DE2546331B2 - Messondenvorrichtung zur pruefung von aufgeladenen fotohalbleiterschichten - Google Patents
Messondenvorrichtung zur pruefung von aufgeladenen fotohalbleiterschichtenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Meßsondenvorrichtun; zur Prüfung von aufgeladenen Fotohalbleiterschichtei
mit einer durch einen Antrieb vor einem Fenste rotierbaren, abwechselnd mit durchgehenden Felden
und Unterbrechungen ausgeführten Segmentscheibi
aus elektrisch leitendem Material.
Fotohalbleiterschichten sind beispielsweise Zink oxydschichten auf Papieren oder Selenschichten au
Zylindern. Es sind Kopierverfahren bekannt, dii Zinkoxydpapiere verwenden, auf denen eine Abbildunj
erzeugt wird, sowie Übertragungsverfahren, die Selen zylindc verwenden, von denen ein entwickeltes Bild au
ein Empfangsblatt übertragen wird.
Die Materialien, die vorstehend angegeben sind, sin< nicht einschränkend, sondern nur beispielsweise ge
nannt.
Es ist erforderlich, zur Gewährleistung gleichbleiben der und guter Kopierergebnisse Eigenschaften de
Fotohalbleiterschichten zu kontrollieren. Eine solchi Kontrolle wird einerseits dadurch erreicht, daß dii
Aufladehöhe, ein Abfall der aufgebrachten elektro-stati sehen Ladungen im Dunkeln in Abhängigkeit von de
Zeit und andererseits ein solcher Abfall unte Belichtung mit verschiedenen Lichtquellen gemessei
wird. Letzteres gilt als Maß für die Empfindlichkeit de Fotohalbleiterschichten. Die Messung des Abfalls unte
Belichtung wirft bei bekannten Vorrichtungen Schwie rigkeiten auf. Beispielsweise sind diese Vorgänge in den
Buch »Electrophotography«, R. M. Schaffert, 1966
S. 175 bis 178, sowie auch Apparaturen zur Durchfüh rung der Messung beschrieben.
Bei einer Vorrichtung der eingangs angegebenen Ar wird vor der Fotohalbleiterschicht mit einem gehörigei
Abstand eine Sonde in Form einer metallischen Flächt angebracht und die Feldlinien, die von den Ladungei
der aufgeladenen Halbleiterschichten auf die metalli sehe Fläche auftreffen, werden in schneller Folgi
fortlaufend unterbrochen, indem vor der metallischer Fläche bzw. zwischen dieser Fläche und der Fotohalb
leiterschicht eine geerdete Segmentscheibe in Umlau gesetzt bzw. geerdete Schneiden in Vibrationsschwin
gungen gebracht werden. Durch solche Unterbrechun gen wird in der metallischen Fläche eine Wechselspan
nung erzeugt, die durch Verstärkung und Gleichrich tung in ein Meßsignal umgewandelt wird. Untei
Einbeziehung des Abstandes der metallischen Fläche zi den aufgeladenen Fotohalbleiterschichten ergibt sict
ein den elektro-statischen Ladungen proportionale: Meßsignal, das durch den Abstand zwischen dei
metallischen Fläche und der Fotohalbleiterschich beeinträchtigt sein kann.
Mit dieser Ausführung kann man elektrostatisch« Ladungen an Isolatoren und Fotohalbleitern bzw. auch
den Abfall dieser Ladungen im Dunkeln messen. Für die
Aufnahme der Belichtungskurve, d. h. Empfindlichkeit von Fotohalbleitern, ist eine solche Vorrichtung
ungeeignet, weil die Undurchsichtigkeit der metallischen Fläche und ihr Abstand von der halbleiterschicht
eine gleichzeitige Belichtung ausschließen.
Es ist auch bekannt, die ladungsempfangende Fläche, d. h. die sogenannte Sondenfläche, aus einem teildurchsichtigen
Material, insbesondere einem elektrisch leitfähig gemachten Glas, auszuführen. Durch dieses
kann zwa.· auch wahlweise eine Belichtung erfolgen; eine solche Belichtung wird jedoch stark beeinträchtigt
durch die Eigenschaft der durchscheinenden Sonde, zumal eine solche Sonde nicht die gesamte Lichtmenge
in voller spektraler Breite durchläßt. Diese Methode unterliegt daher Beschränkungen.
