DE2259133B2 - Verfahren zum Kontaktieren einer Halbleiteranordnung und Anwendung des - Google Patents
Verfahren zum Kontaktieren einer Halbleiteranordnung und Anwendung desInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 12
- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 6
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4821—Flat leads, e.g. lead frames with or without insulating supports
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49541—Geometry of the lead-frame
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49575—Assemblies of semiconductor devices on lead frames
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49121—Beam lead frame or beam lead device
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
Die Erfindung betriff! ein Verfahren zum Kontaktieren
einer Halbleiteranordnung mit mehreren Kontaktstellen, bei dem die Kontaktstellen mit Kontaktstreifen
unmittelbar verbunden werden.
Es ist ein Verfahren bekannt (vergleiche z. B. die DE-OS 21 59 530), bei dem ein Kontaktierungsblech in
Kontaktstreifen bzw. Kontaktfinger aufgeteilt wird, die lediglich an den den Kontaktierungsstellen abgewandten
Enden zusammenhängen. Anschließend werden die Kontaktstreifen mit ihren nicht zusammenhängenden
Enden auf die Kontaktstellen der zu kontaktierenden Halbleiteranordnung eimjustiert und mit den Kontaktstellen
durch Löten oder Schweißen verbunden. Nach dem Löten oder Schweißen werden die noch an einem w
Ende zusammenhängenden Kontaktstreifen voneinander ganz getrennt.
Dieses bekannte Verfahren hat den Nachteil, daß die Einjustierung der Kontaktstreifen auf die einzelnen
Kontaktstellen sowie die Kontaktierung selbst Schwie- ω rigkeiten bereiten. Dies ist besonders dann der Fall,
wenn die einzelnen Kontaktstellen nur einen sehr geringen Abstand voneinander haben, der beispielsweise
unter ΙΟμιτι liegt.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, bs
ein Verfahren anzugeben, welches die Kontaktierung von eng benachbarten Kontaktstellen vereinfacht.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren der eingangs erwähnten Art nach der Erfindung entweder
dadurch gelöst, daß auf die Kontaktstellen zunächst ein ungeschlitztes Kontaktierungsblech aufgebracht, mit
den Kontaktstellen direkt elektrisch leitend verbunden und danach in voneinander getrennte Kontaktstreifen
aufgeteilt wird, oder dadurch gelöst, daß auf die Kontaktstellen zunächst ein Kontaktierungsblech, welches
außerhalb des Kontaktierungsbereiches geschlitzt ist, aufgebracht, mit den Kontaktstellen direkt elektrisch
leitend verbunden und danach in voneinander getrennte Kontaktstreifen aufgeteilt wird. Unter dem Begriff
Kontaktierungsblech soll jedes geeignete Kontaktierungsmaterial in Blech- oder Streifenform verstanden
werden.
Für das Verfahren nach der Erfindung ist also ein Kontaktierungsblech vorgesehen, welches beim Kontaktieren
entweder überhaupt noch nicht oder derart geschlitzt ist, daß es zumindest im Kontaktierungsbereich
zwischen den Kontaktstellen ungeschlitzt und damit zusammenhängend ist. Die Erfindung findet mit
Vorteil bei integrierten Schaltkreisen und vor allem bei komplexen Schaltkreisen Anwendung. Durch die
Erfindung wird nicht nur die Kontaktierung von sehr eng benachbarten Kontaktstellen erleichtert bzw. sogar
erst ermöglicht, sondern es wird auch eine hohe Kontaktierdichte erzielt. Außerdem ermöglicht die
Erfindung die Anwendung der Schweißtechnik. Schließlich gestauet die Erfindung eine Vollautomatisierung
des Kontaktierens von komplexen Schaltkreisen.
Das Auftrennen des Kontaktierungsbleches nach dem Kontaktieren in einzelne Kontaktstreifen, auch Kontaktfinger
genannt, erfolgt beispielsweise durch eine Laser- oder Elektronenstrahlbehandlung. Das Kontaktierungsblech
wird mit den Kontaktierungsstellen beispielsweise verschweißt. Ein Elektronenstrahl ist
bekanntlich dasjenige physikalische Instrument, welches bei kleinsten Dimensionen anwendbar ist. Zudem
besteht die Möglichkeit, durch präzise Steuerung bzw. durch elektromagnetische Ablenkung des Elektronenstrahls
komplizierte Arbeitsprozesse zu automatisieren. Bei kleinerer Strahlenenergie erfolgt keine Materialverdampfung,
sondern lediglich eine Verschweißung der miteinander zu verbindenden Materialien.
Der Laserstrahl, der eine wesentlich größere Wellenlänge aufweist als der Elektronenstrahl, erlaubt
zwar nicht die Bearbeitung so kleiner Dimensionen wie der Elektronenstrahl, doch sind die mit einem
Laserstrahl bearbeitbaren Dimensionen immerhin noch in der Größenordnung von 1 μίτι und damit klein genug,
um auch mit Laserstrahlen in Verbindung mit der Erfindung einen wesentlichen technischen Fortschritt
gegenüber bekannten Techniken herbeizuführen. Im Gegensatz zum Elektronenstrahl erfordert der Laserstrahl
kein Vakuum, was eine einfachere Arbeitsweise ermöglicht und weniger apparativen Aufwand erfordert.
Die Erfindung wird im folgenden an Ausführungsbeispielen näher erläutert.
Die F i g. 1 zeigt die Kontaktierung einer integrierten Schaltung mit Hilfe eines Kontaktierungsbleches nach
der Erfindung. Die zu kontaktierende Schaltung besteht aus dem Halbleiterplättchen 1, in dem sich die einzelnen
Schaltelemente befinden. Auf der Oberfläche des Halbleiterplättchens befinden sich die zu kontaktierenden
Kontaktflecken bzw. Elektroden 2. Die Kontaktierung der Kontaktflecken 2 und damit der integrierten
Schaltung erfolgt mit Hilfe eines Kontaktierungsbleches 3, bei dem die Bereiche 4 und 5 zu unterscheiden sind.
Wie die Fig. I zeigt, ist der Bereich 4 gegenüber dem
Bereich 5 verbreitert und im Gegensatz zum Bereich 5 vor dem Kontaktieren bereits mit Schlitzen 6 versehen,
üa der Bereich 4 breiter als der Bereich 5 ist und im Gegensatz zum Bereich 5 nicht zur unmittelbaren
Kontaktierung der sehr eng benachbarten Kontaktflekken 2 dient, können die Schlitze 6 im Bereich 4 des
Kontaktierupgsbleches 3 wesentlich breiter als im Bereich 5 ausgebildet werden und z. B. durch Ausstanzen
bereits vor dem Kontaktieren hergestellt werden.
Im Gegensatz zum Bereich 4 ist der Bereich 5 des Kontaktierungsbleches 3 vor dem Kontaktieren noch
ungeschützt und damit zusammenhängend beziehungsweise noch nicht in Kontaktfinger aufgeteilt. Der
zunächst noch zusammenhängende Bereich 5 wird zur Kontaktierung auf die Kontaktfleckcn 3 einfach
aufgelegt und mit den Kontaktflecken verschweißt. Da der Bereich 5 des Kontaktierungsbleches 3 im
Gegensalz zum Bereich 4 vor der Kontaktierung nicht geschlitzt ist, sind bei der Kontaktierung im Kontaktierungsbereich
noch keine Kontaktfinger vorhanden. Dadurch wird aber die Kontaktierung wesentlich
erleichtert, da bei einem zusammenhängenden Blech eine Einjustierung von sehr schmalen Kontaktfingern
auf extrem eng benachbarte Kontaktflecken nicht erforderlich ist. Nach der Erfindung ist vielmehr
lediglich eine Einjustierung des ungeschlitzten Bereiches 5 auf den Gesamtbereich der Kontaktflecken 2
erforderlich, was wesentlich einfacher vorzunehmen ist als eine Einjustierung von wesentlich schmaleren
Kontaktfingern. Die Aufteilung des Bereiches 5 in die im Bereich 4 bereits vor dem Kontaktieren vorhandenen
Kontaklfinger 7 erfolgt gemäß der Erfindung erst nach dem Kontaktieren. Die Kontaktfinger 7 im Bereich 5
des Kontaktierungsbleches 3 werden beispielsweise durch eine Laser- oder Elektronenstrahlbehandlung
hergestellt, und zwar entlang der Linien 8.
Nach dem Kontaktieren und nach dem Aufteilen des Bereiches 5 in Kontaklfinger 7 müssen die Kontaktfinger
schließlich noch im Bereich 4 völlig voneinander getrennt werden, und zwar durch einen .Schnitt längs
den Linien 9. Nach dem völligen Auftrennen des Kontaktierungsbleches in voneinander getrennte Kontaktfinger
ist das Kontaktieren nach der Erfindung beendet.
Wie bereits erwähnt, kann nach der Erfindung zum Kontaktieren entweder ein völlig ungeschlitztes Kontaktierungsblech
oder ein Kontaktierungsblech verwendet werden, welches bereits teilweise vorgeschlitzt ist.
Wesentlich an der Erfindung ist in jedem Fall, daß die Aufteilung in Kontaktfinger im Bereich der zu
kontaktierenden Stellen erst nach dem Verbinden des Kontaktierungsbleches mit den Kontaktstellen erfolgt.
