DE19961481B4 - Zentriertes Sphärenspektrometer - Google Patents
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Abstract
Zentriertes
sphärisches
Ermittlungssystem für
Atom-Emissions-Spektrometer mit:
einer Kammer (35) mit einem Eingangsschlitz (40);
einem sphärischen konvexen Beugungsgitter (50), das innerhalb der Kammer (35) angeordnet ist und entlang einer Mittenachse, die von dem Eingangsschlitz (40) versetzt ist, ausgerichtet ist und das einen ersten Krümmungsradius aufweist;
einem ersten konkaven sphärischen Spiegel (60) mit einem Krümmungsradius, der ungefähr zweimal so groß ist wie der des Beugungsgitters (50), der versetzt bezüglich der Mittenachse des Gitters in einer ersten Richtung angeordnet ist, wobei der Krümmungsmittelpunkt des Spiegels mit dem Krümmungsmittelpunkt des Beugungsgitters übereinstimmt;
einem zweiten konkaven sphärischen Spiegel (70) mit einem Krümmungsradius, der ungefähr zweimal so groß ist wie der des Beugungsgitters (50), der auf einer Seite von der Mittenachse angeordnet ist, die dem ersten Spiegel gegenüberliegt und der mit seinem Krümmungsmittelpunkt ausgerichtet ist, so dass dieser mit dem des ersten Spiegels (60) und dem des Beugungsgitters (50) zusammenfällt, wobei der...
einer Kammer (35) mit einem Eingangsschlitz (40);
einem sphärischen konvexen Beugungsgitter (50), das innerhalb der Kammer (35) angeordnet ist und entlang einer Mittenachse, die von dem Eingangsschlitz (40) versetzt ist, ausgerichtet ist und das einen ersten Krümmungsradius aufweist;
einem ersten konkaven sphärischen Spiegel (60) mit einem Krümmungsradius, der ungefähr zweimal so groß ist wie der des Beugungsgitters (50), der versetzt bezüglich der Mittenachse des Gitters in einer ersten Richtung angeordnet ist, wobei der Krümmungsmittelpunkt des Spiegels mit dem Krümmungsmittelpunkt des Beugungsgitters übereinstimmt;
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Description
- Hintergrund der Erfindung
- Die folgende Erfindung betrifft ein Atom-Emissions-Spektrometer und insbesondere eine Anordnung von Beugungsgitter, Spiegel und Detektor.
- Spektrometer verwenden typischerweise ein konkav gekrümmtes Beugungsgitter und einen oder mehrere Spiegel, durch welche einfallende spektrale Emissionen in Richtung auf das Beugungsgitter gerichtet werden, wobei das konkav gekrümmte Beugungsgitter die einfallenden Emissionsspektren in unterschiedliche Spektralbänder aufteilt, die dann von einem Spiegel auf einen Detektor reflektiert werden.
- Der Detektor ist hierbei ein etwas längliches Feld von Fotodetektoren über der Bildebene, wobei die Bildebene typischerweise nicht flach ist und daher eine Feldkrümmung aufweist, wodurch die Bildqualität und folglich die verfügbare Spektralabdeckung verringert wird. Ferner sind die länglichen Detektoren teuer in der Anschaffung.
- Aus dem Stand der Technik sind ferner Spektrometer bekannt, die ein konvex gekrümmtes Beugungsgitter aufweisen, meist in Kombination mit konkaven Spiegeln, womit die Abbil dungsleistung verbessert werden kann. Ein Spektrometer dieser Bauart zeigt beispielsweise das Schutzrecht
DE 297 16 331 U1 , das einen Eintrittsspalt, einen einzelnen konkaven Spiegel, das konvexe Beugungsgitter sowie in der Bildebene einen Detektor aufweist. Die WO 99/56096 A1 zeigt neben dieser Ausführung eine weitere verbesserte Ausführungsform, bei der zwei konkave Spiegel beinhaltet sind. Ausführungsformen mit einen einzelnen, sowie mit zwei konkaven Spiegeln zeigt ebenso dieUS 5,880,834 A , wobei hier je nach Ausführungsform auch Prismen und Kuben zur Teilung und Reflexiona angeordnet sein können. DieFR 2 653 879 A1 - Das System der vorliegenden Erfindung überwindet die Schwierigkeit mit den bekannten Spektrometern durch Bereitstellung eines sphärischen, konvexen Beugungsgitters, das einen Krümmungsradius aufweist, der halb so groß ist, wie der Krümmungsradius von einem oder mehreren konkaven sphärischen Spiegeln, die mit dem Beugungsgitter eingesetzt werden. Das Beugungsgitter und die Spiegel sind innerhalb einer Kammer so positioniert, dass ihr Krümmungszentrum in der Brennebene zusammenfällt, welche eine flache Feldbrennebene ist, an welcher eine Vielzahl von relativ gering beabstandeten linearen Detektoren an gegenüberliegenden Seiten des Emissionseintrittsschlitzes angeordnet sind. Diese Anordnung führt zu zwei Dispersionsebenen in + und – Beugungsordnungen, um die Ermittlung von alternierenden Segmenten eines interessierenden Wellenlängenbandes zu gewährleisten, welche physikalisch auf gegenüberliegenden Seiten des Eingangsschlitzes beabstandet sind. Eine derartige Anordnung beseitigt den Bedarf für teure längliche Einzeldetektoren und ermöglicht die Verwendung einer Vielzahl von relativ billigen flachen Lineardetektoren, um den gewünschten Spektralbereich ohne Beeinflussung von benachbarten Detektoren zu ermitteln. Diese Anordnung liefert eine volle spektrale Abdeckung über ein gewünschtes Wellenlängenband, vermeidet physikalische Beeinflussung zwischen Vielfachdetektoren und liefert eine bessere Anpassung an die Dispersionsebene durch die Verwendung von relativ kleinen Detektoren, welche sich besser an die Brennebene anpassen, was zu einer besseren Gesamtleistung für eine erweiterte Wellenlängenabdeckung führt, als sie vorher verfügbar war.
- Diese und andere Merkmale, Aufgaben und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden beim Lesen der nachfolgenden Beschreibung unter Hinweis auf die beigefügten Zeichnungen deutlich werden.
- Kurze Beschreibung der Zeichnungen
-
1 ist ein Blockdiagramm eines Spektrometers, das das zentrierte Sphärenermittlungssystem der vorliegenden Erfindung verkörpert; -
2 ist ein optisches Diagramm des Ermittlungssystems, das auch die Emissionsquelle zeigt; und -
3 ist eine teilweise, zum Teil offengelegte perspektivische Ansicht des Ermittlungssystems, das in2 gezeigt ist. - Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsform
- Unter anfänglichem Hinweis auf
1 ist ein Atom-Emissions-Spektrometer10 gezeigt, das die vorliegende Erfindung beinhaltet. Das Spektrometer ist typischerweise in einem Gehäuse aufgenommen, das eine Emissionsquelle12 enthält, wie eine Glimmentladungs-Emissionsquelle, obwohl andere Emissionsquellen, wie Bogen-Funken-Quellen, induktiv, gekühlte Plasmaquellen oder Laser-Abdampfquellen ebenso eingesetzt werden können. Eine Probe wird konventionell in eine Probenkammer eingesetzt, die mit der Emissionsquelle12 verbunden ist, welche eine Spektralemission14 von optischer Energie emittiert, die Lichtwellenlängen enthält, die von Elementen, die in der Probe enthalten sind, emittiert werden. Die Spektralemission14 wird auf einen Eingangsschlitz40 (2 und3 ) des zentrierten Sphärenermittlungssystems16 der vorliegenden Erfindung fokussiert. Wie nachfolgend näher beschrieben, beinhaltet das Ermittlungssystem eine Kammer, die ein konvexes Beugungsgitter und ein Paar von sphärischen Spiegeln und eine Vielzahl von beabstandeten Lineardetektoren aufweist. Diese Detektoren sind über elektrische Leiter18 mit einem mikroprozessor-gesteuerten Analysator20 verbunden, der die Signalinformation verarbeitet und den Operator über eine Anzeige und/oder Ausdruck mit den ermittelten Elementcharakteristiken versorgt, die in der Probe enthalten sind, einschließlich der Information welche Elemente und ihrer Konzentration. Die Emissionsquelle und der Analysator können im allgemeinen von einem Typ sein, der kommerziell von der Leco Corporation aus St. Joseph, Michigan, verfügbar ist, Model Nr. GDS400A oder GDS750A. Die Verbesserung der vorliegenden Erfindung umfasst das Ermittlungssystem16 , welches nun nachfolgend näher in Verbindung mit den2 und3 beschrieben wird. - Zu Beginn sollte darauf hingewiesen werden, dass das optische Diagramm der
2 mit den tatsächlichen Dimensionen, die auf der Zeichnung gezeigt sind, skaliert ist. Die Emissionsquelle12 und ihr Abstand von dem Ermittlungssystem16 ist in2 jedoch nur bildlich dargestellt. Das Ermittlungssystem16 , wie in der teilweisen perspektivischen Ansicht von3 zu sehen, beinhaltet eine Kammer, die durch ein Gehäuse30 mit einem Boden32 , einer Frontwand34 , Seitenwänden36 und38 , einer Rückwand41 und einem entfernbaren Deckel31 gebildet wird, der den Zugang zur Kammer35 , in welcher die optischen Elemente angeordnet sind, ermöglicht. Das Gehäuse wird typischerweise innerhalb des Instruments10 in einer temperaturkonstanten Umgebung angeordnet und kann entweder unter Vakuum oder unter anderen kontrollierten atmosphärischen Bedingungen betrieben werden. In einer bevorzugten Ausführungsform ist das Gehäuse ungefähr 18 Zoll breit, 18 Zoll lang und 7 Zoll hoch, wobei die Seitenwände einstückig aus einem geeigneten Druckgußmetall gebildet sind, und der Boden32 und der Deckel unter Verwendung einer O-Ringdichtung, die in den Nuten33 (3 ) in den Enden der Wände angeordnet ist, abdichtbar an den Wänden befestigt sind und wobei mit einem Gewinde versehene Befestigungselemente sich in mit Gewinde versehene Öffnungen37 erstrecken. - Das Ermittlungssystem
16 beinhaltet einen Eingangsschlitz40 , der an der Frontwand34 mittels einer konventionellen Befestigungsanordnung42 befestigt ist. Bei der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist der Eingangsschlitz im allgemeinen rechtwinkelig mit einer Dimension von 1 mm × 14 μm und er empfängt die Spektralemission14 (1 und2 ) von der Emissionsquelle12 typischerweise durch eine Fokussierungslinse zum Fokussieren der Lichtenergie auf den Eingangsschlitz. Zentral innerhalb der Kammer35 des Gehäuses30 positioniert ist ein sphärisches, konvexes Beugungsgitter50 , das sein Gitter51 orthogonal zur Symmetrieebene der Brennebene54 (2 ) des Spektrometers (d. h. im allgemeinen vertikal in3 und in die Ebene und aus der Ebene heraus bei der Zeichnung der2 ) angeordnet hat. Das Gitter50 ist in einer einstellbaren Fassung52 von im allgemeinen gut bekannter Konstruktion zur Ermöglichung seiner präzisen Ausrichtung angeordnet. Der Krümmungsradius des sphärischen, konvexen Beugungsgitters50 ist halb so groß wie der Radius von jedem von einem Paar von zwei konkaven sphärischen Spiegeln60 und70 , die an der Rückwand41 des Gehäuses30 mittels einstellbarer Klammeranordnungen65 bzw.75 angeordnet sind. Das Beugungsgitter ist bei der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung in einem Abstand von 225 mm von der Brennebene54 (beabstandet von der Frontwand34 ) angeordnet und zentriert positioniert, wie am besten in2 zu sehen. Der Krümmungsmittelpunkt des Beugungsgitters fällt auf die Brennebene54 bei einem gemeinsamen Krümmungsmittelpunkt55 (2 ) für den Krümmungsradius für das Gitter sowie dem Krümmungsradius für jeden der Spiegel60 und70 , welche einen Krümmungsradius von 450 mm oder exakt den doppelten Krümmungsradius des Gitterkrümmungsradius aufweisen. - Die Spiegel
60 und70 sind sphärisch geschliffene Spiegel, wobei ein erster Spiegel60 so angeordnet ist, daß er sein Zentrum 65,21 mm unterhalb der zentralen Achse57 des optischen Gitters aufweist. Der Spiegel70 ist mit seinem Zentrum so angeordnet, dass er 106,96 mm oberhalb der Zentrumslinie57 angeordnet ist, so wie in2 gezeigt. Die Spiegel sind so angepasst, dass ihre Krümmungsmittelpunkte mit dem Krümmungsmittelpunkt55 ausgerichtet sind, welcher um einen Abstand von 25 mm über den Eingangsschlitz40 versetzt ist (siehe2 ). Das Beugungsgitter50 beinhaltet konventionellerweise eine reflektierende Vorderseite, während die Spiegel60 und70 präzise geschliffen sind, wobei die im allgemeinen kreisförmigen Spiegel eine reflektierende Vorderseite und einen Durchmesser von ungefähr 5 ½ Zoll aufweisen. Vor der Innenseite der Frontwand34 des Gehäuses30 ist am Boden32 ein erster Lineardetektor80 mittels einer Klammeranordnung82 befestigt, die seine präzise Winkel- und Raumausrichtung ermöglicht. Ein zweites Lineardetektorfeld84 ist ebenfalls mit Klammern83 am Boden32 befestigt. Die Detektoren80 und84 sind auf einer Seite des Eintrittschlitzes40 befestigt, während an der gegenüberliegenden Seite ein dritter Detektor86 mittels einer Befestigungsklammer87 und ein vierter Detektor88 mittels einer Befestigungsklammeranordnung89 befestigt ist. Jeder der Detektoren ist ein relativ kleiner, Feststofflineardetektor und kann von dem Typ sein, der von Sony Semiconducters unter der Model Nr. ILX526A kommerziell verfügbar ist, welcher einen linearen CCD Bildsensor umfasst, die relativ klein und preisgünstig sind, wobei sie einen Pixelnachweis von ungefähr 3 000 bereitstellen, mit einer Pixelgröße von ungefähr 7 × 200 μm. Die physikalischen Dimensionen der relativ kleinen DIP 22 pin Detektor-Packungen betragen ungefähr 10 mm in der Breite und etwa 32 mm in der Höhe. Die Klammeranordnungen82 ,83 ,87 und89 sind winkelig und linear in einer konventionellen Weise anpassbar, um die Detektoren zu positionieren, so dass ihre präzise optische Ausrichtung, wie in dem Diagramm in2 dargestellt, in Bezug auf die Spiegel60 und70 und das Gitter50 ermöglicht wird, so dass Segmente eines Spektralbands, das analysiert wird, alternierenden auf dem ersten, dritten, zweiten bzw. vierten Detektor fokussiert wird, wie nachfolgend näher beschrieben, und zwar aufgrund des Krümmungsradius und der Anordnung der Spiegel und des Gitters. - Nunmehr bezugnehmend auf
2 , das das optische Diagramm der Anordnung der optischen und Ermittlungselemente des Ermittlungssystems16 , das in3 gezeigt ist, zeigt, kann man sehen, dass das optische Emissionsspektrum14 von der Quelle12 auf den Eingangsschlitz40 fokussiert wird und durch Strahl A in2 dargestellt wird. Strahl A trifft auf die Oberfläche des Spiegels60 und wird als Strahl B auf das Gitter50 reflektiert. Das Gitter trennt die auftreffende optische Energie in gebeugte Wellenlängen erster Ordnung und – erster Ordnung mit der ersten Ordnung (Plusordnung) C+ gerichtet auf den sphärischen Spiegel70 und der – ersten Ordnung C– gerichtet auf den Spiegel60 . Der Spiegel70 richtet, wie durch die reflektierte Energie D+ angezeigt, die auftreffende optische Energie auf die Brennebene54 , die die Spektralenergie in diskrete Segmente des Wellenlängenbandes teilt. Gleichzeitig wird die C– Energie durch den Spiegel60 , wie durch D– angezeigt, auf die Brennebene54 in diskreten spektral segmentierten, physikalisch getrennten Bändern reflektiert. Bei der bevorzugten Ausführungsform, wie in2 gezeigt ist, werden die Dimensionen der optischen Elemente ausgewählt, um eine kontinuierliche Abdeckung für ein Wellenlängenband von ungefähr 150 Nanometer (nm) bis 450 Nanometer bereitzustellen. - Der erste Detektor
