DE2546504C2 - - Google Patents
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- G03C5/00—Photographic processes or agents therefor; Regeneration of such processing agents
- G03C5/08—Photoprinting; Processes and means for preventing photoprinting
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- G01D5/208—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature by influencing the mutual induction between two or more coils by movement of a single coil with respect to two or more coils using polyphase currents
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- G03C5/02—Sensitometric processes, e.g. determining sensitivity, colour sensitivity, gradation, graininess, density; Making sensitometric wedges
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung
eines Teiles eines Lagemeßtransforma
tors nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Mit großer Genauigkeit messende Lagemeßtransformatoren
weisen Transformatorenhälften auf, die je mit einem
Muster von Leiterstücken versehen sind. Die Leiter
stücke sollen untereinander gleich breit sein und
zwischen ihnen sollen gleißmäßige Abstände herr
schen. Einer der bekanntesten Lagemeßtransformatoren
mit sehr hoher Genauigkeit ist in der US-PS 27 99 835
beschrieben. Derartige Meßtransformatoren weisen mehrere
Pole auf und werden für Winkel- und Längemessungen
hergestellt. Hierbei finden zwei relativ zueinan
der bewegliche induktiv oder kapazitiv miteinander gekoppelte Transformatorenhälften Verwendung,
von denen jede ein Muster von in gleißmäßigen Ab
ständen angeordneten, elektrisch leitenden Leiterstücken aufweist. Diese
Transformatorenhälften werden mittels Photoätzens
hergestellt. Die Meßgenauigkeit eines solchen Lage
meßtransformators hängt direkt ab von der Gleich
förmigkeit der Teilung und der positionsmäßigen
Genauigkeit des Musters der Leitstücke auf jeder
Transformatorenhälfte.
Daneben sind Lagemeßgeräte bekannt, bei welchen an
stelle einer elektronischen Technik eine optische
Technik Anwendung findet und wobei ebenfalls Teile
verwendet werden, die ein Muster von in gleichmäßigen
Abständen angeordneten lichtundurchlässigen Balken tragen. Bei diesen Meß
geräten werden zwei überlagerte, jedoch leicht schräg
verlaufende optische Gitter zur Erzeugung von Inter
ferenzen verwendet, welche gezählt werden, um die
Relativverschiebung zwischen den beiden Gittern zu
messen. Auch bei diesen Lagemeßgeräten hängt die
Meßgenauigkeit direkt ab von der Gleichförmigkeit
der Teilung des Balkenmusters auf den relativ zuein
ander verschiebbaren Teilen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein ver
bessertes Verfahren zur Herstellung der Teile von
Lagemeßtransformatoren der vorgenannten Art zu finden, wenn
die Teile ein Muster von in gleichförmigen linearen
oder winkelmäßigen Abständen angeordneten Balken
oder Leiterstücken aufweisen, wobei zur Erzeugung
einer verbesserten Meßgenauigkeit die Anordnung
dieser Leiterstücke bzw. Balken verbessert werden
soll.
Gelöst wird diese Aufgabe mit den kennzeichnenden Merkmalen des An
spruchs 1. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind den Unteransprüchen entnehmbar.
Bei der nachfolgenden Beschreibung geht
es sowohl um elektrische als auch um optische Lage
meßtransformatoren, wobei die Ausdrücke "Balken" und "Lei
terstücke" untereinander austauschbar sind. Handelt
es sich um einen elektrischen Lagemeßtransformator, so
sind dessen Balken elektrisch leitende Leiterstücke. Handelt es sich um optische
Lagemeßtransformatoren, dann bestehen die Balken aus einem lichtundurch
lässigen Material.
Die Vorteile des Verfahrens werden
erreicht durch Überlagerung einer Vielzahl von laten
ten Bildern eines positionsmäßig verschobenen Ur
sprungsbalkenmusters auf einer lichtempfindlichen
Schicht in solcher Weise, daß nach Entwicklung der
überlagerten latenten Bilder sich ein in der Teilung
gleichförmigeres Muster ergibt im Vergleich zum Ur
sprungsmuster. Mit dem Verfahren
ist es möglich, die Verfahrensschritte der Überlage
rung, der Belichtung und der Entwicklung so genau zu
steuern, daß nicht nur die Gleichförmigkeit der Ab
stände zwischen den Balken verbessert ist, sondern
daß es auch möglich ist, die Breite und relative
Lage des "grauen" Übergangsbereichs an den Kanten
jedes Balkens einstellen.
Letztlich ermöglicht das erfindungsgemäße Verfahren
nicht nur die Erzeugung eines einzigen Produktions
musters zur Herstellung zahlreicher verbesserter
Lagemeßvorrichtungsteile, sondern durch mehrfache
Wiederholung des Verfahrens, wobei jedesmal das Ur
sprungsmuster ersetzt wird durch ein verbessertes
Produktionsmuster, ist es möglich, Produktionsmuster
herzustellen, die einen unendlich hohen Genauigkeits
grad bezüglich der Teilung aufweisen. Derart herge
stellte Lagemeßtransformatoren weisen eine bisher nicht er
reichte Meßgenauigkeit auf.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines Aus
führungsbeispiels erläutert. In den Zeichnungen
zeigt
Fig. 1 Teil eines Ursprungsmusters von in Abständen
angeordneten Balken zur Verwendung bei dem
Verfahren gemäß der Erfindung,
Fig. 2 eine schematische Darstellung einer licht
empfindlichen Schicht mit einer Vielzahl
von latenten Bildern des Ursprungsmusters
nach Fig. 1, lagemäßig verschoben gemäß dem
Verfahren,
Fig. 3 eine Darstellung eines Teils eines ersten
photografischen Teststreifens zur Erläute
rung des Verfahrens,
Fig. 4 eine charakteristische Kurve eines licht
empfindlichen Materials geeignet zur Ver
wendung beim Verfahren,
Fig. 5 eine Darstellung eines Teils eines zweiten
photografischen Teststreifens zur Erläute
rung des Verfahrens,
Fig. 6 eine charakteristische Kurve nach Fig. 4
als Beispiel zur Bestimmung der Verfahrens
parameter gemäß dem Verfahren,
Fig. 7 eine schematisches Diagramm eines linearen
Lagemeßtransformators mit einem Skalenteil,
welches gemäß dem Verfahren hergestellt wurde,
Fig. 8 ein Versuchsdiagramm der Genauigkeitstest
resultate von vier Skalenteilen, welche nach
einem bekannten Verfahren hergestellt wurden
und
Fig. 9 Testergebnisse von Genauigkeitstests bei
fünf Skalenteilen, welche gemäß dem vorliegenden
Verfahren hergestellt wurden.
Bei der Herstellung von Lagemeßtransformatoren wird ein
Produktionsmuster von Balken mit im wesentlichen
gleicher Teilung abgebildet auf einer lichtempfind
lichen Schicht, welche sich über einer dünnen Metall
schicht findet, die auf einem Unterteil aufgebracht
ist. Mittels eines bekannten photochemischen Ätzver
fahrens wird sodann die Metallschicht abgeätzt, die
sich unter dem nicht belichteten Teil der licht
empfindlichen Schicht befindet, so daß sich ein
Leitermuster ergibt, welches eine Wiederholung des
Produktionsmusters ist. Bei den bekannten Lagemeß
transformatoren sind die Enden der im gleichförmigen
Abstand zueinander angeordneten Balken oder Leiter
stücken so miteinander verbunden, daß sich eine
sinusförmige Transformatorwindung eines elektrischen,
induktiv arbeitenden Lagemeßtransformators ergibt.
Ein Teil eines Balkenmusters 100 mit nahezu gleich
förmiger Teilung ist in Fig. 1 gezeigt. Fünf Balken
bzw. fünf Leiterstücke 101-105 haben jeweils eine
Breite von zehn Einheiten. Dies ist durch die Skala
der Unterseite von Fig. 1 verdeutlicht. Die Balken
weisen zueinander variierende Abstände auf, um eine
geringfügige ungleichförmige Teilung zu verdeutlichen.
Bei einem Idealmuster würden die Balken jeweils zehn
Einheiten breit sein und zwischen den Balken würde
jeweils ein Abstand von zehn Einheiten herrschen.
Die gleichförmige Teilung würde in diesem Fall geanu
zwanzig Einheiten betragen. Wie der Fig. 1 jedoch zu
entnehmen ist, weist der Balken 101 vom Balken 102
einen Abstand von nur neun Einheiten auf. Zwischen
Balken 102 und Balken 103 beträgt der Abstand neun
Einheiten, während der Abstand zwischen Balken 103
und Balken 104 sowie der Abstand zwischen Balken
104 und Balken 105 jeweils elf Einheiten beträgt.
Das dargestellte Muster 100 weist deshalb keine
genau gleichförmige Teilung auf. Das in Fig. 1 dar
gestellte Muster 100 dient lediglich zur Verdeut
lichung der vorliegenden Erfindung. In Praxis weisen
die Muster hauptsächlich unterschiedliche Breiten-
Abstandsverhältnisse auf, dagegen weniger Teilungs
fehler, wie sie bei den Balkenmustern 101-105 dar
gestellt sind.
Gemäß dem Verfahren wird ein Balkenmuster entsprechend
demjenigen nach Fig. 1 als "Ursprungsmuster" bezeich
net und von diesem Ursprungsmuster werden "Produkions
muster" hergestellt, welche eine Wiederholung des
Ursprungsmusters darstellen, wobei jedoch eine wesent
lich größere Gleichförmigkeit in der Teilung vorhanden
ist. Die Produktionsmuster werden zur Herstellung von
Lagemeßtransformatoren verwendet, die eine beträchtliche größere
Meßgenauigkeit aufweisen als solche Vorrichtungen, die
gemäß den bekannten Verfahren vom Ursprungsmuster her
gestellt wurden. Um dies zu erreichen, wird das Ur
sprungsmuster auf einem lichtempfindlichen
Material abgebildet. Der erste Abbildungsschritt stellt einen vor
bestimmten Belichtungspegel dar, welcher ein Teil des
vorhandenen Belichtungsbereichs des Materials ist. Das
Ursprungsmuster wird sodann relativ zum lichtempfind
lichen Material um eine Teilungslänge verschoben. Die
Verschiebung kann auch ein ganzzahlig mehrfaches eines
Teilungsabstandes der Balken des Ursprungsmusters
betragen. Nach der Verschiebung wird das Ursprungs
muster nochmals auf dem lichtempfindlichen Material
abgebildet, entsprechend einem weiteren vorbestimmten
Belichtungspegel. Dieses schrittweise Verschieben
und Abbilden des Ursprungsmusters auf dem licht
empfindlichen Material wird mehrfach wiederholt,
wobei jeder Belichtungsschritt zum Aufbau eines
latenten Bildes beim lichtempfindlichen Material
beiträgt. Nach einer vorbestimmten Anzahl von Be
lichtungsschritten wird das latente Bild des licht
empfindlichen Materials entwickelt und fixiert, wo
durch sich ein Muster ergibt, das eine größere Tei
lungsgenauigkeit aufweist als das Ursprungsmuster.
Fig. 2 gibt eine schematische Darstellung der Er
zeugung des latenten Bildes auf dem lichtempfind
lichen Material. Fig. 2 zeigt sieben Sätze von über
lagerten Balkenmustern A 1-5, B 1-5, C 1-5, D 1-5, E 1-5,
F 1-5, und G 1-5. Jeder dieser Sätze kann angesehen
werden als ein Satz von Balken des Musters 100, welches
in Fig. 1 teilweise dargestellt ist. Die Balken stellen
hierbei lichtdurchlässige Bereiche dar, durch welche
Licht auf das lichtempfindliche Material auftrifft.
