DE2440552B2 - Einrichtung zur optischen echtheitspruefung von banknoten und anderen wertzeichen - Google Patents
Einrichtung zur optischen echtheitspruefung von banknoten und anderen wertzeichenInfo
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Description
Al
Bj
Σ A<
eingerichtet ist, wobei A einen Referenzmeßwert, B,
einen Prüfmeßwert, / eine ganze Zahl und η die
Anzahl der Meßwertpaare bedeutet.
10. Einrichtung nach Anspruch 6 und 9, dadurch gekennzeichnet, daß ein dem Lichtfühler (7)
nachgeschalteter Verstärker (13) an einen ersten Eingang und über einen Integrator (14) an einen
zweiten Eingang eines Kornparators (15) angeschlossen ist und daß jedem Meßwertpaar ein
Vonvär;s-Rückwärts-Zähler (16 bis 18) zugeordnet ist, der die Impulse der die zugeordnete Lichtquelle
(4 bis 6) speisenden Pulsspannung (U\ bis Us)
während einer durch den Integrator (14) und den Komparator (15) festgelegten Zeitdauer bei der
Ermittlung eines Referenzwertes in der einen Zählrichtung und bei der Ermittlung eines Prüfmeßwertes in der anderen Zählrichtung zählt.
11. Einrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Verstärkung des Verstärkers (13) in dem Maße gegenläufig veränderbar ist,
wie ein Soll-Prüfmeßwert von einem zugehörigen Soll-Referenzmeßwert abweicht.
12. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11,
dadurch gekennzeichnet, daß die Referenzfläche weiß ist und daß die einzelnen Prüfmeßwerte
gegenüber dem zugehörigen Referenzmeßwert um
den Faktor verstärkbar sind, wobei r den
statistischen Mittelwert der Remission aller echten Wertzeichen im betreffenden Spektralbereich bedeutet.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur optischen Echtheitsprüfung von Banknoten und ande
ren Wertzeichen der im Oberbegriff des Anspruchs 1
bezeichneten Art
Unter dem Begriff Wertzeichen sollen hier Banknoten. Wertpapiere, Kreditkarten, Fahrkarten, Identitätskarten, Eintrittskarten u.dgl. verstanden werden. Die
Industrie ist schon seit langer Zeit mit der Entwicklung von Einrichtungen zur automatischen optischen Echtheitsprüfung von Wertzeichen beschäftigt Die meisten
auf diesem Gebiet hervorgegangenen sehr zahlreichen Lösungsvorschläge haben sich als ungeeignet erwiesen,
weil siie entweder eine zuverlässige Echtheitsprüfung nicht ermöglichen oder aber zu derart aufwendigen
Lösungen führen, daß sie aus wirtschaftlichen Gründen außer Betracht fallen. Eines der schwierigsten Probleme
'5
, in der Einhaltung der geforderten Langzeitstabili-
fder Prüfeinrichtung. Die unvermeidbaren Alterungs-
1 Drifteinflüsse der eingesetzten optischen, elek-
Dptischen und elektronischen Bauelemente können führen, daß die Meßergebnisse schon kurze Zeit s
ich der Eichung der Prüfeinrichtung über das zulässige
all hinaus verfälscht werden.
besten Resultate konnten bisher mit Einrichtun-
statten, einen ausgewähUen Bereich des Prüflings furch mehrere Reflexions- oder Transmission&messun-
en einer Spektralanalyse zu unterziehen, wobei die
/NEIN-Entscheidung nicht aufgrund der Absolutwerder P'üfmeßwerte, sondern durch Vergleich mit
eferenzmeßwerten getroffen wird.
I Bei einer bekannten Prüfeinrichtung (US-PS
180 785) werden die Referenzmeßwerte an einem
I ermittelt Hierbei wird das von einer Iichtquel-) ausgehende Licht des jeweiligen Spektralbereichs auf
den Prüfling und auf das Original geworfen. Das reflektierte Licht wird mit zwei gesonderten Lichtfühlern gemessen. Die Ermittlung der Prüfmeßwerte und
der Referenzmeßwerte erfolgt also mit verschiedenen Lichtfühlern über verschiedene Lichtwege.
