DE2447437A1 - ARRANGEMENT WITH MEMORY MATRIX - Google Patents

ARRANGEMENT WITH MEMORY MATRIX

Info

Publication number
DE2447437A1
DE2447437A1 DE19742447437 DE2447437A DE2447437A1 DE 2447437 A1 DE2447437 A1 DE 2447437A1 DE 19742447437 DE19742447437 DE 19742447437 DE 2447437 A DE2447437 A DE 2447437A DE 2447437 A1 DE2447437 A1 DE 2447437A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
memory
row
matrix
arrangement
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19742447437
Other languages
German (de)
Inventor
Claude Jan Principe Freder Can
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of DE2447437A1 publication Critical patent/DE2447437A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/408Address circuits
    • G11C11/4087Address decoders, e.g. bit - or word line decoders; Multiple line decoders
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/08Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
    • G11C17/10Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM
    • G11C17/12Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM using field-effect devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

PHN.7186.PHN.7186.

DEEN/EVH. DIETER POL-JiGDEEN / EVH. DIETER POL-JiG

JhtentaneuorJhtentaneuor

Anmelder: fl.V.PhÜ'ps1 Cx '.-.npanfabriskan
Akten Nr.: f (-J |\, 7 η ^ (. '
Anmeldung vom; ^ /C Ii/
Applicant: fl.V.PhÜ'ps 1 Cx '.-. Npanfabriskan
File no .: f (-J | \, 7 η ^ (. '
Registration from; ^ / C Ii /

Anordnung mit SpeichermatrixArrangement with memory matrix

Die Erfindung betrifft eine Anordnung mit mindestens einer Speichermatrix mit Speicherelementen an Kreuzungen von Zeilen und Spalten, wobei bei mindestens einer Zeile für mindestens ein zu dieser Zeile gehörendes Speicherelement und für mindestens ein zu einer entfernteren Zeile gehörendes Speicherelement erste und zweite Wählmittel vorgesehen sind, mit denen beim Auswählen dieser Zeile nach Bedarf das mindestens eine zu dieser Zeile gehörende Speicherelement oder das mindestens eine zur entfernteren Zeile gehörende Speicherelement auswählbar und weiter an einer ersten Klemme der ersten Vählinittel ein Ansteuersignal und an einer zweiten Klemme der zweitenThe invention relates to an arrangement with at least a memory matrix with memory elements at intersections of rows and columns, with at least one row for at least one storage element belonging to this row and for at least one more distant one Row belonging memory element first and second selection means are provided with which when selecting this Row, the at least one storage element belonging to this row or the at least one of the more distant row belonging memory element selectable and further at a first terminal of the first selection means a control signal and at a second terminal the second

509817/1043509817/1043

FrIJi. 71 86.FrIJi. 71 86.

Wählmittel das Komplement des Ansteuersignals empfangbar sind«Dialing means the complement of the control signal can be received «

Derartige in oben erwähnter Anordnung vorgesehene Matrizen sind in einer Anzahl Formen bekannt« Die Aufgabe, entweder ein Speicherelement (oder ein vollständiges Speicherwort) einer Zeile oder ein Speicherelement (oder ein vollständiges Speicherwort) einer entfernteren Zeile auszuwählen, ist bei den bekannten Anordnungen eine reine Adressierungssache. Das unbedeutsamste Adressbit (θ oder 1) adressiert die eine Zeile oder eine entferntere (meistens eine folgende) Zeile in der Matrix,Such dies provided in the above arrangement are known in a number of forms Task, either a memory element (or a complete memory word) of a line or a memory element Selecting (or a complete memory word) of a more distant line is in the known arrangements a pure matter of addressing. The least significant address bit (θ or 1) addresses the one line or a more distant (usually a following) line in the matrix,

Die Erfindung hat die Aufgabe, anzugeben, dass es eine interessante Möglichkeit gibt, derartige Matrizen zu benutzen, wobei das Adressieren selbst nicht länger der Zweck, sondern nur ein Mittel zu einem anderen Zweck ist: In der Datenverarbeitungstechnik finden häufig sogenannte "Schritt" -Befehle, oder auch INKREMENT- (+Schritt-) und DEIvREMENT- (-Schritt-) Befehle Verwendung, die von Datenverarbeitungsanordnungen durchgeführt werden müssen. Diese "Schritt"-Befehle sind in einer erfindungsgemässen Anordnung auf ganz einfache Weise durchführbar. Hierzu ist die Erfindung dadurch gekennzeichnet, dass eine Ansteuerungsanordnung vorgesehen ist, in der auf der Basis eines Einschritt-INKREMENT-Befehls und/oder eines Einschritt-DEKREMENT-ßefehls das erwähnte Ansteuersignal bestimmbar ist»The invention has the object of indicating that there is an interesting possibility of such matrices to use, the addressing itself no longer being the end but just a means to another end is: In data processing technology, so-called "step" commands, or INCREMENT- (+ step-) and DEIvREMENT (step) commands use that must be performed by data processing systems. These "step" commands are in accordance with the invention Arrangement can be carried out in a very simple way. To this end, the invention is characterized in that a Control arrangement is provided in which on the basis of a one-step INCREMENT command and / or one One-step DECREMENT command the mentioned control signal can be determined »

509817/1043509817/1043

PHTi. 71 - 3 - 1 PHTi. 71 - 3 - 1

Wenn insbesondere Addier- und Subtrahierbearbeitungen in einer Datenverarbeitungsanordnung in Betracht gezogen werden, ist eine weitere Ausführungsform der erfindungsgemässen Anordnung dadurch gekennzeichnet, dass die erwähnte Ansteueranordnung ein Teil eines Rechenwerkes und das erwähnte Ansteuersignal ein TJebertragungssignal ist.If, in particular, adding and subtracting operations in a data processing arrangement are to be considered are drawn, a further embodiment of the arrangement according to the invention is characterized in that that the mentioned control arrangement is part of an arithmetic unit and the mentioned control signal is a transmission signal is.

Eine erfindungsgemässe Anordnung, in der auf weit vorgeschrittene Weise der Erfindungsgedanke Verwendung findet, ist dadurch gekennzeichnet, dass die erwähnte Speichermatrix eine Festwertspeicherraatrix ist, in der mit den ersten Wählmitteln eine Zeile und mit den zweiten Wählmitteln die folgende Zeile auswählbar ist und wobei die Ansteueranordnung durch eine zweite Festwertspeichermatrix gebildet ist, in der eine der Spalten eine Uebertragungssignalsammelspalte ist und wobei die erwähnten ersten und zweiten Speichermatrizen mit je einem als Adressenselektor dienenden Abtastregister zusammen ein Addier-Subtrahier-Rechenwerk bilden. In der oben erwähnten Speichermatrix ist es überflüssig, dass bei einer Zeile der Speichermatrix für jedes zu dieser Zeile und zu einer entfernteren Zeile gehörige Speicherelement getrennt erste und zweite Wählmittel vorgesehen sind. Dies ist nur' in jenen Fällen nötig, wenn Bitauswahl erforderlich ist, d.h. wenn jedes Speicherelement auswählbar sein muss. Wenn man jedoch mit Wortauswahl auskommen kann, d.h.An inventive arrangement in which on far advanced way of using the inventive concept is characterized in that the aforementioned memory matrix is a read-only memory matrix in which one line with the first dialing means and one line with the second Dialing means the following line can be selected and where the control arrangement by a second read-only memory matrix is formed in which one of the columns is a transmission signal collecting column is and wherein said first and second memory matrices each with one as Address selector serving scanning registers together form an adding-subtracting arithmetic unit. In the above mentioned Memory matrix, it is superfluous that with a row of the memory matrix for each to this row and to a more distant row belonging memory element separately first and second selection means are provided. This is just ' necessary in those cases when bit selection is required, i.e. when each memory element must be selectable. However, if one can get by with word choice, i. E.

50981 11 1 0 Λ 350981 11 1 0 Λ 3

PHN.7186. - 4 - PHN.7186. - 4 -

2447A3725-9·74·2447A37 25 - 9 74

es muss eine ganze Zeile von Speicherelementen zugleich auswählbar sein, so ist es für eine in der erfindungsgemässen Anordnung angewandte Speicherrnatrix möglich, dass die ersten Wählmittel allen zu einer Zeile gehörigen Speicherelementen und dass die zweiten Wählmittel allen zu einer entfernteren Zsile gehörenden Speicherelementen gemeinsam sind, Wenn, zumal bei Anwendung von Integrationstechniken für die Herstellung von Speichern, die Zeilen- und Spaltenstruktur einer Speichermatrix möglichst häufig verwendet bzw. gewahrt bleiben muss, ist es für die in der erfindungsgemässen Anordnung angewandte Speichermatrix möglich dass die erwähnten ersten Wählmittel zeilenweise über einen ersten gemeinsamen Unterzeilenleiter mit einer allen ersten Wählmitteln gemeinsamen ersten Ansteuerspalte und die zweiten Wählmittel zeilenweise über einen zweiten gemeinsamen Unterzeilenleiter mit einer allen zweiten Wählmitteln gemeinsamen Ansteuerspalte verbunden sind, wobei die Unterzeilenleiter zu den Zeilen und die Ansteuerspalten zu den Spalten der Speichermatrix parallel verlaufen. Dies gilt insbesondere wieder für die Speichermatrix, in der Bitauswahl möglich ist. Ist die Speichermatrix für Wortauswahl eingerichtet und sind zeilenweise gemeinsame erste und gemeinsame zweite Wählmittel vorhanden, kann oben erwähnter Bedingung auch dadurch entsprochen werden, dass die ersten Wählmittel mit einer allen ersten Wählmitteln gemeinsamen erstenthere must be a whole row of storage elements at one time be selectable, so it is for one in the invention Arrangement used memory matrix possible that the first selection means all belong to one row Storage elements and that the second selection means all storage elements belonging to a more remote Zsile are common, if, especially when using integration techniques for the production of memories, the line and the column structure of a memory matrix must be used or preserved as often as possible, it is for the memory matrix used in the arrangement according to the invention possible that the mentioned first selection means line by line via a first common sub-line conductor with a first control column common to all first selection means and the second selection means line by line via a second common sub-line conductor with a control column common to all second selection means are connected, the sub-row conductors to the rows and the drive columns to the columns of the memory matrix run parallel. This again applies in particular to the memory matrix in which bit selection is possible. Is the Memory matrix set up for word selection and are line-by-line common first and common second selection means present, the above-mentioned condition can also be met by the fact that the first selection means with a first common to all first dialing means

509817/1043509817/1043

ΡΙΠΤ.7186, - 5 **■ α ι / τ / «rj 25.9.7^»ΡΙΠΤ.7186, - 5 ** ■ α ι / τ / «rj 25.9.7 ^»

Ansteuerspalte und die zweiten Wählmittel mit einer allen zweiten Wählmitteln gemeinsamen Ansteuerspalte verbunden sind und die Ansteuerspalten zu den Spalten der Speichermatrix parallel verlaufen. Ob dies für einen bestimmten Speichertyp praktisch durchführbar ist, ist von den Bedingungen abhängig, die z*B, an Oberfläche und Geschwindigkeit gestellt werden. Die bei dieser Anordnung vorhandenen gemeinsamen ersten und zweiten Wählmittel pro Zeile werden- die Stromversorgung über eine ganze Zeile liefern müssen, so dass diese Wählmittel "stark" genug ausgeführt sein müssen, den gestellten Geschwindigkeitsanforderungen entsprechen zu können. Control column and the second selection means with one all second selection means common control column connected and the drive columns to the columns of the memory matrix run parallel. Whether this is practical for a particular type of storage is up to the Conditions depending on the surface and speed, for example. The ones present in this arrangement Common first and second dialing means per line are - the power supply over an entire line must deliver, so that these selection means must be designed "strong" enough to be able to meet the speed requirements.

Die Wählmittel werden in der Praxis UND-Gatter sein. Sie sind gesteuerten Schaltern vergleichbar. Es sei bemerkt, dass in der Praxis die entferntere Zeile der Matrix oft eine benachbarte (folgende, vorangehende) Zeile sein wird.In practice, the means of selection are AND gates be. They are comparable to controlled switches. It it should be noted that in practice the more distant row of the matrix is often an adjacent (following, preceding) Line will be.

