DE2037630A1 - Elektrisches Verbindungstell und Ver fahren zur Herstellung solcher Verbindungs teile, insbesondere fur Mikroschahungen - Google Patents

Elektrisches Verbindungstell und Ver fahren zur Herstellung solcher Verbindungs teile, insbesondere fur Mikroschahungen

Info

Publication number
DE2037630A1
DE2037630A1 DE19702037630 DE2037630A DE2037630A1 DE 2037630 A1 DE2037630 A1 DE 2037630A1 DE 19702037630 DE19702037630 DE 19702037630 DE 2037630 A DE2037630 A DE 2037630A DE 2037630 A1 DE2037630 A1 DE 2037630A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
mercury
amalgam
dome
produced
connection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19702037630
Other languages
English (en)
Inventor
Guy Georges St Michel sur Orge Regal Jean Claude Andre Montlucon Gorinas, (Frankreich)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alsacienne de Constructions Atomiques de Telecommunications et dElectronique ALCATEL
Original Assignee
Alsacienne de Constructions Atomiques de Telecommunications et dElectronique ALCATEL
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Alsacienne de Constructions Atomiques de Telecommunications et dElectronique ALCATEL filed Critical Alsacienne de Constructions Atomiques de Telecommunications et dElectronique ALCATEL
Publication of DE2037630A1 publication Critical patent/DE2037630A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • B23K35/24Selection of soldering or welding materials proper
    • B23K35/26Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/71Coupling devices for rigid printing circuits or like structures
    • H01R12/712Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit
    • H01R12/714Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit with contacts abutting directly the printed circuit; Button contacts therefore provided on the printed circuit
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R4/00Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation
    • H01R4/58Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation characterised by the form or material of the contacting members
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R9/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, e.g. terminal strips or terminal blocks; Terminals or binding posts mounted upon a base or in a case; Bases therefor
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3463Solder compositions in relation to features of the printed circuit board or the mounting process
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/818Bonding techniques
    • H01L2224/81801Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0105Tin [Sn]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49121Beam lead frame or beam lead device
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49174Assembling terminal to elongated conductor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Description

