DE2230731B2 - Selbstabgleichendes betriebsphotometer - Google Patents

Selbstabgleichendes betriebsphotometer

Info

Publication number
DE2230731B2
DE2230731B2 DE19722230731 DE2230731A DE2230731B2 DE 2230731 B2 DE2230731 B2 DE 2230731B2 DE 19722230731 DE19722230731 DE 19722230731 DE 2230731 A DE2230731 A DE 2230731A DE 2230731 B2 DE2230731 B2 DE 2230731B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
voltage
measuring
photometer
beam operating
photometer according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19722230731
Other languages
English (en)
Other versions
DE2230731A1 (de
DE2230731C3 (de
Inventor
Heinz Dr. 5000 Köln Warncke
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bayer AG
Original Assignee
Bayer AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bayer AG filed Critical Bayer AG
Priority claimed from DE19722230731 external-priority patent/DE2230731C3/de
Priority to DE19722230731 priority Critical patent/DE2230731C3/de
Priority to IT25666/73A priority patent/IT989347B/it
Priority to US05/371,903 priority patent/US3932040A/en
Priority to GB2929773A priority patent/GB1423460A/en
Priority to CH905973A priority patent/CH565997A5/xx
Priority to JP48069266A priority patent/JPS4965264A/ja
Priority to FR7322910A priority patent/FR2189723B1/fr
Publication of DE2230731A1 publication Critical patent/DE2230731A1/de
Publication of DE2230731B2 publication Critical patent/DE2230731B2/de
Publication of DE2230731C3 publication Critical patent/DE2230731C3/de
Application granted granted Critical
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Einstrahl-Betriebsphotometer gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
In ständig steigendem Maße werden kontinuierliche automatische Analysengeräte zur Prozeßüberwachung, für Sicherheitsaufgaben oder zum Schütze der Umwelt eingesetzt Diese ihrer Funktion nach selbsttätigen Geräte bedürfen einer regelmäßigen periodischen Überprüfung und Wartung, die bisher im wesentlichen von Hand durchgeführt wird. Zur weiteren Rationalisierung der Betriebsanalysentechnik muß auch diese Überprüfung möglichst weitgehend automatisiert werden.
In besonderem Maße trifft dies auf Betriebsphotometer zu, die für korrosive Meßgase eingesetzt werden oder im UV-Bereich arbeiten, da sie eine besonders häufige Nullpunkts- und Empfindlichkeitskontrolle erfordern. Auch bei guter Filterung und Aufbereitung des Meßstoffes lassen sich korrosive Veränderungen der Meßstrecke und Fensterbelegungen durch photochemische Reaktionen im kurzwelligen Meßlicht nicht vermeiden. Die täglich oder noch häufiger notwendigen Überprüfungen und Justierungen verursachen eine erhebliche Wartungsarbeit. Außerdem geht die Veränderung der Meßstrecke häufig so schnell vor sich, daß die geforderte Meßgenauigkeit nur innerhalb einer verhältnismäßig kurzen Zeit nach der Eichung eingehalten ist. Bei einem üblichen Zweistrahlphotometer ist von diesen Veränderungen natürlich nur der Meßzweig, nicht aber der Vergleichszweig betroffen, so daß die Vorteile des Zweistrahlverfahrens nicht mehr zum Tragen kommen. Dieses Problem kann auch nicht mit Hilfe einer Null-Methode gelöst werden, wie sie z. B. in dem Buch von G. K ο r t ü m: Kolorimetrie, Photometrie und Spektrometrie, Springer-Verlag, 1962, S. 228, angegeben ist. Bei der hier beschriebenen Schaltung wird der Photostrom über einen festen Arbeitswiderstand abgeleitet und der an diesem Widerstand auftretende Spannungsabfall durch Kompensation gemessen. Zu diesem Zweck wird in Serie mit der Photospannung eine Gegenspannung gelegt, die die Photospannung nach Betrag und Richtung kompensiert. Die eingestellte Gegenspannung ist stets proportional zu dem gesuchten Photostrom, da der Arbeitswiderstand konstant ist. Der Null-Abgleich hat lediglich den Vorteil einer leistungslosen Spannungsmessung. Änderungen in der Meßstrecke wirken sich jedoch voll auf das Meßergebnis aus, unabhängig davon, ob die erwähnte Kompensationsschaltung bei einem Einstrahloder Zweistrahl-Photometer verwendet wird. Eine Nullpunktskontrolle sowie eine Überprüfung des optischen Meßbereiches ist damit nicht möglich. Eine in dieser Hinsicht verbesserte Photometerausführung ist in ATM-Blatt V 7220-F 2 (April 1969) Seite 93, beschrieben. Bei dem hier referierten Betriebsphotometer wird die Meßflüssigkeit in der Meßküvette durch eine dem Nullpunkt entsprechende Flüssigkeit ersetzt und der Nullpunkt automatisch nachgeregelt. Da weder sichergestellt ist, daß bei fehlendem Lichtstrom auch das erzeugte elektrische Signal Null ist, noch eine lineare
Ϋ22
30
Beziehung zwischen Lichtstrom und Photostrom gewährleistet ist, folgt in Verbindung mit der gewählten Meßanordnung (MeB- und Vergleichswiderstand in Brückenschaltung), daß der in das Gerät integrierte automatische Abgleich nur den Nullpunkt korrigiert Alle anderen Punkte des Meßbereiches bleiben von den oben erwähnten Veränderungen der optischen Meßstrecke (Verschmutzung der Küvette, Lampenhelligkeit, Emnfängeralterung) abhängig und werden durch die Nullpunktskontrolle nicht eliminiert
Man versuchte zunächst, einen Ausweg durch Anwendung eines bichromatischen Einküvettenverfahrens zu finden: Meß- und Vergleichslicht verschiedener Wellenlänge durchlaufen dieselbe vom Meßstoff beströmte Küvette, aber nur die Meßwellenlänge wird von der Meßkomponente absorbiert Durch Verhältnismessung der beiden Lichtintensitäten lassen sich auf diese Weise Verschmutzungen der Küvette kompensieren, sofern sie beide Wellenlängen gleich stark absorbieren. Leider wirken aber die Belegungen der Fenster und Küvetten im allgemeinen nicht grau, sondern zeigen eine stärkere Absorption der kürzeren Wellenlängen (Streuung, UV-Absorption). Das bichromatische Verfahren ist deshalb zur Kompensation von Küvettenbelegungen meist nicht brauchbar.
Der einzig brauchbare Ausweg ist eine echte Substitutionsmethode, bei der in verhältnismäßig kurzen Zeitabständen Null- und Eichgas in die Meßküvette eingeleitet und Nullpunkt und Empfindlichkeit automatisch abgeglichen werden. Für diesen Zweck wurden Geräte zur automatischen Null- und Eichkontrolle mit elektronischer Speicherung des Meßwertes während des Abgleichvorgangs geschaffen. Sie stellen jedoch einen erheblichen zusätzlichen Aufwand in der Größenordnung des Analysators dar. Ein weiterer Nachteil ist, daß außer einem Nullgas (absorptionsfrei) auch ein Ausschlagsgas (mit bekannter Absorption) ständig bereitgehalten werden muß, das im allgemeinen aus einem die Meßkomponente enthaltendem Gasgemisch besteht. Dies ist bei kondensierbaren, korrodierenden oder toxischen Gasgemischen schwierig oder überhaupt nicht möglich. Ziel der Erfindung ist es deshalb, ein Betriebsphotometer zu schaffen, das
1. eine automatische Abgleichvorrichtung enthält,
2. diesen automatischen Abgleicn ohne Mehraufwand verwirklicht und
3. nur den leicht bereitzustellenden Vergleichsstoff, bei dem es sich auch um die Meßkomponente in reiner Form handeln kann, benötigt.
Dieses Ziel wird bei einem Betriebsphotometer der oben beschriebenen Bauart erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 genannten Merkmale erreicht.
Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen im wesentlichen darin, daß während des Betriebes eine Nullkontrolle möglich ist. Der Vergleichsstoff ist im einfachsten Falle Luft, die praktisch überall zur Verfügung steht. Eine besonderer Vorteil liegt aucl, in der leichten Anpassung des Meßbereiches. Durch passende Wahl der Gegenspannung Ug läßt sich die Empfindlichkeit des Gerätes in weiten Grenzen einstellen. Ebenso ist in einfacher Weise eine Nullpunktsunterdrückung möglich.
Ein weiterer Vorteil ist die relativ einfache Elektronik. Das Gerät arbeitet im Gleichstrombereich und benötigt daher keine Unterbrecher im Strahlengang. Schließlich sei noch erwähnt, daß die Einstrahlmeßanordnung die Konstruktion eines kompakten Fernmeßkopfes erlaubt, der von der Elektronik getrennt sein kann.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert. Es zeigen
F i g. 1 schematisch den Aufbau des Betriebsphotometers mit der Meß- und Abgleichschaltung und