Während beim Kontaktieren einer Halbleiteranordnung gemäß der Fig. 1 für die links auf dem
Halbleiterplättchen befindlichen Kontaktflecken 2 und für die rechts auf dem Halbleiterplättchen 1 befindlichen
Kontaktflecken 2 getrennte Kontaktierungsbleche 3 verwendet werden, zeigt die F i g. 2 eine Kontaktierung
nach der Erfindung, bei der zur Kontaktierung der beiden Seiten einer integrierten Schaltung ein gemeinsames
Kontaktierungsblech 3 vorgesehen ist, welches in der Mitte eine Aussparung 10 aufweist. Auch bei diesem
Kontaktierungsblech sind die Bereiche 4 bereits vorgeschlitzt, d. h. mit Aussparungen versehen, während
die zur unmittelbaren Kontaktierung vorgesehenen Bereiche 5 ungeschlitzt sind. Die F i g. 2 zeigt das
Kontaktierungsblech 3 vor der Kontaktierung. Nach dem Kontaktieren des in der F i g. 2 nicht dargestellten
Halbleiterplättchens werden die Bereiche 5 ebenfalls geschlitzt und anschließend Schnitte in den Bereichen 4
längs den gestrichelt eingezeichneten Schnittlinien 9
■5 hergestellt, wodurch die einzelnen Kontaktstreifen 7
völlig voneinander getrennt werden.
Bei der Kontaktierung nach der Fig. 3 erfolgt nicht
nur wie bei der Fig. 1 eine zweiseitige, sondern eine
allseitige Kontaktierung des Halblciterplältchcns durch
H) vier Kontaktbleche 3.
Ein wesentlicher Vorteil der Erfindung wird beispielsweise durch die Fig.4 verdeutlicht. Während bei der
bekannten Kontaktfingerkonlaktierung eine Fehljustierung in den meisten Fällen erhebliche Konsequenzen
r> hat, kann, wie die F i g. 4 zeigt, nach der Erfindung eine
gewisse Fehljustierung durch eine entsprechende Führung der Trennschnitte ausgeglichen werden.
Der Laser- oder Elektronenstrahl kann durch einen programmierten Rechner so gesteuert werden, daß er
nacheinander gemäß der Fig. 5 die Schweißkontaktc mit den Kontaktflecken 2 sowie die Trennlinien 8 zur
Herstellung der Kontaktfinger 7 herstellt. Der Laseroder Elektronenstrahl muß zur Kontaktierung zunächst
längs den gestrichelt eingezeichneten Linien 11 und zur
.'' Trennung der Kontaktfinger 7 anschließend längs den
ebenfalls gestrichelt eingezeichneten Trennlinien 8 geführt werden. Es ist aber möglich, einen Laser- oder
Elektronenstrahl in mehrere Strahlen aufzuteilen, und den Abstand der Teilstrahlen durch Einstellen geeignc-
M tcr Ablenkmittel für jedes Halbleiterplättchen speziell
herzustellen. Dadurch wird eine wesentliche Reduzierung der Bearbeitungszeit erzielt.
Die Fig.6 bis 9 befassen sich mit der Verbindungstechnik
von einzelnen Halbleiterplättchen zu Hybrid-
Γι schaltkreisen. Die gegenseitige Kontaktierung der
einzelnen Halbleiterplättchen erfolgt nach dem erfindungsgemäßen Verfahren.
Die F i g. 6 zeigt vier nach der Hybridtechnik miteinander zu verbindende Halbleiterplättchen 12, 13,
4» 14 und 15 auf einem gemeinsamen Substrat 16. Das
gemeinsame Substrat 16 besteht beispielsweise aus einer Keramikplatte 16. Auf den einzelnen Halbleiterplältchcn
befinden sich die miteinander zu verbindenden Kontaktierungsstellen 2. Da die Lage der
iri Halbleiterplättchen zueinander genau eingehalten werden
muß, erfolgt ihr Auflöten auf das gemeinsame Substrat beispielsweise mit Hilfe einer Schablone, die
geeignete Aussparungen zur Aufnahme der Halbleiterplättchen aufweist.
w Die F i g. 7 zeigt das zur Kontaktierung der Hybridschaltung nach der Erfindung vorgesehene
Kontaktierungsblech 3. Das Kontaktierungsblech 3 ist wiederum teilweise vorgeschlitzt, während die Bereiche
5 ungeschlitzt und damit noch zusammenhängend sind.
''1J Die Bereiche 5 des Kontaktierungsbleches dienen wie in
den vorhergehenden Ausführungsbeispielen zur unmittelbaren Kontaktierung der Kontaktierungsstellen. Eine
Aufteilung der Bereiche 5 in Kontaktfinger 7 erfolgt ebenfalls erst nach der Kontaktierung. Die bereits vor
Ι» der Kontaktierung vorhandenen Schlitze sind in der
F i g. 7 mit der Bezugsziffer 6 bezeichnet.
In der F i g. 8 ist das Kontaktierungsblech 3 bereits auf
dir· aus der Keramikplatte 16 und den Halbleiterplättchen 12, 13, 14 und 15 bestehende Hybridschaltung
hri aufgelegt und mit den Kontaktflecken 2 verlötet. Wie
die F i g. 8 weiter erkennen läßt, ist das Kontaktierungsblech zudem nach dem Kontaktieren längs der
Trennlinien 8 geschlitzt worden, so daß die Kontakt-
streifen 7, die die einzelnen Halbleiterplättchen miteinander verbinden, bereits weitgehend voneinander
getrennt sind und nur noch am Rand des Kontaktierungsbleches zusammenhängen. Um die Kontaktfinger
auch noch am Rand des Kontaktierungsbleches völlig voneinander zu trennen, erfolgen schließlich noch
Schnitte längs den gestrichelt eingezeichneten Linien 9. Die fertige Hybridschaltung zeigt die Fig.9. Sowohl
das Kontaktieren als auch das Trennen der Kontaktfinger bzw. Kontaktstreifen nach der Kontaktierung im
Kontaktierungsbereich längs der Trennlinien 8 (F i g. 8) erfolgt vorzugsweise wieder durch eine Laser- bzw.
F-Iektronenstrahlbehandlung.
Hierzu 7 Blatt Zeichnunecn
Claims (5)
1. Verfahren zum Kontaktieren einer Halbleiteranordnung
mit mehreren Kontaktstellen, bei dem die Kontaktstellen mit Kontaktstreifen unmittelbar
verbunden werden, dadurch gekennzeichnet,
daß auf die Kontaktstellen (2) zunächst ein ungeschlitztes Kontiaktierungsblech (3) aufgebracht
und mit den Kontaktstellen direkt elektrisch leitend verbunden wird und daß dieses Kontaktierungsblech
(3) danach in voneinander getrennte Kontaktstreifen (7) aufgeteilt wird.
2. Verfahren zum Kontaktieren einer Halbleiteranordnung mit mehreren Kontaktstellen, bei dem
die Kontaktstellen unit Kontaktstreifen unmittelbar verbunden werden, dadurch gekennzeichnet, daß auf
die Kontaktstellen (2) zunächst ein Kontaktierungsblech (3) aufgebracht wird, welches außerhalb des
Kontaktierungsbereiches geschlitzt ist und daß dieses Kontaktierungsblech (3) mit den Kontaktstellen
(2) direkt elektrisch leitend verbunden und danach in voneinander getrennte Kontaktstreifen (7)
aufgeteilt wird.
3. Verfahren nach Anspruch I oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Auftrennen des Kontaktierungsbleches
(3) nach dem Kontaktieren in einzelne Kontaktstreifen (7) mittels Laser- oder Elektronenstrahlen
erfolgt.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Kontaktierungs- jo
blech (3) durch Schweißen mit den Kontaktierungsstellen (2) der Halbleiteranordnung verbunden wird.
5. Anwendung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 4 zur gegenseitigen Verbindung von
auf einem gemeinsamen Substrat (16) befindlichen integrierten Schaltkreises (12, 13, 14 und 15) zu
einem Hybridschaltkreis.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2259133A DE2259133C3 (de) | 1972-12-02 | 1972-12-02 | Verfahren zum Kontaktieren einer Halbleiteranordnung und Anwendung des Verfahrens |
US421166A US3906621A (en) | 1972-12-02 | 1973-12-03 | Method of contacting a semiconductor arrangement |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2259133A DE2259133C3 (de) | 1972-12-02 | 1972-12-02 | Verfahren zum Kontaktieren einer Halbleiteranordnung und Anwendung des Verfahrens |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2259133A1 DE2259133A1 (de) | 1974-06-12 |
DE2259133B2 true DE2259133B2 (de) | 1978-10-26 |
DE2259133C3 DE2259133C3 (de) | 1982-03-11 |
Family
ID=5863377
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2259133A Expired DE2259133C3 (de) | 1972-12-02 | 1972-12-02 | Verfahren zum Kontaktieren einer Halbleiteranordnung und Anwendung des Verfahrens |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3906621A (de) |
DE (1) | DE2259133C3 (de) |
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- 1972-12-02 DE DE2259133A patent/DE2259133C3/de not_active Expired
-
1973
- 1973-12-03 US US421166A patent/US3906621A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: TELEFUNKEN ELECTRONIC GMBH, 7100 HEILBRONN, DE |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |