Ausgang der Hauptspeicherschleife ein Lese--Bauelement zur Erfassung der durch die Hauptspeicherschleife übertragenen Einzelwandmagnetdomänen angeordnet ist.
- 2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Lese-Bauelement aus mehreren nicht ionenimplantiorten Weiterleitungspfaden im ionenimplantierten Bereich nebeneinander und im Wesentlichen in Verlängerung zuia Weiterleitungspfad der Hauptspeicherschleife verlaufend, im Abstand der Größenordnung einer Einzelwandmagnetaoniäne besteht, indem die LücJce zwischen dem Weiterleitungspfad der Hauptspeicherschleife und den parallel untereinander geordneten Uei--YO 975 045 7 0 9 8 2 8/0559 Bad ^leitungspfaden des Lese-Bauelements ausfüllend ein elektrischer Leitungszug angeordnet ist, der mit einem eine in seinen Bereich gelangende Einzelwandmagnetdomäne in Rieh- ' tung senkrecht zur Fortbev/egung der Einzelwandmagnetdomänen erfolgende Dehnung herbeiführenden Strom beaufschlagbar ist< so daß jeweils eine Einzelwandmagnetdomüne in den parallel untereinander angeordneten Weiterleitungspfaden erzeugbar ist, denen jeweils im ionenimplantierten Bereich außerdem ein weichmagnetisches magnetoresistives Schichtelement zur Doiucinener fas sung zugeordnet ist, welche ihrerseits zu einem AbfühlStromkreis hintereinander geschaltet sind.
- 3. Anordnung nach Anspruch 1/oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die magnetoresistiven Abfühlelemente und die magnetischen Überbrückungselemente aus dem gleichen weichraag netischen Ilaterial bestehen.
- 4. Einordnung nach Ansprucn 3, dadurch gekennzeichnet, daß diese magnetischen Elemente aus der gleichen Magnetschicht herausgeätzt sina.
- 5. Anordnung nach uen Ansprüchen 1-4, dadurch gekennzeichnet, daß das zur Aufbewahrung der Einzelwandmagnetdomänen dienende magnetische i-Iedium aus ioneniraplantierten Bereichen, außerhalb der Bereiche der elektrischen Leitungszüge besteht.
- 6. Verfahren zur Herstellung eines Einzelwandmagnetdomänen-Speicherchips gemäß der Erfindung, dadurch gekennzeichenet, daß eine zusammmenhangende Schicht weichmagnetischen Materials auf ein Substrat, bestehend aus einer magnetischen Schicht, zur Aufbewahrung von Einzelwandmagnetdomänen niedergeschlagen wird,daß eine Maskenauflage unter Freilassung derjenigen Bereiche aufgetragen wird, die nicht mit elektrischen Leitungszügen überdeckt v/erden sollen,Yü 975 045709828/0B69daß eine zusammenhängende elektrische Schicht auf die unmaskierten Oberflächenbereiche der weichmagnetischen Schicht als Ionenimplantationsmaske aufgebracht wird, daß diese elektrisch leitende Schicht durch eine Maske abgedeckt wird, um rait Ionen zu implantierende Bereiche des MagnetmediumsSubstrats, die nicht durch die vorzusehenden elektrischen Leitungszüge abgedeckt zur Bildung der Weiterleitungspfade für zu übertragenden Einzelwandmagnetdomänen zu definieren,und daß die durch die Maske freigelassenen Bereiche der elektrisch leitenden Schicht und der darunterliegenden weiclimagnetischen Schicht zur Herausarbeitung der elektrischen Leitungszüge abgetragen werden, indem so die elektrischen Leitungszüge als Teile der elektrisch leitenden Schicht gleichzeitig als Maske für nun erfolgende Ionenimplantation dienen.
- 7. Anordnung nach den Ansprüchen 1-6, dadurch gekennzeichent, daß das weichmagnetische Material aus NiFe und die Magnet- ! schicht aus einer Granatstruktur besteht.975 0457Ö982Ö/ÖB59
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Legal Events
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8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |