DE2461207C3 - Thyristor - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft einen Thyristor mit mindestens vier Zonen abwechselnd entgegengesetzten Leitungstyps, mit mindestens einer Steuerelektrode, sowie mit
Stellen, an denen die Steuerbasiszone und die Emitterzone kurzgeschlossen sind (vgl. DT-OS
44 175).
Ein Thyristor mit vier Zonen abwechselnd entgegengesetzten Leitungstyps weist zwei äußere, metallisch
kontaktierte Zonen auf, die als Emitterzonen des Thyristors bezeichnet werden. Die beiden mittleren
Zonen werden als Basiszonen bezeichnet, wobei eine dieser beiden Zonen mit einem Steuerkontakt versehen
ist und daher die sogenannte Steuerbasiszone darstellt
Ein Thyristor wird üblicherweise durch einen über den Steuerkontakt zugeführ'.en Zündstromimpuls in den
leitenden Zustand übergeführt. Das Ausschalten erfolgt in der Regel durch sogenanntes Abkommutieren, wobei
die Ladungsträger durch einen in entgegengesetzter Richtung fließenden Laststrom aus den mit Ladungsträgern
überschwemmten Gebieten des Halbleiterkörpers abgesaugt werden. Dabei wird der PN-Übergang
zwischen der Steuerbasiszone und der benachbarten Emitterzone in Sperrichtung belastet und dann kurzzeitig
in den Durchbruch geraten, wodurch der Abschaltvorgang behindert wird. Das Ausschaltverhalten kann
durch Emitterkurzschlüsse verbessert werden (DT-OS 19 44 175), wobei dann die Ladungsträger vorwiegend
über diese Bereiche abgesaugt werden. In diesem Fall wird der Abschaltvorgang dann besonders effektiv sein,
wenn der zwischen der äußeren Emitterzone und der
Steuerbasiszone gebildete PN-Übergang nicht durchbricht
Andererseits soll ein zu starker lateraler Strom in der Steuerbasis vermieden werden, da dieser Strom zu einem lateralen Spannungsabfall führt, der die Gefahr eines Durchbruchs der in Frage stehenden Sperrschicht erhöht Zur Vermeidung des lateralen Spannungsabfalls werden die Emitterkurzschlußstellen dichter gewählt,
Andererseits soll ein zu starker lateraler Strom in der Steuerbasis vermieden werden, da dieser Strom zu einem lateralen Spannungsabfall führt, der die Gefahr eines Durchbruchs der in Frage stehenden Sperrschicht erhöht Zur Vermeidung des lateralen Spannungsabfalls werden die Emitterkurzschlußstellen dichter gewählt,
■ 5 was wiederum aus anderen Gründen ungünstig ist wie
z. B. wegen einer Behinderung der Zündausbreitung (IEEE Transactions Electron on Devices, ED-17,1970, S.
672-680).
Schließlich ist aus der CH-PS 5 46 485 ein abschaltbarer Thyristor bekannt in den zur Erhöhung der
Freiwerdezeit ein Hilfsthyristor integriert ist Zur Unterstützung des gewünschten Effekts ist die hochohmige
η-Basiszone in eine niederohmige η-leitende und zwei diese umgebende eigenleitende Zonen aufgeteilt.
Neben dem komplizierten Aufbau tritt durch den Hilfsthyristor auch eine Verringerung der aktiven
Stromführungsfläche auf. Der gleichen Literaturstelle ist auch zu entnehmen, daß die mittlere Lebensdauer
durch Rekombinationszentren verringert werden kann.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Thyristor verfügbar zu machen, der ein einwandfreies
und sicheres Abschalten mit geringem Aufwand ermöglicht, ohne daß andere Eigenschaften verschlechtert
werden.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß zwischen der Steuerbasiszone und der
benachbarten äußeren Emitterzone eine Zwischenzone vorgesehen ist, die gegenüber den angrenzenden
Bereichen schwach dotiert oder eigenleitend ist.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung besteht darin, daß im Bereich der Emitterkurzschlüsse die
Trägerlebensdauer in den beiden Basiszonen durch zusätzliche Rekombinationszentren vermindert wird.
Die Erhöhung der Sperrspannung zwischen der Emitterzone und der Steuerbasiszone erklärt sich in bekannter Weise durch die günstigeren Sperreigenschaften einer P-S-N-Struktur bzw. P-I-N-Struktur gegenüber einem PN-Übergang mit relativ hoher Dotierung. Die Dicke und Dotierung der schwach dotierten oder eigenleitenden Zwischenzone wird zweckmäßig so gewählt, daß sich für die aus Emitter, Zwischenzone und Steuerbasis gebildete P-S-N- bzw. P-1-N-Struktur eine Sperrspannung oberhalb 20 V einstellt. Gleichzeitig ergibt sich auch eine Verbesserung der Störsicherheit, d. h. eine Sicherheit gegen das Zünden des Thyristors über die Spannungsanstiegsgeschwindigkeit, indem die schwache Dotierung der Zwischenzone und deren Breite so gewählt werden, daß der Stromverstärkungsfaktor des Teiltransistors, der aus der Steuerbasiszone und den beiden benachbarten Zonen entgegengesetzten Leitungstyps gebildet wird, erst bei höheren Strömen ansteigt als bei der konventionellen Bauweise.
Die Erhöhung der Sperrspannung zwischen der Emitterzone und der Steuerbasiszone erklärt sich in bekannter Weise durch die günstigeren Sperreigenschaften einer P-S-N-Struktur bzw. P-I-N-Struktur gegenüber einem PN-Übergang mit relativ hoher Dotierung. Die Dicke und Dotierung der schwach dotierten oder eigenleitenden Zwischenzone wird zweckmäßig so gewählt, daß sich für die aus Emitter, Zwischenzone und Steuerbasis gebildete P-S-N- bzw. P-1-N-Struktur eine Sperrspannung oberhalb 20 V einstellt. Gleichzeitig ergibt sich auch eine Verbesserung der Störsicherheit, d. h. eine Sicherheit gegen das Zünden des Thyristors über die Spannungsanstiegsgeschwindigkeit, indem die schwache Dotierung der Zwischenzone und deren Breite so gewählt werden, daß der Stromverstärkungsfaktor des Teiltransistors, der aus der Steuerbasiszone und den beiden benachbarten Zonen entgegengesetzten Leitungstyps gebildet wird, erst bei höheren Strömen ansteigt als bei der konventionellen Bauweise.
In einer besonders vorteilhaften Ausgestaltung der
ftS Erfindung befindet sich die Steuerelektrode direkt auf
der Steuerbasiszone, so daß nur ein sehr kleiner Widerstand zwischen dem Elektrodenanschluß und der
Steuerbasiszone liegt.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird anhand
der Figur, die einen Thyristor mit einer Mesastruktur zeigt, näher erläutert
Der Thyristor J^ gemäß der Figur besteht aus den
beiden Emitterzonen 2,3 und den beiden Basiszonen 4, 5, wobei die Zone 5 als Steuerbasiszone mit dem
Steuerkontakt 6 versehen ist. Die Emitterzonen 2 und 3 sind jeweils mit metallischen Kontakten 7 bzw. 8
versehen. Zwischen der Emitterzone 3 und der Basiszone 5 befindet sich gemäß der Erfindung eine ">
Zwischenzüiie 9, die eigenleitend oder schwach dotiert
ist. Im letzteren Fall kann die Zwischenzone vom Leitungstyp der Basiszone oder vom Leitungstyp der
Emitterzone sein. Infolge der schwachen Dotierung bilden die Zonen 3, 5 und 9 eine P-S-N- bzw. eine
P-I-N-Struktur mit relativ hoher Durchbruchsspannung.
Infolge der hohen Durchbruchsspannung des zwischen der Emitterzone und der Basiszone bestehenden
PN-Übergangs wird vermieden, daß aufgrund des beim Ausschalten durch Kommutierung auftretenden lateralen Spannungsabfalls diese Sperrschicht an irgendeiner
Stelle in den Durchbruch geht Die Kurzschlüsse befinden sich zwischen der Emitterzone 3 und der
Steuerbasiszone 5 an den Stellen mit dem Bezugszeichen 10. Wie bereits erwähnt können vorteilhaft
Bereiche 11 unterhalb der Kurzschlußstellen 10
vorgesehen werden, in denen die beiden Basiszonen 4
und 5 eine erhöhte Rekombinationszentrendichte aufweisen.
Da bei Belastung in Durchlaßrichtung die nur schwach dotierte Zone 9 von Ladungsträgern überschwemmt wird und da die Ladungsträgerlebensdauer
in schwach dotierten Zonen bei hoher Injektion relativ groß ist gegenüber der Trägerlebensdauer in den höher
dotierten Bereichen, muß bei dem Thyristor gemäß der Figur auch keine Beeinträchtigung des Durchlaßverhaltens in Kauf genommen werden.
Ein Verfahren zum Herstellen eines Thyristors gemäß der Figur besteht darin, daß die Steuerbasiszone durch
Eindiffusion von Störstellen erzeugt und deren Dicke gegebenenfalls durch Materialabtragung zur gewünschten Dimensionierung des Einschaltstromes eingestellt
wird. Auf die Steuerbasiszone wird anschließend die hochohmige Zwischenzone epitaktisch abgeschieden
und in diese Zwischenschicht die eigentliche Emitterzone durch Diffusion oder Legierung eingebracht. Zum
Anschluß der Steuerbasiszone und zur Herstellung der Emitterkurzschlüsse mittels eines Steuerkontaktes wird
an der dafür vorgesehenen Stelle eine selektive Tiefenätzung mit nachfolgender Metallisierung durchgeführt. Die Herstellung des Thyristors bezüglich der
anderen Parameter erfolgt in bekannter Weise.
Claims (5)
1. Thyristor mit mindestens vier Zonen abwechselnd entgegengesetzten Leitungstyps, mit mindestens
einer Steuerelektrode, sowie mit Stellen, an denen die Steuerbasiszone und die Emitterzone
kurzgeschlossen sind, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der Steuerbasiszone (5) und der benachbarten äußeren Emitterzone (3) eine
Zwischenzone (9) vorgesehen ist, die gegenüber den angrenzenden Bereichen (3,5) schwach dotiert oder
eigenleitend ist
2. Thyristor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß im Bereich (U) unterhalb der Kurzschlußstellen (10) die Konzentration der Rekombinationszentren
in den Basiszonen (4,5) erhöht ist.
3. Thyristor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Dicke und Dotierung der
Zwischenzone (9) so gewählt ist, daß die Durchbruchsspannung der aus Emitterzone (3), Zwischenzone
(9) und Steuerbasiszone (5) gebildeten P-S-N- bzw. P-I-N-Struktur oberhalb 20 V liegt
4. Thyristor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerelektrode (6)
die Steuerbasiszone (9) direkt kontaktiert.
5. Verfahren zum Herstellen eines Thyristors nach Anspruch 1 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
Steuerbasiszone (5) durch Eindiffusion von Störsteilen erzeugt und deren Dicke gegebenenfalls durch
Materialabtragung eingestellt wird, daß auf der ganzflächig ausgebildeten Steuerbasiszone (5) die
Zwischenzone (9) ganzflächig epitaktisch abgeschieden, daß anschließend die Emitterzone (3) durch
Diffusion oder Legierung ganzflächig gebildet wird, und daß schließlich die Kontaktierung der Steuerbasiszone
und die Bildung der Emitterkurzschlüsse durch eine selektive Tiefenätzung mit nachfolgender
Metallisierung erfolgen.
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Family Applications (1)
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Families Citing this family (7)
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DE2815606A1 (de) * | 1978-04-11 | 1979-10-31 | Fiz Tekhn I Im A F Joffe Akade | Thyristor |
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US9515177B2 (en) * | 2014-11-25 | 2016-12-06 | Infineon Technologies Ag | Vertically integrated semiconductor device and manufacturing method |
Citations (1)
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-
1974
- 1974-12-23 DE DE19742461207 patent/DE2461207C3/de not_active Expired
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US3337783A (en) | 1964-01-16 | 1967-08-22 | Westinghouse Electric Corp | Shorted emitter controlled rectifier with improved turn-off gain |
Also Published As
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