DE2227157B1 - Verfahren und vorrichtung zur ermittlung der texturanteile polykristalliner walzprodukte - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur ermittlung der texturanteile polykristalliner walzprodukte

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    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0153989A3 (en) * 1983-09-13 1986-02-05 Nicolet Instrument Corporation Sample holder for a powder diffractometer
DE3839990A1 (de) * 1987-12-14 1989-06-22 Akad Wissenschaften Ddr Vorrichtung zur roentgenografischen abbildung und messung lokaler spannungsverteilungen

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