Die Zwischenräume zwischen den Balken sind lichtun
durchlässig. Wenn das Ursprungsmuster als erster Be
lichtungsschritt auf dem lichtempfindlichen Material
abgebildet wird, dann wandert Licht durch die Balken
A 1 bis A 5 hindurch und erzeugt ein latentes Bild von jeweils einer
Intensitätseinheit auf der Schicht 200. Wenn das Bal
kenmuster 100 lagemäßig verschoben wird, werden neue
Balken B 1-5 näherungsweise zu einer Stelle bewegt,
die zuvor die Balken A 1-5 auf der lichtempfindlichen
Schicht eingenommen haben. Die Abbildung der Balken
B 1 bis B 5 trägt zu einer zusätzlichen Belichtungseinheit des
sich auf der Schicht 200 aufbauenden Bildes bei.
Jeder der sieben Belichtungsschritte der sieben
Balkensätze trägt zur Bildung des latenten Bildes
auf der Schicht 200 bei, wobei die Gesamtintensität
des latenten Bildes von fünf Balken durch die Kurven
201-205 dargestellt ist. Der Intensitätsbereich des
latenten Bildes verläuft jeweils im Bereich von
Null bis sieben Einheit, was durch die linke seitliche Skala verdeutlicht
wird.
Unter Bezugnahme auf die Abstandsskala an der Ober
seite der Fig. 2 wird ersichtlich, daß sowohl alle
35 Balken in den sieben Balkensätzen A-G genau
zehn Einheiten breit sind, keiner der Sätze zwischen
den Balken einen Abstand von genau zehn Einheiten
aufweist. Die sieben Balkensätze haben also eine
unterschiedliche Ungleichförmigkeit in der Teilung.
Das durch die Kurven 201-205 dargestellte latente
Bild wird jedoch in einer solchen Weise behandelt,
daß der Übergang zwischen Lichtdurchlässigkeit und
Lichtundurchlässigkeit oder besser gesagt zwischen
Schwarz und Weiß im entwickelten lichtempfindlichen
Material stets an den Stellen auftritt, wo eine latente
Bildintensität von drei Einheiten oder größer erreicht
wird. Das auf dem lichtempfindlichen Material erzeugte
resultierende Muster entspricht in Fig. 2 daher der
vertikalen Projektion der Teile der Kurven 201-205,
die einen Wert von mehr als drei Einheiten aufweisen.
Eine Schwellwertlinie 206 ist bei einem Wert von
3,5 Einheiten eingezeichnet und der Schnitt mit
den jeweiligen Kurven 201-205 ist auf den horizon
tal verlaufenden oberen Maßstab in Fig. 2 projiziert.
Hierdurch ergeben sich Balken P 1-5, die einen Teil
des Produktionsmusters repräsentieren, welches auf
dem lichtempfindlichen Material erzeugt wurde. Die
Abstandsskala an der Oberseite der Fig. 2 zeigt, daß
das Produktionsmuster der Balken P 1-5 eine wesent
lich verbesserte Gleichförmigkeit in der Teilung auf
weist verglichen mit den Balkensätzen A-G des Ur
sprungsmusters, wobei zur Vereinfachung der Dar
stellung die Balken P 1-5 jeweils eine Breite von
zehn Einheiten und untereinander jeweils einen Ab
stand von zehn Einheiten aufweisen, was bedeutet,
daß hier eine perfekte Teilungsgleichförmigkeit er
zielt wurde.
Durch Wahl verschiedener Schwellwerte der Inten
sität des latenten Bildes sind Produktionsmuster
erhältlich, welche verschiedene Grade der Gleich
förmigkeit in der Teilung und Lage aufweisen. Die
Bestimmung eines bestimmten Schwellwertes kann auch
angesehen werden als eine Auswahl eines bestimmten
Teils aller überlagerten Balkenbilder, welche auf
dem behandelten lichtempfindlichen Material zurück
gehalten werden sollen. Die restlichen Balkenbilder
werden hierbei ausgeschieden. Die optimale Wahl dieses
Schwellwertes resultiert in der Erzeugung eines Balken
bildes, welches dem Idealmuster nahekommt, wobei solche
Bilder verloren gehen, die eine größere Ungleichförmig
keit aufweisen.
Es sei nochmals darauf hingewiesen, daß die Dis
kussion der Fig. 1 und Fig. 2 sich auf Verhältnisse
bezog, die lediglich dem Zweck dienten, daß Ver
fahren gemäß der Erfindung verständlich zu machen.
Aus diesem Grund wurden bei dieser Beschreibung einige
Vereinfachungen vorgenommen.
Im nachfolgenden Beispiel fand ein Ursprungsmuster
Verwendung, bei welchem auf eine Länge von 25,4 cm
200 Balken mit einer Teilung von 1,27 mm vorgesehen
sind. Dieses Ursprungsmuster war aufgebracht auf
einer Glasplatte. Die Balken des Ursprungs
musters wiesen näherungsweise eine gleichförmige
Breite von 0,84 mm auf. Der Abstand zwischen be
nachbarten Balken betrug näherungsweise 0,43 mm.
Verschiedene Meßvorrichtungen wurden unter
Verwendung dieses Ursprungsmusters hergestellt und
bezüglich ihrer Genauigkeit getestet, um eine Ver
gleichsmöglichkeit mit nach dem vorliegenden Ver
fahren hergestellten Mustern zu haben. An dieser
Stelle sei darauf hingewiesen, daß der effektivste
und praktisch der einzigste Weg zur Prüfung der
Teilungsgleichförmigkeit eines solchen Balkenmusters
darin besteht, die Genauigkeit eines Lagemeßtransformators
zu prüfen, der solche Umformerteile aufweist. Das Ur
sprungsmuster war ein Negativbild, d. h. die Balken
auf der Glasplatte waren transparent, während die
Zwischenräume zwischen den Balken lichtundurchlässig
waren.
Die Fig. 3 zeigt einen Teil eines Teststreifens einer ersten
photographischen Filmplatte mit einer photographischen
Emulsion hoher Auflösung, wobei der Teststreifen unter
Verwendung einer Testmaske auf die folgende Weise herge
stellt wurde: Die Testmaske ließ einen 25,4 cm langen Schlitz
offen, der von einer lichtundurchlässigen Maske begrenzt
wurde. Diese Testmaske wurde in Kontakt mit der unbelichteten
Filmplatte gebracht. Belichtet wurde mittels einer Zirconium-
Bogenlampe mit 25 Watt. Die Belichtung durch die Testmaske
betrug bei jedem Belichtungsschritt 20 lx · s. Die Test
maske wurde sodann relativ zur Filmplatte um 2,54 mm in
einer Richtung parallel zur Länge des Schlitzes verschoben
und sodann eine weitere Belichtung um 20 lx · s vorgenommen.
