DE2132513A1 - Analog-digital-umsetzer nach dem doppelintegrationsverfahren - Google Patents

Analog-digital-umsetzer nach dem doppelintegrationsverfahren

Info

Publication number
DE2132513A1
DE2132513A1 DE19712132513 DE2132513A DE2132513A1 DE 2132513 A1 DE2132513 A1 DE 2132513A1 DE 19712132513 DE19712132513 DE 19712132513 DE 2132513 A DE2132513 A DE 2132513A DE 2132513 A1 DE2132513 A1 DE 2132513A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
voltage
analog
integration
time interval
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19712132513
Other languages
English (en)
Inventor
Klaus Firros
Anton Dipl-Ing Geiger
Karl Nosch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Original Assignee
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Licentia Patent Verwaltungs GmbH filed Critical Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority to DE19712132513 priority Critical patent/DE2132513A1/de
Publication of DE2132513A1 publication Critical patent/DE2132513A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
    • H03M1/1066Mechanical or optical alignment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

  • Analog-Digital-Umsetzer nach dem Doppelintegrationsverfahren Die Erfindung betrifft einen Analog-Digital-Umsetzer (auch AD-Wandler genannt), der nach dem bekannten Doppelintegrationsverfahren arbeitet. Bei diesem Verfahren, das z;B. in dem buch ton Tietze und Schenk "Halbleiter-Schaltungstechnik", 2. Auflage, 1971, auf den Seiten 536 und 537 beschrieben ist, wird die analoge Meßspannung irr einem Integrierer während eines durch eine vorgegeben Anzani von Takten, eines Taktimpulsgenerators festgelegten erstes Zeitintervalls t1 aufintegriert und die dann erreichte Integrationsspannung während eines zweiten Zeitintervalls t3 durch weitere Integration einer zur spannung Ux entgegengesetzt gerichteten festen Referenzspannung Uref wieder auf Null abgebaut, wobei die während des zweoten Zeitintervalls t3 auftretenden Impulse des Taktimpulsgenerators in einem Zähler gezählt werden und der Zälherinhalt beim Null-Durchgang der Integrationsspannung das Umwandlungsergebnis darstellt. Der Null-Durchgang wird mittels eines am Ausgang des Integierers angeschlossenen Komparator festgestellt und das Ausgangssignal des Komparators zum Abschalten des Zähler verwendet.
  • Die größte Fehlerquelle bei diesem Verfahren stellt der erwähnte Komparator dar. Wenn daher mit dem gleichen Analog-Digital-Umsetzer relativ große Spannungen zwischen +10 V und -10 V und relativ kleine Spannungen zwischen +100 und -100 mV umgesetzt bzw. gemessen werden sollen, so ist bei den zu messenden Spannungen mit kleinen Absolutwer-ten der Fehler fiir viele Zwecks zu groß. Es ist Aufgabe der Erfindung auch für kleine Meßspannungen eine höhere Genauigkeit zu erzielen.-Gemäß der Erfindung ist bei einem Analog-Digital-flmsetzer nach dem Doppelintegrationsverfahren eine Umschaltvorrichtung vorgesehen, durch die bei Meßspannungen Ux, deren Absolutwert unterhalb einer vorgegebenen Schwelle liegt, während des ersten Zeitintervalls t1 entweder die Intervall zeit oder die Integrationszeitkonstante auf ein Vielfaches ihrer normalen Größe umgeschaltet wird, so daß die Integrationsspannung zu Beginn des zweiten Zeitintervalls t3 entsprechend vergrößert wird. Zur Umschaltung der Intervallzeit kann die Taktfrequenz des Taktgenerators umschaltbar gemacht werden, so daß die Taktzeit t2 des Einzeltaktes auf ein Vielfaches erhöht wird. Soll die Integrationszeitkonstante ümgeschältet werden, so kann der Eingangswiderstand des Integrierers umschaltbar ausgestaltet werden, s.ò daß bei erhöhter Genauigkeit der Eingangswiderstand entsprechend erniedrigt wird.
  • Zur Feststellung, ob der Absolutwert der Meßspannung unter halb einer gewissen Grenze liegt, kann ein an sich bekannter relativ ungenauer "Fenster-Komparator" verwendet werden, wie er z..B. beschrieben ist in dem Buch "Integrierte Analog-Schaltungen" Telekosmos-Verlag, Franck'sche Verlagshandlung Stuttgart, Seite 84/85.
  • Anhand der Zeichnungen sollen zwei Ausführungsbeispiele der Erfindung näher erläutert werden, wobei die Fig. 1 und 2 sich auf einen AD-Umsetzer beziehen, bei dem die Integrationszeit umgeschaltet wird, während die Fig. 3 und 4 ein Beispiel erläutern, bei dem die Zeitkonstante des Integrierers umgeschaltet wird. Fig. 5 zeigt ein Schaltungsbeispiel für einen "Fenster-Komparator" in an sich bekannter Bauart, wie er zur Auslösung der Umschaltungen verwendet werden kann.
  • Der AD-Umsetzer der Fig. 1 enthält einen Integrierer bestehend aus einem Operationsverstärker 1, der über einen Kondensator 2 riickgekoppelt ist und dessen Eingang über einen Schalter 3 vor Beginn einer Messung mit dem Ausgang kurz geschlossen werden kann, um den Null-Zustand einzustellen. Die zu messende Analogspannung U wird über einen Widerstand 4 und einen bei x Beginn der Messung zu schließenden Schalter 5 dem Eingang des Integrierers zugeführt (der Schalter 3 wurde inzwischen wieder geöffnet). Am Ausgang des Integrierers erscheint die mit der Zeit linear abfallende (oder ansteigende, je nachdem, ob U positiv oder negativ ist) Integrationsspannung ut, deren x verlauf im ersten Teil der ausgezogenen Kurve der Fig. 2 dargestellt ist. Nach einer vorbestimmten Zeit t wird der Schalter 5 geöffnet, die Spannung u1 hat dann ihren Endwert U1 erreicht, der bei Kenntnis der Zeit t1 und der Integtationskonstanten des Integrierers ein Maß für die Analogspannung Ux bzw. für deren Mittelwert während der Zeit t1 darstellt.
  • Die Zeit t1 wird durch Abzählen einer bestimmten Anzahl m von Taktimpulsen festgelegt. Die von einem Taktgenerator 6 an eine Steuerlogikschaltung 7 geliefert werden. Diese Steuerlogikschaltung bewirkt sämtliche Schalterumschaltungen zu den entsprechenden Zeitpunkten. Die Taktzeit des Taktgenerators 6 sei t2; dann gilt also t1 = m . t2 und für die Endspannung U1 des Integrationsprozesses kann man schreiben wobei R der Wert des Widerstandes 4 und C die Kapazität des Kondensators 2 sind.
  • Mit der Öffnung des Schalters 5 nach Abzählen von 1 Taktimpulsen wird im weiteren Verlauf des Doppelintergretionsverfahrens der Integrator sit einer Referenzspannungsquelle -Uref oder +Uref verbunden, deren Spannungsvorzeichen umgekehrt zum Vorzeichen der Meßspannung U ist. Zu diesem x Zweck wird das Vorzeichen der Spannung U über die Leitung 8 x in Fig. 1 abgefragt und je nachdem, ob es positiv oder negativ ist, der Integrierer 1 über den Schalter 9 mit -Uref oder über den Schalter 10 mit +Uref verbunden.
  • Zwischen den Referenzspannungsquellen und den Schaltern liegen je ein Widerstand 11 bzw. 12 eingeschaltet, die untereinander gleich sein müssen, aber nicht unbedingt den Wert n des Widerstandes 4 zu haben brauchen. Die Widerstünde 11 und 12 können auch durch einen einzigen Widerstand ersetzt werden, der dann zwischen den betreffenden Schaltern 9 und 10 einerseits und den Integriereingang andererseits einzuschalten ist. In gleicher Weise können auch alle drei Widerstände 4, 11 und 12, wenn sie den gleichen Widerstandswert besitzen sollen, zu einem einzigen Widerstand vereinigt werden.
  • Nach dem Schließen des Schalters 9 oder 10 wird die Spannung u1 durch Integration im entgegengesetzten Sinn als vorher innerhalb einer Zeit t3 auf Null abgebaut, wie es der zweite Teil der ausgezogenen Kurve in Fig. 2 zeigt. Für diesen Teil der Kurve u1 gilt die Gleichung wenn man von der Annahme ausgeht, daß dia Widerstände 4, 11 und 12 den gleichen Wert R besitzen. Für den Zeitpunkt des Null-Durchgangs der Kurve am Ende des Zeitabschnitts t3 gilt also oder umgerechnet Da m, t2 und Uref feste und bekannte Größen sind, ist t3 somit ein Maß für die zu messende Analoggröße U . Die Messung x von t3 wird bei dem bekannten Doppelintegrationsverfahren dadurch durchgeführt, daß beim Umschalten vom Zeitabschnitt tl auf den Zeitabschnitt t3, also beim Öffnen des Schalters 5 und Schließen des Schalters 9 oder 10, gleichzeitig ein Schalter 13 geschlossen wird, mittels dessen die Taktimpulsquelle 6 an einen Zähler 14 angeschlossen wird, der vorher von der Steuerlogik 7 auf Null gestellt wurde. In einem Komparator oder Signum-Element 15 wird der Null-Durchgang der lntegrationsspannung u1 festgestellt und an die Steuerlogik 7 über die Leitung 16 gemeldet, wodurch der Schalter 13 wieder geöffnet wird. Der erreichte Zählerstand z ist dann ein Maß für die Meßspannung Ux nach der Gleichung: und somit Man sieht, daß bei diesem Verfahren, welches, soweit es bis hier beschrieben wurde, bekannt ist, weder die Taktfrequenz 17t2 noch die Zeitkonstante R . C in das Meßergebnis eingehen, wenn man nur dafür sorgt, daß die Taktfrequenz nährend der Zeitabschnitte t1 und t3 gleich bleibt.
  • Schwierigkeiten treten, wie erwähnt, bei der bekanten Schaltung auf, wenn neben Analogspannungen von einigen Volt auch Spannungen gemessen werden sollen, die kleiner als z.B.
  • 0,1 V sind. Hier setzt die Erfindung ein, die durch die oben erwähnten Umschaltmittel auch für niedrige Meßspannungen eine genügend hohe Genauigkeit erreichen lassen.
  • In Anwendung der Erfindung ist in Fig. 1 zu den bis hier beschriebenen Schaltelementen hinzu ein Umschalter 17 vorgesehen, durch den die Taktfrequenz des Taktgenerators 6 um einen Faktor a herabgesetit wird. Dieser Schalter wird dann betätigt, wenn in inen sogenannten "Fenster-Komparator" 18 durch Vergleich ait einer Referenzspannung festgestellt wird, daß der Absolutbetrag der Meßspannung Ux unter einem bestimmten Betrag, z.B. unter 100 mV liegt. Durch Herabsetzen der Taktfrequenz1 z.B. um einen Faktor a - 10, wird die Taktzeit t2 verzehnfacht und der erreichte Wert der Integrations spannung am Ende des Zeitintervalls tl ebenfalls verzehnfacht (U1). Allgemein gilt also = a . U1 1 Diese Verhältnisse sind in Fig. 2 durch gestrichelte Linien eingezeichnet. Das am Zähler 14 abgelesene digitale Meßergebnis wird durch die Umschaltung nicht beeinflußt, bis auf die höhere Genauigkeit mit der dieses Ergebnis erhalten wird.
  • Die vorstehend beschriebene Ausführungsform der Erfindung eignet sich vornehmlich für solche Fälle, bei denen es nicht in erster Linie auf eine sehr große Geschwindigkeit der Messung ankommt, da ja die Meßzeit bei niedrigen Absolutwerten der Meßspannung um den Faktor a verlängert wird.
  • Fig. 3 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel der Erfindung, bei dem die Meßzeit zwar auch um einen gewissen Betrag verlängert wird, aber in wesentlich geringerem Maße als beim Beispiel der Fig. 1, indem die Genauigkeit durch Einwirkung auf die Zeitkonstante des Integrierers statt auf die Integrationszeit erhöht wird. Gleiche Bezugszeichen in Fig. 3 wie in Fig. 1 deuten auf die gleichen Teile hin, die nicht nochmals ausführlich beschrieben zu werden brauchen.
  • über die Steuerlogik 7 Der Ausgang des "Fenater-Komparatora" 18 wirkt in Fig. 3/auf einen Schalter 19 ein, mit Hilfe dessen in die Leitung zwischen die Meßspannungsquelle U und den Schalter 5 statt x des Widerstandes 4 ein um den Faktor a kleinerer Widerstand 20 eingeschaltet wird. Die gleiche Wirkung kann naturgemäß auch dadurch erreicht werden, daß dem Widerstand 4 ein entsprechend bemessener Widerstand parallel geschaltet wird.
  • Hat der Widerstand 4 wieder den Wert R, so hat also der Widerstand 20 den Wert R/a. Die für den Anstieg der Integriererausgangsspannung wesentliche Konstante 1/RC wird also um den Faktor a vergrößert. Der Anstieg von U1 erfolgt entsprechend schneller und daher wird w-ieder ein entsprechend größerer Endwert U1 = a . U1 erreicht. Der Schalter 17 wird in diesem Falle beim Übergang vom Zeitabschnitt t1 auf den Zeitabschnitt t3 also gleichzeitig mit dem Öffnen des Schalters 5- und dem Schließen des Schalters 9 oder 10 betätigt, so daß während des Zeitabschnittes t3 Impulse mit der niedrigeren Impulsfrequenz 1/a ti auf den Zähler gelangen. Der Ausgang des "Fenster-Komparators" 18 muß daher auch auf die Steuerlogik 7 einwirken, damit diese ein entsprechendes Steuersignal an'den Schalter 17 abgeben kann.
  • Außerdem sorgt die Steuerlogik 7 dafür, daß die am 'fFenster-Komparator" anliegende Information nur kurz vor Beginn des Zeitintervalls tl abgefragt und ausgewertet wird.
  • Fig. 4 zeigt die zeitlichen Abläufe bei der Schaltung gemäß Fig. 3, und zwar wieder in ausgezogener Linie den Ablauf ohne Anwendung der Erfindung und gestrichelt den Ablauf mit der Erfindung.
  • In Fig. 5 ist das Prinzipschaltbild eines 'Fenster-Komparators" angegeben, wie er in der Fig. 1 und 3 mit dem Bezugszeichen 18 bezeichnet ist. Der "Fenster-Komparator" besteht aus zwei Operationsverstärkern 30 und 31, deren Ausgänge zusammengeschaltet mit der Ausgangsklemme 32 verbunden sind. Dem einen Eingang des Verstärkers 30 wird über einen Widerstand 33 die Spannung +V1 zugeführt und dem einen Eingang des Verstärkers 31 über den Widerstand 34 die Eingangsspannung -V1. Die zweiten Eingänge der beiden Operationsverstärker sind zusammengeschaltet, ihnen wird über den Widerstand 35 die Meßspannung U x zugeführt.
  • In Fig. 6 ist die Ausgangsspannung V2 an der Klemme 32 in Abhängigkeit von der Eingangsspannung U aufgezeichnet. Für x den Bereich -V1 < Ux < +V1 iiimmt die Spannung V2 einen negativen Wert von z.B. -0,5 V an, für die Bereiche oberhalb von V1 und unterhalb -V1 nimmt V2 den Wert von z. B. +3V an.
  • Die angegebenen Spannungen hängen natürlich von den Betriebsspannungen der Operationsverstärker ab, die zur Verwendung kommen.
  • Die Erfindung ist nicht auf die in den Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispiele beschränkt, sondern kann in vielfacher Weise abgewandelt werden.

Claims (4)

Patentansprüche
1. Analog-Digital-Umsetzer nach dem Doppelintegrationsverfahren, bei dem die analoge Meßspannung in einem Integrierer während eines durch eine vorgegebene Anzahl von Takten eines Taktimpulserzeugers festgelegten ersten Zeitintervalls aufintegriert wird und die dann erreichte lntegrationsspannung während eines zweiten Zeitintervalls durch weitere Integration einer zur Neßspannung entgegengesetzt gerichteten festen Referenzspannung wieder auf Null abgebaut wird, wobei die während des zweiten Zeitintervalls auftretenden Impulse des Taktimpr enerators in einem Zähler gezählt werden und der Zählerinhalt beim Null-Durchgang der Integrationsspannung das digitale Umwandlungsergebnis darstellt, dadurch gekennzeichnet, daß eine kurz vor Beginn des ersten Zeitintervalls (t ) von einer Abfrageeinrichtung gesteuerte Urnschaltvorrichtung vorgesehen ist, durch die bei Meßspannungen (Ux), deren Absolutwerte unterhalb einer vorgegebenen Schwelle liegen, während des ersten Zeitintervalls (t1) entweder die Intervallzeit oder die Integrationszeitkonstante auf ein Vielfaches ihrer normalen Größe umgeschaltet ist, so daß die Integrationsspannung zu Beginn des zweiten Zeitintervalls (t3) um das entsprechende Vielfache vergrößert erscheint.
2. Analog-Digital-Umsetzer nach Anspruch 1, bei dem die Intervallzeit umgeschaltet wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Taktfrequenz des Taktimpulserzeugers umschaltbar ist.
3. Analog-Digital-Umsetzer nach Anspruch 1, bei dem die Integrationszeitkonstante umschaltbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Eingangswiderstand des Integrierers, über den im ersten Zeitintervall die Meßspannung zugeführt wird, umschaltbar ist.
4. Analog-Digital-Umsetzer nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Umschalteinrichtung von einem an sich bekannten "Fenstor-Komparator" gesteuert ist, dem die analoge Meßspannung als Eingangsspannung und die Grenzspannungen des Umschaltbereiches als Vergleichs~ spannungen zugeführt werden.
L e e r s e i t e
DE19712132513 1971-06-30 1971-06-30 Analog-digital-umsetzer nach dem doppelintegrationsverfahren Pending DE2132513A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19712132513 DE2132513A1 (de) 1971-06-30 1971-06-30 Analog-digital-umsetzer nach dem doppelintegrationsverfahren

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19712132513 DE2132513A1 (de) 1971-06-30 1971-06-30 Analog-digital-umsetzer nach dem doppelintegrationsverfahren

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2132513A1 true DE2132513A1 (de) 1973-01-11

Family

ID=5812243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19712132513 Pending DE2132513A1 (de) 1971-06-30 1971-06-30 Analog-digital-umsetzer nach dem doppelintegrationsverfahren

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2132513A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2842069A1 (de) * 1978-09-27 1980-04-10 Siemens Ag Analog-digitalumsetzer
EP0142703A2 (de) * 1983-10-24 1985-05-29 Intersil, Inc. Methode zur Bestimmung einer unbekannten Spannung und Dual-Slope AD-Wandler

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2842069A1 (de) * 1978-09-27 1980-04-10 Siemens Ag Analog-digitalumsetzer
EP0142703A2 (de) * 1983-10-24 1985-05-29 Intersil, Inc. Methode zur Bestimmung einer unbekannten Spannung und Dual-Slope AD-Wandler
EP0142703B1 (de) * 1983-10-24 1991-10-02 Intersil, Inc. Methode zur Bestimmung einer unbekannten Spannung und Dual-Slope AD-Wandler

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1948495A1 (de) Analogdigitalwandler fuer kleine Signale mit sicherer Beseitigung von Fehlerspannungen
DE1616374B1 (de) Anordnung zur Messbereichumschaltung bei einem digitalen Spannungsmesser
DE2548746A1 (de) Analog/digital-umsetzer
DE2923026A1 (de) Verfahren und anordnung zur analog/digital-umsetzung
DE3623136A1 (de) Vorrichtung zur messung des verhaeltnisses zwischen zwei kleinen kapazitaeten
DE2626899B2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Genauigkeitsüberprüfung eines Analog-Digitalwandlers
DE2946000C2 (de) Integrierende Analog-Digitalwandlerschaltung
DE2158057A1 (de) Analog-Digital-Wandler
DE3026714C2 (de)
DE2132513A1 (de) Analog-digital-umsetzer nach dem doppelintegrationsverfahren
DE2547746C3 (de) Vorrichtung zur Bildung des arithmetischen Mittelwertes einer Meßgröße
DE2356254A1 (de) Analog-digital-wandler
DE2621087A1 (de) Verfahren und schaltungsanordnung zum umwandeln einer analogen groesse in eine digitale groesse
DE1270091C2 (de) Stoerunterdrueckung fuer Analogsignale abschnittweise integrierende Schaltungen
DE3128306A1 (de) Schaltungsvorrichtung zur digitalisierung und extremwertermittlung analoger signale
DE2035109C3 (de) Einrichtung zur Erkennung des Abschlusses einer Umesterungsreaktion im Ablauf der Herstellung von Kunstharzen
DE2262606C3 (de) Schaltungsanordnung zur Abgabe eines Meßwertes, der das Verhältnis eines ersten Prüfsignals zu einem zweiten angibt
DE2521019A1 (de) Analog/digitalkonverter
DE2410585C3 (de) Impulsabstand-Spannungswandler
DE1616374C (de) Anordnung zur Meßbereichumschaltting bei einem digitalen Spannungsmesser
DE2143523C3 (de) Analog-Digital-Umsetzer
DE1762393B2 (de) Amplitudenkiskriminator
CH394383A (de) Messgerät für die Messung der Zeitkonstanten elektrischer Kreise
DE1541794A1 (de) Verfahren zur Bestimmung des Phasenwinkels zwischen den Impulsen zweier periodischer Impulsfolgen gleicher,beliebiger Frequenz
DE1516325A1 (de) Digital-Messvorrichtung zur genauen Bestimmung von Messgroessen