DE20106689U1 - Spektralphotometer - Google Patents

Spektralphotometer

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DE20106689U1
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59—Transmissivity
    • G01N21/5907—Densitometers

Description

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Claims (14)

1. Spektralphotometer zum Erfassen des Absorptions- oder Transmissions­ verhaltens einer Probe mit einem Photodetektor, der ausgebildet ist, die Intensität elektromagnetischer Strahlung zu erfassen und als Intensitäts­ signal auszugeben, einer Beleuchtungseinrichtung zum Abgeben elek­ tromagnetischer Strahlung und einem Probenhalter für die Probe, wobei der Photodetektor, die Beleuchtungseinrichtung und der Probenhalter derart an­ geordnet sind, dass die von der Beleuchtungseinrichtung abgegebene Strahlung zumindest während der Erfassung der Intensität der elektromagnetischen Strahlung die Probe durchleuchtet und anschließend von dem Photodetektor erfaßt wird, gekennzeichnet durch einen Am­ plitudenmodulator, der ausgebildet ist, eine Amplitude des von der Beleuchtungseinrichtung ausgehenden Lichtstrahls mit einer festen Modulationsfrequenz zu modulieren, und einen Lock-In-Verstärker, der ausgebildet ist, ein von dem Photodetektor ausgegebenes Intensitätssignal zu verstärken.
2. Spektralphotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Amplitudenmodulator eine Blende und einen Blendenantrieb aufweist, der ausgebildet ist, mittels der Blende die von der Beleuchtungseinrichtung ausgehende Strahlung mit der Modulationsfrequenz periodisch abzudeken.
3. Spektralphotometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Blendenantrieb ausgebildet ist, die Blende um eine Rotationsachse gleich­ mäßig zu rotieren, so dass der von dem Strahlerzeuger ausgehenden Lichtstrahl von der Blende periodisch abgedeckt wird.
4. Spektralphotometer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Blende derart ausgebildet ist, dass sie bei einer gleichmäßigen Rotation um 360° um die Rotationsachse den Lichtstrahl in regelmäßigen Abständen mehrfach abdeckt und freigibt.
5. Spektralphotometer nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Blende eine Segmentblende darstellt.
6. Spektralphotometer nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Lock-in-Verstärker ein Bandpassfilter und eine Verstärkereinheit aufweist, die miteinander verbunden sind, und das Bandpassfilter ausgebildet ist, das von dem Photodetektor ausgegebene Intensitätssignal zu empfangen und gefiltert an die Verstärkungseinheit auszugeben, wobei die Modulationsfrequenz im Durchlassbereich des Band­ passfilters liegt.
7. Spektralphotometer nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das Bandpassfilter einen Frequenzgenerator, einen Multiplizierer und einen Integrierer aufweist, wobei der Frequenzgenerator ausgebildet ist, ein periodisches Referenzsignal auszugeben, das die Modulationsfrequenz aufweist, der Multiplizierer ausgebildet ist, das von dem Photodetektor ausgegebene Intensitätssignal mit dem Referenzsignal zu multiplizieren, und der Integrierer ausgebildet ist, das mit dem Referenzsignal multiplizierte Intenstitätssignal zu integrieren.
8. Spektralphotometer nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Bandpassfilter derart ausgebildet ist, dass zu erwartende Rausch­ frequenzen im Intensitätssignal außerhalb des Durchlassbereichs des Bandpassfilters liegen.
9. Spektralphotometer nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Probenhalter einen Cuvettenschacht aufweist, der ausgebildet ist eine Cuvette aufzunehmen, in der die Probe bereitzustellen ist.
10. Spektralphotometer nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Beleuchtungseinrichtung ausgebildet ist, im wesentlichen monochromatische elektromagnetische Strahlung abzugeben.
11. Spektralphotometer nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Beleuchtungseinrichtung ausgebildet ist, die im wesentlichen monochro­ matische elektromagnetische Strahlung mit einstellbaren Wellenlängen auszugeben.
12. Spektralphotometer nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Beleuchtungsquelle eine Strahlungsquelle zum Erzeugen breitban­ diger elektromagnetischer Strahlung und einen Monochromator aufweist, wobei die Strahlungsquelle und der Monochromator derart angeordnet sind, dass der Monochromator im wesentlichen einen Frequenzbestandteil der breitbandige elektromagnetische Strahlung herausfiltert und im Wesentlichen monochromatische elektromagnetische Strahlung ausgibt.
13. Spektralphotometer nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass der Monochromator ein Beugungsgitter und eine Lochblende aufweist, wobei das Beugungsgitter und die Lochblende derart angeordnet sind, dass die breitbandige elektromagnetische Strahlung unter einem Einfallswinkel auf das Beugungsgitter auftrifft, die Frequenzbestandteile der breitbandigen elektromagnetischen Strahlung in unterschiedliche Richtungen abgelenkt werden und einer der Frequenzbestandteile durch die Lochblende tritt.
14. Spektralphotometer nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass der Einfallwinkel der breitbandigen elektromagnetischen Strahlung auf das Beugungsgitter durch Rotation des Beugungsgitter um einen Drehwinkel mittels eines Drehantriebs einstellbar ist.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009023615A1 (de) * 2009-06-02 2010-12-09 Osram Opto Semiconductors Gmbh Messeinrichtung, Messsystem und Verfahren zur Messung der Kontamination eines lichtdurchlässigen Messobjekts
DE102012101858A1 (de) * 2012-03-06 2013-09-12 MBE- Komponenten GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Partialdrucke von Prozessstoffen
CN104614071A (zh) * 2014-12-09 2015-05-13 浙江福立分析仪器有限公司 一种分光光度计的小型化光路结构及其应用方法

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