Das Verschieben und Belichten um jeweils 20 lx · s wurde
99mal wiederholt. Die Filmplatte wurde sodann entwickelt
und fixiert unter Verwendung von vom Hersteller empfohlenen
Entwicklern und Fixierflüssigkeit. Auf diese Weise ergab
sich ein Teststreifen 300, dessen Endteile 301 und 302
in Fig. 3 dargestellt sind. Der so hergestellte Teststreifen
wies eine 100 Sektionen aufweisende Grauskala auf mit
einem Belichtungsbereich von 20 bis 200 lx · s, jeweils
mit einem Unterschied von 20 lx · s zwischen benachbarten
Sektionen. Die neben der Grauskala angebrachten Zahlen
zeigen die jeweilige Belichtung in Einheiten von 10 lx
· s (eine Einheit = 10 lx · s).
Der Schwärzungsgrad jeder Sektion des Testreifens 300
wurde sodann mit einem Densitometer gemessen. Das Verhält
nis zwischen Schwärzungsgrad und entsprechendem Belichtungspegel
(in logarithmischen Maßstab) ist in Fig. 4 als Kurve 400
wiedergegeben. Im interessierenden Bereich weist die Kurve
400 ein im wesentlichen lineares Verhältnis zwischen der
Belichtung (in logarithmischem Maßstab) und dem Schwärzungs
grad auf und zwar zwischen den Belichtungen von 200 bis
2000 lx · s.
Mittels des Teststreifens 300 wurde sodann ein Kontaktab
zug auf einer unbelichteten zweiten Filmplatte hergestellt,
wobei die Belichtung 260 lx · s betrug unter Verwendung
einer Leuchtstofflampe. Die zweite Filmplatte wurde sodann
drei Minuten lang in einem geeigneten Entwickler entwickelt
und fixiert, wodurch sich ein zweiter Teststreifen 500
ergab, von dem ein Teil 501 in Fig. 5 dargestellt ist.
Es wurde ein Filmmaterial mit einem weit größeren Gamma
wert oder Konstrast als das erste Material verwendet, wodurch
sich ein schärferer Übergang vom lichtdurchlässigen zum
lichtundurchlässigen Teil ergibt. Der Teil 501 des Test
streifens 500 stellt den Übergangsbereich zwischen dem
lichtundurchlässigen und dem lichtdurchlässigen Teil der
zweiten Platte dar, welcher an einer Stelle vorhanden ist,
die den Belichtungssektionen zwischen 500 und 600 lx · s
des ersten Teststreifens 300 der ersten Platte entspricht.
Dieser Übergangsbereich zwischen 500 und 600 lx · s ist
in Fig. 4 als Bereich 401 bezeichnet. Weitere Kontaktab
züge unter Verwendung des ersten Teststreifens 300 wurden
bei Platten des zweiten Typs bei unterschiedlichen Belichtungen
und Entwicklungen hergestellt, wobei sich zeigte, daß eine
erhöhte Belichtung oder eine erhöhte Entwicklungszeit bewirkte,
daß der Übergangsbereich beim zweiten Streifen sich ver
schob in Bereiche oder eine erhöhte Entwicklungszeit bewirkte,
daß der Übergangsbereich beim zweiten Streifen sich ver
schob in Bereiche höherer Belichtungspegel des ersten Test
streifens 300. Bei einem Kontaktabzug unter Verwendung
des ersten Testreifens auf einer Filmplatte des zweiten
Typs mit einer Belichtung von 260 lx · s, jedoch anstelle
einer Entwicklungszeit von drei Minuten mit einer solchen
von sechs Minuten, ergab bei der zweiten Platte eine Ver
schiebung des Übergangsbereichs in den Bereich von 680
bis 880 lx · s des Teststreifens 300. Dieser verschobene
Übergangsbereich ist in Fig. 4 mit 402 bezeichnet. Das
zuvor beschriebene Testverfahren ist nicht unbedingt erfor
derlich, jedoch ermöglichen die Testdaten eine rasche und
optimale Wahl der verschiedenen Verfahrensparameter und
insbesondere der Festlegung des Schwellwertes für die Inten
sität des latenten Bildes. Mittels des folgenden Verfahrens
ist es möglich, ein Produktionsmuster von Balken herzu
stellen unter Verwendung des zuvor beschriebenen Ursprungs
musters, welches aus einem 25,4 cm langen Muster mit 200
Balken bestand. Dieses Ursprungsmuster war auf einer Film
platte des zweiten Typs angebracht und es wurde ein Kon
taktabzug auf einer 25,4 cm langen Filmplatte des ersten
Typs erzeugt. Der Balken am äußersten Ende des Ursprungs
musters ist angeordnet über einem Endteil der Filmplatte
des ersten Typs. Das lichtempfindliche Material wird durch
das Ursprungsmuster beim ersten Belichtungsschritt mittels
einer Zirconium-Bogenlampe mit 20 lx · s belichtet. Das
Ursprungsmuster wird sodann relativ zum Filmmaterial ver
schoben längs einer Teilungsstrecke um zwei Teilungen,
so daß sich nunmehr drei Balken des Ursprungsmusters über dem
Filmmaterial befinden. Dieses wird in einem weiteren
Schritt um weitere 20 lx · s belichtet. Diese Verschiebungs
und Belichtungsschritte werden wiederholt für insgesamt
200 Schritte, so daß 200 Balkenstellen auf dem Filmmaterial
jeweils 100mal mit jeweils 20 lx · s belichtet werden.
Die Filmplatte wird sodann mittels bekannter Verfahren
entwickelt und fixiert und auf einer Filmplatte des zweiten
Typs mit hohem Kontrast ein Kontaktabzug hergestellt mit
einer Belichtung von 260 lx · s und einer Entwicklungszeit
von drei Minuten, wie obenstehend beschrieben. Das resul
tierende Produktionsmuster umfaßt 200 Balken auf einer
entwickelten Filmplatte des zweiten Typs und dieses Produk
tionsmuster kann dazu dienen, verbesserte Lagemeßtransformatoren
herzustellen. Von den gewonnenen Testdaten kann abgeleitet
werden, daß der Übergangsbereich auf der Filmplatte des
zweiten Typs in einem Bereich zwischen 500 und 600 lx · s
Belichtungseinheiten des ersten Materials auftritt. Dies
bedeutet also, daß die Bereiche der erste Filmplatte,
welche gegen die Bereiche der ersten Filmplatte lagen,
die mehr als 600 lx · s Belichtungseinheiten empfingen,
völlig transparent sind, während die Bereiche, welche gegen
Bereiche der ersten Filmplatte lagen, die weniger als 500
lx · s Belichtungseinheiten empfingen vollständig dunkel,
d. h. lichtundurchlässig sind. Da 100 komplette Bilder des
Balkenmusters überlagert wurden, um maximal 2000 lx · s
Belichtungseinheiten zu ergeben, ist es ersichtlich, daß
die Wahl dieser Verfahrensbedingungen im Endeffekt dazu
führt, daß 25%
der Bildmuster mit weniger gleichförmiger Teilung
von den insgesamt 100 Bildmustern eliminiert werden.
Dies entspricht dem Verhältnis von 500 lx · s zu 2000 lx · s.
Die verbleibenden 75% der Bildmuster sind bezüglich
der Teilung gleichförmiger und ergeben insgesamt das
zu erzeugende Bild.
Alternativ hierzu kann ein Produktionsmuster er
zeugt werden durch genau die gleichen Schritte wie
zuvor erwähnt, mit der Ausnahme, daß die zweite
Filmplatte anstelle von drei Minuten nunmehr sechs
Minuten entwickelt wird. Der Übergang zwischen Licht
durchlässigkeit und Lichtundurchlässigkeit bei dem
Muster tritt auf im Bereich zwischen 680 und
880 lx · s, oder in anderen Worten näherungsweise 34%
der 100 überlagerten latenten Balkenbilder bleiben
unbeachtet für die Herstellung des Produktionsmusters
und lediglich die restlichen 66% der latenten Balken
bildung werden benutzt. Die Unterschiede zwischen
diesem Produktionsmuster und einem Produktionsmuster
das wie im vorhergehenden Abschnitt beschrieben her
gestellt wurde, besteht in einer geringen stellungs
mäßigen Verschiebung der Balkenkanten und in einer
kleinen Änderung der Breite des grauen Übergangsbe
reichs an der Kante jedes Balkens. Diese Differenzen
haben jedoch auf die Gleichförmigkeit der Teilung
des Produktionsmusters nur geringen Einfluß und ab
hängig von der genauen Art der Ungleichförmigkeit
der Teilung des Ursprungsmusters weist das eine oder
das andere Produktionsmuster eine besssere Teilungs
gleichförmigkeit auf als das andere.
Obwohl es für das Ausüben der vorliegenden Erfindung
nicht wesentlich ist, ist es doch vorteilhaft, wenn
alle Belichtungsschritte vorgenommen werden im Be
reich des im wesentlichen linearen Teils der Schwär
zungs-Belichtungskurve, so daß jeder Schritt zu
einem exponentiell gleichen Betrag der Schwärzung
beiträgt. Die Kurve 400 für das erste Material gemäß
Fig. 4 weist nur relativ kurze Kurventeile auf, bei
denen eine Nicht-linearität vorhanden ist, speziell
im Belichtungsbereich zwischen 0 bis 200 lx · s, so daß
lediglich zehn Belichtungen mit jeweils 20 lx · s
erforderlich sind, um den im wesentlichen linearen
Teil der Kurve zu erreichen. Die restlichen 90 Be
lichtungsschritte verlaufen in diesem Sinne "linear".
Um sicherzustellen, daß alle Belichtungsschritte
in dem im wesentlichen linearen Teil
der Kurve 400 vorgenommen werden, ist es möglich, das erste Material zuvor
mit 200 lx · s zu belichten, bevor das zuvor beschriebene
Verschieben und Belichten in der angegebenen Schritt
folge vorgenommen wird.
Die Wahl der Verfahrensparameter kann weiterhin er
klärt werden anhand der Fig. 6, die eine Kurve 600
wie diejenige Kurve 500 des ersten Materials zeigt, mit
einem im wesentlichen linearen Schwärzungsbereich
zwischen einem niederen Belichtungswert 601 und einem
höheren Belichtungswert 602. Ein Belichtungswert 603
zwischen den Werten 601 und 602 wird gewählt aufgrund
der Schärfe des Übergangsbereichs in einem
Abzug mit dem zweiten Material an einer Stelle entsprechend einem Belichtungs
wert 603 eines Teststreifens. Eine Gesamtzahl von
Belichtungsschritten und ein vorbestimmter Anteil
dieser Schritte deren latente Bilder im Produktions
muster zurückgehalten werden sollen, werden sodann
festgelegt. Mit diesen so gewählten Werten kann so
dann die Größe der Belichtung bei den einzelnen Be
lichtungsschritten die Größe der vorerwähnten Vor
belichtung bestimmt werden. Dies geschieht wie nach
folgend beschrieben. Da die Gesamtzahl der Be
lichtungsschritte durchzuführen ist bis zum höheren
Belichtungswert 602 und die latenten Bilder eines
Teils der Gesamtschritte festgehalten werden sollen,
muß der Teil der Schritte zwischen den Be
lichtungswerten 603 und 602 durchgeführt werden und
deshalb ist die Schrittgröße gleich der Differenz
zwischen den Belichtungswerten 603 und 602, dividiert
durch den vorbestimmten Anteil der Gesamtschritte.