Aus der »Zeitschrift für angewandte Physik«, X. Band, ,958, Heft 9, S. 419 bis 424, ist eine Prüfapparatur für
Fotohalbleiter bekannt, bei welcher eine drehbare Modulationsscheibe in der Ausführung als rotierende
Lochscheibe lediglich zur Modulation des Lichtes angeordnet ist, mit dem der Fotohalbleiter belichtet
wird. In diesem wird eine frequenzabhängige Signalerzeugung kontrolliert. Dazu sind besondere Schaltungen
vorgesehen.
Auch gemäß »Solid-State Electronics«, Vol. 9,1966, S.
303 bis 310, ist eine Segmentscheibe lediglich zur Unterbrechung des auffallenden Lichtes angeordnet.
Gleiches gilt für eine Lichtunterbrechungsscheibe gemäß Aufsatz »Electronics and Communica'ion in
Japan«, Vol. 53-C, Nr. 10,1970, S. 175 bis 183.
Diese bekannten Scheiben brauchen nicht einmal aus elektrisch leitendem Material zu bestehen, weil lediglich
eine Modulation bzw. Unterbrechung des einfallenden Lichtes vorgesehen ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zu schaffen, welche ermöglicht, sowohl den
Abfall der Ladungen im Dunkeln zuverlässig zu messen als auch mit den gleichen Mitteln unter Einbeziehung
von Lichtquellen den Abfall unter Belichtung mit verschiedenen Lichtquellen zuverlässig festzustellen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Segmentscheibe gegen Masse isoliert gelagert
und zur unterbrochenen Aufnahme und Abführung von Meßwerten und als Sondenscheibe mit einem elektrisehen
Anschluß zu einem Verstärker und einer Auswerteinrichtung versehen ist, daß vor dem Fenster
die aufgeladene Fotohalbleiterschicht angeordnet ist und daß hinter der Sondenscheibe und hinter diesem
Fenster eine gerichtete Lichtquelle zur in Abhängigkeit von der Bewegung der Sondenscheibe intermittierenden
unmittelbaren Belichtung der Fotohalbleiterschicht vorgesehen ist.
Während bei der oben beschriebenen Vorrichtung von der aus elektrisch leitendem Material bestehenden
Segmentscheibe geredet ist und somit Ladungen abführt, sieht die Erfindung vor, daß die Segmentscheibe
als Sonde für eine Messung dient und zwei Aufgaben erfüllt, nämlich die einer Unterbrechung der Feldlinien
und die eines Empfanges der Feldlinien als Sondenscheibe, wobei die Ausführung der Sondenscheibe selbst als
Segmentscheibe die Möglichkeit gibt, ohne Zwischenfügung nachteiliger Materialien auch die Fotohalbleiterschichten
praktisch während der Messungen zu belichten. Durch die Erfindung wird erreicht, daß die
eigentliche Sonde in unmittelbarer Nähe der aufgeladenen Fotohalbleiterschicht angeordnet werden kann. Der
Ausdruck »gerichtete Lichtquelle« bezieht ein, daß gegebenenfalls auch ein Lichikanal mit auswechselbaren
Lichtquellen angeordnet ist.
In der Ausführung mit einem Lichtkanal ergibt sich dabei der Vorteil, daß bei der Messung des Abfalls unter
Belichtung eine Belichtung dann stattfindet, wenn die Unterbrechungen der Sondenscheibe vor der Halbleiterschicht
vorbeigehen. Weil in diesem Zusammenhang kein durchscheinendes Material angeordnet zu
sein braucht — und übrigens auch keine anderen beweglichen blinden Elemente, die auch Aufladungen
zugänglich sind — wird hierbei die Belichtung in verschiedenen Formen, d. h. entweder mit verschiedenen
Lichtquellen oder durch verschiedene, jeweils einschaltbare Filter in vollem Spektrum auf die
Fotohalbleiterschicht gebracht. Durch eine solche Meßsondenvorrichtung sind zuverlässige Meßergebnisse
in vereinfachter Ausführung erreichbar.