Die, Speicherelemente für· die Speichermatrix nach der Erfindung können vielerlei Art sein: Magnetkerne, Halbleiterelemente (dynamisch, statisch) usw. Das Anwenden des Erfindurigsgedankens ist besonders in Festwert-Speichern interessant. Hier werden oft Worte, die als Steuerworte in Mikroprogrammen dienen, gespeichert. Bei der Ausführung von Mikroprogrammen kommen obenerwähnte "Schritf-Bef ehle häufig vor ,-"■-·The, storage elements for · the storage matrix according to of the invention can be of many types: magnetic cores, semiconductor elements (dynamic, static), etc. Applying of the inventive concept is particularly in read-only memories Interesting. Words that serve as control words in microprograms are often stored here. When executing The above-mentioned "step commands" often come from microprograms before, - "■ - ·

Ausführungsbeispiele der orfindungsgeraässenEmbodiments of the orfindungsgeraässen

509817/1(K 3509817/1 (K 3

PHN.7186,PHN.7186,

Speichermatrix und der Speicher mit solchen Matrizen werden nachstehend an Hand der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigenMemory matrix and the memory with such matrices are explained in more detail below with reference to the drawings. Show it

Fig. 1 eine in einer erfindungsgemässen Anordnung angewandte Speichermatrix mit ersten und zweiten Wählmitteln pro Zeile pro Speicherelement,1 shows an arrangement according to the invention applied memory matrix with first and second selection means per row per memory element,

Fig. 2 eine Speichermatrix nach Fig. 1 in einer geänderten Ausführungsform,FIG. 2 shows a memory matrix according to FIG. 1 in a modified embodiment,

Fig. 3 eine in einer erfindungsgemässen Anordnung angewandte Speichermatrix, in der zeilenweise erste und zweite Vählmittel den Speicherelementen gemeinsam sind,3 shows an arrangement according to the invention applied memory matrix in which first and second selection means are common to the memory elements in rows,

Fig. h eine andere Ausführungsform in einer -erfindungsgemässen Anordnung anwendbaren Speichermatrix,Fig. H shows another embodiment in a memory matrix applicable according to the invention,

Fig. 5 einen vollständigen in einer erfindungsgemässen Anordnung anwendbaren Speicher,5 shows a complete in one according to the invention Arrangement of applicable memory,

Fig. 6a, 6b eine erfindungsgemässe Anordnung und eine zugehörige Signaltabelle,6a, 6b show an arrangement according to the invention and an associated signal table,

Fig. 7 einen in einer erfindungsgemässen:Anordnung anwendbaren Speicher mit einer Festwertspeichermatrix,FIG. 7 according to the invention in a a: arrangement applicable memory having a read only memory matrix,

Fig. 8 eine elektrische Detailschaltung einer in einer erfindungsgemässen Anordnung anwendbaren Festwertspeichermatrix nach Fig. 7t8 shows an electrical detailed circuit of a read-only memory matrix which can be used in an arrangement according to the invention according to Fig. 7t

Fig. 9 eine elektrische Detailschaltung einer in einer erfindungsgemässen Anordnung anwendbaren Schreib/Lesematrix nach Fig. 6a,9 shows an electrical detailed circuit of a circuit which can be used in an arrangement according to the invention Write / read matrix according to Fig. 6a,

509817/1043509817/1043

PHN.7186PHN.7186

- 7 - 24A7437 25' 9tlht - 7 - 24A7437 25 ' 9tlht

24A743724A7437

Fig. 10 das Festwertspeichermatrixdetail der Fig. 8 in integrierter Form,FIG. 10 shows the read-only memory matrix detail of FIG. 8 in integrated form;

Fig. 11 das Schreib/Lesespeichermatrixdetail der Fig. 9 in integrierter Form,11 shows the read / write memory matrix detail of FIG. 9 in integrated form;

Fig. 1 zeigt eine in einer erfindungsgenassen Anordnung anwendbare Speichermatrix M, um nach Auswahl einer Zeile ein zu dieser Zeile gehöriges Speicherelement oder ein Speicherelement der benachbarten Zeile auszuwählen· In dieser Matrix ist eine Auswahlmöglichkeit pro Speicherelement m vorhanden. Jede Zeile ri-2, ri-1, ri, .... hat nämlich erste Wählmittel S1 (Schalter) und zweite Wählmittel S2 (Schalter) für jedes Speicherelement m. Die Ausgänge der Speicherelemente m sind mit Spalten kj-1, kj, .,. verbunden. Die ersten Wählmittel S1 sind über erste Unterzeilenleiter S1ri-2, S1ri-1, S1ri, ... an eine erste Ansteuerspalte a angeschlossen. So sind auch die zweiten Wählmittel über zweite Unterzeilenleiter S2ri-2, S2ri-1, S2ri, ... an eine zweite Ansteuerspalte ä angeschlossen. Das Beispiel^'dieser Fig. 1 zeigt also, dass das Anbringen der Wählmittel und der zugehörigen Leiter völlig in die Struktur der ursprünglichen Speichermatrix des Speichers M passt. Besonders bei integriert ausgeführten Speichern ist dies ein Vorteil. Die Wirkungsweise ist wie folgt. Vorausgesetzt, es sei eine Zeile ri ausgewählt. Weiter vorausgesetzt, es sei eine Spalte kj ausgewählt. Dabei führt die Ansteuerspalte a O-Signal undFig. 1 shows a in a erfindungsgenassen Arrangement applicable memory matrix M in order to, after a row has been selected, a memory element belonging to this row or to select a storage element of the adjacent row · In this matrix there is one option per storage element m present. Namely, each line ri-2, ri-1, ri, .... has first selection means S1 (switches) and second selection means S2 (switch) for each storage element m. The outputs of the storage elements m are marked with columns kj-1, kj,.,. tied together. The first selection means S1 are over first sub-line conductor S1ri-2, S1ri-1, S1ri, ... connected to a first control column a. So are they too second selection means via second sub-line conductor S2ri-2, S2ri-1, S2ri, ... connected to a second control column ä. The example ^ 'of this Fig. 1 shows that the attachment of the dialing means and the associated ladder fits completely into the structure of the original memory matrix of the memory M. Especially with integrated ones Saving this is an advantage. The way it works is as follows. Assuming a row ri is selected. Further provided that a column kj is selected. The control column carries a 0 signal and

5 0 9-8 1 7/1 (U 35 0 9-8 1 7/1 (U 3

PHN.7186.PHN.7186.

a 1-Signal. Hiermit ist das Speicherelement mij ausgewählt, denn der zu diesem Element mij gehörige Schalter S1 ist über den Unterzeilenleiter S1ri mit der 1-Signal führenden Ansteuerspalte a geschlossen. In dieser Situation kann also über die Spalte kj Datenübertragung zum/vom Element mij erfolgen. Venn umgekehrt die Ansteuerspalte ä O-Signal und a 1-Signal führt, ist über den Unterzeilenleiter S2ri der Schalter S2 geschlossen. Hiermit ist das Speicherelement mi-1,j ausgewählt. Auf diese Weise kann also im Speicher, beim Auswählen einer bestimmten Spalte kj entweder das zu dieser Zeile ri gehörige Speicherelement mij oder das zu einer benachbarten Zeile ri-1 gehörige Speicherelement rai-1,j ausgewählt werden. Die Zeilenauswahl ändert sich somit nicht9 aber das Signal über die Ansteuerspalten ist bestimmend„ Mit anderen Worten hat in der Speicheruatrix jede Zeile nicht eine, sondern zwei "Etikette1! (Angaben), .Denn bei der Auswahl einer einzigen Zeile und einer einzigen Spalte sind zwei Speicherelemente erreichbar geworden» Wenn mehrere Spalten oder alle Spalten kj einer Speichermatrix eines Speichers bei einer Zeilenauswahl betrachtet werden, so handelt es sich um einen sogenannten wortorganisierten Speicher. Venn ein Speicher mit Matrizen nach obiger Beschreibung wortorganisiert ist, werden die Speicherelemente m, die zusammen ein Wort Vf bilden,, attsgewählte Im Beispiel nach ■ Fig« 1 ist es bei der Auswahl der Zeilen ri und a = 0 (a = 1)a 1 signal. The memory element mij is hereby selected, because the switch S1 belonging to this element mij is closed via the subline conductor S1ri with the control column a carrying a 1-signal. In this situation, data transmission to / from the element mij can therefore take place via the column kj. If, conversely, the control column carries a 0 signal and a 1 signal, the switch S2 is closed via the sub-row conductor S2ri. The storage element mi-1, j is hereby selected. In this way, when selecting a specific column kj, either the memory element mij belonging to this row ri or the memory element rai-1, j belonging to an adjacent row ri-1 can be selected in the memory. The line selection does not change 9 but the signal via the control columns is decisive "In other words, each line in the memory matrix has not one but two" labels 1 ! (Information), because when you select a single line and a single column two memory elements have become accessible »If several columns or all columns kj of a memory matrix of a memory are considered in a row selection, then it is a so-called word-organized memory. If a memory with matrices is word-organized as described above, the memory elements m, the together form a word Vf ,, atts selected In the example according to Fig. 1 it is in the selection of the lines ri and a = 0 (a = 1)

509817/1(K 3509817/1 (K 3

PlIN. 71 86.PlIN. 71 86.

das Wort Wi, während bei a= 1 (a= θ) das Wort Wi-1 ausgewählt ist.the word Wi, while at a = 1 (a = θ) the word Wi-1 is selected.

Pig. 2 zeigt eine andere Ausführungsforra einer in einer erfindungsgemässen Anordnung anwendbaren Speichermatrix, wobei ausgehend vom Beispiel nach Fig. 1 jetzt angegeben ist, dass die ¥ählmittel S1 und S2 UND-Gatter E1 und E2 sind. Entweder Gatter E1 werden über Unterzeilenleiter S1ri aus der Ansteuerspalte a oder Gatter E2 werden über Unterzeilenleiter S2ri aus der Ansteuerspalte ä vorbereitet sein. Werden eine Zeile und eine oder mehrere Spalten ausgewählt, so wird eine Datenübertragung über die Gatter E1 oder Gatter E2 erfolgen können. Dies bedeutet also, dass zu dieser Zeile ri gehörige(s) Speicherelement(e) mi oder zu der benachbarten Zeile ri-1 gehörige Speicherelemente mi-1 ausgewählt sind.Pig. 2 shows another embodiment memory matrix usable in an arrangement according to the invention, starting from the example according to FIG. 1, it is now indicated that the ¥ ählmittel S1 and S2 AND gates E1 and E2 are. Either gate E1 will become via subline conductor S1ri from control column a or gate E2 be prepared via subline conductor S2ri from the control column ä. Will be a line and one or more Columns selected, data can be transmitted via gate E1 or gate E2. this means that is, that storage element (s) belonging to this line ri mi or memory elements mi-1 belonging to the adjacent row ri-1 are selected.

In Fig. 3 ist eine in einer erf indungsgeniässen Anordnung,anwendbare Speichermatrix dargestellt, in der die ersten Wählmittel, hier die UND-Gatter E1,i-2; E1,i-1; E1,i; ... allen zu einer Zeile (ri-2, ri-1, ri, ...) gehörigen Speicherelementen (Vort Wi-2; Wi-1; Wi; ...) gemeinsam sind und in der die zweiten. Wählmittel, hier die UND-Gatter E2,i-2; E2,i-1, E2,i; ..., allen zu benachbarten Zeilen (ri-1, ri-, ri+1, ...) gehörigen Speicherelementen (Wort Wi-1; Wi; Wi+1; ... ) gemeinsam s ind,In Fig. 3 one is indungsgeniässen in one of the invention Arrangement, applicable memory matrix shown in the the first selection means, here the AND gates E1, i-2; E1, i-1; E1, i; ... all in one line (ri-2, ri-1, ri, ...) Corresponding storage elements (Vort Wi-2; Wi-1; Wi; ...) are common and in which the second. Selecting means, here the AND gates E2, i-2; E2, i-1, E2, i; ..., all of them to neighbors Lines (ri-1, ri-, ri + 1, ...) belonging to memory elements (word Wi-1; Wi; Wi + 1; ...) together are,

Dies ist somit für eine wortorganisierteSo this is for a word-organized

5098 17/10 A35098 17/10 A3

-Jj-v. / 1 OO .-Yy-v. / 1 OO.

Speichermatrix M möglich. Passend in der Struktur der Matrix mit Zeilen und Spalten ist in diesem Beispiel ein Eingang jedes UND-Gatters E1, i, ... mit einer gemeinsamen Ansteuerspalte a verbunden, Auch ist ein Eingang jedes UND-Gatters E2, i, ... mit einer gemeinsamen Ansteuerspalte & verbunden. Ein zweiter Eingang von E1, i, ... und E2, i, ... ist mit den betreffenden Eingang der Zeile ri verbunden. Die Ausgänge der Gatter El, i, ..., sind mit den Zeilen ri ... selbst verbunden, während die Ausgänge der Gatter E2, i, ... mit den benachbarten Zeilen ri+1 ... verbunden sind. Führt die Spalte a O-Signal, so sind Gatter E1, i, ... vorbereitet und es wird beim Ayswählen einer Zeile ri das Wort Wx ausgewählt werden. Führt die Spalte a 1-Signal, sind Gatter E2, i, ... vorbereitet und es wird beim Auswählen der gleichen Zeile ri das Wort Wi+1 ausgewählt werden.Storage matrix M possible. In this example, one input of each AND gate E1, i, ... is connected to a common drive column a, matching the structure of the matrix with rows and columns. An input of each AND gate E2, i, ... is also connected to a common control column & connected. A second input of E1, i, ... and E2, i, ... is connected to the relevant input of row ri. The outputs of the gates E1, i, ..., are connected to the rows ri ... themselves, while the outputs of the gates E2, i, ... are connected to the adjacent rows ri + 1 .... If the column a carries a 0 signal, gates E1, i, ... are prepared and the word Wx will be selected when a row ri is selected. If column a has a 1 signal, gates E2, i, ... are prepared and the word Wi + 1 will be selected when the same row ri is selected.

In Fig. h ist das Beispiel einer in einer erfindungsgemässen Anordnung anwendbaren Speichermatrix darge- ■ stellt, in der bei der Auswahl einer Zeile die zu dieser Zeile gehörigen Elemente oder die zu einer entfernteren Zeile gehörigen Elemente, nämlich in diesem Beispiel um zwei Zeilen weiter, wählbar sind. Grundsätzlich kann eine beliebige entferntere Zeile dafür gewählt werden. Die Zeilen der Matrix sind wiederum mit ri bezeichnet. Es ist eine Spalte k1 der Matrix und es sind die Ansteuerspalten a und a dargestellt. Erste el, i; ... und zweite. H the example is a memory matrix applicable in an inventive arrangement ones shown, ■ represents in which when selecting a line belonging to that row elements or belonging to a more distant line elements, namely in this example, two lines further in Fig. are selectable. In principle, any line that is further away can be selected for this. The rows of the matrix are again labeled ri. It is a column k1 of the matrix and the drive columns a and a are shown. First el, i; ... and second

509817/1 O Λ 3509817/1 O Λ 3

PHN.7186.PHN.7186.

Wählmittel e2, i; ... \ sind für Speicherelemente m einer Zeile gemeinsam vorgesehen. Die Auswahl von aussen her (Dekoder oder Abtaster) erfolgt an den Zeileneingängen, die mit gri, ... bezeichnet sind. Gemäss Fig. h ist ein Zeileneingang gri mit einem Eingang des TJND- Gatters e2,i. und mit einem Eingang des UND-Gatters e1,i+2 verbunden. Das UND-Gatter e2,i empfängt an einem anderen Eingang das Ansteuersignal, das von der Spalte a geführt wird, während das UND-Gatter e1,i an einem anderen Eingang das Ansteuersignal der Spalte ä empfängt. Der Ausgang des UND-Gatters el ,i ist mit dem Ausgang des UND-Gatters e2,i verbunden. Zusammen sind diese Ausgänge dann mit der Matrixzeile ri verbunden.Selection means e2, i; ... \ are provided jointly for memory elements in a line. The selection from outside (decoder or scanner) is made at the line inputs, which are marked with gri, .... According to FIG. H , a line input gri is connected to an input of the TJND gate e2, i. and connected to an input of the AND gate e1, i + 2. The AND gate e2, i receives at another input the control signal which is carried by the column a, while the AND gate e1, i receives the control signal of the column ä at another input. The output of the AND gate el, i is connected to the output of the AND gate e2, i. Together these outputs are then connected to the matrix row ri.

Mit dieser Aufstellung ist folgendes erreicht worden:The following has been achieved with this list:

Die Auswahl z»B, des Zeileneinganges gri-1 gibt die Möglichkeit, entweder das zur Zeile ri-1 gehörige Wort Wi-1 oder das zu der um zwei Stellen in der Matrix entfernteren Zeile ri+1 gehörige Wort Wi+1 auszuwählen. Ein "Schritt"-Befehl umfasst hier somit zwei Schritte: ein 1-Signal an a bereitet das UND-Gatter e1,i+1 vor und somit wird das Auswahlsignal am Zeileneingang gri-1 von diesem Gatter durchgelassen und erreicht damit die Zeile ri+1, also um zwei Zeilen weiter als ri-1, die ausgewählt wäre, wenn die Spalte a 0-Signal geführt hätte» Fig. 5 zeigt einen vollständigen in einerThe selection z »B, of the line input gri-1 gives the possibility to select either the word Wi-1 belonging to the line ri-1 or the word Wi + 1 belonging to the row ri + 1 more distant by two places in the matrix. A "step" command thus here comprises two steps: a 1 signal at a prepares the AND gate e1, i + 1 before and thus, the selection signal at the line input gri-1 is allowed to pass through this gate and reaches the line ri + 1, that is to say two lines further than ri-1, which would have been selected if the column a had carried a 0 signal »FIG. 5 shows a complete in one

5098 17/10Λ35098 17/10-3

PHN.7186.PHN.7186.

erfindungsgemässen Anordnung anwendbaren Speicher. Als Matrix gilt die Matrix gemäss der Beschreibung nach Fig. mit einigen weiteren Peripherieeinrichtungen, Dabei sind jetzt in die Schaltanordnung SV die UND-Gatter E1,i ..., E2,i ,.. aufgenommen gedacht. Weiter ist ein Dekoder DEC und ein Eingangs/Ausgangsregister IHR mit Eingang/Ausgang IU angegeben, mit dem der Speicher mit seiner Peripherie verbunden ist. In SW verlaufen die Ansteuerspalten a und ä, die über Klemmen c und c nach aussen verbunden sind. Dem Dekoder DEC -werden die Adressen AD der auszuwählenden Zeilen angeboten. Eine bestimmte Adresse, z.B, ADn, mit der die Zeile rn bezeichnet wird 9 wählt den Eingang der Zeile rn. An der Klemme c liegt z.B. 0-Signal und somit führt Klemme c 1-Signal« Ueber die Schaltanordnung S¥ sind jetzt die Gatter E1,± ·„, (Fig» 3) vorbereitet und damit ist das Wort Wn ausgewählt. Datenübertragung zum/vom Eingangs/Ausgangsregister IUR kann jetzt stattfinden. Liegt an der Klemme c 1-Signal (c = O)9 so sind die Gatter E2,i, »,. (Fig0 3) vorbereitet und das benachbarte Wort, hier durch Auswahl der Zeile τη das Wort Wn+T = V,*1 , wird ausgewählt0 Dies ist dadurch erreicht worden, dass am Ende der Speichermatrix das Wort Wn liegt und in diesem Beispiel das benachbarte Wort um eine Stelle weiter liegt, nämlich zurück zum Anfang;, also das Wort V1e Um dies zu verwirklicheng ist es nur in diesem Beispiel nötig, den Ausgang des Gatters E29i (vergleiche hinsichtlich, dermemory applicable according to the invention. The matrix is the matrix according to the description of FIG. 1 with a few other peripheral devices. The AND gates E1, i ..., E2, i, ... are now intended to be included in the switching arrangement SV. A decoder DEC and an input / output register IHR with input / output IU are also specified, with which the memory is connected to its periphery. In SW, the control columns a and ä, which are connected to the outside via terminals c and c, run. The addresses AD of the lines to be selected are offered to the decoder DEC. A specific address, for example ADn, with which the line rn is designated 9 selects the input of the line rn. At terminal c, for example, there is a 0 signal and thus terminal c carries a 1 signal. Via the switching arrangement S, the gates E1, ± · “, (Fig. 3) are now prepared and the word Wn is thus selected. Data transfer to / from the input / output register IUR can now take place. If there is a 1 signal (c = O) 9 at the terminal c, the gates E2, i, »,. (Fig 0 3) were prepared and the adjacent word, here through selection of the row τη the word Wn + T = V, * 1, is selected 0 This has been achieved in that at the end of the memory array, the word Wn is located and in this example the adjacent word to a notch is located, namely, back to the beginning so ;, the word V1 e to make this verwirklicheng it is necessary only in this example, the output of the gate E2 9 i (compare regard, the

509817/10 4 3509817/10 4 3

PHN.7186.PHN.7186.

Abbildung das Gatter E2,i+1 in Fig. 3) in Fig. k mit u bezeichnet, mit der Zeile rl (hinter der Schaltanordnung STv') zu verbinden.Figure the gate E2, i + 1 in Fig. 3) in Fig. K denoted by u, to be connected to the line rl (behind the switching arrangement STv ').

In Fig. 6a ist eine erfindungsgemässe Anordnung mit einer Matrix M gemäss Fig. 1 mit einigen weiteren Einrichtungen, unter denen die Ansteueranordnung A5, dargestellt. Die Zeilenauswahl erfolgt in dieser erfindungsgemässen Anordnung mit einem Abtastregister SR,"dessen" Ausgänge mit den Zeilen der Speichermatrix M verbunden sind. Dieses Register verschiebt auf Steuerung durch einen Taktgeber über den Eingang Cl ein 1-Bit durch das Register. Die Lage dieses 1-Bits wählt über den betreffenden Ausgang eine Zeile aus. Die Ansteuerung der ersten und zweiten Wählmittel, die hier pro Speicherelement in das Speicherelement aufgenommen sein mögen, erfolgt über die punktierten, mit den Speicherelementen verbundenen (unteren und oberen) Unterzeilenleiter bzw. ersten Unterzeilenleiter S1ri und zweiten Unterzeilenleiter S2ri. Ansteuerspalten a und a werden über die Klemmen c bzw, c von der Ansteueranordnung AS mit den UND-Gattern ED und EI und der Umkehrstufe TV aus gesteuert. Weiter gibt es in dieser dargestellten erfindungsgemässen Anordnung noch ein Eingangs/Ausgangsregister IUR und eine datenverarbeitende Anordnung CP, In der Matrix M ist ein zusätzlicher Zeilenleiter r1' vorhanden, der mit der Zeile r1 verbunden ist, damit beim Auswählen der Zeile r1 und bei 1-SignalFIG. 6a shows an arrangement according to the invention with a matrix M according to FIG. 1 with some further devices, among which the control arrangement A5. In this arrangement according to the invention, the line selection takes place with a scanning register SR, "whose" outputs are connected to the lines of the memory matrix M. This register shifts a 1-bit through the register on control by a clock generator via the input Cl. The position of this 1-bit selects a line via the relevant output. The control of the first and second selection means, which may be included in the storage element per storage element, takes place via the dotted (lower and upper) sub-line conductors or first sub-line conductors S1ri and second sub-line conductors S2ri connected to the storage elements. Control columns a and a are controlled via the terminals c and c from the control arrangement AS with the AND gates ED and EI and the inverter TV . Furthermore, there is an input / output register IUR and a data processing arrangement CP in this illustrated arrangement according to the invention. In the matrix M there is an additional row conductor r1 'which is connected to the row r1 so that when selecting the row r1 and with 1- signal

5098 1 7/1CK 35098 1 7 / 1CK 3

PHN.7186.PHN.7186.

an a nicht das Wort WT, sondern das Wort W1-1 = Wn ausgewählt wird. Hiermit ist der Umlauf am Ende des Speichers berücksichtigt·at a not the word WT, but the word W1-1 = Wn selected will. This takes into account the circulation at the end of the store

Mit dieser dargestellten erfindungsgemässenWith this illustrated according to the invention

Anordnung wird mit der Tabelle nach Fig. 6b die Behandlung eines Einschritts-INKR(EMEXT)-I- und eines Einschritts-DEKR(EMEXT)-D-Befehls beschrieben, der aus der datenverarbeitenden Anordnung CP abgegeben wird. Ausgang D von CP führt 1-Signal, so dass der DEKR-Befehl vorhanden ist. Ausgang b führt O-Signal (b = 1 ) , solange bei einem bestimmten Verfahren in CP dem Befehl D noch keine Folge geleistet zu werden braucht, (CP ist z.B. in einem Suchverfahren beteiligt, wobei verlangt ist, dass beim Ablauf des Suchverfahrens dem DEKR-Befehl Folge geleistet wird). Mit D=1 und b=0 und auch I=O sind die UND-Gatter ED und EI nicht durchlässig und gibt also die Ansteueranordnung AC an c kein Signal, während über die Umkehrstufe IV an der Klemme c 1-Signal anliegt. Beim Auswählen einer Zeile ri der Speichermatrix ist somit ein Wort Wi ausgewählt. Wird jetzt b = 1, so dass dem Befehl DECR Folge geleistet werden muss, so wird das Gatter ED durchlässig und gibt die Ansteueranordnung an die Klemme c 1-Signal bzw, an die Klemme c O-Signal ab. In diesem Augenblick wird durch Auswählen der erwähnten Zeile ri nicht das Wort Wi, sondern das Wort Wi-1 ausgewählt. Dies bedeutet somit Ausführung des DECR-(= "um einen Schritt zurück")-Befehls,The arrangement is the handling of a one-step INKR (EMEXT) -I and a one-step DEKR (EMEXT) -D command with the table according to FIG. 6b described, which is output from the data processing arrangement CP. Output D from CP has a 1 signal, so that the DEKR command is present. Output b carries an O signal (b = 1) as long as a certain Procedure in CP, command D does not yet need to be followed (e.g. CP is in a search procedure involved, whereby it is required that the DEKR command is obeyed during the search process). With D = 1 and b = 0 and also I = O, the AND gates are ED and EI not permeable and so the control arrangement AC does not give a signal to c, while via the inverter IV to the Terminal c 1 signal is present. When selecting a line ri a word Wi is thus selected in the memory matrix. Now b = 1, so that the DECR command is followed has to be, the gate ED becomes permeable and specifies the control arrangement to the terminal c 1-signal or, respectively the terminal c O signal. At this moment it is through Selecting the mentioned line does not select the word Wi, but rather the word Wi-1. This means execution of the DECR (= "one step back") command,

■509817/1043■ 509817/1043

PHN.7186.PHN.7186.

FiIr INCR I geschieht folgendes: Ausgang I von CP führt 1-Signal, so dass der INKR-Befehl vorhanden ist. Der Ausgang b führt O-Signal (b = 1 ) , solange INKR noch keine Folge geleistet zu werden braucht. Mit 1=1 und b = 1 ist UND-Gatter EI durchlässig und wird der Klemme,c 1-Signal geliefert. Hierdurch wird beim Auswählen einer Zeile ri das benachbarte V'ort Wi-1 ausgewählt sein. Wird jetzt b = 1, so dass dem INKR-Befehl Folge geleistet werden muss, so sind (siehe letzte Zeile nach Fig. 6) beide Gatter EI und ED nicht durchlässig, also beliefert die Ansteueranordnung die Klemme c mit O-Signal bzw. die Klemme c mit 1-Signal. Jetzt ist also durch Auswählen der Zeile ri nicht das Vort Vi-I, sondern das Wort Wi ausgewählt. Dies bedeutet also INIQR (= um einen Schritt weiter).The following happens for INCR I: Output I of CP has a 1-signal, so that the INKR command is available. Output b has an O signal (b = 1), as long as INKR does not need to be followed. With 1 = 1 and b = 1, AND gate EI is permeable and the terminal, c 1 signal is supplied. This will when selecting a line ri the neighboring location Wi-1 be selected. If b = 1 now, so that the INKR command must be followed, then (see last line according to Fig. 6) both gates EI and ED not permeable, the control arrangement therefore supplies terminal c with a 0 signal and terminal c with a 1 signal. So now is by selecting the line ri, not the Vort Vi-I, but the word Wi selected. This means INIQR (= one step further).

In Fig. 7 ist in einer erfindungsgemässen Anordnung Festwertspeichermatrix R0M1 dargestellt. In dieser Fig. 7 ist weiter noch eine normale Festwertspeichermatrix R0M2 dargestellt. Der Zweck davon ist, anzugeben, wie in einer erfindungsgemässen Anordnung eine derartige Festwertspeichermatrix R0M1 verwendbar ist, insbesondere in einer erfindungsgemässen Anordnung, in der beim Ausführen arithmetischer Verarbeitungen von Information sogenannte Uebertragssignale (carries) auftreten. Damit bildet die Anordnung nach Fig. 7 ein Addier-Subtrahier-Rechenwerk, In Fig. 7 is an inventive Arrangement of read-only memory matrix R0M1 shown. In this Fig. 7 is still a normal read only memory matrix R0M2 shown. The purpose of this is to indicate how such an arrangement is used in an arrangement according to the invention Read-only memory matrix R0M1 can be used, in particular in an arrangement according to the invention in which, when executing arithmetic processing of information so-called transfer signals (carries) occur. In order to the arrangement according to FIG. 7 forms an add-subtract arithmetic unit,

509817/1 CK3509817/1 CK3

PHN". 71 86. - 16 -PHN ". 71 86. - 16 -

In dieser Fig, 7 sind weiter noch Abtastregister SR1 und SR2, eine Umkehrstufe IV, ein Ausgangsregister UR und eine Vergleichsanordnung V vorhanden. ROM1 und R0M2 sind über ihre Spalten miteinander verbunden, so dass für beide nur ein Ausgangsregister UR erforderlich ist, R0M1 ist mit einer Tabelle gefüllt, nämlich die Ziffern "0" bis "9" im BCD-Kode. In R0M2 sind diese Ziffern "0" bis "9" zweimal gespeichert: "0" bis "(i)9M Positionen. Ausserden ist bei Stellungen "(i)0n bis "(i)9" der "Zehnerübertrag" gespeichert, sie befinden sich somit an den Stellen "(i)0" bis "(i)9" von R0M2 und zwar auf der Spalte kc, Eine mögliche Ausführung von R0M1 ist hiernach noch an Hand der Fig. 8 und der Fig, 10 beschrieben, R0M2 kann ein an sich bekannter, in Integrationstechnik ausgeführter Festwertspeicher sein. Die Wirkungsweise dieser ganzen Anordnung wird weitgehend von einer nicht näher angegebenen informations steuernd eil Anordnung versorgt. Da sie weiter keinen Bestandteil der Erfindung bildet, ist ihre Be,-schreibung fortgelassen. Es kommt darauf an, anzugeben, wie mit dieser erfindungsgemässen Anordnung arithmetische Verarbeitungen (Addieren, Subtrahieren) durchgeführt werden können. Dies wird nachstehend erläutert? vorausgesetzt, es wird dem Eingang IR1 eine Ziffernstelle einer zu behandelnden Zahl angeboten.und diese Ziffernstelle = "6" stehe im BCD-Kode, Diese Ziffernstelle wird der Vergleichsanordnung V angeboten. An V ist auch das Register l~In this FIG. 7, scanning registers SR1 and SR2, an inverting stage IV, an output register UR and a comparison arrangement V are also present. ROM1 and R0M2 are connected to one another via their columns, so that only one output register UR is required for both, R0M1 is filled with a table, namely the digits "0" to "9" in the BCD code. These digits "0" to "9" are stored twice in R0M2: "0" to "(i) 9 M positions. In addition, the" tens carry "is stored for positions" (i) 0 n to "(i) 9", they are thus located at the positions "(i) 0" to "(i) 9" of R0M2, specifically on column kc. A possible embodiment of R0M1 is described below with reference to FIG. 8 and FIG. 10, R0M2 can be a read-only memory that is known per se and implemented using integration technology. The operation of this entire arrangement is largely supplied by an unspecified information-controlling arrangement. Since it does not form part of the invention, its description has been omitted. It is important to indicate how arithmetic processing (adding, subtracting) can be carried out with this arrangement according to the invention. Is this explained below? provided that the input IR1 is offered a digit of a number to be treated. And this digit = "6" is in the BCD code. This digit is offered to the comparison arrangement V. At V there is also the register l ~

509817/1043509817/1043

PHN". 71 S6PHN ". 71 S6

angeschlossen. Der Inhalt von UR wird mit der Ziffernsteile an IR1 verglichen. Dabei kann der Abtaster SR1 durch Impulse an Cl laufen (SR2 ist abgeschaltet) und es werden TIR nacheinander beim Auswählen dor Zeilen rl G, r9, ... die Werte "0" "9", ... angeboten. Dabei führt a O-Signal und a 1-Signal. Bei der Position "6" von SR1 tritt Gleichheit in V auf. Der Abtaster SR1 wird von V aus gestoppt (Signal VP aus V). SR1 bleibt jetzt in dieser Stellung. Dies bedeutet, dass die ei'wähnte Ziffernstelle "6" in SR1 "aufgezeichnet" ist. Auch kann eine über den Eingang IR2 angebotene Ziffernstello, z.B. "3" im BCD-Kode, mit Hilfe der Anordnung V in R0K2 aufgezeichnet werden: SR2 läuft in dieser Zeit im-Oberteil von R0M2 (Positionen "0" bis "9")» bis in V Gleichheit auftritt (SRI ist abgeschaltet). Dies geschieht in der Position "3"» SR2 stoppt. Für eine Addition geschieht folgendes; die Abtaster SR1 und SR2 laufen durch Impulsen an Cl tuid. zwar SR1 in der angegebenen "R" (Rücklauf)-Richtung und SR2 in der angegebenen "F" (Fortlauf)-Richtung, Iv'enn jetzt SR1 die "0"-Position erreicht, gibt er ein STOPP-Signal ab. Die Abtaster stoppen. Inzwischen hat der Abtaster SR2 die Position "3" plus "6" ist gleich "9" erreicht. Dies ist das Ergebnis der Addition. Wäre z.B. über IR2 Ziffernstelle "7" angeboten, so würde im R0M2 diese "7" in der Position "7" aufgezeichnet werden. Beim Addieren (ROMI steht auf "6") geht der Abtaster SR2 um sechs Schritte weiter vuidconnected. The content of UR is compared with the number parts at IR1. The scanner SR1 can run through pulses at Cl (SR2 is switched off) and TIR are offered successively when selecting the lines rl G, r9, ... the values "0""9", .... A has a 0-signal and a 1-signal. At position "6" of SR1, equality occurs in V. The scanner SR1 is stopped from V (signal VP from V). SR1 now remains in this position. This means that the aforementioned digit “6” is “recorded” in SR1. Also, a digit offered via input IR2, eg "3" in the BCD code, can be recorded in R0K2 with the help of arrangement V: During this time, SR2 runs in the upper part of R0M2 (positions "0" to "9") » until equality occurs in V (SRI is switched off). This happens in position "3" »SR2 stops. The following happens for an addition; the samplers SR1 and SR2 run by pulses on Cl tuid. although SR1 in the specified "R" (return) direction and SR2 in the specified "F" (forward) direction, if SR1 now reaches the "0" position, it emits a STOP signal. Stop the scanners. Meanwhile, the scanner SR2 has reached the position "3" plus "6" is equal to "9". This is the result of the addition. If, for example, digit "7" were offered via IR2, this "7" would be recorded in position "7" in R0M2. When adding (ROMI is at "6"), the sampler SR2 advances six steps vuid

■509817/1043■ 509817/1043

PHN.7186.PHN.7186.

stoppt in der Position "(i)3"» Es tritt somit ein Uebertrag auf, dadurch entsteht an der Spalte kc ein Uebertrags-1-Signal CR, das der Kippstufe FF angeboten wird» Hierin wird dieser Uebortrag- festgehalten. Das erwähnte Ergebnis "9" (erster Fall) oder "3" (zweiter Fall) kann jetzt von R0M2 aus in ein Ergebnisregister übernommen werden. Dies geschieht vom Ausgangsregister UR zum Ausgang RR,stops in position "(i) 3" »It thus occurs Transfer on, resulting in a transfer 1 signal CR at column kc, which is offered to flip-flop FF "This is where this lecture is recorded. That The mentioned result "9" (first case) or "3" (second case) can now be transferred to a result register from R0M2 will. This is done from the output register UR to output RR,

Die Organisation des Ganzen sieht jetzt so aus, dass beim Aufzeichnen einer Ziffernstelle vom Eingang RR zum R0M1 an einem Eingang T des ÜXD-Gatters ECR immer ein 1-Signal steht. Dieses Gatter lässt also, wenn vorhanden, einen in FF gespeicherten Uebertrag CR durch. Im skizzierten zweiten Fall ("6" + "7") findet dies statt. Dies bedeutet, dass über die Klemme c die Ansteuerspalte a 1-Signal führt. Damit ist bei der Position des Abtasters SR1 an einer Zeile ri nicht die -Ziffernstelle "i", sondern die Ziffernstelle "i-1" ausgewählt. Wird jetzt über IR1 eine Ziffernstelle "5" an V angeboten und mit dem Inhalt von R0M1 verglichen, so tritt Gleichheit auf, wenn der Abtaster SRT in der Position "6" steht, denn damit ist in diesem Falle die Ziffernstelle "5" ausgewählt. In diesem Augenblick kann der Inhalt von FF geleert werden.The whole organization now looks like that when a digit is recorded from the input RR to the R0M1 at an input T of the ÜXD gate ECR there is always a 1 signal. This gate, if present, allows a transfer CR stored in FF through. In the outlined second case ("6" + "7") this takes place. This means that control column a carries a 1 signal via terminal c. Thus, at the position of the scanner SR1 on a line ri, not the digit position "i" but the digit position "i-1" is selected. If a digit "5" a n V is now offered via IR1 and compared with the content of R0M1, equality occurs when the scanner SRT is in position "6", because in this case the digit "5" is selected . At this moment the contents of FF can be emptied.

