In der Zeichnung ist schematisch das bekannte Verfahren sowie eine
als Beispiel dienende Ausführungsform der Erfindung dargestellt. Es zeigt F i g.
1 die Röntgenfeinstrukturaufnahmegeometrie der bei dem Verfahren der »inversen Polfiguren«
angewandten Aufnahmetechnik, F i g. 2 ein typisches Interferenzliniendiagramm für
feinkörniges Feinblech, aufgenommen mit monochromatischer MOKo;-Strahlung, Fig.3
die Interferenzlinien einer grobkörnigen Blechprobe ohne Oszillierbewegung, F i
g. 4 die Interferenzlinien der gleichen Blechprobe mit zusätzlicher Oszillierung, In the drawing, the known method and one is schematically
exemplified embodiment of the invention. It shows F i g.
1 the X-ray fine structure image geometry of the method of the "inverse pole figures"
applied recording technology, F i g. 2 shows a typical interference line diagram for
fine-grain sheet metal, recorded with monochromatic MOKo; radiation, Fig. 3
the interference lines of a coarse-grained sheet metal sample without oscillating motion, F i
G. 4 the interference lines of the same sheet metal sample with additional oscillation,
F i g. 5 einen Längsschnitt durch einen Probenhalter gemäß der Erfindung
(ohne Strahlenschutz), F i g. 6 eine Draufsicht auf den Probenhalter gemäß F i g.
5 (ohne Strahlenschutz) und Fig.7 einen Schnitt gemäß der Linie X-X in F i g. 5
(mit Strahlenschutz). F i g. 5 shows a longitudinal section through a sample holder according to the invention
(without radiation protection), F i g. 6 shows a plan view of the sample holder according to FIG.
5 (without radiation protection) and FIG. 7 shows a section along the line X-X in FIG. 5
(with radiation protection).
Bei dem bekannten, in F 1 g. 1 schematisch erläuterten Verfahren
wird die zu untersuchende Probe P von einem Röntgenstrahler R über eine Blende B
bestrahlt und die reflektierte Strahlung von einem Zählrohr Z registriert. Dabei
wird die Probe P mit dem Braggreflexionswinkel 0 und das Zählrohr Z gleichzeitig
mit zwei 0 gedreht, während vom Zählrohr Z die charakteristische Interferenzlinie
aufgenommen wird. In the case of the known, in F 1 g. 1 schematically explained method
the sample P to be examined is transmitted by an X-ray source R through a diaphragm B.
irradiated and the reflected radiation registered by a counter tube Z. Included
the sample P with the Bragg reflection angle 0 and the counter tube Z at the same time
rotated with two 0, while from the counter tube Z the characteristic interference line
is recorded.
Die Mengenanteile der herrschenden Textur eines Walzproduktes werden
an Hand eines Interferenzliniendiagramms, wie es beispielsweise F i g. 2 zeigt,
durch folgende Beziehung ermittelt:
Hierin bedeuten die Ihkl bzw. 1?0kl die integrale Streuenergie derselben Interferenzlinie
eines abgebeuten monochromatischen Röntgenstrahles von einer Probe mit geordneter
bzw. regelloser Orientierung von Kristallkörnern und n die Zahl der in Betracht
gezogenen Interferenzen.The proportions of the prevailing texture of a rolled product are determined using an interference line diagram, as shown, for example, in FIG. 2 shows, determined by the following relationship: Here, the Ihkl and 1? 0kl mean the integral scattering energy of the same interference line of an emitted monochromatic X-ray beam from a sample with an ordered or random orientation of crystal grains and n the number of interferences under consideration.
Ein Vergleich der F i g. 3 und 4 zeigt, daß die Interferenzlinien
der Kristallnetzebenen (220), (310), (222), (400) und (332) ohne Oszillierbewegung
nicht erfaßbar sind. Eine etwaige Auswertung der Interferenzlinien gemäß F i g.
3 nach der oben erläuterten Gleichung würde zu einem unbrauchbaren Ergebnis
führen,
da nur ein Teil der tatsächlich vorhandenen Interferenzen zur Verfügung stehen würde. A comparison of FIGS. 3 and 4 shows that the interference lines
of the crystal lattice planes (220), (310), (222), (400) and (332) without oscillating movement
are not detectable. Any evaluation of the interference lines according to FIG.
3 according to the equation explained above would lead to an unusable result
to lead,
since only part of the actually existing interference would be available.
Gemäß den F i g. 5 bis 7 wird der neue oszillierende Probenhalter
durch Einschieben des Schaftes 1 in die Hohlwelle eines vorhandenen Röntgenfeinstrukturgerätes
angebracht. Durch die Spanneinheit 2 wird die axiale Lage eingestellt. Die für den
Antrieb vorgesehene Welle 3 wird in dem Schaft durch zwei Rillenkugellager 4 gelagert.
Die Einstellung des Lagerspieles erfolgt durch die Einstelleinheit 5. Der Probenhalter
6 wird über eine mit der Antriebswelle verschraubte Kurbelscheibe 7 angetrieben.
Hierbei läuft ein auf der Kurbelscheibe in eine der spiralförmig angebrachten Bohrungen
aufgeschraubter bzw. verstellbar befestigter Kurbelbolzen 8 in einer an dem Probenhalter
angebrachten Vertikalnut, so daß bei einer Drehbewegung der Antriebswelle der Gleithalter
in eine hin- und hergehende Bewegung versetzt wird. According to FIGS. 5 to 7 will be the new oscillating specimen holder
by pushing the shaft 1 into the hollow shaft of an existing X-ray fine structure device
appropriate. The axial position is set by the clamping unit 2. The for the
The shaft 3 provided for the drive is supported in the shaft by two deep groove ball bearings 4.
The bearing play is set using the setting unit 5. The specimen holder
6 is driven via a crank disk 7 screwed to the drive shaft.
Here, a runs on the crank disk in one of the spirally attached holes
screwed or adjustably fastened crank bolt 8 in one on the sample holder
mounted vertical groove, so that when the drive shaft rotates, the slide holder
is set in a reciprocating motion.
Der Probenhalter wird in der Gleithalter-Aufnahme 9 über Präzisions-Führungsschienen
10 bzw. Gleitbolzen geführt. Die Probe 11 wird mit einer Klemmfeder 12 am Probenhalter
befestigt. Die Röntgenstrahlen treten in dem Strahlenkanal 13 ein und durch den
mit Blei ausgelegten Strahlenschutz 14 wieder aus.The specimen holder is in the slide holder receptacle 9 via precision guide rails
10 or sliding bolts out. The sample 11 is attached to the sample holder with a clamping spring 12
attached. The X-rays enter the radiation channel 13 and through the
radiation protection 14 laid out with lead.
Der Strahlenschutz wird schwenkbar in einem aus mehreren Einzelteilen
bestehenden Gehäuse 15 mit Hilfe einer Führungszunge 16 geführt. Der freie Querschnitt
zwischen den beiden Gehäusehälften wird durch eine Faltklappe 17 abgedeckt. Die
Drehung der Röntgenfeinstrukturgerät-Hohlwelle wird durch ein auf dem Gleithalter
befestigtes einstellbares Klemmteil über einen Paßstift auf den Gleithalter übertragen.The radiation protection can be swiveled in one of several individual parts
existing housing 15 out with the aid of a guide tongue 16. The free cross-section
between the two housing halves is covered by a folding flap 17. the
The hollow shaft of the X-ray fine structure device is rotated by a on the slide holder
Transfer the attached adjustable clamping part to the slide holder using a dowel pin.
Der Antrieb der Antriebswelle erfolgt durch einen beigestellten, mit
Hilfe einer elektronischen Regeleinheit regelbaren Elektromotor über eine biegsame
Welle.The drive shaft is driven by a provided with
With the help of an electronic control unit, the electric motor can be regulated via a flexible one
Wave.