80 ist angeordnet, um den Plusspektralbereich von 150 nm bis 225 nm zu ermitteln. In dem reflektierten Energieband minus erster Ordnung wird das nächst benachbarte Segment des Spektralbands, das ermittelt wird, über den Spiegel60 auf den Detektor86 reflektiert und es beinhaltet Wellenlängen von ungefähr 225 nm bis ungefähr 300 nm. Somit werden benachbarte Segmente des Spektralbands durch Spiegel60 und70 auf stark voneinander getrennte lineare Sensoren80 und86 auf gegenüberliegenden Seiten des Eingangsschlitzes40 fokussiert. Ähnlich wird das Spektralband der Plusordnung (D+) von 300 bis 375 nm durch den Spiegel70 auf den Detektor84 reflektiert, während das nächst benachbarte Segment des Spektralbands (D–), das Wellenlängen von 375 nm bis 450 nm beinhaltet, auf den Detektor88 projiziert wird. Somit werden benachbarte Segmente des Spektralbands auf alternierend versetzte und voneinander beabstandete kleine linear Bildsensoren80 ,84 ,86 und88 , die in dem Gehäuse30 , wie in3 gezeigt, angeordnet sind, reflektiert. Wie in dem optischen Diagramm der2 zu sehen, ist die Beabstandung und Anordnung der optischen Elemente in Millimeter für das Spektralband 150 nm bis 450 nm des bevorzugten Ausführungsbeispiels gezeigt. Es ist klar, dass für unterschiedliche Spektralbänder die Dimensionen variieren werden, wie dies erforderlich ist, um die Emissionswellenlängen erster und -erster Ordnung zu beabstandeten Detektoren zu reflektieren. - Die Geometrie, die beim Anordnen konkaver sphärischer Spiegel mit einem doppelten Krümmungsradius als dem des sphärischen konvexen Beugungsgitters gewählt ist und das Anordnen von diesen mit einem gemeinsamen Krümmungsmittelpunkt, erlaubt nahezu Littrow-Gitterbeleuchtung und resultiert in der alternierenden Beabstandung von benachbarten Segmenten von Bereichen erster und -erster Ordnung des Spektralbands, die auf zwei Dispersionsebenen fallen, so dass die Verwendung von relativ kleinen, kostengünstigen, voneinander beabstandeten linearen Bildsensoren ermöglicht wird, um ein kontinuierliches Spektrum der Lichtenergie mit einem Minimum an Beeinflussung zwischen benachbarten Detektoren zu ermitteln. Dies ermöglicht das physikalische Beabstanden von relativ kleinen flachen Detektoren, die in ihrer Ausrichtung mit der Brennebene stark verbessert werden können, welche nicht komplett flach ist, sondern etwas gekrümmt ist, und sie ermöglichen die akkurate Ermittlung von Lichtwellenlängen über das interessierende Spektrum. Bei einigen Ausführungsformen kann ein einzelner konkaver sphärischer Spiegel eingesetzt werden, um das Spektralband zu trennen, jedoch mit geringerer Abdeckung. Die Signale von den Detektoren
80 ,84 ,86 und88 werden dem Analysator20 (1 ) zugeführt und in einer konventionellen Art und Weise verarbeitet, um den Bediener mit der Information über eine gegebene Probe, die in der Emissionsquelle12 angeordnet ist, zu versorgen. - Es ist offensichtlich für einen Fachmann, dass verschiedene Modifikationen zu dem bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung, wie es hier beschrieben wurde, vorgenommen werden können ohne das Wesen oder den Bereich der Erfindung, wie sie durch die beigefügten Ansprüche definiert ist, zu verlassen.
Claims (19)
- Zentriertes sphärisches Ermittlungssystem für Atom-Emissions-Spektrometer mit: einer Kammer (
35 ) mit einem Eingangsschlitz (40 ); einem sphärischen konvexen Beugungsgitter (50 ), das innerhalb der Kammer (35 ) angeordnet ist und entlang einer Mittenachse, die von dem Eingangsschlitz (40 ) versetzt ist, ausgerichtet ist und das einen ersten Krümmungsradius aufweist; einem ersten konkaven sphärischen Spiegel (60 ) mit einem Krümmungsradius, der ungefähr zweimal so groß ist wie der des Beugungsgitters (50 ), der versetzt bezüglich der Mittenachse des Gitters in einer ersten Richtung angeordnet ist, wobei der Krümmungsmittelpunkt des Spiegels mit dem Krümmungsmittelpunkt des Beugungsgitters übereinstimmt; einem zweiten konkaven sphärischen Spiegel (70 ) mit einem Krümmungsradius, der ungefähr zweimal so groß ist wie der des Beugungsgitters (50 ), der auf einer Seite von der Mittenachse angeordnet ist, die dem ersten Spiegel gegenüberliegt und der mit seinem Krümmungsmittelpunkt ausgerichtet ist, so dass dieser mit dem des ersten Spiegels (60 ) und dem des Beugungsgitters (50 ) zusammenfällt, wobei der Eingangsschlitz (40 ), das Beugungsgitter (50 ) und der erste (60 ) und zweite (70 ) konkave sphärische Spiegel so zueinander angeordnet sind, dass beabstandete + und – Beugungsordnungen auf zwei gegenüberliegenden Seiten bezüglich der Mittenachse (57 ) bereit gestellt werden; und mit einer Vielzahl von beabstandeten Bildsensoren (80 ,84 ,86 ,88 ), die entlang der Brennebene (54 ) der Spiegel in einer voneinander beabstandeten Beziehung auf beiden Seiten der Mittelachse angeordnet sind, um die optische Energie, die durch die ersten und zweiten Spiegel reflektiert wird, aufzunehmen. - Ermittlungssystem nach Anspruch 1, bei welchem die Vielzahl von linearen Bildsensoren (
80 ,84 ,86 ,88 ) zumindest einen Sensor beinhaltet, der in der Kammer auf einer Seite des Eingangsschlitzes (40 ) angeordnet ist, und zumindest einen Sensor, der in der Kammer (35 ) auf einer gegenüberliegenden Seite des Eingangsschlitzes (40 ) angeordnet ist. - Ermittlungssystem nach Anspruch 2, bei welchem ein Paar von beabstandeten Sensoren in der Kammer (
35 ) auf gegenüberliegenden Seiten des Eingangsschlitzes (40 ) befestigt sind. - Ermittlungssystem nach Anspruch 2, bei welchem die Kammer (
35 ) durch ein Gehäuse (30 ) mit Seitenwänden (34 ,36 ,38 ,41 ), einem Boden (32 ) und einem entfernbaren Deckel (31 ) definiert ist und bei welchem das Beugungsgitter (50 ) an einer einstellbaren Befestigungsklammer für das Beugungsgitter auf dem Boden befestigt ist. - Ermittlungssystem nach Anspruch 4, bei welchem der Krümmungsradius des Beugungsgitters ungefähr 225 mm ist.
- Ermittlungssystem nach Anspruch 5, bei welchem die Spiegel jeweils einen Krümmungsradius von ungefähr 450 mm aufweisen.
- Ermittlungssystem nach Anspruch 6, bei welchem der Eingangsschlitz (
40 ) in einer Wand des Gehäuses (30 ) gebildet ist, und zwar ungefähr 25 mm versetzt vom Krümmungsmittelpunkt der Spiegel. - Ermittlungssystem nach Anspruch 7, mit einer einstellbaren Befestigungsklammer zur Befestigung von jedem der Sensoren auf dem Boden des Gehäuses (
30 ). - Ermittlungssystem nach Anspruch 8, mit einer einstellbaren Befestigungsklammer zur Befestigung von jedem der Spiegel an einer Wand des Gehäuses (
30 ). - Zentriertes sphärisches Spektrometer mit: einer Emissionsquelle (
12 ) für optische Energie, die analysiert werden soll; einem Gehäuse (30 ) mit einem Eingangsschlitz (40 ); einem konvexen sphärischen Beugungsgitter (50 ), das in dem Gehäuse (30 ) angeordnet ist und entlang einer Mittenachse, die von dem Eingangsschlitz (40 ) versetzt ist, ausgerichtet ist und einen ersten Krümmungsradius aufweist; einem ersten konkaven sphärischen Spiegel (60 ) mit einem Krümmungsradius, der ungefähr zweimal so groß ist wie der des Beugungsgitters (50 ) und der in dem Gehäuse (30 ) versetzt von der Mittenachse in einer ersten Richtung angeordnet ist, wobei der Krümmungsmittelpunkt des ersten Spiegels (60 ) mit dem Krümmungsmittelpunkt des Beugungsgitters (50 ) zusammenfällt; einem zweiten konkaven sphärischen Spiegel (70 ) mit einem Krümmungsradius, der ungefähr zweimal so groß ist wie der des Beugungsgitters der in dem Gehäuse (30 ) auf einer Seite der Mittenachse angeordnet ist, die dem ersten Spiegel gegenüberliegt, und der mit seinem Krümmungsmittelpunkt so ausgerichtet ist, so dass dieser mit dem Krümmungsmittelpunkt des ersten Spiegels (60 ) und des Beugungsgitters (50 ) zusammenfällt, wobei der Eingangsschlitz (40 ), das Beugungsgitter (50 ) und der erste (60 ) und zweite (70 ) konkave sphärische Spiegel so zueinander angeordnet sind, dass beabstandete + und – Beugungsanordnungen auf zwei gegenüberliegenden Seiten bezüglich der Mittenachse bereit gestellt werden; einer Vielzahl von beabstandeten linearen Bilddetektoren, die entlang der Brennebene (54 ) des ersten und zweiten Spiegels auf beiden Seiten der Mittenachse beabstandet zueinander angeordnet sind, um die optische Energie, die durch die ersten und zweiten Spiegel reflektiert wird, aufzunehmen; und mit einem Analysator, der mit den Detektoren verbunden ist, um die Spektralinformation, die durch die Detektoren ermittelt wird, zu analysieren. - Spektrometer nach Anspruch 10, bei welchem die Vielzahl von linearen Bilddetektoren mindestens einen Detektor umfasst, der in dem Gehäuse (
30 ) auf einer Seite des Eingangsschlitzes (40 ) angeordnet ist, und wenigstens einen Detektor der in dem Gehäuse (30 ) auf einer gegenüberliegenden Seite des Eingangsschlitzes (40 ) angeordnet ist. - Spektrometer nach Anspruch 11, bei welchem ein Paar von beabstandeten Detektoren in dem Gehäuse (
30 ) auf gegenüberliegenden Seiten des Eingangsschlitzes (40 ) angeordnet sind. - Spektrometer nach Anspruch 12, bei welchem das Gehäuse (
30 ) durch ein Gehäuse mit Seitenwänden, einem Boden und einem entfernbaren Deckel definiert ist, und bei welchem das Beugungsgitter (50 ) an einer einstellbaren Befestigungsklammer für das Beugungsgitter auf dem Boden angeordnet ist. - Spektrometer nach Anspruch 13, bei welchem der Krümmungsradius des Beugungsgitters ungefähr 225 mm ist.
- Spektrometer nach Anspruch 14, bei welchem die Spiegel jeweils einen Krümmungsradius von ungefähr 450 mm aufweisen.
- Spektrometer nach Anspruch 15, bei welchem der Eingangsschlitz (
40 ) in einer Wand des Gehäuses (30 ) gebildet ist, und zwar ungefähr 25 mm versetzt vom Krümmungsmittelpunkt der Spiegel. - Spektrometer nach Anspruch 16 mit einer einstellbaren Befestigungsklammer für das Beugungsgitter (
50 ). - Spektrometer nach Anspruch 17 mit einer einstellbaren Befestigungsklammer zur Anordnung eines jeden der Detektoren auf dem Boden des Gehäuses (
30 ). - Spektrometer nach Anspruch 18 mit einer einstellbaren Befestigungsklammer zur Anordnung eines jeden der Spiegel an einer Wand des Gehäuses (
30 ).
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