Nachdem auch in R0M2 eine neue Zifferrist eile, z.B. "2", aufgezeichnet ist, kann die Addition dieser neuen Ziffernstellen "2" und "5" plus Uebertrag CR istAfter a new digit rule also rushed in R0M2, e.g. "2" is recorded, the addition of these new digits "2" and "5" plus transfer CR

■509817/1043■ 509817/1043

PHN.7186. 25.9.7*+.PHN.7186. 25.9.7 * +.

gleich "6" erfolgen: beide Abtaster laufen, bis SR1 "0"-Position erreicht. Dies geschieht hier nach sechs Schritten,'denn SR1 stand anfangs in der Position "6". Das Ergebnis ist also, dass in ROM2 die Ergebnisziffernstelle "2" plus "6" ist gleich "8" erreicht wird. Auf diese "»/eise kann also unter Verwendung von ROM1 in der erfindungsgemässen Anordnung auf einfache Weise der Uebertrag CR verarbeitet werden. Beim Subtrahieren erfolgt etwas derartiges mutatis mutandis. Beim Gleichlaufen der Abtaster SR1 und SR2 läuft dabei sowohl der Abtaster SRI als auch der Abtaster SR2 in der angegebenen MR"-Richtung, Es wird klar sein, dass mit dieser Anordnung auch die Möglichkeit der Verarbeitung eines DEKREMENT- und INKREMENT-Befehls gemäss den Beschreibungen nach den Fig. 6a und 6b besteht.equal to "6": both scanners run until SR1 reaches the "0" position. This happens after six steps, because SR1 was initially in position "6". The result is that the result digit "2" plus "6" is equal to "8" is reached in ROM2. In this way, using ROM1 in the arrangement according to the invention, the transfer CR can be processed in a simple manner. When subtracting, something of this kind occurs mutatis mutandis SR2 in the indicated M R "direction. It will be clear that with this arrangement there is also the possibility of processing a DECREMENT and INCREMENT command in accordance with the descriptions according to FIGS. 6a and 6b.

An dieser Stelle sei noch folgendes bemerkt: die Anordnung nach Fig„ 7 kann auf eine in praktischer Hinsicht vorteilhafte Yeise integriert werden, ROM1 und R0M2 können in einem einzigen Festkörper untergjebraucht werden. Es ist sogar möglich, noch weiter zu gehen: in einem Festkörper können ausser R0M1, R0M2 und die Abtaster SR1, SR2 auch weitere Speicherabschnitte untergebracht sein, in die die zu verarbeitenden Zahlen aufgenommen werden. Unter Beibehaltung der Matrixstruktur der Festwertspeicher (ROMs) und der anderen Speicher-At this point the following should be noted: the arrangement according to FIG. 7 can be based on a practical Advantageously, ROM1 and R0M2 can be integrated in a single solid will. It is even possible to go further: in a solid, in addition to R0M1, R0M2 and the Scanner SR1, SR2 also accommodated further memory sections in which the numbers to be processed are included. While maintaining the matrix structure read-only memories (ROMs) and the other memory

509817/10 43509817/10 43

PHN.7186. 25.9.1k. PHN.7186. 25.9.1k.

abschnitte, die Schreib/Lesespeicher (RAMs) sein können, es ist möglich, die Auswahl der Zeilenleiter ri v/eiterlaufen zu lassen und gleichfalls in benachbarten Speicherabschnitten zu verwenden. Die Abtaster SR1 und SR2 können dann ausser für Zeilenauswahl in den Festwertspeichern zur Zeilenauswahl in den benachbarten Speicherabschnitten dienen» Die Ausführungsweise ist das Thema einer früher eingereichten Anmeldung derselben Anmelderin (PHN 7130 = niederländische Patentanmeldung ),Sections that can be read / write memories (RAMs), it is possible to continue the selection of the row conductor to leave and also to use in adjacent memory sections. The samplers SR1 and SR2 can then except for line selection in the read-only memories for line selection in the adjacent memory sections serve »The manner of execution is the topic of an earlier one filed application by the same applicant (PHN 7130 = Dutch patent application),

Es sei bemerkt j dass es unter Benutzung des Erfindungsgedankens und des Gedankens nach obenerwähnter Anmeldung möglich ist, in einem Festkörper die arithmetische Einheit mit Eingangsregistern, Ergebnisregister, Tastenfeldeingängen und ¥iedergabekodeumsetzer unterzubringen.Note that using the Inventive idea and the idea mentioned above Registration is possible in a solid the arithmetic unit with input registers, result registers, keypad inputs and play code converter.

Nachstehend wird vollständigkeitshalber die Beschreibung der Erfindung damit ergänzt8 wie eine in einer erfindungsgenas sen Anordnung anwendbare Speichermatrix in einer integrierten Schaltung verwirklichbar ist.In the following, for the sake of completeness, the description of the invention is supplemented 8 as to how a memory matrix that can be used in an arrangement according to the invention can be implemented in an integrated circuit.

Fig, 8 zeigt zusammen mit Fig. 10 das Beispiel eines Teiles der Matrix einer Festvertspeichernatrix, während Fig, 9 zusammen mit Figo 11 das Beispiel eines Teiles der Matrix einer Schreib/Lesespeichermatrix darstellt,, Dabei gilt immera dass durch Auswählen einer bestimmten Zeile die Speicherelemente dieser Zeile oder die Spaichereleraente der benachbarten Zeile wählbar sind.Fig, 8 shows, together with Fig. 10, the example of a part of the matrix of a Festvertspeichernatrix, while Figure 9 together with Figo 11 represents a read / write memory array, the example of a part of the matrix ,, always a certain row is considered a that by selecting the Memory elements of this line or the memory elements of the adjacent line can be selected.

In Fig. 8 ist ein Ausführungsbeispiel einerIn Fig. 8, one embodiment is one

509817/1043509817/1043

PKN". 71 86.PKN ". 71 86.

Festwert-Speichematrix wiedergegeben, Die Speicherinatrix ist aus den Spalten Y1, Υ2 , ... und den Zeilen Χ1, Χ2 aufgebaut. Es ist klar, dass mehrere Spalten -and Zeilen angewandt v/erden können, jedoch bei dieser Beschreibungist die Anzahl für die Deutlichkeit der l'iedergabe beschränkt gehalten.Fixed-value memory matrix reproduced, The memory matrix is made up of columns Y1, Υ2, ... and rows Χ1, Χ2 built up. It is clear that there are multiple columns -and rows may be used, but in this description the number is limited for clarity of illustration held.

Die Zeile X1 ist einerseits mit dem Verbindungspunkt der Gatterelektroden der Transistoren 2 und 3 und andererseits mit dem Verbindungspunkt der Gatterelektroden der Transistoren 4 und 5 verbunden. Die- Zeile X2 ist einerseits mit dem Verbindungspunkt der Gatterelektrode der Transistoren 10 und 11 lajid andererseits mit den Verbindungspunkt der Gatterelektroden der Transistoren 12 und 13 verbunden. Die Gatterelektroden der Transistoren 6 und 8 sind zusammen mit dem Ansteuerspaltenleirer 13 verbunden. Die Gatrerelektroden der Transistoren 7 und 9 sind zusammen mit dem Ansteuerspaltenleiter 12 verbunden. Die Hauptstrombahnen der Transistoren 2, 3, 6, 71 10 und 11 sind in Reihe geschaltet. Der Verbindungspunkt der Haupt strombahnen der Transistoren 2 und 3 sowie der Verbindungspunkt der Hauptstrombahnen der Transistoren 10 und 11 sind mit einem Punkt konstanten Potentials verbunden, Der Verbindungspunkt 16 der Kauptstronbahnen der Transistoren 6 und 7 ist mit dem Punkt 17 des Spaltenleiters Y1 verbunden. Die Haupt strombahnen der Transistoren kt 5» 81 9»Row X1 is connected on the one hand to the connection point of the gate electrodes of transistors 2 and 3 and on the other hand to the connection point of the gate electrodes of transistors 4 and 5. The row X2 is connected on the one hand to the connection point of the gate electrode of the transistors 10 and 11 and on the other hand to the connection point of the gate electrodes of the transistors 12 and 13. The gate electrodes of the transistors 6 and 8 are connected to the drive column conductor 13 together. The gate electrodes of the transistors 7 and 9 are connected to the drive column conductor 12 together. The main current paths of the transistors 2, 3, 6, 71, 10 and 11 are connected in series. The connection point of the main current paths of the transistors 2 and 3 and the connection point of the main current paths of the transistors 10 and 11 are connected to a point of constant potential, the connection point 16 of the main current paths of the transistors 6 and 7 is connected to the point 17 of the column conductor Y1. The main current paths of the transistors k t 5 »81 9»

5-09 8177 10 435-09 8177 10 43

PHN.7186.PHN.7186.

12 und 13 sind in Reihe geschaltet. Der Verbindungspunkt der Hauptstronbahnen der Transistoren k und 5 sowie der Verbindungspunkt der Hauptstrombahnen der Transistoren und 13 sind mit einen Funkt konstanten Potentials verbunden. Die Speicherstellen in der Matrix werden in diesem Beispiel durch die Ab- oder die Anwesenheit der Verbindungen zwischen den Spaltenleitern und aen. Verbindungspunkten der Hauptstrombahnen der zugehörigen Transistoren gebildet, deren Gatterelektroden mit den Ansteuerspaltenleitern 14 bzw. verbunden sind. So ist z.B. zwischen den Punkt 16 und deni Punkt 17 an Spaltenleiter YI eine Verbindung und zwischen den Punkt 18 und dem Punkt 19 an Spaltenleiter -Y2 keine Verbindung vorhanden. Das Vorhandensein der Verbindungen charakterisiert z.B. eine logische 1 und das Fehlen z.B. eine logische 0. Hiermit ist eine Festwertspeicherr.atrix gebildet.12 and 13 are connected in series. The connection point of the main current paths of transistors k and 5 and the connection point of the main current paths of transistors 13 and 13 are connected to a point of constant potential. The storage locations in the matrix are in this example by the absence or the presence of the connections between the column conductors and aen. Formed connection points of the main current paths of the associated transistors, the gate electrodes of which are connected to the drive column conductors 14 and 14, respectively. For example, there is no connection between the point 16 and point 17 on column conductor deni YI and a connection between the point 18 and the point 19 on column conductor -Y2 present. The presence of the connections characterizes, for example, a logical 1 and the lack thereof, for example, a logical 0. This creates a read-only memory matrix.

In Fig. 9 ist ein zweites Ausführungsbeispiel einer Speichematrix dargestellt. Es handelt sich hier um eine Schreib/Lesespeicherrr.atrix vom dynamischen Typ. Sie zeigt vier Speicherzellen, die in zwei Zeilen und Spalten untergebracht sind. Es wird einleuchten, dass jede geeignete Anzahl Zellen angewandt werden kann. Die Speicherzellen sind von dynamischen Typ und werden durch die Transistoren 25, 28, 2Q, 30 und von den entsprechenden Kapazitäten 31, 32, 33 und 3^ gebildet. Die- GatterelektrodenA second exemplary embodiment of a memory matrix is shown in FIG. It is here a dynamic type read / write memory array. It shows four memory cells that are accommodated in two rows and columns. It will be evident to everyone appropriate number of cells can be applied. The memory cells are of dynamic type and are made by the transistors 25, 28, 2Q, 30 and from the corresponding ones Capacities 31, 32, 33 and 3 ^ formed. The gate electrodes

509817/1043509817/1043

PKX.7186. 25.9.74.PKX.7186. 9/25/74.

der Transistoren 25 und 29 sind mit,dem Zeilenleiter X1 ' und die Gatterelektroden der Transistoren 28 und 30 mitof transistors 25 and 29 are connected to, the row conductor X1 ' and the gate electrodes of transistors 28 and 30 with

dem Zeilenleiter X2: verbunden. Zwischen dem Spaltenleiter Y1 und der .Kapazität 31 ist die Hauptstrombahn des Transistors 25 angeordnet. Zwischen dem Spaltenleiter Y1 und der Kapazität 33 ist die Haupt strombahn des Transistors angeordnet. Die Kapazität 32 ist über die Haupt stronbahn des Transistors 29 mit dem Spaltenleiter Y2 und die Kapazität 34 ist über die Hauptstronbahn des Transistors 30 mit dem Spaltenleiter Y2 verbunden. Die von den Kauptstroabahnen der zugehörigen Transistoren abgewandten Anschlusspunkte der erwähnten Kapazitäten 31, 32, 33 und 34 sind mit einem Punkt konstanten Potentials, z.B0 Erde, verbunden» Zwischen den Zeilenleitern X1' und X2' ist die Reihen schaltung der Hauptstrombahn der Transistoren 23 und 24 angeordnet« Die Gatterelektrode des Transistors 23 ist mit dem Ansteuerspaltenleiter 22 und die Gatterelektrode des Transistors 24 mit dem Ansteuerspaltenleiter 21 verbunden. Der Verbindungspunkt der Hauptstrombahnen der Transistoren 23 und 24 ist über den Leiter X1 mit einem Dekoder oder Abtasjtregister 20 verbunden. Zwischen denthe row conductor X2 : connected. The main current path of the transistor 25 is arranged between the column conductor Y1 and the capacitance 31. The main current path of the transistor is arranged between the column conductor Y1 and the capacitance 33. The capacitance 32 is connected to the column conductor Y2 via the main current path of the transistor 29 and the capacitance 34 is connected to the column conductor Y2 via the main current path of the transistor 30. The connection points of the mentioned capacitors 31, 32, 33 and 34 facing away from the main current paths of the associated transistors are connected to a point of constant potential, eg 0 earth The gate electrode of the transistor 23 is connected to the drive column conductor 22 and the gate electrode of the transistor 24 is connected to the drive column conductor 21. The connection point of the main current paths of the transistors 23 and 24 is connected to a decoder or sampling register 20 via the conductor X1. Between

1 11 1

Zeilenleitern X2 und X3 ist die Reihenschaltung der Haupt strombahnen der Transistoren 26 und 27 angeordnet. Die Gatterelektrode des Transistors 26 ist mit dem Ansteuer.'ipaltenleiter 22 und die Gatterelektrode desRow conductors X2 and X3, the series connection of the main current paths of the transistors 26 and 27 is arranged. The gate electrode of the transistor 26 is connected to the Ansteuer.'ipaltenleiter 22 and the gate electrode of the

509817/1043509817/1043

PHN.7186.PHN.7186.

Transistors 27 ist mit dem Ansteuerspaltenleiter 21 verbunden. Der Verbindungspunkt der Haupt strombahnen der Transistoren 2.6 und 27 ist über den Leiter X2 mit dem Dekoder oder Abtastregister 20 verbunden«Transistor 27 is connected to drive column conductor 21. The connection point of the main current paths of the transistors 2.6 and 27 is connected to the decoder or scanning register 20 via the conductor X2 «

Die Speichermatrizen nach den Fig, 8 und 9 können mit Hilfe der in der Halbleitertechnik üblichen Technologien als integrierte Schaltung ausgeführt werden. In diesem Zusammenhang sei vollständigkeitshalber bemerkt, dass die in Fig» 8 und 9 dargestellten Feldeffekttransistoren vollständig oder teilweise durch Bipolartransistoren ersetzt werden können, Insbesondere jedoch bei der Verwendung von Feldeffekttransistoren mit isolierter Gatterelektrode können verhältnismässig kompakte Matrizen erzielt werden, und ein Beispiel einer derartigen integrierten Schaltung wird nachstehend an Hand der Fig. 10 beschrieben.The memory matrices according to FIGS. 8 and 9 can be made with the aid of the conventional methods used in semiconductor technology Technologies are implemented as an integrated circuit. In this context, for the sake of completeness, it should be noted that that the field effect transistors shown in FIGS. 8 and 9 can be completely or partially replaced by bipolar transistors, but especially when used of field effect transistors with insulated gate electrode relatively compact matrices can be achieved, and an example of such an integrated one The circuit is described below with reference to FIG.

Fig. 10 zeigt einen Teil eines Halbleiterkörpers k z,Be aus η-dotiertem Silizium, in dem mit Feldeffekttransistoren mit isolierter Gatterelektrode vom Anreicherungstyp und mit einem p-dotierten Kanal die Schaltung nach Fig. 8 verwirklicht ist» Der n-Halbleiterkörper ho enthält eine Anzahl p-Oberflächenzonen hl, kZ und 4 3, während an der Oberfläche des Körpers ein Kreuzschienensystem von Leiterbahnen angeordnet ist, das durch eine Schicht aus isolierendem Material von der Halbleiteroberfläche getrennter Leiterbahnen kh, hS und hG und in einer nahezu senkrechtenFig. 10 shows a part of a semiconductor body k z, Be of η-doped silicon in the doped p-with field effect transistors with an insulated gate electrode of the enhancement type and with a channel, the circuit of FIG. 8 is realized "The n-type semiconductor body ho contains a number p-surface zones hl, kZ and 4 3, while a crossbar system of conductor tracks is arranged on the surface of the body, the conductor tracks kh , hS and hG and in an almost vertical

509317/1043509317/1043

PHN.7186. 25.9.74.PHN.7186. 9/25/74.

-25- 2U7437-25- 2U7437

darauf stehenden Richtung verlaufende Leiterbahnen 47 gebildet wird. Die Leiterbahnen sind deutlichkeitshalber in der Figur schraffiert. Zwischen den nahezu parallelen Leiterbahnen 44, 45 und 46 und den Leiterbahnen 47 befindet sich eine Isolationsschicht.Conductor tracks 47 running thereon in the direction is formed. The conductor tracks are for the sake of clarity hatched in the figure. Located between the almost parallel conductor tracks 44, 45 and 46 and the conductor tracks 47 a layer of insulation.

In Fig. 8 haben die Transistoren jedes derIn Fig. 8, the transistors have each of the

Transistorpaare 2 und 3 bzw. 4 und 5» 10 und 11, 12 und eine gemeinsame Elektrodenzone, wobei diese Elektrodenzonen mit je dem gleichen Bezugspotential verbunden sind. In der integrierten Schaltung sind diese Elektrodenzonen als pro Matrixzeile durchgehende Zonen 4i ausgeführt. Am Rande der Matrix können diese Zonen 41 mit Hilfe einer schematisch angedeuteten Leiterspur 48 miteinander und mit einem Anschlusspunkt 49 für eine Versorgungsspaiinungsquelle verbunden werden,Transistor pairs 2 and 3 or 4 and 5 »10 and 11, 12 and a common electrode zone, these electrode zones each being connected to the same reference potential. In the integrated circuit, these electrode zones are designed as continuous zones 4i per matrix line. At the edge of the matrix, these zones 41 can with the help of a schematically indicated conductor track 48 with one another and with a connection point 49 for a supply voltage source get connected,

Veiter haben auch die Transistoren der Transistorpaare 3 und 6 bzw. 5 und 8, 10 und 7> 12 und 9 eine gemeinsame Elektrodenzone, In der integrierten Ausführung ist ausserdem ausgewertet, dass die gemeinsamen Elektrodenzonen der Paare 3 und 6 und 5 und 8 miteinander verbunden werden können, ohne dass dadurch die Wirkung der Speichermatrix nachteilig beeinflusst wird. Aus demselben Grunde können auch die gemeinsamen Elektrodenzonen der Paare 10 und 7 und 12 und 9 miteinander verbunden werden. In Fig. wird jede Zone 41 deswegen an beiden Seiten von·einerVeiter also have the transistors of transistor pairs 3 and 6 or 5 and 8, 10 and 7> 12 and 9 have a common electrode zone, in the integrated version it is also evaluated that the common electrode zones of pairs 3 and 6 and 5 and 8 are connected to one another without affecting the memory matrix is adversely affected. For the same reason, the common electrode zones of the pairs 10 and 7 and 12 and 9 are connected together. In Fig. therefore, each zone 41 becomes one on both sides

509817/1043509817/1043

PKN". 71 86.PKN ". 71 86.

gleichfalls durchgehenden Zone 42 flankiert.also flanked continuous zone 42.

Zwischen den Zonen 41 und 42 befinden sich an der Halbleiteroberflache grenzende Kanalbereiche, über die sich Gatterelektroden 44 erstrecken, Schematisch ist in der Fig. 10 angegeben, dass immer die beiden sich gegenüberliegenden Seiton jeder Zone 41 liegenden Gatterelektroden, z.B. am Rande der Speichermatrix, miteinander verbunden sind. Diese je zwei und zwei miteinander verbundenen Gatterelektroden bilden die Zeilenleiter X1, X2 usv,Between the zones 41 and 42 there are channel areas bordering the semiconductor surface the gate electrodes 44 extend, it is indicated schematically in FIG. 10 that the two always extend opposite side of each zone 41 lying gate electrodes, e.g. at the edge of the memory matrix. These two and two connected to each other Gate electrodes form the row conductors X1, X2 etc.

Schliesslich haben 'auch die Transistoren der Transistorpaare 6 und 7 bzw, S und 9 eine gemeinsame Elektrodenzone, Diese gemeinsamen Elektrodenzonen werden durch die Oberflächenzonen 43 gebildet und entsprechen den Punkten 16 und 18 nach Fig. 8, Zwischen den Zonen und 43 befinden sich Kanalbereiche, die mit Hilfe isolierter Gatterelektroden 45 und 46 gesteuert werden können. Dabei sind alle Gatterelektroden 45 am Rande der Matrix mit dem Ansteuerspaltenleiter i4 und alle Gatterelektroden 46 mit dem Ansteuerspaltenleiter 15 verbunden, wie schematisch angegeben ist.Finally, the transistors of the transistor pairs 6 and 7 or, S and 9 have one thing in common Electrode zone, these common electrode zones are formed by the surface zones 43 and correspond the points 16 and 18 of Fig. 8, between the zones and 43 there are channel areas which can be controlled with the aid of isolated gate electrodes 45 and 46. All of the gate electrodes 45 are at the edge of the matrix with the drive column conductor i4 and all of the gate electrodes 46 connected to the drive column conductor 15, as schematically is specified.

Der Dateninhalt der Speichermatrix wird dadurch bestimmt, dass die Zonen 43 mit den über je einer Spalte der Zonen 43 liegenden Leitern 47 verbunden sind oder nicht, welche Leiter die Spaltenleiter Ύ1, Y2 usw. bilden. So ist z.B. der Spaltenleiter Y1 über eine Oeffnung 50The data content of the memory matrix is determined by the fact that the zones 43 each have a column of the zones 43 lying conductors 47 are connected or not which conductors make up the column conductors Ύ1, Y2, etc. For example, the column conductor Y1 is via an opening 50

509817/1CU3509817 / 1CU3

PHN.7186.PHN.7186.

in der isolierenden Schicht mit der in der Mitte der Figur liegenden Zone 43 verbunden, während eine derartige Oeffnung über der benachbarten Zone 43 fehlt. Letztgenannte Zone 43 ist also nicht mit dem zugehörigen Spaltenleiter Ύ2 verbunden.in the insulating layer with the one in the middle of the Figure lying zone 43 connected, while such Opening above the adjacent zone 43 is missing. The latter zone 43 is therefore not associated with the associated one Column conductor Ύ2 connected.

Die beschriebene integrierte Schaltung kann vollständig auf die in der Halbleitertechnik übliche Weise hergestellt werden« Die Oberflächenzonen können z.B. durch Diffusion oder Ionenimplantation angebracht werden. Die isolierenden Schichten können z.B. aus Siliziumoxid und/oder Siliziumnitrid bestehen. Die Leiterbahnen sind z.B. aus Aluminium, Molybdän oder Halbleitermaterial, Mit Vorteil können die horizontal dargestellten Gatterelektroden aus polykristallinem Silizium bestehen, wobei die vertikal dargestellten Leiterspuren z.B. in Metall, wie Aluminium, ausgeführt werden können.The integrated circuit described can be completely based on that customary in semiconductor technology Ways to be manufactured «The surface zones can e.g. be attached by diffusion or ion implantation. The insulating layers can be made of silicon oxide, for example and / or silicon nitride. The conductor tracks are e.g. made of aluminum, molybdenum or semiconductor material, The gate electrodes shown horizontally can advantageously consist of polycrystalline silicon, wherein the conductor tracks shown vertically can, for example, be made of metal such as aluminum.

Statt p-Kanal-Feldeffekttransistoren können auch n-Kanal-Feldeffekttransistoren verwendet werden,Instead of p-channel field effect transistors you can also n-channel field effect transistors are used,

Auch das zweite Ausführungsbeispiel, dessen Schaltung in Fig. 9 dargestellt ist, kann als integrierte Schaltung ausgeführt werden. Es handelt sich''um eine ziemlich beliebig gewählte Lese/Schreibspeichermatrix inThe second exemplary embodiment, the circuit of which is shown in FIG. 9, can also be used as an integrated Circuit are executed. It is about a read / write memory matrix in

dem Sinne, dass im Rahmen der Erfindung die in der Matrix j in the sense that within the scope of the invention the in the matrix j

zu benutzende Speicherzelle nahezu frei aus den für Speicher bekannten Zellen, sowohl dynamische als auchmemory cell to be used almost freely from the cells known for memory, both dynamic and

50981 7/104350981 7/1043

PHN.7186. 25.9.7**.PHN.7186. 25.9.7 **.

statische, ausgewählt werden können. Dabei kommen ausser Speicherzellen mit Feldeffekttransistoren z.B. auch Speicherzellen mit bipolaren Transistoren in Betracht.static, can be selected. In addition to memory cells with field effect transistors, for example Memory cells with bipolar transistors into consideration.

In einem Lese/Schreibspeicher können bei jeder Speicherzelle Schalter auf analoge ¥eise realisiert werden wie beim ersten Ausführungsbeispiel beschrieben ist. Abhängig von der gewählten Speicherzelle können sie möglicherweise zu einem gemeinsamen Schalter mit einer Grosse von einer einzigen Zelle zusammengefügt werden, wie im vorangehenden Beispiel. Im nachstehenden Beispiel ist eine weitere Möglichkeit angewandt, wobei die Schalter seitlich von der Speichermatrix und zwischen der Matrix und dem Dekoder oder dem Abtastregister 20 (Fig. <?) angeordnet sind.In a read / write memory, switches can be implemented for each memory cell in an analogous manner to that described in the first exemplary embodiment. Depending on the memory cell chosen, they can possibly be combined into a common switch with a size of a single cell, as in the previous example. In the example below, a further possibility is applied, wherein the switch on the side of the memory array and between the matrix and the decoder or the scan register 20 (Fig. <?) Are arranged.

Der rechte Teil der integrierten Ausführungsfoin nach Fig. 11 zeigt eine übliche Speichermatrix mit Zellen vom Typ mit einem Transistor pro Bit. Die Transistoren sind Feldeffekttransistoren mit einer isolierten Gatterelektrode aus polykristallinem Silizium und für die Speicherkapazitäten ist die Kapazität zwischen einer isolierten polykristallinen Elektrode und einer darunter im Halbleiterkörper 60 gebildeten Inversionsschicht verwendet.The right part of the integrated execution form 11 shows a conventional memory array having cells of the one transistor per bit type. The transistors are field effect transistors with an insulated gate electrode made of polycrystalline silicon and for the storage capacity is the capacity between an isolated polycrystalline electrode and one below it Inversion layer formed in the semiconductor body 60 is used.

Der Halbleiterkörper 60 besteht z.B. aus η-dotiertem Silizium und ist z.B. an der Unterseite mitThe semiconductor body 60 consists, for example, of η-doped silicon and is, for example, on the underside with

509817/1043509817/1043

PIIN. 71 86. 25.9.74.PIIN. 71 86. 9/25/74.

einem schematisch angedeuteten Anschlusspunkt 61 versehen. An der Oberseite befindet sich eine isolierende Schicht auf der Halbleiteroberfläche, deren Dicke zwischen den strichpunktierten Linien 62 bedeutend geringer ist als ausserhalb dieser Linien, lieber eine isolierende Schicht erstrecken sich isolierte Elektroden 63 und 64 aus polykristallinem Silizium. Die Elektroden 63 sind am Rande der Matrix miteinander über den Leiter 65 verbunden. Sie bilden die mit einem Punkt mit Bezugspotential verbundenen Elektroden der Speicherkapazitäten 31 bis 3k (Fig. 9). Der Leiter 65 ist über den Anschlusspunkt 66 und eine Spannungsquelle 67 mit dem Anschlusspunkt 61 verbunden, wobei die Elektroden 63 in bezug auf den Halbleiterkörper ein negatives Potential führen, das gross genug ist, um an der Stelle, an der die isolierende Schicht dünn ist, unter jeder der Elektroden 63 in thermischem Gleichgewicht eine Anzahl voneinander getrennter Inversionsschichten zu bilden. Jede dieser Inversionsschichten schliesst sich an einer Seite im Halbleiterkörper an eine p-Elektrodenzone 68 eines Feldeffekttransistors an, dessen andere -p-Elektrodenzone 69 mit einer Leiterbahn 70 verbunden ist. Jede Zone 69- ist den zwei benachbarten Transistoren der Speicherzellen angrenzender Teile gemeinsam. Für die Verbindung mit der betreffenden Leiterbahn 70 ist eine Oeffnung 71 in der isolierenden Schicht vorhanden.a schematically indicated connection point 61 is provided. At the top there is an insulating layer on the semiconductor surface, the thickness of which between the dash-dotted lines 62 is significantly less than outside these lines; rather an insulating layer, insulated electrodes 63 and 64 made of polycrystalline silicon extend. The electrodes 63 are connected to one another via the conductor 65 at the edge of the matrix. They form the electrodes of the storage capacitors 31 to 3k connected to a point with reference potential (FIG. 9). The conductor 65 is connected to the connection point 61 via the connection point 66 and a voltage source 67, with the electrodes 63 having a negative potential with respect to the semiconductor body which is large enough to enable the point at which the insulating layer is thin, to form a number of mutually separate inversion layers under each of the electrodes 63 in thermal equilibrium. Each of these inversion layers adjoins a p-electrode zone 68 of a field effect transistor on one side in the semiconductor body, the other -p-electrode zone 69 of which is connected to a conductor track 70. Each zone 69- is common to the two adjacent transistors of the memory cells of adjacent parts. An opening 71 is provided in the insulating layer for the connection to the relevant conductor track 70.

5 0-98 17/104 3 .5 0-98 17/104 3.

PHN.7186.PHN.7186.

Die Leiterbahnen 70 bilden Spaltenleiter YI, Y2 usw, der Speicherraatrixt In einer Richtung senkrecht darauf stehen die Gatterelektroden 6h der Transistoren 68, 6h, 69t die gleichfalls die Zeilenleiter X1 , X2, X3 usv. bilden« Deutlichkeitshalber sind die in verschiedenen Richtungen verlaufenden voneinander getrennten Leiterbahnen in der Figur in verschiedenen Richtungen schraffiert.The conductor tracks 70 form column conductors YI, Y2, etc., of the memory matrix t . The gate electrodes 6h of the transistors 68, 6h, 69t, which likewise the row conductors X1, X2, X3, etc., are located perpendicular to them. For the sake of clarity, the separate conductor tracks running in different directions are hatched in different directions in the figure.

Im linken Teil der Fig. 11 ist angegeben, wie die Schalter 23 bis 27 nach Fig. 9 z.B. integriert werden können. Nahe dem linken Rand der Figur erstrecken sich Leiterbahnen 72, die die Leiter X1, X2 usw. nach Fig. bilden. Die Leiterbahnen 72 sind über Oeffnungen 73 in der isolierenden Schicht mit Elektrodenzonen 7^· vom p-Typ verbunden, die je für zwei Feldeffekttransistoren gemeinsam sind. Die Gatterelektroden dieser Transistoren werden durch die Leiterbahnen 75 und 76 gebildet, die den Ansteuerspaltenleitern 21 und 22 nach Fig. 9 entsprechen. An der Stelle der Ivanalb er ei ehe dieser Transistoren sind mit einer strichpunktierten Linie 77 angedeutete dünne Teile der isolierenden Schicht vorhanden. Die betreffenden Feldeffekttransistoren haben weiter Elektrodenzonen 78, die ebenfalls je für zwei Transistoren gemeinsam sind. Dabei ist jedoch im Vergleich zu den gemeinsamen Zonen lh eine Verschiebung angewandt, so dass jede der Zonen lh mit Hilfe der Gatterelektrode 75 mit einer ersten derIn the left part of FIG. 11 it is indicated how the switches 23 to 27 according to FIG. 9 can be integrated, for example. Conductor tracks 72, which form the conductors X1, X2, etc. according to FIG. 1, extend near the left edge of the figure. The conductor tracks 72 are connected via openings 73 in the insulating layer to electrode zones 7 ^ · of the p-type, which are each common to two field effect transistors. The gate electrodes of these transistors are formed by the conductor tracks 75 and 76, which correspond to the drive column conductors 21 and 22 of FIG. At the location of the transistors before these transistors, thin parts of the insulating layer indicated by a dash-dotted line 77 are present. The field effect transistors concerned also have electrode zones 78 which are also common to two transistors. In this case, however, a shift is applied compared to the common zones lh , so that each of the zones lh with the aid of the gate electrode 75 with a first of the

509817/1043509817/1043

PHN.7186.PHN.7186.

Zonen 78 und mit Hilfe der Gatterelektrode 76 mit einer benachbarten zweiten Zone 78 verbunden werden kann. Jede der Elektrodenzonen 78 ist über eine Leitschicht 79 und Oeffnimgen 80 in der isolierenden Schicht mit einer der Leiterbahnen 6h und somit mit einem Zeilenleiter der Speichermatrix verbunden.Zones 78 and can be connected to an adjacent second zone 78 with the aid of the gate electrode 76. Each of the electrode zones 78 is connected to one of the conductor tracks 6h and thus to a row conductor of the memory matrix via a conductive layer 79 and openings 80 in the insulating layer.

Die Leitschichten 80 und die Leiterbahnen 72, und 76 können z.B. aus Aluminium oder einem anderen geeigneten Metall bestehen. Die Feldeffekttransistoren im linken Teil der Figur sind dann in einer anderen Technologie ausgeführt als die in die Speichermatrix aufgenommenen Transistoren, Es ist jedoch auch möglich, die Leiterbahnen 75 und 76 in polykristallinem Silizium auszuführen und die Feldeffekttransistoren im linken Teil mit der gleichen selbstausrichtenden Technologie wie vorzugsweise in der Speichermatrix angewandt, herzustellen.The conductive layers 80 and the conductor tracks 72, and 76 may, for example, be made of aluminum or some other suitable Made of metal. The field effect transistors in the left part of the figure are then in a different technology executed as those recorded in the memory matrix Transistors, however, it is also possible to implement the conductor tracks 75 and 76 in polycrystalline silicon and the field effect transistors in the left part with the same self-aligning technology as preferably in the Memory matrix applied to produce.

Im beschriebenen Beispiel sind die Leiter XO, X1,In the example described, the conductors XO, X1,

X2 usw, mit einer Elektrodenzone Jh verbunden und der zumX2, etc., connected to an electrode zone Jh and that of the

ι ιι ι

Auf- und Entladen der Spaltenleiter X1, X2 usw. benötigte Strom muss über diese Leiter XO, X1 usw. fliessen. Bei einer Abwandlung dieses Beispiels sind die Elektrodenzonen 7^ nicht direkt angeschlossen und dieser Zone gegenüber befindet sich noch eine langgedehnte, sich in der Spaltenrichtung erstreckende p-Oberflächenzone, die mit einer Versorgungs- oder Taktspannungsquelle verbunden ist.Charging and discharging of the column conductors X1, X2, etc. required Current must flow through these conductors XO, X1 etc. In a modification of this example, the electrode zones are 7 ^ not directly connected and opposite this zone there is still an elongated, p-surface zone extending in the column direction, which with a supply or clock voltage source is connected.

509817/1043509817/1043

PHN.7186. 25.9.7^.PHN.7186. 25.9.7 ^.

Diese Oberflächenzone bildet mit jeder der Zonen 74 einen weiteren Feldeffekttransistor, dessen Gatterelektrode dabei durch den zugehörigen Leiter XO, bzw, X1 usw. gebildet wird. Auf diese Weise durchfliessen die oben erwähnten Aufladeströme nicht den Dekoder oder das Abtastregister, sondern den Takt Spannungsanschluss. Dies kann z.B. für die Geschwindigkeit günstig sein. Weiter können für die Feldeffekttransistoren, die als Schalter 23 bis 25 dienen, Transistoren mit einem grösseren Verhältnis der Kanalbreite zur Kanallänge einfach verwirklicht werden, wenn die Kanalbereiche in bezug auf die in Fig. 11 dargestellte Situation um eine Vierteldrehung verschoben wird. Die Schalter werden dann z.B. durch -eine Zeile nebeneinander liegender Oberflächenzonen gebildet, die reihum den Zonen 74 und 73 nach Fig. 11 entsprechen. Dabei erstrecken sich die Gatterelektroden zwischen diesen Zonen und parallel zu den Leiterspuren 64. Die quer zu diesen Gatterelektroden verlaufenden Ansteuerspaltenleiter können jetzt zwischen den Schaltern und der Matrix von Speicherzellen angeordnet werden. Diese Topologie bietet die Möglichkeit namentlich die Kanalbreite der Feldeffekttransistoren einfach dor Speichermatrix zu stellenden' Geschwindigkeitsanforderungen anzupassen.This surface zone forms one with each of the zones 74 another field effect transistor, its gate electrode is formed by the associated conductor XO, or X1, etc. In this way flow through the above mentioned Charging currents do not affect the decoder or the scan register, but the clock voltage connection. This can be beneficial for speed, for example. Next can for the Field effect transistors that serve as switches 23 to 25, Transistors with a larger ratio of the channel width to the channel length can be easily realized when the channel areas with respect to that shown in FIG Situation is shifted a quarter turn. The switches are then e.g. by -a row next to each other lying surface zones formed, which in turn the Zones 74 and 73 of FIG. 11 correspond. In doing so, extend the gate electrodes are between these zones and parallel to the conductor tracks 64. The ones transverse to these Gate electrodes running drive column conductors can can now be arranged between the switches and the matrix of memory cells. This topology offers the Possibility, in particular, of the channel width of the field effect transistors simply to be placed in the memory matrix ' Adapt speed requirements.

509817/1043509817/1043

Claims (1)

PHX47186. 25.9.7^.PHX 4 7186. 9/25/7 ^. -33- 24Λ743?-33- 24,743? PATENTANSPKUECHE: PATENT KITCHEN : 1, Anordnung nit mindestens einer Speichermatrix mit Speicherelementen an Kreuzungen von Zeilen und Spalten, wobei bei mindestens einer Zeile für mindestens ein zu dieser Zeile gehörendes Speicherelement und für mindestens ein zu einer entfernteren Zeile gehörendes Speicherelement erste und zweite Wählmittel vorgesehen sind, mit denen beim Auswählen dieser Zeile nach Bedarf das mindestens eine zu dieser Zeile gehörende Speicherelement oder das mindestens eine zur entfernteren Zeile gehörende Speicherelement auswählbar und weiter1 an einer ersten Klemme der ersten Vählmittel ein Ansteuersignal und an einer zweiten Klemme der zweiten ¥ählmittel das Komplement des Anstetiersignals empfangbar sind, dadurch gekennzeichnet, dass eine Ansteueranordnung vorgesehen ist, in der auf der Basis eines Einschritt-INliREMENT-Bef ehls und/oder eines v Einschritt-DEKREMENT-Befehls das erwähnte Ansteuersignal bestimmbar ist.1, arrangement with at least one memory matrix with memory elements at intersections of rows and columns, with at least one row for at least one memory element belonging to this row and for at least one memory element belonging to a more distant row first and second selection means being provided with which when selecting this row the at least one belonging to this line memory element or at least one belonging to the distant line memory element and further 1 to a first terminal of the first Vählmittel a drive signal and at a second terminal of the second ¥ the complement of the Anstetiersignals ählmittel be received can be selected as required, characterized in that a drive arrangement is provided in which on the basis of a one-INliREMENT-Cmd Ehls and / or a v-step decrement command, the mentioned drive signal can be determined. 2, Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die erwähnte Ansteueranordnung ein Teil eines Rechenwerkes und das erwähnte Ansteuersignal ein Uebertragungssignal ist,2, arrangement according to claim 1, characterized in that said control arrangement is part of a Arithmetic unit and the aforementioned control signal a transmission signal is, 3« Anordnung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass die erwähnte Speichermatrix eine3 «arrangement according to claims 1 and 2, characterized in that the aforementioned memory matrix a 509817 /10 43-509817/10 43- PHN.71 86. - 3h - 25.9.1h, PHN.71 86th - 3h - 25.9.1h, Fest\vertspeichermatrix ist, in der mit den ersten Vählmitteln eine Zeile und mit den zweiten Wählmitteln die folgende Zeile auswählbar ist und wobei die Ansteueranordnung durch eine zweite Festwertspeichermatrix gebildet ist, in der eine der Spalten eine Uebertragungssignalsamraelspalte ist und wobei die erwähnten ersten und zweiten Speichermatrizen mit je einem als Adressenselektor dienenden Abtastregister zusammen ein Addier-Subtrahier-Rechenwerk bilden,Fixed storage matrix is in the one with the first selection means one line and the following line can be selected with the second selection means and wherein the control arrangement is formed by a second read-only memory matrix in which one of the columns is a transmission signal column and wherein said first and second memory matrices each with one as an address selector serving scanning register together an add-subtract arithmetic unit form, h, Speichermatrix für eine Anordnung nach Anspruch 1, 2 oder 3» dadurch gekennzeichnet, dass die ersten Wählmittel allen zu einer Zeile gehörenden Speicherelementen und die zweiten Wählmittel allen zu einer entfernteren Zeile gehörenden Speicherelementen gemeinsam sind. 5. Speichematrix für eine Anordnung nach Anspruch 1, 2 oder 3» dadurch gekennzeichnet, dass die ersten ■Wählmittel zeilenweise.über einen gemeinsamen Unterzeilenleiter mit einer allen ersten Wählmitteln gemeinsamen ersten Ansteuerspalte und die zweiten Wählmittel zeilenweise über einen zweiten gemeinsamen Unterzeilenleiter mit einer allen zweiten Wählmitteln gemeinsamen Ansteuerspalte verbilnden. sind, wobei die Unterzeilenleiter mit den Zeilen und die Ansteuerspalten z;u den Spalten der Speichermatrix parallel verlaufen, 6» Speichermatrix nach Anspruch h, dadurch gekennzeichnet, dass die ersten Wählmittel mit einer allen h, memory matrix for an arrangement according to claim 1, 2 or 3 »characterized in that the first selection means are common to all memory elements belonging to a row and the second selection means are common to all memory elements belonging to a more distant row. 5. Memory matrix for an arrangement according to claim 1, 2 or 3 »characterized in that the first ■ selector means row by line via a common subline conductor with a first control column common to all first selection means and the second selection means row by row via a second common subline conductor with a second Selector means connecting common control column. are, the sub-row conductors with the rows and the drive columns z ; u the columns of the memory matrix run parallel, 6 »memory matrix according to claim h, characterized in that the first selection means with all 509817/1043509817/1043 PIIN. 71 86. 25.9.74.PIIN. 71 86. 9/25/74. ersten ¥ählmitteln gemeinsamen ersten Ansteuerspalte und die zweiten Vählmittel mit einer allen ΖΛ^βίΐβη Wählmitteln gemeinsamen Ansteuerspalte verbunden sind und die Ansteuerspalten zu den Spalten der Speichermatrix parallel verlaufen.first ¥ ählmittel common first control column and the second dialing means with one of all ΖΛ ^ βίΐβη dialing means common drive column are connected and the drive columns to the columns of the memory matrix run parallel. 7» Speichermatrix nach einem oder mehreren der Ansprüche h bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die entferntere Zeile eine benachbarte (folgende, vorangehende) Zeile der Matrix ist,7 »Memory matrix according to one or more of claims h to 6, characterized in that the more distant row is an adjacent (following, preceding) row of the matrix, 8, Speichermatrix nach einem oder mehreren der Ansprüche 4 bis 7» dadurch gekennzeichnet, dass die Matrix in einer Festkörperintegrationstechnik ausgeführt ist.8, memory matrix according to one or more of claims 4 to 7 »characterized in that the Matrix is executed in a solid state integration technology. 50981 7/1 (K 350981 7/1 (K 3
DE19742447437 1973-10-11 1974-10-04 ARRANGEMENT WITH MEMORY MATRIX Withdrawn DE2447437A1 (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL7313983A NL7313983A (en) 1973-10-11 1973-10-11 MEMORY.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2447437A1 true DE2447437A1 (en) 1975-04-24

Family

ID=19819798

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19742447437 Withdrawn DE2447437A1 (en) 1973-10-11 1974-10-04 ARRANGEMENT WITH MEMORY MATRIX

Country Status (6)

Country Link
JP (1) JPS5551271B2 (en)
CA (1) CA1018665A (en)
DE (1) DE2447437A1 (en)
FR (1) FR2247787B1 (en)
GB (1) GB1490524A (en)
NL (1) NL7313983A (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62271297A (en) * 1986-05-20 1987-11-25 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor integrated circuit device

Also Published As

Publication number Publication date
CA1018665A (en) 1977-10-04
JPS5551271B2 (en) 1980-12-23
JPS5067527A (en) 1975-06-06
FR2247787A1 (en) 1975-05-09
FR2247787B1 (en) 1979-06-08
GB1490524A (en) 1977-11-02
NL7313983A (en) 1975-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2101431C3 (en)
DE2222521C3 (en) N-stage ring counter
DE3207210A1 (en) MONOLITHIC STORAGE DEVICE
DE4107889A1 (en) SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE WITH SEVERAL PORTS
DE2740700C3 (en)
DE3432973C2 (en)
DE2608119A1 (en) CIRCUIT FOR SCANNING AND REFRESHING A SEMI-CONDUCTOR MEMORY
DE2261786C3 (en)
DE1957935A1 (en) Electrical storage circuit
DE1499673B2 (en) Binary multi-stage shift register
DE1512390B2 (en) LINK WITH A BRIDGE CIRCUIT
DE2706807A1 (en) DEVICE AND METHOD OF PROCESSING INFORMATION IN THE FORM OF DIGITAL SIGNALS
DE1959870C3 (en) Capacitive memory circuit
DE2325922C2 (en) Memory arrangement made up of shift registers with dynamic rearrangement
DE3433820A1 (en) LOGICAL CIRCUIT WITH BIPOLAR TRANSISTORS
DE2000683A1 (en) Read-only memory
DE2461088A1 (en) LOGICAL LINK WITH HIGH WORKING SPEED AND DECODING CIRCUIT BUILT UP WITH IT FOR A BIPOLAR MEMORY WITH DIRECT ACCESS
DE2415600A1 (en) MEMORY FOR THE DATA PROCESSING SYSTEM AND METHODS FOR DATA PROCESSING
DE2153284A1 (en) Storage matrix
EP0012841B1 (en) Row-column-addressable memory with serial-parallel-serial configuration
DE1966852A1 (en) STORAGE UNIT WITH A CAPACITIVE STORAGE DEVICE
DE2447437A1 (en) ARRANGEMENT WITH MEMORY MATRIX
EP0012840B1 (en) Line-addressable memory with serial-parallel-serial configuration
DE3132082C2 (en)
DE2544434A1 (en) Rapid switching LSI circuitry - has clock pulses to consecutive FET stages mutually inverse for binary signal processing

Legal Events

Date Code Title Description
OD Request for examination
8139 Disposal/non-payment of the annual fee