Bevorzugt wird, daß an der vom Fenster abgekehrten Seite der Sondenscheibe eine an Masse liegende
Abschirmscheibe aus elektrisch leilendem Maleria) und mit Feldern und Unterbrechungen angeordnet ist,
welche zu den entsprechenden Abschnitten der Sondenscheibe ausgerichtet sind. Eine solche Abschirmscheibe
hat den Zweck, etwaige, von hinten kommende Aufladungen, die also nicht von der Entladung der
Fotohalbleiterschicht stammen, abzufangen. Dadurch wird die Genauigkeit des Meßergebnisses gewährleistet
und wesentlich verbessert.
Vorteilhaft sind Sondenscheibe und Abschirmscheibe zueinander fest, aber voneinander isoliert auf der Welle
eines Elektromotors angeordnet und die Abschnitte mit Unterbrechungen und geschlossenen Feldern in gleichen
Umfangsabschnitten vorgesehen. Beide Scheiben sind eng nebeneinander angeordnet.
Die Anordnung auf der Welle eines Elektromotors verwirklicht eine besonders günstige und raumsparende
Ausführungsform. Es bleibt natürlich einbezogen, beide Scheiben schiebeartig anzuordnen und durch einen hin-
und hergehenden Antrieb hin- und herzubewegen.
Insbesondere bei der Drehung, wie angegeben, können die abwechselnden Unterbrechungen und
Felder in einem Ringscheibenabschnitt ausgebildet sein. Bevorzugt wird aber, daß die Sondenscheibe und
Abschirmscheibe als Segmentscheibe ausgeführt sind, die nach außen offene Unterbrechungen aufweisen.
Auch hierdurch wird eine verhältnismäßig einfache Ausführungsform geschaffen. Hierbei versteht sich, daß
jede Scheibe ein, zwei oder mehr Segmente aufweisen kann, wobei jedoch beide Scheiben gleichförmig
ausgebildet sind. Die Anzahl bzw. Verteilung zwischen Segmenten und Unterbrechungen richtet sich auch nach
der Antriebsgeschwindigkeit der Scheiben.
Zweckmäßig besteht der elektrische Anschluß aus einer federnd angedrückten Kohlenbürste, die auf eine
Erhöhung im Zentrum der drehbaren Sondenscheibe drückt. Hierdurch wird eine einfache Abnahme der
empfangenen Energie erreicht.
Vorteilhaft sind in dem Lichtkanal mehrere Filter vorgesehen, die in die Projektion des Fensters
einstellbar sind. Dadurch können verschiedene Meßreihen mit einfachen Mitteln ausgeführt sein. Bevorzugt
weist dabei ein Filterrad, das von einem Motor antreibbar ist, eine Schrittschalteinrichtung auf, die eine
Fortschaltung von Filter zu Filter in bezug zum Fenster bewirkt.
Gemäß einer besonders vorteilhaften Ausführungsform ist im Lichtkanal, insbesondere in der von der
Sondenscheibe abgelegenen Seite der Filter eine
Lichtquelle angeordnet. Hierbei handelt es sich zweckmäßig um eine stabilisierte Glühlampe.
Einbezogen wird jedoch auch, daß der Uchtkanal durchgeht, d. h. das Gehäuse der Meßsondenvorrichtung
durchsetzt und an seiner vom Fenster abgekehrten Öffnung verschiedene Lichtquellen einstellbar vorgesehen
sind, beispielsweise Lichtquellen für monochromatisches Licht, UV-Licht oder ein Licht, welches dem im
Kopiergerät entsprechenden Licht entspricht.
Die Genauigkeit von Meßergebnissen wird noch dadurch erhöht, daß die Sondenscheibe hinter einer
metallischen und an Masse liegenden Abdeckung, in der das Fenster vorgesehen ist, angeordnet ist.
Gemäß einer abgewandelten Ausführungsform mit
verschiedenen Filtern hat ein Gehäuse für die Meßsonde im Bereich der Filtcranordnung einen
Schlitz, durch welchen wahlweise verschiedene Filter einführbar sind.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen erläutert, die in der Zeichnung
dargestellt sind. In dieser zeigt
Fig. 1 eine Seitenansicht einer einfachen Meßsondenvorrichtung teilweise im Schnitt, in prinzipieller
Darstellung,
F i g. 2 eine Draufsicht auf die Sondenscheibe,
Fig. 3 eine Seitenansicht einer abgewandelten Ausführungsform einer Meßsondenvorrichtung, ebenfalls
im Teilschnitt,
Fig. 4 eine Draufsicht auf ein Einzelteil von Fig. 3
mit schematischer Zuordnung anderer Elemente, wobei dieser Einzelteil ein sogen. Filterrad ist,
F i g. 5 eine Anordnung einer Meßsondenvorrichtung in einer Einrichtung zum Prüfen eines Zylinders in
Seitenansicht und teilweise im Schnitt.
In allen Figuren sind gleiche oder sich entsprechende Teile mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet.
Gemäß Fig. 1 hat die Meßsondenvorrichtung ein Gehäuse 1, das zweckmäßig an Masse liegt und in
dessen Rückwand 2 die Welle 3 eines Synchron-Elektromotors 4 eingeführt ist. Dieser Motor ist für eine
konstante Umdrehungszahl vorgesehen, da diese Voraussetzung für vergleichsfähige Messungen ist. Die
Drehzahl dieses Motors ist so gewählt, daß in Abhängigkeit von der Anzahl von geschlossenen
Feldern einer noch zu beschreibenden Sondenscheibe 7 mehr als 1500 Impulse je Minute in der Sondenscheibe
entstehen.
Das Gehäuse ist an seiner Vorderseite mit einer metallischen, beispielsweise aus Blech bestehenden
Abdeckplatte 5 versehen, die ein Fenster 6 exzentrisch zur Achse der Welle 3 aufweist. Das Gehäuse liegt im
ganzen an Masse. Vor dem Fenster 6 wird die Probe 61 angeordnet. Diese Probe 61 liegt im nahen Abstand und
parallel zum Fenster 6. Sie ist ein Mehrschichtkörper mit leitfähigem Substrat und Fotohalbleiter, der dem
Fenster zugekehrt ist.
Auf der Motorwelle 3 ist, von dieser isoliert, eine Sondenscheibe 7 angeordnet, die in der vorteilhaften
Ausführungsform als Sektorscheibe ausgeführt ist und zum Umfang hin abwechselnd Unterbrechungen oder
geschlossene Felder aufweist. Diese Sondenscheibe besteht aus einem elektrisch leitenden Material,
beispielsweise Metall. Sie ist über einen Isolierkörper 8 auf der Welle befestigt.
Beispielsweise ist in F i g. 2 eine solche Sondenscheibe 7 gezeigt. Sie hat im Anschluß an eine Nabe 9 zwei als
Sektoren ausgeführte durchgehende Felder 10, 11, die sich jeweils über 90° erstrecken. Es versteht sich, daß
auch andere um den Umfang gleichmäßige Unterteilungen in Felder und Unterbrechungen einbezogen
werden.
Die Sondenscheibe 7 hat in ihrem mittleren Teil einen elektrischen Anschluß, welcher aus einer federnd
angedrückten Kohlenbürste 12 und einer mittleren Erhöhung 13 im Zentrum der Sondenscheibe 7 besteht.
Die Kohlenbürste 12 ist an einem Federarm 14 angeordnet, der mit einem Kabel 15 zu einer
Verstärker- oder Auswerteinrichtung verbunden ist. Es versteht sich, daß der Federarm durch den Isolierkörper
16 gelrennt von leitenden Elementen des Gehäuses 1 gehalten ist. Der Federarm kann aus Federbronzc
bestehen. Die mittlere Erhöhung 13 hat beispielsweise einen Silberbelag.
Wenn über dem Fenster 6 eine in bekannter Weise aufgeladene Schicht aus Fotohalbleitern angeordnet ist,
ergeben sich durch die Drehungen der Sondenscheibc 7 und ihre sektorförmige Unterteilung Wechselstrom-Signale,
die über das Kabel 15 abgeführt werden. Hierbei ist die geerdete Abdeckplatte 5 von Bedeutung, da sie
verhindert, daß etwaige Aufladungen außerhalb des Fensters 6 auf die Sondenscheibe 7 treffen.