SOCIETE ALSACIENNE DE CONSTRUCTIONS ATOMIQUES DE TELECOMMUNICATIONS ET D»ELECTRONIQUE ALCATEL
32',rue de Lisbonne, -75- PARIS (8), Frankreich
ELEKTRISCHES VERBINDUNGSTEIL UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG SOLCHER VERBINDUNGSTEILE, INSBESONDERE FÜR MIKROSCHALTUNGEN
Die Erfindung betrifft elektrische Verbindungen und hierfür verwendete Vorrichtungen, beispielsweise für Mikroschaltungen.
Nach bisher bekannten Verfahren wird der Kontakt oder die Verbindung zwischen den Ausgangsklemmen beispielsweise einer Mikroschaltung und den Aussenleitern entweder durch Schweissen, und zwar unter Anwendung von Druck und Wärme oder Ultraschallwellen, oder durch mechanische Vorrichtungen, insbesondere Druckverbinder, hergestellt.
Die herkömmlichen Verfahren weisen jedoch eine bestimmte Anzahl von Nachteilen auf ι
009887/1878
Vor allem ermöglichen sie keine ausreichende Verbindungsdichte pro Längeneinheit der Mikroschaltung, was einen beträchtlich erhöhten Platzbedarf der Vorrichtungen, in denen die Mikro-• Schaltungen untergebracht sind, mit sich bringt.
Im Übrigen besitzen die auf diese Weise hergestellten Verbindungen eine mittelmässige Zuverlässigkeit bei mehr als zwei bis drei Verbindungen pro Millimeter, so dass ihre Verwendung in bestimmten elektronischen Vorrichtungen, bei denen eine sehr grosse Betriebssicherheit gewährleistet sein muss, nicht möglich ist.
Aüsserdem erfordert die Herstellung solcher Verbindungen umfangreiche technische Vorrichtungen, was manchmal die Gesamtherstellungskosten wesentlich erhöht.
Um solche Nachteile auszuschalten, besonders um die Ver— bindungsdichte zu erhöhen^ haben Fachleute bereits vorgeschlagen, zunächst die Klemme und den leiter zu verzinnen, die beiden Teile nebeneinander anzuordnen und dann miteinander zu verschmelzen.
Obgleich ein solches Verfahren manchifeil g^nz gute Ergebnisse bringen kann, werden dafür umfangreiche Schweissapparate benötigt, so dass die derart hergestellten Verbindungen einen besonders hohen Gestehungspreis aufweisen.
Aüsserdem erfordern solche Schweisstellen hohe Temperaturen, die die Beschädigung des Trägers oder der Bauteile der MikroSchaltungen bewirken^ auf denen sie-hergestellt worden sind.
009887/1878
Gegenstand der Frfindung ist ein Verfahren fUr die Herstellung elektrischer Verbindimgsteile zur Erzielung einer hohen Verbindungsdichte, was besonders bei Mikroschaltungen wünschenswert ist, wobei gleichzeitig eine hohe Zuverlässigkeit selbst bei niedrigen Temperaturen gewährleistet ist,
Dr.s erfindungsgemasse Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass jedes zu verbindende leitende Teil mit einer dünnen' Schicht mindestens eines Metalls Überzogen wird, das mit Quecksilber ein Anrlgam bilden kann, und dass so r.uf jedem Teil ein Amalgam,,gebildet wird, auf dem eine dünne, leicht gew'olbte kuppenformige Quecksilberschicht aufgebracht wird, und zwar dadurch, dass jedes Teil mit einer im Verhältnis zu dem zur Amr.lgrjnierung unbedingt nötigen Quecksilber Überschüssigen Quecksilbermenge in Berührung gebracht und die Verbindung durch einfaches Nebeneinanderanordnen der jeweils auf den zu verbindenden Teilen gebildeten Quecksilterku-open hergestellt wird.
Die Erfindung betrifft r.usserdem ein elektrisches Verbindungsteil, das dadurch gekennzeichnet ist, dass es im wesentlichen aus einem leitenden Körper besteht, auf dem ein auf diesem gebildetes Amalgam aus Quecksilber und wenigstens einem Be Schichtungsmet nil aufgebracht ist, wobei sich auf dem An*\lgam eineVdUnne, leicht gewölbte, kuppenförmige Quecksilberschicht befindet.
Das erfindungsgea&sse Verfahren kann vorteilhafterweise für die Verbindung von Mikroschaltungsteilen, wie Klemmen und Leitern, angewendet werden, und zwar zur besonders leichten
009887/1878
Kontaktherstellung und -lösung.
D?„s gewählte Beschichtungsnetall ist Gold, Silber oder jedes andere Metall, das mit Quecksilber ein dauerhaftes, festes Amalgam unter den Anwendungsbedingungen der Verbindungsteile bildet.
Die Herstellung des Amalgams und der Quecksilberkuppe auf den betreffenden Teilen kann durch einfaches Eintauchen der T!eile in ein Quecksilberbr.d während eines sehr kurzen Zeitraums geschehen.
In der Praxis hat sich herausgestellt, dass eine dünne Schicht des Metalls zur Herstellung eines am Leiter haftenden Amalgams genllgt. PUr einen zylindrischen Leitungsdraht mit gegebenen Querschnitt ist eine Metallschicht von einer mehr als 0,1» betragenden Dicke·geeignet.
Die Quecksilbermenge der des Amalgam umgebenden Kuppe muss gerade ausreichen, um die Verbindung zweier solche Kuppen aufweisenden Verbindungsteile zu ermöglichen. Als Beispiel sei darauf hingewiesen, dass für einen flachen Leitungsdraht mit der Breite d Kuppen zwischen 0,05 d bis 0,2 d hergestellt werden können.
Die Vorteile der Erfindung sind unter anderem folgende ;
- Infolge der durch die Quecksilberkuppen bewirkten flüssigen Verbindung können die so hergestellten Verbindungen sehr leicht und schnell vorgenommen oder gelöst werden. Da ausserdem auf der Klemme und dem Leiter jeweils die Quecksilberkuppe infolge
αλλα BADORIQJWAL
009887/1878
der zwischen dem Quecksilber und dem darunter befindlichen AmeJ.gam bestehenden Oberflächenspannung verbleibt, kann ein solches Heastellen oder Lösen der Verbindungen beliebig vorgenommen werden, ohne dass jedesmal ein erneutes Eintauchen notwendig ware.
-* Beim Ubereinanderanordnen der Quecksilberkuppen bewirkt deren Verbindung von selbst die Ausrichtung jedes Leiters auf die entsprechende Klemme, wa.s die Verwendung eines Einstellsystems grosser Genauigkeit erübrigt.
- Infolge des Haftens der Quecksilberkuppen auf dem darunterbefindlichen Amalgam kann das Quecksilber nicht mit dem Quecksilber der benachbarten Kuppen in Berührung kommen, wodurch es möglich ist, einerseits eine grosse Verbindungsdichte und andererseits eine hohe Zuverlässigkeit zu erzielen.
- In dem Sonderfall, dass derartige Verbindungen sehr niedrigen Temperaturen ausgesetzt werden sollen, besitzen die so herger stellten Kontakte den bemerkenswerten Vorteil, supraleitend zu sein, was ermöglicht, sie in kryoelektrische Vorrichtungen einzubauen·
Nachstehend wird ein erfindungsgemasses Ausführungsbeispiel an Hand der Zeichnung beschrieben.
Pig, 1 zeigt im. Schnitt zwei erfindungsgemässe Leiter vor ihrer Kontaktierung, und
Fig. 2 zeigt im Schnitt zwei blanke Leiter nach Herstellung der Verbindung.
009887/1878
In Pig. 1 ist im Schnitt eine Mikroschaltung gezeigt, die einen Träger 1 aufweist, auf dem durch Aufbringung von Chrom gebildete Klemmen 2 angeordnet sind. Die Chromschicht wird mit 'einer dünnen Goldschicht 3 überzogen, und zwar vor allem durch Aufdampfung oder Pulverisierung im Vakuum. Der Aussenleiter nach Fig. 1 besteht aus einem Kupfer-Schichtleiter 5 und einer dünnen Goldschicht 6. Die Aussenleiter können aus Gold- oder vergoldeten Kupferdrähten oder aus einem beliebigen anderen mit Gold oder Silber überzogenen Träger bestehen.
Zunächst werden ungefähr einige Sekunden lang die Klemmen der Mikroschaltung und die Aussenleiterenden in ein Quecksilberbad getaucht. Durch dieses Bad entsteht ein Amalgam aus Gold und Quecksilber, das stark an den einzelnen Klemmen und Aussenleitern haftet.
Nach dem Herausnehmen der Mikroschaltung und der Aussenleiter aus dem Quecksilberbad benetzt ein leichter Quecksilberüberschuss das hergestellte Amalgam und bildet zwei Kuppen 7 und 8 an dessen Oberfläche? die Kuppen haften durch Oberflächenspannung sehr stark an dem Amalgam und reiehen im übrigen nicht über die Klemme oder den Leiter hinaus, auf dem sie sich gebildet haben.
Dann wird die eigentliche Herstellung der Verbindungen nach Pig. 2 vorgenommen, dazu genügt es, die auf jedem Aussen- · leiter entstandene Kuppe 8 mit dem mit der Klemme der dem Leiter entsprechenden Mikroschaltung verbundenen Kuppe 7 zu verbinden. Hierbei richten sich die Aussenleiter unter der Wirkung
009887/1879
der OberiTdchxmspnnnung zwischen den Quecksilberkuppen von selbst auf die Klemmen aus, so dass ein ausgezeichneter elektrischer Kontakt hergestellt wird, ohne dass KurzschlusBgefahr mit den benachbarten Klemmen besteht. Die beiden Kuppen 7 und 8 verschmelzen zur Kuppe 9·
Wenn umgekehrt die Aussenleiter der Mikroschaltung gelöst werden sollen, genügt es, sie einfach herauszuziehenj ebenso wie an den Klemmen verbleibt an ihnen die Quecksilberkuppe.
Es ist demnach möglich, auf eine besonders einfache Weise
den Kontakt zwischen der Mikroschaltung einerseits und den Aussenleitern andererseits herzustellen oder zu unterbrechen»
Es ist zu bemerken, dass, falls die so hergestellten Mikroschr.ltungen bei Umgebungstemr ο ratur und Bedingungen, unter denen sie St'dssen, Erschütterungen oder -aideren Beanspruchungen ausgesetzt sind, betrieben werden, die Aussenleiter vorteilhafterweise auf den Klemmen durch eine sehr einfache mechanische Verbindung oder jedes andere geeignete Mittel befestigt werden können.
' i
Wenn dagegen derartige Mikroschaltungen bei. ziemlich nied-
rigen Temperature arbeiten sollen, die unterhalb des Erstarrungspunktes des Quecksilbers (- 390C) liegen, erweist sich die Verwendung einer mechnnischen Verbindung als ungeeignet. Falls die Mikroschaltungen bei sehr niedrigen Temperaturen von ungefähr 4» 15° K arbeiten sollen, werden die vom Quecksilber und dem Amalgam gebildeten Kontakte supraleitend, was einen
009987/1878
' 203763Ό
schätzenswerten Vorteil darstellt, wenn die Mikroschaltungen in kryoelektrischen Vorrichtungen untergebracht sind.
009887/1878

Claims (5)

  1. PATENTANSPRÜCHE
    V 1 ^//"erfahren zur Herstellung von elektrischen Verbindungen dadurch, gekennzeichnet, dass jedes zu verbindende leitende Teil mit einer dünnen Schicht (3) mindestens eines Metalls überzogen wird, das ein Amalgam mit Quecksilber bilden kann, und dass so auf jedem Teil ein Amalgam hergestellt wird, auf dem eine dünne,leicht gewölbte, kuppenförmige Quecksilberschicht (7) dadurch aufgebracht wird, dass jedes Teil mit einer im Verhältnis zu dem zur Amalgarnierung unbedingt nötigen Quecksilber überschüssigen Quecksilbermenf-;e in Berührung gebracht wird, wobei die Verbindung durch einfaches Nebeneinanderanordnen (9) der jeweils auf den zu verbindenden Teilen gebildeten Quecksilberkuppen hergestellt wird.
  2. 2. Elektrisches Verbindungsteil, das im wesentlichen einen leitenden Körper aufweist, auf dem ein auf diesem hergestelltes Amalgam aus Quecksilber und mindestens einem Beschichtungsmetall aufgebracht ist, dadurch gekennzeichnet, dass auf ihm eine dünne Quecksilberschicht in Form einer leicht gewölbten Kuppe (7, 8) aufgebracht ist.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als Beschichtungsraetall Gold oder Silber verwendet wird.
  4. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2,
    BAD ORiGUMAL 009887/1878
    dadurch gekennzeichnet, dass das Amalgam und die Quecksilberkuppe durch einfaches, eine sehr kurze Zeit wahrendes Eintauchen der zu verbindenden Teile in ein Quecksilberbad hergestellt werden. ;
  5. 5. Mikro schaltungen mit Verbindungsteilen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass sie besonders bei niedrigen Temperaturen in kryoelektrischen Vorrichtungen verwendet werden können.
    009887/1878
DE19702037630 1969-07-31 1970-07-29 Elektrisches Verbindungstell und Ver fahren zur Herstellung solcher Verbindungs teile, insbesondere fur Mikroschahungen Pending DE2037630A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR6926367A FR2052245A5 (de) 1969-07-31 1969-07-31

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2037630A1 true DE2037630A1 (de) 1971-02-11

Family

ID=9038423

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19702037630 Pending DE2037630A1 (de) 1969-07-31 1970-07-29 Elektrisches Verbindungstell und Ver fahren zur Herstellung solcher Verbindungs teile, insbesondere fur Mikroschahungen

Country Status (3)

Country Link
US (1) US3702500A (de)
DE (1) DE2037630A1 (de)
FR (1) FR2052245A5 (de)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3869787A (en) * 1973-01-02 1975-03-11 Honeywell Inf Systems Method for precisely aligning circuit devices coarsely positioned on a substrate
US4044816A (en) * 1975-06-19 1977-08-30 Theodore H. Krueger Formation of metal parts
US4739917A (en) * 1987-01-12 1988-04-26 Ford Motor Company Dual solder process for connecting electrically conducting terminals of electrical components to printed circuit conductors
US5038996A (en) * 1988-10-12 1991-08-13 International Business Machines Corporation Bonding of metallic surfaces
EP0385142B1 (de) * 1989-02-28 1995-09-27 Fujitsu Limited Elektrische Verbindungsvorrichtung
US5007163A (en) * 1990-04-18 1991-04-16 International Business Machines Corporation Non-destructure method of performing electrical burn-in testing of semiconductor chips
US5192835A (en) * 1990-10-09 1993-03-09 Eastman Kodak Company Bonding of solid state device to terminal board
US5269453A (en) * 1992-04-02 1993-12-14 Motorola, Inc. Low temperature method for forming solder bump interconnections to a plated circuit trace
US7348494B1 (en) * 2000-12-15 2008-03-25 Nortel Networks Limited Signal layer interconnects
US7964800B2 (en) * 2006-05-25 2011-06-21 Fujikura Ltd. Printed wiring board, method for forming the printed wiring board, and board interconnection structure
JP2008192878A (ja) * 2007-02-06 2008-08-21 Shinko Electric Ind Co Ltd 多層配線基板及びその製造方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1170388A (en) * 1911-09-07 1916-02-01 Hermann Anschuetz-Kaempfe Electrical contact.
US1792973A (en) * 1928-12-04 1931-02-17 Harry J Frenz Electrical socket
US2354081A (en) * 1940-01-20 1944-07-18 Gen Electric Method of forming contacts
US2655641A (en) * 1948-10-29 1953-10-13 Aircraft Marine Prod Inc Electrical connector having a mercury amalgam coating on its inner surface
US2735050A (en) * 1952-10-22 1956-02-14 Liquid soldering process and articles
US2737711A (en) * 1954-12-13 1956-03-13 Mansfield Sanitary Pottery Inc Method of assembling ball cocks and the like
US2846762A (en) * 1955-02-17 1958-08-12 David E Walker Metal plating process
US2947939A (en) * 1956-09-24 1960-08-02 Libbey Owens Ford Glass Co Testing electrically conductive articles
US3110089A (en) * 1959-12-16 1963-11-12 Engelhard Ind Inc Method of bonding amalgam inserts in cavities and structure thereby produced
US3165403A (en) * 1962-03-27 1965-01-12 Gen Electric Superconductive materials
US3622944A (en) * 1969-08-05 1971-11-23 Tokai Denki Kk Electrical connector

Also Published As

Publication number Publication date
FR2052245A5 (de) 1971-04-09
US3702500A (en) 1972-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19747756C2 (de) Klemmenmaterial und Anschlußklemme
EP0004289A2 (de) Verfahren zum Verbinden einer ersten integrierten Schaltungsvorrichtung mit einer Anzahl von Verbindungspunkten mit einer zweiten integrierten Schaltungsvorrichtung
DE3140348A1 (de) Verfahren zur gleichzeitigen herstellung mehrfacher elektrischer verbindungen, insbesondere zum elektrischen anschluss eines halbleiterbauelementes
DE1440860B2 (de) Verbund-metallstreifen
DE2037630A1 (de) Elektrisches Verbindungstell und Ver fahren zur Herstellung solcher Verbindungs teile, insbesondere fur Mikroschahungen
EP0371310B1 (de) Verfahren zur Herstellung einer elektrisch leitenden Verbindung mit einem Flachleiter
DE1765164B2 (de) Verfahren zur bindung von stromleitern
DE2315711A1 (de) Verfahren zum kontaktieren von in einem halbleiterkoerper untergebrachten integrierten schaltungen mit hilfe eines ersten kontaktierungsrahmens
DE1956501A1 (de) Gehaeuse fuer integrierte Halbleiter-Schaltungen
DE2643147A1 (de) Halbleiterdiode
DE2855838A1 (de) Traegerstreifen fuer runde anschlussstifte und verfahren zur herstellung von traegerstreifen
DE2454605C2 (de) Halbleiterbauelement
EP0030024B1 (de) Verfahren zum Anbringen und Befestigen von Stromzuführungsdrähten an elektrischen Bauelementen
DE1952499A1 (de) Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements
DE1292755B (de) Verfahren zum serienmaessigen Sockeln und Gehaeuseeinbau von Halbleiterbauelementen
DE19544641B4 (de) Solarzellen-Verbinder für Raumfahrt-Solargeneratoren
DE2056193A1 (de) Verfahren zum Kontaktieren von elektri sehen Klemstbauelementen
DE1123406B (de) Verfahren zur Herstellung von legierten Halbleiteranordnungen
DE8234750U1 (de) Steckelement einer elektrischen Steckvorrichtung
DE2003423C3 (de) Verfahren zum Kontaktieren von Halbleiteranordnungen
DE19800566A1 (de) Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelementes und ein derart hergestelltes Halbleiterbauelement
DE7605140U1 (de)
DE2242393C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer mehrschichtigen Schaltungsanordnung aus elektrisch isolierenden Schichten
DE2057126C3 (de) Anordnung und Verfahren zur Kontaktierung von Halbleiterbauelementen
DE1927305C3 (de) Elektronischer Mikrobaustein und Verfahren zu seiner Herstellung