Die restlichen Schritte werden vorgenommen bei Be
lichtungen unterhalb des Wertes 603 und nehmen einen
Belichtungsbereich ein, der gleich der Belichtungsschritt
größe mulitpliziert mit der Zahl der verbleibenden
Schritte ist. Liegen diese Werte fest, dann wird der Wert
der Vorbelichtung, mit dem die gesamte Filmplatte des ersten Typs
gleichförmig belichtet wird, bevor die Folge der Be
lichtungsschritte beginnt, gefunden als Wert gleich
dem gewählten Belichtungswert 603 weniger dem Produkt
aus dem Belichtungsschrittwert und der
Zahl der verbleibenden Schritte.
Dies wird nachfolgend anhand der Fig. 6 durch ein
Beispiel erläutert. Wird der höhere Belichtungswert
602 von 2000 lx · s nach einer Gesamtzahl von 100
Schritten erreicht, und sollen 60 der 100 latenten Bilder
über dem gewählten Belichtungswert 603 von 900 lx · s
zurückgehalten werden, dann beträgt der Wert des
einzelnen Belichtungsschritts (2000-900)/60, oder 18,3 lx · s.
Der Vorbelichtungswert 604, mit dem die
Platte des ersten Typs zuvor belichtet wird, beträgt 900-18,3 ·
(100-60), oder 168 lx · s.
Im dargestellten Beispiel nach Fig. 6 nimmt die
Vorbelichtung den Teil der Kurve 600 vom Ausgangs
punkt bis zum Punkt 604 ein und diese Kurve ent
spricht einem Belichtungswert von 170 lx · s. Die ersten
40 Belichtungsschritte von jeweils 18,3 lx · s nehmen
den Bereich zwischen den Punkten 604 und 603 der
Kurve 600 ein. Die verbleibenden 60 Schritte treten
im Bereich zwischen den Punkten 603 und 602 auf.
Nach erfolgter Entwicklung des ersten Materials und
einem darauffolgenden Kontaktabzug auf einer Filmplatte des zweiten
Typs weist das resultierende Produktionsmuster
eine Zusammensetzung aus 60 mehr gleichförmiger ge
teilten Balkenmuster der insgesamt 100 überlager
ten Muster auf, während 60 dieser Muster die eine
weniger gleichförmige Teilung aufweisen unbeachtet
bleiben. Es ist selbstverständlich, daß der Bildan
teil der festgehaltenen Balkenmuster an irgendeinem
Punkt der Folge der 100 Schritte auftreten kann, d. h.
in einem Bereich entweder zwischen den Punkten 604
und 603 oder in einem Bereich zwischen den Punkten
603 und 602.
Zum Testen der Genauigkeit eines Produktionsmusters
eines Teils eines Lagemeßtransformators wurde
wie folgt vorgegangen: Ein Ursprungsmuster mit
200 Balken mit einer im wesentlichen gleichförmigen
Teilung von 1,27 mm auf einer 25,4 cm langen
Glasplatte wurde zur Herstellung von vier
Skalenteilen eines Lagemeßtransformators
verwendet. Für jedes Skalenteil wurde das Ursprungs
muster kontaktübertragen mittels ultraviolettem
Licht auf eine lichtempfindliche ätzbare Schicht.
Diese lichtempfindliche
Schicht bedeckt eine 0,051 mm dicke Kupferschicht,
welche auf einem 9,5 mm dicken Stahlträger ange
ordnet ist. Zwischen dem Stahlträger und der Kupfer
schicht ist eine dünne dielektrische Schicht ange
ordnet. Die lichtempfindliche Schicht und die Kupfer
schicht wurden mittels bekannter photochemischer Ätz
techniken behandelt, um ein Muster von Leiterstücken
auf dem Stahlträger zu erzeugen.
Eine schematische Darstellung eines induktiv arbeitenden, linearen
Lagemeßtransformators 700 ist in Fig. 7 gezeigt. Das
Skalenteil 701 des Meßtransformators ist zusammen
gesetzt aus einer Windung 702 aus Kupferleitern, be
stehend aus 200 parallel zueinander verlaufenden
Leiterstücken mit einer Teilung von 1,27 mm. Die
Enden der Leiterstücke sind abwechselnd mit den be
nachbarten Enden verbunden, so daß sich eine sinus
förmige Windung ergibt, wie dies schematisch die
Fig. 7 zeigt. Ein Schieber 703 mit zwei Sektionen 704
und 705 mit Windungen gleicher Teilung, die zueinan
der um 90° phasenverschoben sind, ist parallel und
im Abstand zur Skalenwindung 702 angeordnet, wobei
der Schieber 703 eine Linearverschiebung relativ
zur Skalenwindung 702 längs der Länge der Skala 701
auszuführen vermag. In Fig. 7 ist die Skalenwindung
702 neben den Schieberwindungen 704 und 705 gezeigt,
jedoch ist der Schieber 703 tatsächlich über den
Skalenteil 701 angeordnet, wobei beide Teile durch
einen schmalen Luftspalt voneinander getrennt sind.
Jeder Zyklus der Skalenwindung 702 umfaßt 2,54 mm
und kann angesehen werden als Darstellung eines Ver
änderungswinkels von 360°. Die Schieberwindungssektionen
704 und 705 werden erregt durch zwei Signale einer
Grundfrequenz, deren jeweilige Amplituden proportional
dem Sinus und dem Cosinus eines bestimmten Winkels R
innerhalb eines Zyklus der Skalenwindung 702 sind.
Diese Signale werden durch einen Sinus- und einen
Cosinusgenerator 706 und 707 erzeugt. Als Ergebnis
der Schiebererregung wird in der Skalenwindung 702
ein Fehlersignal induziert. Die Amplitude dieses
Fehlersignals ist proportional der Differenz zwischen
der tatsächlichen Relativstellung und der gewünschten
Relativstellung zwischen Skala und Schieber 701 und
703, wobei die Sollstellung durch den Winkel R
innerhalb eines Zyklus bestimmt ist. Stimmt die
relative Iststellung mit der relativen Sollstellung
zwischen Schieber und Skala 701 und 703 innerhalb
eines 2,54 mm langen Zyklus überein, d. h. ist der
Winkel R innerhalb dieses Zyklus erreicht, dann
geht das Fehlsignal, welches am Spannungsmesser 708
gemessen wird, auf den Wert Null zurück.
Die vier Skalenteile mit den vier Ur
sprungsmustern wurden bezüglich ihrer Meßgenauig
keit getestet durch Vergleich der elektronisch er
mittelten Werte der Schieberstellung längs der Länge
der Skala mit den tatsächlichen Schieberstellungen,
welche gemessen wurden mittels eines Laser Interfero
meters. Die Resultate dieser
vier Genauigkeitsversuche sind in Fig. 8 durch die
Kurven 801 bis 804 wiedergegeben.
Das gleiche Ursprungsmuster wurde sodann dazu ver
wendet, vier Produktionsmuster nach dem hier vor
liegenden Verfahren herzustellen. Das Ursprungs
muster aus 200 Leiterstreifen auf einer
Glasplatte wurde mittels Kontaktabzug ohne Vorbe
lichtung auf eine Filmplatte des ersten Typs übertragen, wobei
wie zuvor beschrieben, eine Anfangsbelichtung von
20 lx · s vorgenommen wurde, sodann um zwei Teilungen
verschoben und abermals mit 20 lx · s
belichtet wurde. Das Verschieben und die Belichtungs
schritte wurden insgesamt 200mal wiederholt. Die Filmplatte
wurde sodann entwickelt und wie zuvor be
schrieben fixiert zur Herstellung eines Zwischen
musters von 200 Balken, wobei jeder Balken jeweils
100mal mit je 20 lx · s belichtet wurde. Dieses
Muster von 200 Balken wurde sodann kontaktübertragen
auf eine Filmplatte des zweiten Typs bei einer Belichtung von 260 lx · s.
Diese Platte wurde drei Minuten
entwickelt und sodann fixiert zur Erzeugung eines
Produktionsmusters von 200 Balken. Dieses Produktions
muster wurde sodann in der gleichen Weise und unter
denselben Bedingungen verwendet und geprüft, wie
dies vorbeschrieben wurde. Die Resultate des Ge
nauigkeitsversuches sind in Fig. 9 durch die Kur
ven 901 bis 905 wiedergegeben. Durch Vergleich der
Fig. 8 und 9 zeigt sich, daß eine beträchtliche Er
höhung der Teilungsgenauigkeit und damit der Meßge
nauigkeit erreicht wurde bei Verwendung von Trans
formatorenteilen, die gemäß der vorliegenden Erfin
dung hergestellt wurden. Ein Vergleich der Spitzen
werte zeigt, daß in Fig. 8 die Fehlerkurve 802 einen
Maximalfehler von 0,0087 mm aufweist, während der
maximale Fehlerwert von Spitze zu Spitze bei der
Kurve 902 lediglich 0,0052 mm beträgt. Dies bedeutet
also, daß die Fehlerbreite bei Fig. 9 nur die Hälfte
der Fehlerbreite bei Fig. 8 ist. Die Kurven von Fig. 9
zeigen deutlich, daß sie gleichmäßiger verlaufen als
diejenigen von Fig. 8 und eine weit größere Genauig
keit pro Abstandseinheit des Wegs aufweisen. Beim
zuvor beschriebenen Verfahren wurde photografisches
Material auf Silber-Halogenidbasis verwendet, jedoch
kann auch jedes andere lichtempfindliche Material
hierfür verwendet werden.
Das zuvor beschriebene Verfahren ist auch geeignet
zur Herstellung von linearen optischen Gittern und
zur Herstellung eines Musters von radialen Strichen,
wie sie zur Lagenmessung bei optischen Lagemeßge
räten benötigt werden.
Wie schon zuvor erwähnt, ist es ohne weiteres möglich,
nach Durchführung des Verfahrens das Ursprungsmuster
durch das bessere Produktionsmuster zu ersetzten
und nach weiterer Durchführung des Verfahrens kann
dieses Produktionsmuster durch das
abermals verbesserte neue Produktionsmuster ersetzt werden. Durch
mehrmaliges Wiederholen kann praktisch ein Muster
erzeugt werden, welches eine ideale Teilung aufweist.
Claims (5)
1. Verfahren zur Herstellung eines Teils eines Lagemeß
transformators mit einem Muster von in gleichmäßiger
Teilung angeordneten Balken mittels eines photoopi
schen Verfahrens unter Verwendung einer Maske, die
ein Produktionsmuster dieser Balken aufweist, dadurch
gekennzeichnet, daß
- a) ein Ursprungsmuster (100) verwendet wird, daß eine Vielzahl von Balken (101-105) mit einer im wesent lichen gleichförmigen Teilung aufweist,
- b) dieses Ursprungsmuster (100) durch Belichtung auf
einem ersten unbelichteten lichtempfindlichen Mate
rial (300) abgebildet wird, das zwischen einem nie
deren und einem hohen Belichtungswert eine logarith
mische Belichtungs-Schwärzungscharakteristik (400,
600) aufweist, und
- b1) eine erste Abbildung mit einem ersten Belichtungs wert erzeugt wird, die einen Bruchteil des hohen Belichtungswerts darstellt,
- b2) danach das Ursprungsmuster (100) relativ zum ersten lichtempfindlichen Material (300) um ein Ganz zahliges der Teilung verschoben und danach eine zweite Abbildung mit einem ersten Belichtungswert erzeugt wird,
- b3) dieses Verschieben und Abbilden mehrmals wieder holt wird zur Erzeugung eines latenten Bildes (201-205) überlagerter Balken (A-G) des Ursprungs muster (100),
- c) das erste lichtempfindliche Material (1300) sodann entwickelt und fixiert wird,
- d) das dabei entstehende Zwischenmuster durch Be
lichtung auf einem zweiten unbelichteten licht
empfindlichen Material (500) abgebildet wird,
das im Vergleich zum ersten Material (300) eine
steilere Belichtungs-Schwärzungscharakteristik
aufweist, und
- d1) derjenige Teil (P 1-P 5) des Zwischenmusters ab gebildet wird, der durch einen Zwischenbelichtungs wert (401, 402, 603) des latenten Bildes (201-205) erhalten wurde, der zwischen dem niederen und dem hohen Belichtungswert liegt und
- e) danach das zweite lichtempfindliche Material (500) zur Erzeugung des Produktionsmusters entwickelt und fixiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß das erste lichtempfindliche
Material (300) vor der Abbildung des Ursprungsmusters
(100) einer Vorbelichtung (604) unterworfen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß der erste Belichtungswert
gleich der Differenz zwischen dem hohen und dem nie
deren Belichtungswert (602 bzw. 604) dividiert durch
die Gesamtzahl der Belichtungsschritte ist, und der
niedere Belichtungswert gleich dem Vorbelichtungswert
(604) ist.
4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß der erste Belichtungswert gleich
der Differenz zwischen dem hohen Belichtungswert (602)
und dem Zwischenbelichtungswert (603) dividiert durch
die Anzahl der Belichtungsschritte zwischen dem hohen
Belichtungswert (602) und dem Zwischenbelichtungswert
(603) ist und die Vorbelichtung (604) mit einem Wert
vorgenommen wird, der gleich dem Zwischenbelichtungs
wert (603) abzüglich dem Produkt aus dem ersten Be
lichtungswert und der Anzahl der Belichtungsschritte
bis zum Erreichen des Zwischenwertes (603) ist.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Ursprungsmuster (100) ge
bildet wird durch ein nach Verfahren hergestelltes
Produktionsmuster.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US51604974A | 1974-10-18 | 1974-10-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2546504A1 DE2546504A1 (de) | 1976-05-06 |
DE2546504C2 true DE2546504C2 (de) | 1987-09-03 |
Family
ID=24053911
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752546504 Granted DE2546504A1 (de) | 1974-10-18 | 1975-10-17 | Verfahren zur herstellung eines teils eines lagemessumformers |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4138253A (de) |
JP (1) | JPS5165658A (de) |
BR (1) | BR7506821A (de) |
CA (1) | CA1054424A (de) |
CH (1) | CH604127A5 (de) |
DE (1) | DE2546504A1 (de) |
FR (1) | FR2334133A1 (de) |
GB (1) | GB1490908A (de) |
IT (1) | IT1055640B (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3837874A1 (de) * | 1988-11-08 | 1990-05-10 | Siemens Ag | Verfahren zur herstellung von gitterstrukturen mit um eine halbe gitterperiode gegeneinander versetzten abschnitten |
DE3837875A1 (de) * | 1988-11-08 | 1990-05-10 | Siemens Ag | Verfahren zur herstellung von gitterstrukturen mit um eine halbe gitterperiode gegeneinander versetzten abschnitten |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4262070A (en) * | 1980-04-18 | 1981-04-14 | Liu Hua Kuang | Method of making halftone contact screens |
US5239288A (en) * | 1990-03-09 | 1993-08-24 | Transicoil Inc. | Resolver having planar windings |
US5928820A (en) * | 1994-06-10 | 1999-07-27 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Method for measuring pattern line width during manufacture of a semiconductor device |
DE102008040949B4 (de) * | 2008-08-01 | 2012-03-08 | Sirona Dental Systems Gmbh | Optisches Projektionsgitter, Messkamera mit optischem Projektionsgitter und Verfahren zur Erzeugung eines optischen Projektionsgitters |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE547895A (de) * | 1955-05-18 | 1900-01-01 | ||
DE1136834B (de) * | 1959-04-09 | 1962-09-20 | Leitz Ernst Gmbh | Vorrichtung zum Messen von Lageaenderungen |
US3317320A (en) * | 1964-01-02 | 1967-05-02 | Bendix Corp | Duo resist process |
US3518084A (en) * | 1967-01-09 | 1970-06-30 | Ibm | Method for etching an opening in an insulating layer without forming pinholes therein |
US3647445A (en) * | 1969-10-24 | 1972-03-07 | Texas Instruments Inc | Step and repeat photomask and method of using same |
US3950170A (en) * | 1969-12-02 | 1976-04-13 | Licentia Patent-Verwaltungs-G.M.B.H. | Method of photographic transfer using partial exposures to negate mask defects |
-
1975
- 1975-10-08 GB GB41279/75A patent/GB1490908A/en not_active Expired
- 1975-10-10 CH CH1320475A patent/CH604127A5/xx not_active IP Right Cessation
- 1975-10-15 JP JP12335975A patent/JPS5165658A/ja active Pending
- 1975-10-16 FR FR7531675A patent/FR2334133A1/fr active Granted
- 1975-10-16 IT IT69584/75A patent/IT1055640B/it active
- 1975-10-17 BR BR7506821*A patent/BR7506821A/pt unknown
- 1975-10-17 DE DE19752546504 patent/DE2546504A1/de active Granted
- 1975-10-20 CA CA238109A patent/CA1054424A/en not_active Expired
-
1978
- 1978-01-20 US US05/871,164 patent/US4138253A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3837874A1 (de) * | 1988-11-08 | 1990-05-10 | Siemens Ag | Verfahren zur herstellung von gitterstrukturen mit um eine halbe gitterperiode gegeneinander versetzten abschnitten |
DE3837875A1 (de) * | 1988-11-08 | 1990-05-10 | Siemens Ag | Verfahren zur herstellung von gitterstrukturen mit um eine halbe gitterperiode gegeneinander versetzten abschnitten |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2546504A1 (de) | 1976-05-06 |
US4138253A (en) | 1979-02-06 |
JPS5165658A (de) | 1976-06-07 |
FR2334133A1 (fr) | 1977-07-01 |
CA1054424A (en) | 1979-05-15 |
GB1490908A (en) | 1977-11-02 |
CH604127A5 (de) | 1978-08-31 |
BR7506821A (pt) | 1976-08-17 |
AU8575575A (en) | 1977-05-05 |
FR2334133B1 (de) | 1983-04-15 |
IT1055640B (it) | 1982-01-11 |
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Legal Events
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G03F 7/00 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |