DE2530574A1 - Fluessiges dotierungsmittel - Google Patents

Fluessiges dotierungsmittel

Info

Publication number
DE2530574A1
DE2530574A1 DE19752530574 DE2530574A DE2530574A1 DE 2530574 A1 DE2530574 A1 DE 2530574A1 DE 19752530574 DE19752530574 DE 19752530574 DE 2530574 A DE2530574 A DE 2530574A DE 2530574 A1 DE2530574 A1 DE 2530574A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
soln
dopant
doping
solution
h3po4
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19752530574
Other languages
English (en)
Inventor
Werner Klein
Max Dr Rer Nat Kuisl
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Original Assignee
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE19742447204 external-priority patent/DE2447204A1/de
Application filed by Licentia Patent Verwaltungs GmbH filed Critical Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority to DE19752530574 priority Critical patent/DE2530574A1/de
Publication of DE2530574A1 publication Critical patent/DE2530574A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/22Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities
    • H01L21/2225Diffusion sources

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

  • Flüssiges Dotierungsmittel" Gegenstand des Anspruchs 1 des Hauptpatentes ist ein flüssiges Dotierungsmittel zur Dotierung von Haibleiterschichten und Erzeugung einer Siliziuindioxid-Schutzschicht auf der Oberfläche der Halbleiterschicht, welches aus einer alkoholischen Lösung eines Kieselsäureesters besteht, der eine wässrige Lösung einer Verbindung des Dotierelementes zugesetzt ist.
  • Anspruch 4 des Hauptpatents betrifft eine vorteilhafte Zus ammensetzung dieses Dotierungsmittels, bei der die Volumenanteile der Bestandteile der Dotierungslösung Orthosiliciumsäureäthylester, Methanol, wässrige Lösung der Verbindung des Dotierelements, in einem Verhältnis von 3 : 6 : 1 stehen.
  • Die Brauchbarkeit einer derartigen Dotierlösung bei der Fertigung von Halbleiterbauelementen hängt wesentlich davon ab, daß sich reproduzierbare Diffusionsergebnisse einstellen.
  • Mit der in der Hauptanmeldung angegebenen Dotierungsmittellösung konnten reproduzierbare Diffusionsergenisse erzielt werden, allderdings nur unter der Voraussetzung, daß die Doteerlösung für jeden Diffusionsvorgang jeweils neu angesetzt wurde, oder höchstens wenige Tage alt war. Bei älteren Dotierlösungen ergab sich der Nachteil, daß der Flächenwiderstand der dotierten Halbleiterscheibe nach dem Diffusionsprozeß um so mehr absank, als das Alter der Lösung zunahm. Es wurde festgestellt, daß zwischen unterschiedlichen Diffusionsschritten, bei der die gleiche Dotierungsmittellösung verwendet worden war, Abweichungen bis zu etwa 50% auftraten. Diese Abweichungen schränken die Brauchbarkeit der Dotiermittellösung erheblich ein, weil man dadurch gezwungen ist, entweder für åedè Diffusion eine neue Lösung anzusetzen oder das Alter und die Wirksamkeit bereits vor längerer Zeit angesetzter Dotierungslösungen laufend zu überwachen. Dies ist Jeweils mit einem zusätzlichem Aufwand und großen Fehlermöglichkeiten verbunden.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Zusammensetzung der eingangs näher bezeichneten totierungsinittellösung dahingehend zu verbessern, daß sich auch mit bereits vor längerer Zeit angesetzter Dotierungsmittellösung reproduzierbare Diffusionsergenisse einstellen. Dieses Problem wird bei einer Dotierungsmittellösung der eingangs näher bezeichneten Art erfindtungsgeinäß dadurch gelöst, deß die Volumenanteile der Bestandteile der Dotierungslösung Orthosiliciumsäureäthylester, Kiethanol, wässrige Lösung der Verbindung des Dotierelements in einem Verhältnis von 3 : 6 : 2 stehen.
  • Die erfindungsgemäße Weiterbildung des flüssigen Dotierungsmittels zeichnet sich demnach durch einen höheren Wasseranteil aus. Daß eine derartige Lösung relativ beständig ist, ist insofern überraschend, als allgemein bekannt ist, daß in die Bildung von hochmolekularen Silica-Gelen/der Dotierlösung durch Wasser /beschleunigt wird. Demnach müßte eigentlich die Stabilität der Dotierlösung infolge des größeren Wasseranteils abnehmen.
  • Sämtliche bekannte Dotierlösungen arbeiten mit organischen Lösungsmitteln. Von Fachleuten wird die Ansicht vertreten, daß bei Anwesenheit von Wasser in der Dotierlösung sehr viele Wesserooleküle in die SiO2-Schicht eingebaut werden und die Schicht dadurch an Qualität einbüßt. Der Lösungsweg, der mit dieser Erfindung eingeschlagen wird, weicht daher von bekannten Vorstellungen ab.
  • Den Erfolg der veränderten Zusammensetzung der Dotierlösung veranschaulicht die Figur. Kurve 1 zeigt die Flächenwiderstände bei Verwendung einer Dotierlösung,nach dem Hauptpatent hergestellt aus 3 Teile Kieselsäureester 6 Teilen Methanol 1 Teil 0,1 m Phosphorsäure Kurve 2 zeigt die Flächenwiderstände der erfindungsgemäßen Doteerlösung mit der Zusammensetzung 3 Teile Kieselsäureester 6 Teile Methanol 2 Teile 0,05 in Phosphorsäure Der Diffusionsprozeß wurde nach Beschichtung der zu dotierenden Halbleiterscheiben mit der Dotiermittellösung folgendermas sen durchgeführt.: Temperatur 1150 0C 2 h Stickstoff 1,5 h feuchter Sauerstoff (°2 durch Wasser von 80°C) 1 h trockener Sauerstoff.
  • Bei Verwendung von p-dotiertem Silicium mit 5 Ohm cm spez.
  • Widerstand wurden Flächenwiderstände zwichen 80 und 100 Ohm/cm erreicht.
  • In beiden Kurven ist der nach dem angegebenen Diffusionsprozeß erhaltene Flächenwiderstand gegen das Alter der Lösung aufgetragen, und diejenige Kurve nach der Methode der kleinsten Fehlerquadrate ermittelt, die die Meßpunkt am besten annähert. Während für die gemaB der Hauptars.eldung vorgeschlagene Lösung eine nach unten abbiegende Parabel innerhalb 5% Genauigkeit gefunden wird, werden die Meßwerte für die erfindungsgemäße Lösung, die mehr Wasser enthält, durch eine waagrecht verlaufende Gerade am besten angenähert. Der mittlere Fehler beträgt nur 3%.
  • Bei Verwendung einer größeren Wassermenge muß natürlich die Konzentration des Dotiermittels entsprechend herabgesetzt werden, um dieselbe Dotierung des Oxids zu erreichen. Dabei kann es vorkommen, daß die Säurestärke nicht mehr ausreicht, um die Hydrolyse in vertretbarer Zeit ablaufen zu lassen Das kann leicht dadurch behoben werden, indem zusätzlich HN03 zugegeben wird.

Claims (1)

  1. Patentanspruch
    Flüssiges Dotierungsmittel zur Dotierung von Halbleiterschichten und Erzeugung einer Siliciumdioxidschutzschicht auf der Oberfläche der Halbleiterschicht, bei welchem das flüssige Dotierungstnittel aus einer alkoholischen Lösung eines Kieselsäureesters besteht, der eine wässrige Lösung einer Verbindung des Dotierelements zugesetzt ist (nach Patentanmeldung Aktz.: P 24 47-204.6), dadurch gekennzeichnet, daß die Volumenanteile der Bestandteile der Dotierungslösung Orthosiliciumsäureäthylester, Methanol, wässrige Lösung der Verbindung des Dotierelements in einem Verhältnis von 3 ; 6 : 2 stehen.
    B01J 17-36 AT: 09.07.1975 OT:20.01.1977 Abhängigkeit des Flächenwiderstandes nach Diffusion vom Alter der Dotlerlösung. Vergleich zweier Lösungen
DE19752530574 1974-10-03 1975-07-09 Fluessiges dotierungsmittel Pending DE2530574A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19752530574 DE2530574A1 (de) 1974-10-03 1975-07-09 Fluessiges dotierungsmittel

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19742447204 DE2447204A1 (de) 1974-10-03 1974-10-03 Fluessiges dotierungsmittel und verfahren zu seiner herstellung
DE19752530574 DE2530574A1 (de) 1974-10-03 1975-07-09 Fluessiges dotierungsmittel

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2530574A1 true DE2530574A1 (de) 1977-01-20

Family

ID=33160356

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19752530574 Pending DE2530574A1 (de) 1974-10-03 1975-07-09 Fluessiges dotierungsmittel

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2530574A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0280085A1 (de) 1987-02-13 1988-08-31 Hoechst Aktiengesellschaft Beschichtungslösung und Verfahren zur Erzeugung glasartiger Schichten

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0280085A1 (de) 1987-02-13 1988-08-31 Hoechst Aktiengesellschaft Beschichtungslösung und Verfahren zur Erzeugung glasartiger Schichten
US4842901A (en) * 1987-02-13 1989-06-27 Hoechst Aktiengesellschaft Coating solution and process for producing glassy layers

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2658448C3 (de) Verfahren zum Ätzen einer auf einem Halbleiterkörper aufgebrachten Schicht aus Siliciumnitrid in einem Gasplasma
DE1614999A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleitervorrichtungen mit einer einem vorgegebenen Flaechenmuster entsprechenden dielektrischen Schicht auf der Oberflaeche eines Halbleiterkoerpers
DE3019870A1 (de) Verfahren zur herstellung eines elektrischen fuehlers zum messen der feuchtigkeit
DE2422138A1 (de) Verfahren zur herstellung von elektroden aus halbleitermaterial
DE2453134C3 (de) Planardiffusionsverfahren
DE2656396A1 (de) Verfahren zur herstellung einer oxidschicht auf einer halbleiter-verbindung
DE2439300A1 (de) Verfahren zum aetzen abgeschraegter raender, insbesondere an siliziumoxidschichten
DE1148024B (de) Diffusionsverfahren zum Dotieren eines Silizium-Halbleiterkoerpers fuer Halbleiterbauelemente
DE2530574A1 (de) Fluessiges dotierungsmittel
DE2224515A1 (de) Verfahren zum Verdichten von Silikatgläsern
DE69521788T2 (de) Herstellungsverfahren von einem silizium auf isolator (soi) material mit einem hohen gleichmässigkeitsgrad der dicke
DE2316520A1 (de) Verfahren zum dotieren von halbleiterplaettchen durch diffusion aus einer auf das halbleitermaterial aufgebrachten schicht
DE1644028A1 (de) Verfahren zum Eindiffundieren von Stoerstellen in einen begrenzten Bereich eines Halbleiterkoerpers
DE2225316C3 (de) Verfahren zur Einstellung eines reproduzierbaren Wertes der elektrischen Leitfähigkeit eines Glases
DE2900747C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung
EP0032174B1 (de) Verfahren zum Dotieren von Siliciumkörpern durch Eindiffundieren von Bor und Anwendung dieses Verfahrens zum Herstellen von Basiszonen bipolarer Transistoren
DE19800640A1 (de) Heterobipolartransistor sowie Verfahren zu dessen Herstellung
DE1614569A1 (de) Verfahren zum Herstellen einer aus Silisiumnitrid bestehenden Schutzschicht an der Oberflaeche eines Halbleiterkoerpers
DE1464921B2 (de) Verfahren zum herstellen einer halbleiteranordnung
DE2243011C3 (de) Verfahren zum Herstellen eines Thermokompressionskontaktes
DE2754833A1 (de) Phosphordiffusionsverfahren fuer halbleiteranwendungen
DE2920673C2 (de) Schichtbildende Lösung
DE2529865C2 (de) Wäßrige Ätzlösung zum selektiven Ätzen von Siliciumdioxidschichten auf Halbleiterkörpern
DE1228339B (de) Verfahren zur selektiven Diffusion von Dotierungsmaterial in Halbleiterkoerpern zur Herstellung von pn-UEbergaengen
DE1644012B2 (de) Verfahren zum eindiffundieren von dotierungsstoff aus der gasphase in eine lokal mit einer siliciumnitridschicht maskierte halbleiteroberflaeche

Legal Events

Date Code Title Description
OHN Withdrawal