Ferner ist eine Vorrichtung zum Prüfen von Wertpapieren bekannt (DT-OS 19 11 896), die zwei
verschiedene Stellen des Prüflings miteinander vergleicht. Dies erfolgt zwar mit einer gemeinsamen
Lichtquelle, aber wiederum mit gesonderten Lichtfühlern über verschiedene Lichtwege.
Für die Zeichenerkennung mit optischen holografischen Filtern ist es weiter bekannt, die Filterhologramme mit derselben Transformationslinse und in derselben
Anordnung aufzunehmen, mit der sie später auch bei der Zeichenerkennung benutzt werden, wodurch die söge- ?s
nannten differentieHen Abbildungsfehler verringert werden (DT-OS 20 04 263).
Schließlich ist eine Prüfeinrichtung für gedruckte Dokumente bekannt (US-PS 27 31 621), die mit einer
Lichtquelle und einem Lichtfühler entlang einer Geraden Reflexionsmessungen durchführt und die
Meßwerte laufend mit Referen-cwerten vergleicht Die Referenzwerte sind hierbei auf einem Magnetband ein
für allemal gespeichert, werden also nicht bei jeder Prüfung neu bestimmt
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Prüfeinrichtung der eingangs genannten Art zu
schaffen, die bei minimalem Aufwand eine maximale Langzeitstabilität aufweist
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt durch die im Kennzeichen des Anspruchs 1 angegebenen Maßnahmen.
Die Erfindung löst die oben bezeichnete Aufgabe auf sehr einfache Weise. Da die Prüfmeßwerte und die
Referenzmeßwerte unter Einhaltung des identischen Lichtweges mit denselben Mitteln gemessen werden,
werden Instabilitäten beim Vergleich der Meßwerte eliminiert.
Nachfolgend wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der Zeichnungen näher erläutert Es
zeigt
F i g. 1 eine Prinzipdarstellung einer Prüfeinrichtung, ν Fig.2 eine Anordnung einer Beleuchtungseinrichtung und eines Lichtfühlers und
In der F i g. 1 bedeutet 1 einen Prüfling, beispielsweise eine Blanknote, der durch eine Transporteinrichtung 2
kontinuierlich von links nach rechts bewegt wird. Der
Prüfling gleitet hierbei auf einer Auflageplatte 3. In
geringem Abstand über dieser Auflagepiaue sind nahe beieinander drei Lichtquellen 4, 5 und 6 sowie ein
Lichtfühler 7 angeordnet Jede der Lichtquellen 4,5 und 6 sendet in einem anderen schmalen Spektralbereich
Licht aus; sie sind vorzugsweise Festkörperlichtquellen, beispielsweise Leuchtdioden, weisen einen kleinen
Öffnungswinkel auf und sind in der Prüfeinrichtung derart justiert, daß sie eine kreisförmige Fläche der
Auflageplatte 3 oder, wenn sich der Prüfling 1 unter den Lichtquellen befindet, eine kreisförmige Fläche des
Prüflings von annähernd 5 mm Durchmesser beleuchten. Auch der Lichtfühler 7 ist vorzugsweise ein
Festkörperelement, beispielsweise eine Photodiode.
Aus der F i g. 2 geht die geometrische Anordnung der Lichtquellen 4 bis 6 und des Lichtfühlers 7 hervor. Die
Lichtquellen 4 bis 6 (die Lichtquelle 5 ist in der Zeichnung nicht sichtbar) sind an den Ecken eines
gedachten Dreiecks angeordnet, in dessen Zentrum sich der Lichtfühler 7 befindet Die optischen Achsen der
Lichtquellen 4 bis 6 und des Lichtfühlers 7 schneiden sich in der Ebene des Prüflings 1. Die Lichtquellen und
der Lichtfühler sind vorzugsweise in eine Leiterplatte 8 eingelötet, so daß sich weitere mechanische Befestigungselemente erübrigen.
Die Lichtquellen 4 bis 6 sind über einstellbare Stromtreiber9bis It (Fig. l)an einen Impulsgenerator
12 angeschlossen. Dem Lichtfühler 7 ist ein Verstärker
13 mit veränderbarer Verstärkung nachgeschaltet. Dieser ist an einen ersten Eingang und über einen
Integrator 14 an einen zweiten Eingang eines !Comparators 15 angeschlossen. Jeder Lichtquelle 4 bis 6
ist ein Vorwärts-Rückwärts-Zähler 16 bis 18 zugeordnet, wobei die die Lichtquellen speisenden Pulsspannungen über UND-Tore 19, 20 und 21 zu den Vorwärts-Rückwärts-Zählern gelangen. Der Ausgang des Komparators 15 ist jeweils mit einem zweiten Eingang der
UND-Tore 19 bis 21 verbunden. Jedem Vorwärts-Rückwärts-Zähler 16 bis 18 ist eine Dekodierschaltung 22 bis
24 zugeordnet Die Ausgänge dieser Dekodierschaltungen sind über ein UND-Tor 25 zusammengefaßt. Eine
Steuerschaltung 26 steuert die Verstärkung des Verstärkers 13, leitet im gegebenen Zeitpunkt die
Entladung des Integrators 14 ein und bewirkt die Umschaltung der Zählrichtung und die Rückstellung der
Vorwärts-Rückwärts-Zähler 16 bis 18. Die Steuerschaltung 26 ihrerseits wird von zwei Lichtschranken 27, 28
gesteuert, die in der Führungsbahn des Prüflings 1 angeordnet sind.
Im folgenden wird die Arbeitsweise der beschriebenen Prüfeinrichtung anhand der Fig.3 erläutert, in
welcher der Verlauf der in der F i g. 1 mit U\ bis U»
bezeichneten Spannungen in Funktion der Zeit dargestellt ist.
Der Impulsgenerator 12 erzeugt drei Rechteck-Pulsspannungen Uu Lh und ü\, die gegeneinander um 120°
phasenverschoben sind und die Lichtquellen 4 bis 6 zyklisch ansteuern. Die Impulsdauer ist z. B. fünfmal
kleiner als die Impulspause; dies gestattet, die Lichtquellen mit einer Impulsleistung zu betreiben, die
wesentlich größer als die zulässige Gleichstromleistung ist, so daß eine hohe Leuchtdichte erreicht werden kann.
Die Pulsfrequenz liegt in der Größenordnung von z. B. 3OkHz, wodurch die Messung innerhalb sehr kurzer
Zeit bei bewegtem Prüfling durchgeführt werden kann, ohne daß sich durch die Bewegung ein merkbarer
Meßfehler ergibt
Eingabeschlitz eingeführt wird, wird dieser von der
Transporteinrichtung 2 erfaßt und kontinuierlich weitertransportiert. Sobald die vordere Kante des
Prüflings die Lichtschranke 27 unterbricht, gibt diese ein Signal an die Steuerschaltung 26 ab, wodurch der
Integrator 14 entladen wird, die Vorwärts-Rückwärts-Zähler 16 bis 18 auf Null bzw. auf einen vorbestimmtem
Zählerstand gestellt und in Vorwärtszählrichtung geschaltet werden und dadurch die Ermittlung der
Referenzmeßwerte ausgelöst wird. Dieser Zeitpunkt ist in der F i g. 3 mit fi bezeichnet.
Im ersten hier beschriebenen Beispiel werden die Referenzmeßwerte als Reflexionsmeßwerte an der
Oberfläche der Auflageplatte 3 ermittelt, die also als Referenzfläche dient. Ein Teil des zyklisch von den
Lichtquellen 4 bis 6 ausgestrahlten und an der Auflageplatte 3 reflektierten Lichtes wird vom Lichtfühler
7 empfangen und in eine proportionale Spannung umgeformt Am Ausgang des Verstärkers 13, dessen
Verstärkung während der Ermittlung der Referenzmeßwerte konstant bleibt, entsteht eine Pulsspannung Ua
mit den Amplitudenwerten A\, A2 und A3, die jeweils
einen Referenzmeßwert im Spektralbereich der entsprechenden Lichtquelle 4,5 oder 6 darstellen.