F i g. 2 den Aufbac des Fernrr.eßkopfes.
Gemäß F i g. 1 besteht der optische Teil des Betriebsphotometers aus der Lichtquelle 1, dem Kondensor 2, der Meßküvette 3, dem Interferenzfilter 4 und dem Photoelement 5. Die Meßküvette 3 ist über Dreiweg-Magnetventile mit dem Prozeßstrom bzw. dem Nullstoff und einer Abgasleitung verbunden. Die Dreiweg-Magnetventile 6, 7 werden von einer elektrischen Programmsteuerung 8,9 betätigt Aus Stabilitätsgründen wird die Lichtquelle 1 von einem stabilisierten Netzgerät betrieben. Aus den gleichen Gründen ist das temperaturempfindliche Photoelement 5 auf einer thermostatisierten Metallplatte montiert
Der Ausgangsstrom des Photoelementes 5 wird mit einem gegengekoppelte α Verstärker 10 verstärkt und dem als Motorpotentionieter 11 ausgebildeten Arbeitswiderstand R zugeführt Der Spannungsabgriff des Motorpotentiometers 11 kann von dem Motor 12 verstellt werden. Parallel zum Arbeitswiderstand 11 ist ein Handpotentiometer 22 geschaltet das zur Grob-Nullpunktseinstellung dent Das vom Vorverstärker kommende Signal kann damit so weit abgeschwächt werden, daß das Motorpotentiometer 11 stets in der Mitte seines Stellbereiches arbeitet Der am Motorpotentiometer 11 erzeugte Spannungsabfall Ur wird in einer Differenzschaltung mit einer hochkonstanten Gegenspannung Ug verglichen. An dem Arbeitswiderstand 11 und den Spannungsteiler-Widerständen 13, 14 (R\ und R2) wird die Differenz der Spannungen Ut- Ug gebildet. Die Spannungsdifferenz Ur- Ug wird vom Operationsverstärker 15 auf den Einheitsbereich 0-2OmA verstärkt und über einen Umschalter 16 entweder auf das Meßinstrument 17 oc'er den Stellmotor 12 geschaltet. Durch die schon erwähnte Stabilisierung der Speisespannung und Temperaturregelung des Photoelementes (ggf. auch der gesamten Meßstrecke) wird die Meßanordnung gegen kurzperiodische Schwankungen gesichert.
Verbleibende langperiodische Störgrößen sind dann die Belegung der Küvettenfenster und Alterungserscheinungen der Lichtquelle des Interferenzfilters und des Photoelementes. Zur Kompensation dieser Störgrößen wird ein automatischer Abgleich ausgefühi t. Hierzu wird in vorgewählten Zeitabständen (z. B. alle 30 Minuten) die Meßküvette 3 über die beiden Oreiweg-Magnetventile 6, 7 für 1-2 Minuten >]e nach Küvettenvolumen) mit Luft als Vergleichsstoff beströmt (Nullperiode). Die pneumatische Schaltung d;r beiden Dreiweg-Ventile ist so gewählt, daß auch bei geringer Undichtigkeit der Ventile in Sperrichtung weder in der Meß- noch in der Abgleichstellung eine Fer lmessung möglich ist.
Am Ende der Nullperiode wird für einige Sekunden der Ausgang des Operationsverstärkers 15 mittels des Schalters 16 auf den Stellmotor 12 geschaltet und die Differenzphotospannung U1 — Gegenspannung Ug auf Null abgeglichen. Auch während der dann folgenden Meßperiode bleibt die Gegenspannung Ug aufgeschaltet, so daß sich für die Konzentration Null der Meßkomponente auch das Ausgangssignal Null ergibt
Mit zunehmender Konzentration der Meßkomponente wird die Photospannung geringer, so daß die Differenz zur konstanten Gegenspannung ein Maß für die Konzentration der gesuchten Komponente ist.
Der optische Meßbereich der Anordnung ist allein bestimmt durch das Verhältnis der Gegenspannung zum Meßbereich des Anzeigeinstrumentes 17, bezogen auf den Verstärkereingang. Sind Meßbereich und Gegenspannung gleich, so erhält man den optischen Bereich 0—100% Absorption. Bei Teilabsorptionsbereichen muß die Gegenspannung ein entsprechendes Vielfaches des Meßbereiches betragen (also z. B. den Faktor 4 für 0-25% Lichtabsorption). Der Zusammenhang zwischen Konzentration und Lichtabsorption ist dann durch die Schichtdicke der Meßküvette 3 und die Molarextinktion bei der Meßwellenlänge bestimmt. Aus diesen Gründen genügt allein der Abgleich mit dem Vergleichsstoff, um Nullpunkt und Empfindlichkeit der Anordnung festzulegen.
Auch Meßbereiche mit unterdrücktem Nullpunkt sind möglich, wenn ein Eichstoff zur Verfügung steht, der dem Anfangs- oder Endpunkt des Meßbereiches entspricht. So wird z. B. für den Meßbereich 80-100 Vol% mit der reinen Meßkomponente auf den Endpunkt 100 Vol% abgeglichen. In diesem Fall ist öer Meßeffekt vom Abgleichpunkt aus gesehen keine Lichtabsorption, sondern eine Aufhellung. Das Verhältnis des Lichtstromes bei 80 Vol% Meßkomponente zu dem bei 100% Meßstoff ist wieder allein durch Schichtdicke und Molarextinktion bestimmt. Meß- und Abgleichvorgang verlaufen wie vorher, nur das Vorzeichen der Differenz zwischen Foto- und Gegenspannung kehrt sich um. Der Meßstoff ist z. B. die gesuchte Konzentration eines Fremdstoffes im Prozeßstrom.
Umfaßt der gewünschte Meßbereich nicht den 100% Punkt, so läßt sich trotzdem eine einfache Methode finden, um den automatischen Abgleich mit der reinen Meßkomponente (100%) auszuführen. Zu diesem Zweck wird vor die Meßküvette 3 eine Hilfsküvette 18 geschaltet, deren Schichtdicke im Verhältnis zur Schichtdicke der Meßküvette so bemessen ist, daß die Absorption der reinen Meßkomponente in der Hilfsküvette 18 gleich der Absorption in der Meßküvette 3 am Anfangs- oder Endwert des Meßbereiches ist
Das Motorpotentiometer 11 ist mit einem zweiten gekoppelten Potentiometer bestückt (in A b b. 1 nicht dargestellt), das dazu benutzt wird, die Stellung des Motorpotentiometers zu einer elektrischen Anzeige zu bringen. Die regelmäßige Überprüfung des Gerätes beschränkt sich zunächst auf eine Kontrolle der Stellung der Abgleichautomatik. Wenn diese sich einem Ende ihres Stellbereiches nähert, wird sie durch Nachstellen des Handpotentiometers »Nullpunkt grob« in die Mitte ihres Stellbereiches zurückgeholt. Erst wenn auch dieser Handabgleich am Ende seiner Einstellmöglichkeit angelangt ist, muß in die optische Meßstrecke eingegriffen werden (Reinigen der Küvette, Auswechseln von Lichtquelle oder Detektor). Die Abgleichautomatik ist so aufgebaut, daß die Spülung mit dem Vergleichsstoff und der Abgleich außer von dem eingebauten Programmgeber zusätzlich von Hand oder durch Fremdansteuerung (Rechner) eingeleitet werden kann.
Zur Einstellung der Gegenspannung wird der Schalter 19 in Prüfstellung gebracht und ein durch das Widerstandsverhältnis R\IRt meßbar abgeschwächter Teil der Gegenspannung Ug gemessen. Diese Abschwächung ist erforderlich, um die unter Umständen wesentlich höhere Gegenspannung in den Meßbereich des Operationsverstärkers 15 zu bringen. Auf diese Weise ist für die Genauigkeit der Gegenspannung nur das Verhältnis RJR2 nicht aber die Verstärkung des Operationsverstärkers bestimmend. An die Langzeitkonstanz der Gegenspannungsquelle werden hohe Anforderungen gestellt, die aber kein Problem darstellen.
Betriebsphotometer herkömmlicher Bauart sind allgemein gegen rauhe Umweltbedingungen sehr anfällig und werden deshalb meist in geschützten Analysengeräteräumen installiert Dabei müssen oft längere Zuleitungen oder größere Totzeiten in Kauf genommen werden. Dies war aber bisher die einzige Möglichkeit zufriedenstellende Lebensdauer und störungsarmen Dauerbetrieb zu gewährleisten. Nachdem nun beim selbstabgleichenden Photometer die Wartung am optischen Teil auf ein Mindestmaß beschränkt und die Optik auf eine sehr einfache Einstrahlanordnung reduziert wurde, lag es nahe, die optische Meßstrecke als Fernmeßkopf 20 zum Einsatz unmittelbar am Meßort auszubilden. Dabei wird bei geringeren Schichtdicken auch auf optisch abbildende Elemente verzichtet Vorbedingung hierfür ist weitgehende Bedienungsfreiheit des Meßkopfes und der automatische Abgleich. F i g. 2 zeigt eine solche Anordnung für Meßstoffüberdruck bis etwa 1 bar. Hierbei wird die Küvettenspülung mit dem Vergleichsstoff gleichzeitig zur Rückspülung des Innenfilters 21 an der Mündung der Entnahmesonde im Prozeßstrom benutzt Der verhältnismäßig einfach aufgebaute optische Fernmeßkopf 20 mit relativ geringer Verlustleistung läßt sich auch leichter explosionsgeschützt ausführen als ein vollständiges Betriebsphotometer.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (7)

Patentansprüche:
1. Einstrahl-Betriebsphotometer zur kontinuierlichen automatischen Analyse eines gasförmigen oder s flüssigen Prozeßstroms, mit einer Lichtquelle, einer vom Prozeßstrom durchsetzten Meßküvette, Einrichtungen zur spektralen Filterung, einem photoelektrischen Empfänger mit linearer Lichtstrom-Photostromcharakteristik bei der gewählten Meßwellenlänge, dessen Signal bei fehlendem Lichtstrom Nuil ist, und einer Anzeigeeinheit, gekennzeichnet durch
a) einen an den photoelektrischen Empfänger (5) angeschlossenen Arbeitswiderstand (11) mit einstellbarem Spannungsabgriff,
b) eine mit dem Arbeitswiderstand (11) in Reihe geschaltete konstante Spannungsquelle (Ug, 13, 14) die entgegengesetzt zu dem dem Photostrom proportionalen Spannungsabfall (LJf) zwischen Spannungsabgriff und Verbindungspunkt des Arbeitswiderstandes (11) mit der Spannungsquelle (Ug, 13, 14) gepolt ist, so daß die Spannungsdifferenz Ui- Ug gebildet wird, die ein Maß für die Konzentration der gesuchten Komponente darstellt,
c) Einrichtungen (6 bis 9) zur automatischen Beschickung der Meßküvette (3) in vorwählbaren Zeitabständen jeweils für ein festes Zeitintervall mit einem Vergleichsstoff und
d) eine bei Anwesenheit des Vergleichsstoffes in der Meßküvette (3) von dem Unterschied zwischen der Spannung (UgJ der Spannungsquelle (Ug, 13,14) und dem Spannungsabfall (Uf) beaufschlagten Regelschaltung (12,15,16) zum Ausgleich des Spannungsunterschieds (Ug— Ui) durch Verstellung des Spannungsabgriffs des Arbeitswiderstandes.
2. Einstrahl-Betriebsphotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Spannung (Ug) der Spannungsquelle (Ug, 13, 14) in einem festen Verhältnis zum Spannungsmeßbereich der Anzeigeeinheit (17) steht und dieses Spannungsverhältnis den optischen Meßbereich der Anordnung bestimmt.
3. Einstrahl-Betriebsphotometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Verstärkung des Spannungsunterschieds (Ug— Ur) ein Gleichspannungsverstärker (15) vorgesehen ist, dessen Ausgang während der Anwesenheit des Prozeßstroms in der Meßküvette (3) mit der Anzeigeeinheit (17) und während der Anwesenheit des Vergleichsstoffs in der Meßküvette mit einem in der Regelschaltung enthaltenen, den Spannungsabgriff antreibenden Stellmotor (12) verbunden ist.
4. Einstrahl-Betriebsphotometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch einen zwischen den photoelektrischen Empfänger (5) und den Arbeitswiderstand (11) geschalteten gegengekoppelten Vorverstärker (10).
5. Einstrahl-Betriebsphotometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Vergleichsstoff aus der reinen Meßkomponente besteht.
6. Einstrahl-Betriebsphotometer nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Versorgungsspannung für die Lichtquelle (1) stabilisiert und der photoelektrische Empfänger (5) thermostatisiert ist.
7. Einstrahl-Betriebsphotometer nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Meßstrecke als Fernmeßkopf (20) ausgebildet ist, und von der elektronischen Auswerte- und Abgleicheinheit räumlich getrennt ist
DE19722230731 1972-06-23 1972-06-23 Selbstabgleichendes Betriebsphotometer Expired DE2230731C3 (de)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19722230731 DE2230731C3 (de) 1972-06-23 Selbstabgleichendes Betriebsphotometer
IT25666/73A IT989347B (it) 1972-06-23 1973-06-20 Fotometro d esercizio ad autocom pensazione
US05/371,903 US3932040A (en) 1972-06-23 1973-06-20 Self-equalizing industrial photometer
GB2929773A GB1423460A (en) 1972-06-23 1973-06-20 Self-equalising industrial photometer
CH905973A CH565997A5 (de) 1972-06-23 1973-06-21
JP48069266A JPS4965264A (de) 1972-06-23 1973-06-21
FR7322910A FR2189723B1 (de) 1972-06-23 1973-06-22

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19722230731 DE2230731C3 (de) 1972-06-23 Selbstabgleichendes Betriebsphotometer

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2230731A1 DE2230731A1 (de) 1974-01-10
DE2230731B2 true DE2230731B2 (de) 1976-12-09
DE2230731C3 DE2230731C3 (de) 1977-07-28

Family

ID=

Also Published As

Publication number Publication date
DE2230731A1 (de) 1974-01-10
FR2189723A1 (de) 1974-01-25
US3932040A (en) 1976-01-13
GB1423460A (en) 1976-02-04
CH565997A5 (de) 1975-08-29
JPS4965264A (de) 1974-06-25
FR2189723B1 (de) 1977-02-18
IT989347B (it) 1975-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2923946C2 (de) Vorrichtung zum Anzeigen der Teilchengrössenverteilung von strömenden Teilchenmengen in Fraktionsklassen
DE2811287C3 (de) Infrarot-Gasanalysator
DE2847771C3 (de) Zweistrahl-Spektralphotometer
DE2004087A1 (de) Einrichtung zur Messung des Betrages eines in einem Grundmaterial enthaltenen Stoffes
DE2408197A1 (de) Spektrometer
DE2627753C2 (de) Anordnung zur Dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer Dünnschichten
DE3643764A1 (de) Verfahren zur selektiven fuellstoffmessung an laufenden materialbahnen, insbesondere papierbahnen
DE2363180C2 (de) Reaktionskinetisches Meßgerät
DE2026734A1 (de) Selbstabgleichendes Zweistrahl Spectrophotometer
DE4441023A1 (de) Gasanalysator und Gasanalysiermechanismus
DE3135443A1 (de) Verfahren und fotometrische anordnung zur dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer schichten
EP0349839A2 (de) Mehrkomponenten-Photometer
DE1548747B1 (de) Vorrichtung zur Kompensation von Stoereinfluessen im Strahlengang einer foto-elektrischen Abtasteinrichtung
DE2543011A1 (de) Einrichtung zur roentgenstrahlen- fluoreszenzanalyse
DE4111187C2 (de) Verfahren zur Messung des optischen Absorptionsvermögens von Proben unter Eliminierung des Anzeigefehlers hinsichtlich gas-physikalischer Eigenschaften und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE102016108267B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Ermitteln einer Konzentration von wenigstens einer Gaskomponente eines Gasgemischs
DE2230731C3 (de) Selbstabgleichendes Betriebsphotometer
DE2744168C3 (de) Magnetooptisches Spektralphotometer
DE2511570A1 (de) Spektrofluorometer
DE2230731B2 (de) Selbstabgleichendes betriebsphotometer
EP0014375A2 (de) Zweistrahl-Wechsellicht-Kolorimeter
DE1065637B (de) Absorptions - Meßanordnung, insbesondere Gasanalysator zum Vergleich zweier Konzentrationen
DE19628310C2 (de) Optischer Gasanalysator
EP0391256A2 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen der Korngrössenverteilung und der Gesamtkonzentration von Partikeln in einem Gas, insbesondere in Luft
DE2900624B2 (de) Zweistrahl-Gas analysator

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977