JPS62271297A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device

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Publication number
JPS62271297A
JPS62271297A JP61115003A JP11500386A JPS62271297A JP S62271297 A JPS62271297 A JP S62271297A JP 61115003 A JP61115003 A JP 61115003A JP 11500386 A JP11500386 A JP 11500386A JP S62271297 A JPS62271297 A JP S62271297A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
address
decoder circuit
decoder
output terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61115003A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Satoru Kishida
悟 岸田
Kazuhiro Sakashita
和広 坂下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
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Publication of JPS62271297A publication Critical patent/JPS62271297A/en
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  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make access to an address obtained by adding and subtracting the number of the various addresses according to a control signal with respect to the original address outputted by a circuit by connecting selecting circuits consisting of MOS transistor groups respectively to the output terminals of a decoder circuit. CONSTITUTION:In the decoder circuit 2, one output terminal of the plural output terminals O-1-O-n is selected by input signals (I-1)-(I-l). If the k-th output terminal O-k is selected, one of four word lines 1-k-1, 1-k, 1-k+1, 1-k+2 is brought into an active state through the selector circuit 6-k connected to the output terminal O-k. The control signals P-1, P+0, P+1, P+2 control it and only one of the four signals goes to 'H', thereby, one of the four transistors 6-k, 1-6-k, 4 is conductive and any one of the addresses of the values obtained by adding -1, 0, +1, +2 to the original address designated by the decoder circuit 2 is designated.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は、半導体集積回路装置からなる半導体記憶装置
に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor memory device comprising a semiconductor integrated circuit device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のこの種の半導体記憶装置を第2図を用いて説明す
る。
A conventional semiconductor memory device of this type will be explained with reference to FIG.

第2図は、例えばmビット×nワードの従来の記憶装置
の一例である。図中、ワード線1−1〜1−nがアドレ
スデコーダ2に接続され、各ワード線には、それぞれm
個の記憶セル3が接続されている。従って記憶セルがm
xn個集まった記憶装置となっている。この記憶セルの
内、ワード線1−1に接続された記憶セル群を1番地と
し、この1番地の各ビットを構成する記憶セルを3−1
゜1.3−1.2 、・・・、3−1.mと付番する。
FIG. 2 shows an example of a conventional memory device of, for example, m bits×n words. In the figure, word lines 1-1 to 1-n are connected to an address decoder 2, and each word line has m
memory cells 3 are connected. Therefore, the memory cell is m
It is a storage device containing xn pieces. Among these memory cells, the memory cell group connected to the word line 1-1 is designated as address 1, and the memory cells constituting each bit of this address 1 are designated as 3-1.
゜1.3-1.2,...,3-1. Number it m.

以下、ワード線1−2.1−3、・・・、l−nにそれ
ぞれ接続され記憶セル群を2番地、3番地、・・・、n
番地とし、各記憶セル群の記憶セルも上記1番地の場合
と同様に付番する。例えばに番地の各記憶セル群の各記
憶セルは3−に、1.3−に、2.3−k。
Hereinafter, the memory cell groups connected to word lines 1-2, 1-3, . . . , l-n are located at addresses 2, 3, .
The memory cells of each memory cell group are also numbered in the same manner as the case of address 1 above. For example, each memory cell of each memory cell group with an address is 3-, 1.3-, and 2.3-k.

3、・・・、3−に、mである。各記憶セル群の同一ビ
ット毎の記憶セルは共通なビ・ノド線4−1〜4−mに
接続されている。そしてそのビット線は入出力用のバッ
ファ回路5に接続されており、このバッファ回路5を介
して、他の回路、例えばALU(図示せず)との間でデ
ータのやりとりが行われる。
3,..., 3-, m. Memory cells for each same bit in each memory cell group are connected to common bit/node lines 4-1 to 4-m. The bit line is connected to an input/output buffer circuit 5, and data is exchanged with other circuits such as an ALU (not shown) via this buffer circuit 5.

次に動作について説明する。Next, the operation will be explained.

このように構成されるmビフト×nワードのランダムア
クセス記憶装置では記憶されたデータの読出しは、アド
レスデコーダ2を介して、この記憶装置に与えられる番
地信号が指定する番地の記憶セル群のデータを共通なビ
ット線4−1〜4−mを介して出カバソファに出力する
。また書き込みデータも同様に各番地に共通なピッ)&
?14 1〜4−mを介して記憶される。
In the m-bit x n-word random access storage device configured in this way, the stored data is read out via the address decoder 2, and the data in the storage cell group at the address specified by the address signal applied to the storage device is read out. is output to the output sofa via common bit lines 4-1 to 4-m. In addition, the write data is also the same for each address.
? 14 1 to 4-m.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

以上のように構成された半導体記憶回路を備える半導体
集積回路において、記憶データを読み書きする時はデコ
ーダ回路によりアクセスする番地をI指定するが、この
時ある制御信号が特定値になった時のみ本来の番地に一
定数を加減算した値の番地にアクセスしたい場合がある
。この時従来の半導体記憶回路では、デコーダ回路の前
に加減算器を設ける必要があり、回路が複雑で多くのチ
ップ面積を必要とする結果となった。
In a semiconductor integrated circuit equipped with a semiconductor memory circuit configured as described above, when reading or writing stored data, the address to be accessed is specified by the decoder circuit, but at this time, only when a certain control signal becomes a specific value There are cases where you want to access an address that is the result of adding or subtracting a certain number from the address. At this time, in the conventional semiconductor memory circuit, it is necessary to provide an adder/subtractor before the decoder circuit, resulting in a complicated circuit and a large chip area.

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、デコーダ回路の前に加減算器を設けなくとも
、制御信号が特定値になった時のみ、本来のアドレス指
定番地に一定数を加減算した値の番地にアクセスするこ
とのできる半導体記憶回路を得ることを目的とする。
This invention was made to solve the above-mentioned problems, and only when the control signal reaches a specific value, a fixed number is sent to the original address specified address without the need to provide an adder/subtracter in front of the decoder circuit. An object of the present invention is to obtain a semiconductor memory circuit that can access an address of a value obtained by adding or subtracting .

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係る半導体記憶装置は、各々のデコーダ出力
端子に複数のMOSトランジスタのソース、ドレイン端
子を接続し、他方の各々のソース。
In the semiconductor memory device according to the present invention, the source and drain terminals of a plurality of MOS transistors are connected to each decoder output terminal, and the source and drain terminals of each of the other MOS transistors are connected to each decoder output terminal.

ドレイン端子をワード線に接続し、ゲート電極に制?1
′ll信号を接続し、各デコーダ出力端子が、複数のM
OSトランジスタを介して複数のワード線のいずれかに
分岐できるようにしたものである。
Connect the drain terminal to the word line and connect it to the gate electrode? 1
'll signal is connected, and each decoder output terminal connects multiple M
This allows branching to any one of a plurality of word lines via an OS transistor.

〔作用〕[Effect]

この発明においては、デコーダ回路の出力端子と複数の
ワード線の各々との間に設けられたMOSトランジスタ
により、デコーダ回路の出力端子と、それが指定する番
地に対し制御信号が示す一定番地数を加減算した番地を
指定するワード線とを連結する。
In this invention, a MOS transistor provided between the output terminal of the decoder circuit and each of the plurality of word lines allows the output terminal of the decoder circuit and the address specified by the MOS transistor to output a certain number of addresses indicated by the control signal. Connect it to the word line that specifies the address that has been added or subtracted.