Die Impulse der Pulsspannung U] werden in den
Vorwärts-Rückwärts-Zähler 16, diejenigen der Pulsspannung
ΙΛ in den Vorwärts-Rückwärts-Zähler 17 und diejenigen der Pulsspannung Ui in den Vorwärts-Rückwärts-Zähler
18 eingezählt, und zwar jeweils während einer durch den Integrator 14 und den Komparator 15
festgelegten Zeitdauer. Der Integrator 14 integriert die Pulsspaniiung ΙΛ und gibt an seinem Ausgang eine
Rampenspannung Us ab, die dem Integral der Summe der Referenzmeßwerte
entspricht. Der Komparator 15 vergleicht die Pulsspannung Ui mit der Rampenspannung U% und gibt die
UND-Tore 19 bis 21 immer dann frei, wenn ίΛ>
Ui ist. Der Vorwärts-Rückwärts-Zähler 16 registriert somit
während der Zeit
t-ti-tt
eine Anzahl Impulse (Impulsspannung üb), die dem
normierten Referenzwert
A1
Ai ·¥ Ai + Ai
entspricht Analog registriert der Vorwärts-Rück wärts-Zähler 17 eine dem normierten Referenzwert
A1
Ä~i + A1 + Ai
und der Vorwärts-Rückwärts-Zähler 18 eine dem normierten Referenzwert
proportionale Anzahl Impulse (Impulsspannung IA bzw.
UtI Danach werden die Vorwärts-Rückwürte-Ztthler 16
bii 18 gesperrt und der Integrator 14 entladen.
Wenn die vordere Kante des Prüflings 1 die
Lichtschranke 28 unterbricht, wird die Ermittlung der
Prüfmeßwerte an einer Stelle des Prüflings 1 ausgelöst, die durch die geometrische Anordnung der Lichtquellen
4 bis 6 und der Lichtschranke 28 gegeben ist. Die Messung der Prüfmeßwerte erfolgt nach dem gleichen
Prinzip wie die Messung der Referenzmeßwerte, wobei jedoch einerseits die Zählrichtung der Vorwärts-Rückwärts-Zähler
16 bis 18 umgekehrt und andererseits die Verstärkung des Verstärkers 13 in später noch näher
geschilderter Weise verändert wird. Aus dem Vorwärts-Rückwärts-Zähler 16 wird jetzt eine Impulszahl
herausgezählt, die den normierten Prüfmeßwerten
Bi
entspricht. Für die beiden anderen Vorwärts-Rückwärts-Zähler gelten analoge Beziehungen. Nach beendeter
Messung ist in den Vorwärts-Rückwärts-Zählern 16 bis 18 jeweils eine Impulszahl gespeichert die ein
Maß für die Differenz des normierten Prüfmeßwertes vom zugehörigen normierten Referenzmeßwert im
entsprechenden Spektralbereich darstellt. Die Dekodierschaltungen 22 bis 24 steilen fest ob diese Differenz
innerhalb vorgegebener Grenzen liegt Das UND-Tor 25 gibt ein »]A«-Signal ab, wenn alle Zählerstände
innerhalb der gewählten Grenzen liegen.
Die als Referenzmeßfläche dienende Oberfläche der Auflageplatte 3 könnte an sich mit einem echten
Wertzeichen beklebt werden, so daß die Echtheitsprüfung durch Vergleich der spektralen Remission des
Prüflings und dieses echten Wertzeichens erfolgt. Hierbei ergeben sich jedoch zwei Nachteile. Einerseits
besteht die Gefahr, daß sich die spektrale Remission des aufgeklebten Wertzeichens durch mechanische Abnutzung
mit der Zeit verändert, so daß die Messung auf einer falschen Vergleichsbasis erfolgt. Andererseits ist
es schwierig, überhaupt ein echtes Wertzeichen zu finden, dessen spektrale Remission dem statistischen
Mittelwert aller im Verkehr befindlichen Wertzeichen möglichst genau entspricht Diese Schwierigkeiten
können vermieden werden, wenn die Auflageplatte 3 an sich als Referenzfläche benutzt und die gewünschte
spektrale Remission dieser Referenzfläche bei der Messung durch entsprechende Steuerung der Verstärkung
des Verstärkers 13 simuliert wird. Die Oberfläche der Auflageplatte 3 kann hierzu beispielsweise mit einer
weißen Deckschicht überzogen sein. Bei geeigneter Wahl des Materials der Auflageplatte 3 kann auch deren
natürliche Oberfläche als Referenzfläche dienen. Im
so Falle einer ideal weißen Referenzfläche wird jeder
einzelne Prüfmeßwert gegenüber dem zugehörigen
den statistischen Mittelwert der Remission aller echten
S5 Wertzeichen im betreffenden Spektralbereich bedeutet.
Allgemein wird die Verstärkung des Verstärkers 13 bei der Ermittlung eines Prüfmeßwertes in dem Maße
gegenläufig verändert, wie der Soll-Prüfmeßwert vom
zugehörigen Soll-Referenzmeßwert abweicht, so daß
Ao die Vorwärts-RQckwärts-Zähler 16 bis 18 nach beendeter Mensung wieder auf dem anfänglichen Zählerstand
stehen, wenn die spektrale Remission des Prüflings dem Sollwert entspricht Die Steuerung der Verstärkung
kann z. B. dadurch erfolgen, daß mehrere wahlweise 6s einschaltbare Verstärker in Form einer einzigen
integrierten Schaltung verwendet werden.
Die auf jedes Referenzmeßwert-Prüfmeßwertpaar anzuwendenden Toleranzgrenzen könnten an sich
durch entsprechende Programmierung der Dekodierschaltungen 22 bis 24 festgelegt werden. Es ist jedoch
einfacher, die Dekodierschaltungen auf gleiche Toleranzgrenzen fest einzustellen und die Ausscheidungskriterien durch unterschiedliche Amplitude der den
Lichtquellen 4 bis 6 zugeführten Pulsspannungen festzulegen. Dies gestattet eine beliebige Gewichtung
der einzelnen Spektralmessungen.
Zwischen den Ausgang des Verstärkers 13 und die Eingänge des Integrators 14 und di-s !Comparators 15
kann ein Kondensator geschaltet sein, der in den Impulspausen mit einem Transistorschalter entladen
wird. Durch diese Maßnahme können Drifteinflüsse des Verstärkers 13 und der Einfluß von Fremdlicht, das
allenfalls auf den Lichtfühler 7 einwirkt, unterdrückt werden.
Die beschriebene Prüfeinrichtung kann dahingehend
abgeändert werden, daß die Referenzmeßwerte an einer zweiten ausgewählten Stelle des Prüflings selber
ermittelt werden. Hierzu ist es lediglich erforderlich, die die Ermittlung der Referenzmeßwerte auslösende
Lichtschranke 27 so anzuordnen, daß die Referenzmessung erst dann erfolgt, wenn sich der Prüfling bereits im
Lichtfeld der Lichtquellen 4 bis 6 befindet. Welcher der beiden beschriebenen Methoden der Vorzug gegeben
werden soll, hängt von der Beschaffenheit und dem Druckbild des zu prüfenden Wertzeichentyps ab.
Vielfach ist es zweckmäßig, beide Methoden gemeinsam anzuwenden.
Mit der Prüfeinrichtung kann auch ein Tiefdrucknachweis durchgeführt werden, wenn mindestens zwei der
Lichtquellen 4 bis 6 derart angeordnet werden, daß eine dieser Lichtquellen eine im Tiefdruckverfahren bedruckte Stelle des Prüflings in Richtung maximalen
Schattenwurfs und die andere Lichtquelle in Richtung minimalen Schattenwurfs mit möglichst flachem Lichteinfallswinkel beleuchtet.
Es ist auch möglich, mit der beschriebenen Prüfeinrichtung Transmissionsmessungen durchzuführen, wenn
der Lichtfühler 7 auf der den Lichtquellen 4 bis 6 gegenüberliegenden Seite, z.B. in einer Öffnung der
Auflageplatte 3, angeordnet wird.
Schließlich kann die Relativwertvermcssung auf einfachste Weise durch eine Absolutwertmessung
ergänzt werden, wenn der Ausgang des Integrators 14 an einen Schwellwertschalter angeschlossen wird, der in
einem durch die Steuerschaltung 26 festgelegten Zeitpunkt ein zusätzliches JA-Signal an das UND-Tor
25 abgibt, wenn die Rampenspannung U» Innerhalb
bestimmter Grenzen liegt. Dadurch kann vermieden werden, daß Prüflinge, die bei richtiger spektraler
Farbzusammensetzung im gesamten zu kleine oder zu große Remissionen- bzw. Transmissionsmeßwerte ergeben, als echt beurteilt werden.
Die Vorteile des Erfindungsgegenstandes lassen sich
nun leicht erkennen. Da die Prüfmeßwerte und die
Referenzmeßwerte mit ein und denselben Mitteln unter Einhaltung identischer Lichtwege ermittelt werden,
können Drifteinflüsse, Alterungserscheinungen, Veränderungen der optischen Justierung und andere Instabil)·
ίο täten das Meßresultat nicht mehr merkbar verfälschen,
weil solche Langzeitdrifteinflüsse die Prüfmeßwerte und die Referenzmeßwerte in genau gleichem Maße
beeinflussen und daher beim Vergleich der Meßwerte eliminiert werden. Außerdem ergibt sich durch den
ι s Einsatz einer einzigen Meßeinrichtung für die Prüfmeßwerte und die Referenzmeßwerte eine besonders
einfache und kostensparende Anordnung.
Die vorgeschlagene Verwendung von zyklisch angesteuerten Festkörperlichtquellen und eines einzigen
Festkörperüchtfühlers führt zu einem minimalen Aufwand an optischen bzw. elektrooptischen Bauelementen; außerdem können dadurch auch die Kurzzeitdrifteinflüsse wie z. B. Speisespannungsschwankungen weitgehend eliminiert werden, da die Prüfmeßwerte
einerseits und die Referenzmeßwerte andererseits simultan gebildet werden. Ferner können Anzahl und
Spektraibereich der Festkörperlichtquellen den besonderen Eigenschaften des zu prüfenden Wertzeichens
leicht angepaßt werden. Es hat sich als vorteilhaft
erwiesen, z. B. neben einer roten und einer gelben oder
grünen Festkörperlichtquelle auch mindestens eine im unsichtbaren Bereich Licht aussendende Lichtquelle
vorzusehen und somit einen Spektralbereich in die Prüfung mit einzubeziehen, dessen Einfluß auf den
Gesamt-Farbeindruck vom menschlichen Auge nicht registriert wird.
Durch die Normierung und Differenzbildung der Meßwerte gemäß der Formel
ι- 1
ι-1
wobei Ai einen Referenzmeßwert, ß, einen Prüf meßwert,
/ eine ganze Zahl und η die Anzahl der
Meßwertpaare bedeutet, kann auch der Einfluß der unterschiedlichen Verschmutzung der Prüflinge elimi·
nie« werden, da eine solche Verschmutzung In der Regel eine nichtselektive Orauschlcht darstellt.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (9)
1. Einrichtung zur optischen Echtheitsprüfung von Banknoten und anderen Wertzeichen mit einer aus
einer Beleuchtungseinrichtung und einer LichtfUhleranordnung bestehenden Meßeinrichtung zur
Ermittlung mehrerer, jeweils nur einen schmalen Spektralbereich erfassender Prüfmeßwerte an einer
ausgewählten Stelle des Prüflings, mit einer Transporteinrichtung zur Einführung des Prüflings in den
von der Beleuchtungseinrichtung zur Lichtfühleranordnung führenden Lichtweg, mit einer Steuereinrichtung zur Steuerung der Meßeinrichtung und mit
einer Auswerteeinrichtung zum Vergleich der Prüfmeßwerte mit Referenzmebwerten und zur
Abgabe eines JA/NEIN-Signals, dadurch gekennzeichnet, daß im von der Beleuchtungseinrichtung (4, 5, 6) zur Lichtfühleranordnung (7)
führenden Lichtweg eine reflektierende bzw. transmittierende Referenzfläche (3) vorhanden ist, daß
die Beleuchtungs- und die Lichtfühlereinrichtung für die Erzeugung der Referenz- wie der Prüfmeßwerte
identisch sind, daß die Meßeinrichtung (4 bis 7; 13 bis 15) von der Steuereinrichtung (26, 27, 28) derart
beeinflußbar ist, daß bei außerhalb bestimmter Grenzen befindlicher Prüffläche des Prüflings (1) die
Referenzmeßwerte an der Referenzfläche (3) und unmittelbar darauf bei im Lichtweg befindlicher
Prüffläche des Prüflings (1) die Prüfmeßwerte an der reflektierenden bzw. transmittierenden Prüffläche
des Prüflings (1) ermittelbar sowie Referenz- und Prüfmeßwerte einer diese miteinander vergleichenden Auswerteeinrichtung (16 bis 18; 22 bis 25) auf
identischem Signalweg zuführbar sind.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Beleuchtungseinrichtung (4 bis 6) und
Lichtfühleranordnung (7) auf der gleichen Seite des Prüflings (1) liegen (F i g. 2).
3. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Beleuchtungseinrichtung (4 bis 6) und
Lichtfühleranordnung (7) auf verschiedenen Seiten des Prüflings (1) liegen.
4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßeinrichtung (4
bis 7, 13 bis 15) derart steuerbar ist, daß die Referenzmeßwerte an einer zweiten ausgewählten
Stelle der Prüflinge (1) ermittelbar sind.
5. Einrichtung nach Anspruch 1 oder einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
Transporteinrichtung (2) den Prüfling (1) kontinuierlich fortbewegt und daß eine erste Lichtschranke
(27) zur Auslösung der Ermittlung der Referenzmeßwerte und eine zweite Lichtschranke (28) zur
Auslösung der Ermittlung der Prüfmeßwerte vorhanden sind.
6. Einrichtung nach Anspruch 1 oder einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
Beleuchtungseinrichtung aus mehreren Festkörperlichtquellen (4 bis 6) besteht, die in einem
unterschiedlichen schmalen Spektralbereich Licht aussenden und mit einer Pulsspannung (U\ bis i/3)
zyklisch ansteuerbar sind, und daß die Lichtfühleranordnung aus einem einzigen Festkörperlichtfühler
(7) besteht.
7. Einrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtungseinrichtung aus
mindestens drei in eine Leiterplatte (8) eingelöteten
Leuchtdioden (4 bis 6) besteht.
8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Leuchtdioden (4 bis 6) einen
kleinen öffnungswinkel aufweisen und derart justiert sind, daß eine ausgewählte Stelle des
Prüflings (1) von annähernd 5 mm Durchmesser angestrahlt wird.
9. Einrichtung nach Anspruch 1 oder einem der Ansprüche 2 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die
Auswerteeinrichtung (16 bis 25) zur Bildung der Größe
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Free format text: MUELLER, H., DIPL.-ING., 8000 MUENCHEN SCHUPFNER, G., DIPL.-CHEM. DR.PHIL.NAT., 2110 BUCHHOLZ GAUGER, H., DIPL.-ING., PAT.-ANW., 8000 MUENCHEN |
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