DE2113522C3 - Verfahren zuna berühningsfreien Messen eines Oberflächenprofils - Google Patents

Verfahren zuna berühningsfreien Messen eines Oberflächenprofils

Info

Publication number
DE2113522C3
DE2113522C3 DE19712113522 DE2113522A DE2113522C3 DE 2113522 C3 DE2113522 C3 DE 2113522C3 DE 19712113522 DE19712113522 DE 19712113522 DE 2113522 A DE2113522 A DE 2113522A DE 2113522 C3 DE2113522 C3 DE 2113522C3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
profile
laser
angle
points
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19712113522
Other languages
English (en)
Other versions
DE2113522A1 (de
DE2113522B2 (de
Inventor
Hans Eschler
Ekkehard Klement
Dieter Roess
Dieter Rosenberger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19712113522 priority Critical patent/DE2113522C3/de
Priority to GB435772A priority patent/GB1379769A/en
Priority to NL7202622A priority patent/NL7202622A/xx
Priority to SE251772A priority patent/SE382687B/xx
Priority to IT2185072A priority patent/IT950195B/it
Priority to FR7209379A priority patent/FR2129747A5/fr
Priority to BE780878A priority patent/BE780878A/xx
Priority to LU64991D priority patent/LU64991A1/xx
Priority to CA137,494A priority patent/CA969349A/en
Priority to JP2750672A priority patent/JPS6054605B1/ja
Publication of DE2113522A1 publication Critical patent/DE2113522A1/de
Publication of DE2113522B2 publication Critical patent/DE2113522B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2113522C3 publication Critical patent/DE2113522C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/08Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/10Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders using a parallactic triangle with variable angles and a base of fixed length in the observation station, e.g. in the instrument

Description

40 flächenprofils aus den Abstrahlwinkeln (\) und den
Empfaügswinkeln (ß) bestimmt werden.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum beruh- Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform der
rungsfreien Messen eines Oberfl^'.ienpronls mittels Erfindung werden der Lasersender und der Laserdevon einem Lasersender ausgehender Laserstrahlen, tektor auf einer horizontalen Linie angeordnet, mit die zeilenweise abgelenkt und dabei über die Ober- 45 der die ausgesandten Strahlen die Winkel λ und mit fläche geführt werden. der die empfangenen Strahlen die Winkel,; bilden
Es ist bereits mehrfach über berührungsfreie Ent- und aus die^n Winkeln (\ und ß) und aus der befernungsmessung mittels Laserstrahlen berichtet wor- kannten Eniiernung der Scheitel dieser Winkel die den. So schreiben z.B. Friedrich MaIota (Laser 1 Abstände der Profiloberfläche von der Bezugslinie [1969], 4, S. 49ff.) und Horst HeIbig (Ortung und 50 bestimmt. Es entstehen dann nämlich Dreiecke aus Navigation [1969], 4, S. 13 ff.) über eine Satellitenor- den ausgesandten, den zurückgeworfenen Strahlen tung mittels Triangulation. Dabei wurde der Satellit und der Bezugslinie, wobei die gesuchten Abstände vom Boden aus durch Lascrblitze beleuchtet und zu- dann die Höhen in den Dreiecken bilden. Diese Hösammen mit dem Sternenhimmel als Hintergrund hen, d. h. die gesuchten Abstände, lassen sich elektropln'.ographiert. Die Entfernung wurde durch Trian- 55 nisch sehr schnell aus den beide; Winkeln (·> und ß) gulation bestimmt, da die Aufnahme außer dem Sa- und dem Abstand der Scheitel der Winkel bestimtellitcn auch die Stellung des Satelliten zu den be- men. Die Winkel λ bekommt man nämlich durch kannten Sternorten enthielt. Es wird dort auch eine Zuordnung der Ablenkrichtung der ausgesandten genaue Entfernungsmessung mittels Impulslaufzeit- Strahlen ?u den Schallfrequcnzen, mit denen der Abmessung beschrieben. 60 lenkkristal durchstrahlt wird.
In einem Artikel von H.W. Sträub, Die Winkel./ zwischen der horizontalen Bezugsli-
J.M. Art habe r und A. L. Cope! and (Meß- nie und den Empfangsstrahlrichlungen lassen sich technik, 78 [1('7()], 5, S. 106 IT.) wird die Wirkungs- ebenfalls elektronisch sehr schnell ermitteln, wenn weise eines L.asergeodimeters beschrieben. Hier er- man insbesondere einen Detektor mit einer Einhält man die Entfernung zwischen zwei Punkten aus 65 gangsblende und einer flächenhaften Anordung von der Lichtgeschwindigkeit und der Lauf/eil eines lichtempfindlichen Elemente:! \erwendet, wobei der hoclifrequenzmodulicrtcn 1 ichtbündels. empfangene Laserstrahl auf ein durch die Strahlrich-
Bckamit ist auch ein Artikel von K.W. B ο η f i g tntig bcstininucs lichtempfindliches Element läuft,
das ein die Strahlrichtung kennzeichnendes Signal an zontalen Bezugslinie 15. Der Winkel a zwischen der
eine elektronische Auswertevorrichtung weiterleitet. ausgesandten Laseistrahlriditung und der gieicnen
Mittels eines elektronischen Rechners können aus Bezugslinie IS wird ebenfalls elektronisch testge-
diesen Daten die Abstände eines Profils von einer stellt. Der vom Sender 1 ausgesandte Lasemram
. Bezugslinie für alle Ausstrahlrichtungen der Laser- 5 wird nämlich von dem akustooptischen Licntaoien-
strahlen in kürzester Zeit ermittelt werden. ker 4 entsprechend einer stufenweise variablen unra-
Die Erfindung wird an Hand c/_r Zeichnung noch schallfrequenz, mit der der Ablenkkristall aurennäher beschrieben, strahlt wird, in berechenbare Richtungen ^^"f;
Die Figur zeigt ein Ausführungsbeispiel zur Ober- Ein ausgesandter und empfangener Laserstrahl bildet
flächenprofilmessung durch Triangulation. 10 zusammen mit der gemeinsamen Bezugslune 15 ein
Hier ist ein Lasersender 1 dargestellt, der einen Dreieck 6,7,11 mit den zu bestimmenden Winkein α
LasercszJ.lator 2 enthält mit einem anschließenden und ß, und der vorgegebenen Länge der >eite o, 1 -
Teleskop 3 zur Strahlaufweitung. Vom Ablenkkri- Aus diesen drei Daten läßt sich nunnie^ eieKtro-
stall 4 wird der abgelenkte Strahl über ein weiteres nisch die Höhe 16 in dem Dreieck 6,7, Il bestim-
TeleskopS vom Punkte 6 aus auf einen Punkt 7 des 15 men. Da der Laserstrahl zeilenweise über die ge-
Oberflächenprofils 8 gelenkt. Vor- dort wird der samte Oberfläche des Profils 8 abgelenkt wird, email
Laserstrahl u. a. in der gezeichneten Richtung zu man eine Matrix von Abständen 16 von der norizon-
einem Detektor 9 gestreut. Der Detektor 9 enthält am talen Bezugslinie 15. Infolge der elektroniscnen aus-
Cingang eine Blende 10 mit einer Öffnung 11, durch Wertung aller Daten und der ^F^™^^. °„
die der Laserstrahl hindurchgelangt und von einer ao ausgesandten Laserstrahls läßt sich em uoeniacnen-
optischen Anordnung 12 auf eine rasterförmige profil innerhalb weniger Millisekunden Bestimmen.
Fläche 13 aus lichtempfindlichen Elementen 14 fo- Die elektronische Ausgabevorrichtung ermogiicnt
kussiert wird, wobei das jeweils getroffene Element obendrein eine digitale Anzeige. Die angegeDenen
einen Stromstoß an eine elektronische Vorrichtung Verfahren können z. B. bei rechnergesteuerten rem-
weiterleitet. Aus dem signalisierenden Element er- »5 gungsprozessen verwendet werden, bei denen die
mittelt die Elektronik dann den Einfallswinkel β zwi- Standhöhen in Behältern laufend ermittelt weroen
sehen dem einfallenden Lichtstrahl und einer hon- müssen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

  1. und P. Greis (Arch. Techn. Messen, lfg 416 [Sep-
    Patentansprüche: tember 1970], S. 193 ff.) über die Anwendung des La
    sers in der Längenmessung. Es wird beschrieben, daß
    1. Verfahren zum berührungsfreien Messen bei der Längenmessung mit dem Laser der Lasereines Oberflächenprofils mittels von einem 5 strahl moduliert wird und man sich der Lautzeitme-Lasersender ausgehender Laserstrahlen, die zei- thode bedient,
    lenweise abgelenkt und dabei über die Ober- Diese bekannten Verfahren sind jedoch in der
    fläche geführt werden, dadurch gekenn- Durchführung langwierig, da Sender und Empfänger zeichnet, daß die auf der Oberfläche diffus auf die zu ermessenden Punkte genau nacheinander reflektierten Laserstrahlen über eine in einem ίο einjustiert werden müssen. Zur Messung eines Obervorgegebenen Abstand über der Oberfläche an- flächenprofils sind diese Verfahren daher ungeeignet, geordnete ausblendende und fokussierende Optik Aus der USA-Patentschrift 3 555 545 ist ein
    auf einen mit einer elektronischen Auswertevor- XYZ-Schreiber, insbesondere zur Aufzeichnung richtung in Verbindung stehenden Detektor fallen eines Landschaftsprofils bekannt. Um dieses Land- und daß die Punkte des Oberflächenprofils aus 15 Schaftsprofil aufzeichnen zu können, wird es z. B. den Abstrahlwinkeln («) und den Empfangswin- von einem Radar- oder Laserstrahl abgetastet. Diese kein (ß) bestimmt werden. Vorrichtung mißt die Impulslaufzeit der Radar- oder
    ?.. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch ge- Laserimpulse zwischen Meßstation und Profiloberkennzeichnet, daß der Lasersender und -de- fläche. Die Dauer oder Intensität der Belichtung tektor auf einer horizontalen Linie angeordnet ao einer Emulsionsschicht durch einen Lichtstrahl wird sind, mit der die ausgesandten Strahlen die Win- in Abhängigkeit von dem Meßergebnis gesteuert. Die kel (») und mit der die empfangenen Strahlen die so belichtete Emulsionsschicht nimmt nach ihrer Winkel (ß) bilden und daß aus diesen Winkeln Entwicklung die Form des vermessenen Landschafts-(a, ß) und aus der bekannten Entfernung der profils in verkleinertem Maßstab an.
    Scheitel dieser Winkel die Abstände der Punkte as Infolge des Entwicklungsvorganges ist hier eine rader Profiloberfläche von der Bezugslinie be- sehe Auswertung oder eine digitale Ausgabe und stimmt werden. Weiterlritung der Meßergebnisse zur Steuerung eines
    3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfah- Fertigungsprozesses nicht möglich,
    rens nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch Es besteht also die Aufgabe, ein Verfahren anzu-
    einen Detektor mit einer Eingangsblende und 30 geben, das es gestattet, ein Oberflächenprofil schnell einer matrixartigen Anordnung von lichtempfind- auszumessen und das Meßergebnis in digitaler Form liehen Elementen, wobei der empfangene Laser- weiterzuleiten.
    strahl auf ein durch die Strahlrichtung bestimm- Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch ge-
    tes lichtempfindliches Element läuft, das ein die löst, daß die auf der Oberfläche diffus reflektierten Strahlrichtung kennzeichnendes Signal an eine 35 Laserstrahlen über eine in einem vorgegebenen Abelektronische Auswertevorrichtung weiterleitet. stand über der Oberfläche angeordnet·; ausblendende
    und fokussierende Optik auf einen mit einer elektronischen Auswertevorrichtung in Verbindung stehen-
    den Detektor fallen und daß die Punkte des Ober-
DE19712113522 1971-03-19 1971-03-19 Verfahren zuna berühningsfreien Messen eines Oberflächenprofils Expired DE2113522C3 (de)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19712113522 DE2113522C3 (de) 1971-03-19 1971-03-19 Verfahren zuna berühningsfreien Messen eines Oberflächenprofils
GB435772A GB1379769A (en) 1971-03-19 1972-01-31 Distance measurement systems
NL7202622A NL7202622A (de) 1971-03-19 1972-02-29
SE251772A SE382687B (sv) 1971-03-19 1972-02-29 Forfarande och anordning for beroringsfri metning av en ytprofil medelst laserstralar.
IT2185072A IT950195B (it) 1971-03-19 1972-03-15 Sistema per la misurazione rapida senza contatto di un profilo super ficiale
BE780878A BE780878A (fr) 1971-03-19 1972-03-17 Procede pour la mesure rapide et sans contact du profil d'une surface
FR7209379A FR2129747A5 (de) 1971-03-19 1972-03-17
LU64991D LU64991A1 (de) 1971-03-19 1972-03-17
CA137,494A CA969349A (en) 1971-03-19 1972-03-20 Profile measuring device using a laser beam
JP2750672A JPS6054605B1 (de) 1971-03-19 1972-03-21

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19712113522 DE2113522C3 (de) 1971-03-19 1971-03-19 Verfahren zuna berühningsfreien Messen eines Oberflächenprofils

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2113522A1 DE2113522A1 (de) 1972-09-28
DE2113522B2 DE2113522B2 (de) 1973-10-11
DE2113522C3 true DE2113522C3 (de) 1974-05-09

Family

ID=5802203

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19712113522 Expired DE2113522C3 (de) 1971-03-19 1971-03-19 Verfahren zuna berühningsfreien Messen eines Oberflächenprofils

Country Status (10)

Country Link
JP (1) JPS6054605B1 (de)
BE (1) BE780878A (de)
CA (1) CA969349A (de)
DE (1) DE2113522C3 (de)
FR (1) FR2129747A5 (de)
GB (1) GB1379769A (de)
IT (1) IT950195B (de)
LU (1) LU64991A1 (de)
NL (1) NL7202622A (de)
SE (1) SE382687B (de)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3950723A (en) * 1974-02-21 1976-04-13 Westinghouse Electric Corporation Sonar apparatus
US4202630A (en) * 1975-01-15 1980-05-13 Fuji Photo Optical Co., Ltd. Method of and apparatus for recording surface irregularity of object
JPS5181646A (en) * 1975-01-15 1976-07-17 Fuji Photo Optical Co Ltd Tokosenkirokuhohooyobisochi
JPS6027924B2 (ja) * 1975-09-20 1985-07-02 日本鋼管株式会社 平板の形状測定方法
FR2439979A2 (fr) * 1976-09-02 1980-05-23 Iria Dispositif pour la determination de la position des points de la surface d'un corps
US4158507A (en) * 1977-07-27 1979-06-19 Recognition Equipment Incorporated Laser measuring system for inspection
CH628138A5 (de) * 1977-10-06 1982-02-15 Tino Celio Verfahren und vorrichtung zur messung der entfernung eines zielobjekts durch beaufschlagung mit einem strahlenbuendel sowie anwendung des verfahrens.
SE7903116L (sv) * 1979-06-14 1980-12-15 Inst Verkstadstek Forsk Ivf Forfarande for bestemning av ett foremals form och lege samt anordning for genomforande av forfarandet
DE3024679A1 (de) * 1980-06-30 1982-01-21 Rainer 7602 Oberkirch Hess Optisches kantenerkennungsgeraet
US4481534A (en) * 1981-04-29 1984-11-06 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Configuration detecting device
DE3244358C2 (de) * 1982-12-01 1984-10-04 Daimler-Benz Ag, 7000 Stuttgart Einrichtung zur Erfassung von Hindernissen als Rangierhilfe beim Einparken oder Wenden eines Kraftfahrzeuges
GB2143396B (en) * 1983-05-21 1987-06-17 Mac Co Ltd Beam riding location system
DE3342675A1 (de) * 1983-11-25 1985-06-05 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen vermessung von objekten
CA1235773A (en) * 1983-12-23 1988-04-26 Shigeto Nakayama Device for detecting road surface condition
GB2157826A (en) * 1984-04-17 1985-10-30 Carves Simon Ltd A surface topography measuring system
JPH01503329A (ja) * 1987-05-01 1989-11-09 ザ ブロークン ヒル プロプライエタリー カンパニー リミテツド 光学的に濃い雰囲気内の物体の監視
US5206699A (en) * 1988-05-06 1993-04-27 Gersan Establishment Sensing a narrow frequency band of radiation and gemstones
GB8826224D0 (en) * 1988-11-09 1988-12-14 Gersan Anstalt Sensing shape of object
GB9007248D0 (en) * 1990-03-30 1990-05-30 Imatronic Ltd Distance measurement
DE4112009A1 (de) * 1991-04-12 1992-10-22 Diehl Gmbh & Co Messsystem zur beruehrungslosen erfassung der kontur von langgegenstaenden mit diffus reflektierender oberflaeche
DE9213094U1 (de) * 1992-09-29 1993-04-22 Schleusener, Reiner, 2000 Hamburg, De
US5781302A (en) * 1996-07-22 1998-07-14 Geneva Steel Non-contact shape meter for flatness measurements

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3512871A (en) * 1965-06-22 1970-05-19 Ibm Light beam deflection using fourier optics
JPS5034427A (de) * 1973-07-31 1975-04-02

Also Published As

Publication number Publication date
BE780878A (fr) 1972-07-17
GB1379769A (en) 1975-01-08
IT950195B (it) 1973-06-20
SE382687B (sv) 1976-02-09
FR2129747A5 (de) 1972-10-27
JPS6054605B1 (de) 1985-11-30
DE2113522A1 (de) 1972-09-28
LU64991A1 (de) 1972-07-10
NL7202622A (de) 1972-09-21
CA969349A (en) 1975-06-17
DE2113522B2 (de) 1973-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2113522C3 (de) Verfahren zuna berühningsfreien Messen eines Oberflächenprofils
DE2152510C3 (de) Verfahren zum Nachweisen von Oberflächenfehlern und Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens
DE3937559C2 (de)
DE3930632A1 (de) Verfahren zur direkten phasenmessung von strahlung, insbesondere lichtstrahlung, und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens
DE2448651A1 (de) Anordnung zum beruehrungslosen messen der abmessungen eines bewegten messobjekts
DE2818060A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur optischen mass-pruefung
DE69726487T3 (de) Neigungssensor und diesen verwendendes Vermessungsinstrument
DE3138161A1 (de) Verfahren zur bestimmung von geometrischen parametern der oberflaeche eines objektes und einrichtung zu dessen durchfuehrung
DE3418767A1 (de) Optisches messgeraet
DE2124444C3 (de) Verfahren zum Bestimmen der Dicke oder Breite von ebenen Werkstucken
DE3302948C2 (de) Meßgerät zur berührungslosen optischen Abstandsmessung
DE2150963A1 (de) Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren der Temperatur eines Infrarotstrahlung emittierenden Gegenstandes
DE3409522A1 (de) Einrichtung zum messen des flaecheninhaltes der projektion eines pruefkoerpers auf eine ebene
EP0280110B1 (de) Sensor mit integrierter Signalverarbeitung für ein- bis dreidimensionale Positionierung
DE2526753A1 (de) Verfahren und anordnung zur vermessung der bewegung und/oder deformation von grossen objekten
DE1953630C3 (de) Vorrichtung zum Messen der Geschwindigkeit von Partikeln in einem Strömungsmittel
CH684026A5 (de) Verfahren zur Messung von relativen Winkeln.
CH629297A5 (en) Device for determining the polar coordinates of the offset of an object with respect to an optical reference line
DE3127086A1 (de) Geraet zur messung des tageslichts
DE4201024A1 (de) Tragbares spektralphotometer zur in situ untersuchung des absorptionsspektrums eines stoffes
DE3921956A1 (de) Verfahren zur beruehrungslosen dickenmessung von faserigen, koernigen oder poroesen materialien sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE4422886A1 (de) Verfahren und Einrichtung zur optischen Bestimmung räumlicher Positionen einzelner reflektierender Objekte
DE1951026C1 (de) Verfahren zur Entfernungsmessung auf optischem Wege
EP0066030B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur interferometrischen Ebenheitsmessung
EP0387521A2 (de) Optischer Abstandssensor

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977
8339 Ceased/non-payment of the annual fee