〔実施例〕〔Example〕

以下この発明の一実施例を図について説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例による半導体集積回路装置を
示し、本装置はmビット×nワード構成の記憶装置の一
例であり、4つの制御信号により、デコーダ回路から出
力される本来の番地に対し、3種類の加減算を施した番
地へ移行可能なものである。図中、ワード線1−1〜l
−nはセレクタ回路(選1尺回路)6−1〜G−nを介
してデコーダ回路2に接続され、各ワード線にはm個の
記憶セル3から成る記憶セル群が接続されている。7は
プルアフブ用のn型のディプレッション型トランジスタ
である。この記憶セル群の内ワード線1−1に接続され
た記憶セル群を1番地とし、この1番地の各ビットを構
成する記憶セルを3−1.1.3−1.2 、・・・、
3−1.mと付番する。以下ワード線1−2.1−3、
・・・、1−nにそれぞれ接続された記憶セルを2番地
、3番地、・・・、n番地とし、各記憶セル群の記憶セ
ルも上記の1番地の場合と同様に付番する。各番地の記
憶セル群の同一ビット毎の各々の記憶セルは共通なビッ
ト線4−1〜74−mに接続される。セレクタ回路6−
1〜6−nは、各々4個のn型エンハンスメント型MO
Sトランジスタから構成され、例えば、k番目のセレク
タ6−にはMOSトランジスタ6−に、l、6−に、2
.6−に、3.6−に、4から構成され、各々のソース
又はドレイン端子はデコーダ回路2の出力端子○−kに
接続され、ドレイン又はソース端子は各々に−1、k、
に+l、に+2番地を指定するワード線1−に−1,1
−k 、  1−に+1.1−に+2に接続される。た
だし、各選択回路において自番地に−1,O,+1.+
2の加算を行なって求める選択すべき番地としては、n
番地の次は1番地がこれに連続するものと考え、例えば
、n番目のセレクタ6−nのドレイン又はソース端子は
、各々n−1、n、1.2番地を指定するワード線1−
n−1,1−n 、  1−1.1−2に接続される。
FIG. 1 shows a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention. This device is an example of a memory device with an m-bit x n-word configuration, and the original address output from the decoder circuit is determined by four control signals. , it is possible to move to an address that has been subjected to three types of additions and subtractions. In the figure, word lines 1-1 to l
-n is connected to the decoder circuit 2 via selector circuits (selection circuits) 6-1 to G-n, and a memory cell group consisting of m memory cells 3 is connected to each word line. Reference numeral 7 denotes an n-type depletion type transistor for pull-off. Of this memory cell group, the memory cell group connected to the word line 1-1 is designated as address 1, and the memory cells constituting each bit of this address 1 are designated as 3-1.1.3-1.2, . . . ,
3-1. Number it m. Below word line 1-2.1-3,
. . , 1-n, respectively, are designated as addresses 2, 3, . Each memory cell of the same bit in the memory cell group at each address is connected to a common bit line 4-1 to 74-m. Selector circuit 6-
1 to 6-n are each four n-type enhancement type MOs.
For example, the k-th selector 6- has MOS transistors 6-, l, 6-, 2
.. 6-, 3.6-, and 4, each source or drain terminal is connected to the output terminal ○-k of the decoder circuit 2, and the drain or source terminal is connected to -1, k, and 4, respectively.
-1, 1 to word line 1-, which specifies +l and +2 addresses.
-k, 1- is connected to +1. 1- is connected to +2. However, in each selection circuit, the own address is -1, O, +1. +
The address to be selected by adding 2 is n
It is assumed that the next address is the 1st address, and for example, the drain or source terminal of the n-th selector 6-n is connected to the word line 1-1, which specifies addresses n-1, n, and 1.2, respectively.
Connected to n-1, 1-n, 1-1.1-2.

また各々のセレクタ回路を構成する4つずつのMOSト
ランジスタのゲート1!極は各々制御信号P−1、p+
o、p+1、P+2が接続されている。
Also, gate 1 of each of the four MOS transistors constituting each selector circuit! The poles are control signals P-1 and p+, respectively.
o, p+1, and P+2 are connected.

次に動作について説明する。第1図において、デコーダ
回路2では入力信号T−1〜I−1により、複数の出力
端子0−1〜O−nの内1本の出力端子が選択される。
Next, the operation will be explained. In FIG. 1, in the decoder circuit 2, one output terminal among a plurality of output terminals 0-1 to O-n is selected by input signals T-1 to I-1.

仮にに番目の出力端子0−に′lJ<選択されたとする
と、出力端子0−kに接続されたセレクタ回路6−kを
介して、4本のワード線1−に−1,1−k 、1−に
+1.1−に+2の内の1本がアクティブ状態になる。
If 'lJ< is selected for the output terminal 0-, then -1, 1-k, -1, 1-k, and One of 1-+1 and 1-+2 becomes active.

これを制御するのが制御信号P−1、p+o、P+1、
P+2であり、4つの信号の内のいずれか1つのみが“
H5になることにより、それに応じて4つのトランジス
タ6−に、1〜6−に、4の内の1個が導通状態になり
、デコーダ回路2で指定された本来の番地kに対し、−
1,O,+1.+2を加算した値の番地のいずれかが指
定されることになる。そしてそのワード線に接続された
記憶セル群の内容がビットvA4−1〜4−mと、入出
力バッファ5を介して読み書きされる。
Control signals P-1, p+o, P+1,
P+2, and only one of the four signals is “
By becoming H5, one of the four transistors 6-, 1 to 6-, becomes conductive, and - to the original address k specified by the decoder circuit 2.
1, O, +1. One of the addresses of the value obtained by adding +2 will be specified. The contents of the memory cell group connected to that word line are read and written to bits vA4-1 to vA4-m via the input/output buffer 5.

なお、上記実施例ではデコーダ回路で指定された本来の
番地に対して、−1,0、+1、+2のいずれかを加算
した番地をアクセスできるように構成したが、加算する
値、及び本来の番地から他の番地へ分岐する数は任意に
設定できる。
Note that in the above embodiment, the address obtained by adding -1, 0, +1, or +2 to the original address specified by the decoder circuit is configured to be accessible. The number of branches from one address to another address can be set arbitrarily.

また、上記実施例では各選択回路において選択すべき番
地としては1番地と最終番地が連続するものとして、1
つのループを描くように構成したが、これは途中のある
番地と1番地とが、また咳ある番地の次の番地と最終番
地とが連続するものとして2つのループを薄くようにし
てもよく、さらにループの数を増やすことも可能である
In addition, in the above embodiment, the addresses to be selected in each selection circuit are assumed to be 1 and the last address are consecutive.
Although the configuration is made so that two loops are drawn, the two loops may be made thinner so that a certain address in the middle and the first address are continuous, and the next address after the coughing address and the last address are continuous. It is also possible to further increase the number of loops.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、この発明に係る半導体集積回路装置によ
れば、デコーダ回路の出力端子のおのおのにそれぞれM
OSトランジスタ群による選択回路を接続したので、デ
コーダ回路の出力する本来の番地に対し、制御信号に応
じて種々の番地数を加減算した番地をアクセスできる半
導体記憶装置をデコーダ回路の前に加減算器を設けるこ
となく、容易に実現できる効果がある。
As described above, according to the semiconductor integrated circuit device according to the present invention, each of the output terminals of the decoder circuit has M
Since a selection circuit using a group of OS transistors is connected, an adder/subtracter is installed in front of the decoder circuit to provide a semiconductor memory device that can access addresses obtained by adding and subtracting various numbers of addresses according to control signals to the original address output by the decoder circuit. There is an effect that can be easily achieved without providing any.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例による半導体集積回路によ
る記憶装置を示す図、第2図は従来のmビットXnワー
ドの半導体記憶装置を示す図である。 1−1〜l−n・・・ワード線、2・・・アドレスデコ
ーダ、3−Ll〜3−n、m・・・記憶セル、4−1〜
4−m・・・ビット線、5・・・人出カバソファ回路、
6−1〜6− n−・・セレクタ回路、6−に、1〜6
−k。 4・・・MOSトランジスタ。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a diagram showing a memory device using a semiconductor integrated circuit according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing a conventional m-bit Xn word semiconductor memory device. 1-1~ln...word line, 2...address decoder, 3-Ll~3-n, m...memory cell, 4-1~
4-m...bit line, 5...popular cover sofa circuit,
6-1 to 6-n-...Selector circuit, 1 to 6 to 6-
-k. 4...MOS transistor. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)複数の基本記憶回路から成り1つの番地と1つの
ワード線を有する記憶回路群が複数集まって構成される
記憶領域と、 上記記憶回路群の番地のうちの特定の番地を選択するた
めのデコーダ回路と、 該デコーダ回路の出力信号の番地に制御信号群により決
定される一定番地数を加減算した番地の前記記憶回路群
を選択する上記デコーダ回路の各出力信号に対応して設
けられた選択回路とを備えたことを特徴とする半導体集
積回路装置。
(1) A storage area consisting of a plurality of memory circuit groups each consisting of a plurality of basic memory circuits and having one address and one word line, and for selecting a specific address from among the addresses of the memory circuit group. a decoder circuit, and a decoder circuit provided corresponding to each output signal of the decoder circuit that selects the memory circuit group at an address obtained by adding or subtracting a fixed number of addresses determined by the control signal group to the address of the output signal of the decoder circuit. A semiconductor integrated circuit device comprising a selection circuit.
(2)前記選択回路は、複数のMOSトランジスタから
なり、該複数のMOSトランジスタはそのソース又はド
レイン端子を共通接続されて前記デコーダ回路の1つの
出力端子に接続され、上記MOSトランジスタの各々の
ドレイン又はソース端子は、各々のワード線に接続され
、各々のゲート電極には前記制御信号群の各々が接続さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
半導体集積回路装置。
(2) The selection circuit is composed of a plurality of MOS transistors, the source or drain terminals of the plurality of MOS transistors are commonly connected to one output terminal of the decoder circuit, and the drain terminal of each of the MOS transistors is connected to one output terminal of the decoder circuit. 2. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the source terminal is connected to each word line, and each of the control signal groups is connected to each gate electrode.
JP61115003A 1986-05-20 1986-05-20 Semiconductor integrated circuit device Pending JPS62271297A (en)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5067527A (en) * 1973-10-11 1975-06-06

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5067527A (en) * 1973-10-11 1975-06-06

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