In gleicher Weise profiliert wie die Sondenscheibe 7 ist hinter dieser, jedoch von ihr isoliert, auf der Welle 3
eine Abschirmscheibe 17 aus elektrisch leitendem Material angebracht. Diese Abschirmscheibe soll
verhindern, daß von der Rückseite, d. h. von der von dem Fenster 6 abgekehrten Seite, Ladungsimpulse auf
die Sondenscheibe 7 treffen. Diese Abschirmscheibe 17 ist leitend mit der Welle 3 verbunden. Diese Welle steht
über einen zentrischen Kontakt 18 mit Masse in Verbindung, so daß etwaige Aufladungen der Abschirmscheibe
abgeführt werden.
Gemäß F i g. 1 ist in der Projektion des Fensters 6 an der vom Fenster abgekehrten Seite der Scheiben 7, 17
ein Lichtkanal 31 vorgesehen, der in der Rückwand 2 des Gehäuses eine öffnung 32 aufweist. An der
Außenseite dieser öffnung sind verschiedene Lichtquelle
len 34 einstellbar geführt, um sie in Ausrichtung zum Lichtkanal zu bringen und dadurch verschiedene
Belichtungsbedingungen einzuführen.
An dem der Sondenscheibe 7 zugekehrten Ende des Belichtungskanals 31 kann zusätzlich ein auswechselbares
Filter 20 vorgesehen sein. Eine Auswechslung kann beispielsweise durch einen Filterschlitz 21 im Gehäuse
erfolgen, um verschiedene Lichteinwirkungen auf eine Halbleiterschicht über dem Fenster 6 herbeizuführen,
wenn unter dem Fenster Unterbrechungen der Scheiben 7, 17 durchgehen. Fig. 1 zeigt die Anordnung
lediglich schematisch. Es versteht sich, daß für Filter besondere Führungen angeordnet sind, um ein Filter
jeweils an der gezeichneten Stelle zu halten. Solche Filter können auch zweckmäßig sein, wenn verschiedenartige
Lichtquellen durch die beschriebene Anordnung untergebracht werden können. Eine Lichtquelle 34 ist in
einer Fassung 33 auf einer Konsole 36 angeordnet. Diese Lichtquelle 34 ist gegen andere Lichtquellen
auswechselbar.
W) Es wird darauf hingewiesen, daß die Vorrichtung
ohne Filter 20 und Lichtquelle schon vorteilhaft arbeiten kann, um den Abfall im Dunkeln zu messen. Die
Ausstattung mit dem Filter 20 und wenigstens einer Lichtquelle zeigt, daß auf engstem Raum eine
· zusätzliche Ausgestaltung möglich ist, um alle erforderlichen Messungen durchzuführen.
Fig.3 zeigt eine ausführlichere Darstellung einer Meßsondenvorrichtung nach Fig. 1 mit einer weiteren
vorteilhaften Ausgestaltung. Gleiche Teile sind mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet. Es ist jedoch auch in
Verbindung mit Fig.4 erkennbar, daß mehrere Filter 22, 22', 22" ... auf einem besonderen, im ganzen mit 24
bezeichneten Filterrad angeordnet sind, das verdrehbar auf einem Stutzen 25 gelagert ist, durch den die Welle 3
des Elektromotors 4 geführt ist. Das Filterrad 24 ist mit einem konzentrischen Zahnrad 75 versehen, mit
welchem ein Ritzel 26 kämmt, das an einem besonderen Antriebsmotor 27 für das Filterrad 24 angeordnet ist.
Das Filterrad hat in radialer Anordnung einen Permanentmagneten 28, dem außerhalb des Filterrades
mehrere Reedschalter 29, 23 ... im Gehäuse zugeordnet sind. Die Reedschalter sind so verteilt, daß sie über
eine Steuerbaugruppe 30 den Motor 27 schrittweise steuern, so daß immer bei Einschaltung ein weiteres
Filter unter das Fenster 6 bewegt wird. Die F i g. 4 zeigt das Filterrad 24 in Draufsicht mit den zugeordneten
Reedschaltern.
Die Fig. 3 zeigt eine besonders kompakte Ausführung.
Dabei ist in der Projektion des Fensters 6 unterhalb einer öffnung 54 in einer Gehäusewand eine
Lichtquelle 19, insbesondere eine stabilisierte Glühlampe angeordnet. Dadurch ergibt sich eine kompakte
Ausführung, in welcher insbesondere in Verbindung mit 2r>
dem Filterrad 24 unter Verwendung nur einer Lichtquelle verschiedene Lichtbedingungen hergestellt
werden können.
F i g. 5 zeigt eine Anwendung der erfindungsgemäßen Einrichtung zum Prüfen eines Zylinders 37 mit einer so
Fotohalbleiterschicht, beispielsweise einer Selenschicht. Auf einer Grundplatte 38 ist ein im ganzen mit 39
bezeichneter Träger für den Zylinder angeordnet. Dieser Träger besteht aus einem Zylinderlager 40, einer
unteren auf diesem angeordneten Konusscheibe 41, einem Zahnrad 42 zwischen Zylinderlager 40 und
Konusscheibe 41, einer Welle 43 und einer zweiten oberen Konusscheibe 44. Diese Baugruppe ist mittels
der Welle 43 in dem Zylinderlager verdrehbar. Die Welle 43 hat oben einen Gewindeabschnitt, mit
welchem die zweite Konusscheibe 44 mittels einer Spannmutter 45 zur Einfassung des oberen Endes des
Zylinders angebracht werden kann.
Auf der Grundplatte 38 ist ein Antriebsmotor 46 mit einem Antriebsritzel 47 angeordnet, das mit dem
Zahnrad 42 kämmt. Axial durch das Zylinderlager und auch die Welle 43 ist ein elektrischer Anschluß 48
eingeführt, welcher an der unteren Konusscheibe 41 abgestützt ist und mit einer Kontaktfeder 49 die
Innenwand des Zylinders 37 berührt. Der elektrische Anschluß ist mit einem Umschalter 50 verbunden, der in
der gezeigten Stellung mit der an Masse gelegten Grundplatte 38 verbindbar ist, oder aber mit einem
Anschluß 51, der mit einer Eichspannungsquelle 52 in Verbindung steht.
Auf der Grundplatte 38 sind um den Umfang verteilt eine Meßsondenvorrichtung gemäß Fig. 1 oder 3, im
ganzen mit 53 bezeichnet, eine Aufladeeinrichtung und eine Entladungslampe angeordnet. Alle drei Elemente
sind an parallel zur Welle 43 verlaufenden Säulen 56 in der Höhe einstellbar vorgesehen, so daß verschiedene
Mantelabschnitte des Zylinders getrennt abgetastet werden können. Dabei sind die Vorrichtungen mit
Rastmitteln 57 versehen, die mit Rasten 58 an den Säulen 56 zusammenwirken.
Die Säulen selbst sind in radial zur Welle 43 angeordneten Schienen 59 auf der Grundplatte
verschiebbar, wobei der Abstand der geführten Vorrichtungen zur Mantelfläche des Zylinders 37 durch
Einstellwellen 60 einstellbar ist.
Die Steuerung erfolgt im Hinblick auf die winkelmäßige Versetzung durch Schalt- und Anschlagnocken. Bei
der Durchführung einer Messung wird zunächst der Motor 46 eingeschaltet, so daß der Zylinder angetrieben
wird. Mittels einer Aufladeeinrichtung wird der Zylinder aufgeladen. Dann wird der Zy'inderantrieb unterbrochen
und eine Messung durchgeführt. Dabei können laufend an einem Schreibgerät über das Kabel 15
Meßwerte abgenommen werden. Nach Ablauf des Zeitglieds wird automatisch z. B. die Belichtungsquelle
19 in der Meßsondenvorrichtung für eine vorbestimmte Zeit eingeschaltet. Nach einer gesteuerten Zeit wird
nach Erlöschen der Belichtungslichtqueile die Entladungslampe eingeschaltet, die elektrische Zuleitung zum
Motor 46 unter Phasenumkehrung wieder hergestelli und der Rücklauf in die Ausgangsstellung eingeleitet.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen 709 547/4
Claims (13)
1. Meßsondenvorrichtung zur Prüfung von aufgeladenen
Fotohalbleiterschichten mit einer durch einen Antrieb vor einem Fenster baren,
abwechselnd mit durchgehenden Fl η und Unterbrechungen ausgeführten Segment.-.cheibe aus
elektrisch leitendem Material, dadurch gekennzeichnet, daß die Segmentscheibe gegen
Masse isoliert gelagert und zur unterbrochenen Aufnahme und Abführung von Meßwerten und als
Sondenscheibe (7) mit einem elektrischen Anschluß zu einem Verstärker und einer Auswerteinrichtung
versehen ist und daß vor dem Fenster (6) die aufgeladene Fotohalbleiterschicht (61) angeordnet
ist und daß hinter der Sondenscheibe (7) L-nd hinter
diesem Fenster (6) eine gerichtete Lichtquelle (19, 33) zur in Abhängigkeit von der Bewegung der
Sondenscheibe (7) intermittierenden unmittelbaren Belichtung der Fotohalbleiterschicht vorgesehen ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Lichtkanal (31) mit auswechselbaren
Lichtquellen vorgesehen ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an der vom Fenster (6) abgekehrten
Seite der Sondenscheibe (7) eine an Masse liegende Abschirmscheibe (17) aus elektrisch leitendem
Material und mit Feldern und Unterbrechungen angeordnet ist, weiche zu den entsprechenden
Abschnitten der Sondenscheibe (7) ausgerichtet sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß Soncienscheibe (7) und Abschirmscheibe
(17) zueinander fest, aber voneinander isoliert auf der Welle (3) eines Elektromotors (4)
angeordnet sind und die Abschnitte mit Unterbrechungen und geschlossenen Feldern in gleichen
Umfangsabschnitten vorgesehen sind.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Sondenscheibe (7) und Abschirmscheibe
(17) als Segmentscheibe ausgeführt sind, die nach außen offene Unterbrechungen aufweisen.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der elektrische Anschluß
aus einer federnd angedrückten Kohlenbürste (12) besteht, die auf eine Erhöhung (13) im
Zentrum der drehbaren Sondenscheibe (7) drückt.
7. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Lichtkanal (31) mehrere Filter
(20—23) vorgesehen sind, die in die senkrechte Projektion zu dem Fenster (6) einstellbar sind.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein Filterrad (24), das vom Motor (27)
antreibbar ist, eine Schrittschalteinrichtung (28—30) aufweist, die eine Fortschaltung von Filter zu Filter
in bezug zum Fenster (6) bewirkt.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Filterrad (24) ein Magnet (28)
vorgesehen ist, welchem an mehreren Umfangsstellen Reedschalter (23, 29) zugeordnet sind, die einen
besonderen Motor (27) für das Filterrad schrittweise schalten.
10. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß im Lichtkanal (31), insbesondere
an der von der Sondenscheibe (7) abgelegenen Seite der Filter eine Lichtquelle (19) angeordnet ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Sondenscheibe (7) hinter einer metallischen und an Masse liegenden Abdeckung (5
in der das Fenster (6) vorgesehen ist, angeordnet ist.
12. Vorrichtung nach e'nem der Ansprüche 1 bis (
dadurch gekennzeichnet, daß ein Gehäuse (1) für di Sondenscheibe (7) hinter der Sondenscheibe zu
Anordnung eines auswechselbaren Filters (20) eine Schlitz (21) aufweist, durch welchen wahlweis
verschiedene Filter (20) einführbar sind.
13. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch ge kennzeichnet, daß verschiedene Lichtquellen (33,34
wahlweise zu dem Lichtkanal (31) einstellbar sind.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19752546331 DE2546331C3 (de) | 1975-10-16 | 1975-10-16 | Meßsondenvorrichtung zur Prüfung von aufgeladenen Fotohalbleiterschichten |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19752546331 DE2546331C3 (de) | 1975-10-16 | 1975-10-16 | Meßsondenvorrichtung zur Prüfung von aufgeladenen Fotohalbleiterschichten |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2546331A1 DE2546331A1 (de) | 1977-04-21 |
| DE2546331B2 true DE2546331B2 (de) | 1977-11-24 |
| DE2546331C3 DE2546331C3 (de) | 1978-07-06 |
Family
ID=5959285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19752546331 Expired DE2546331C3 (de) | 1975-10-16 | 1975-10-16 | Meßsondenvorrichtung zur Prüfung von aufgeladenen Fotohalbleiterschichten |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE2546331C3 (de) |
-
1975
- 1975-10-16 DE DE19752546331 patent/DE2546331C3/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2546331A1 (de) | 1977-04-21 |
| DE2546331C3 (de) | 1978-07-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |